JPH04258020A - Input circuit - Google Patents

Input circuit

Info

Publication number
JPH04258020A
JPH04258020A JP3019603A JP1960391A JPH04258020A JP H04258020 A JPH04258020 A JP H04258020A JP 3019603 A JP3019603 A JP 3019603A JP 1960391 A JP1960391 A JP 1960391A JP H04258020 A JPH04258020 A JP H04258020A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
input
channel mos
power supply
mos transistor
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3019603A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hatsuhide Igarashi
五十嵐 初日出
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP3019603A priority Critical patent/JPH04258020A/en
Publication of JPH04258020A publication Critical patent/JPH04258020A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Logic Circuits (AREA)

Abstract

PURPOSE:To reduce the current consumption by connecting a 1st conduction type MOSFET between an element of a power supply side of an input circuit of differential amplifier circuit configuration and a power supply and connecting a 2nd conduction type MOSFET between an element at ground side and ground in series. CONSTITUTION:The input circuit is a differential amplifier circuit using a P- channel MOS field effect transistor (FET)Ma and an N-channel MOSFETM4 as differential inputs and an N-channel MOSFETM5 is a load. Furthermore, a P-channel MOSFETM1 is a current source at the source side. The FETM3 is a switch element and has a larger mutual conductance in comparison with that of the FETM5. In this case, with the MOS TR turned on, it is equivalent to the state that a drain of the P-channel MOSFETM2 connects to ground. Thus, when an input signal of the CMOS level is processed and the input signal is at a ground level or a power supply level, the power supply current flows to the input circuit.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】0001

【産業上の利用分野】本発明は、信号レベルが電源レベ
ルおよび接地レベルである入力回路に関し、特に入力レ
ベルが電源または接地レベルの時の貫通電流を防止した
入力回路の回路構成に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an input circuit whose signal level is a power supply level or a ground level, and more particularly to a circuit configuration of an input circuit that prevents through current when the input level is a power supply level or a ground level.

【0002】0002

【従来の技術】従来の入力回路の一例の回路図を図3に
示す。
2. Description of the Related Art A circuit diagram of an example of a conventional input circuit is shown in FIG.

【0003】この入力回路の回路構成は相補型MOSト
ランジスタ(以下CMOSと記す)構成であって、Pチ
ャンネルMOSトランジスタPとNチャンネルMOSト
ランジスタNとが電源と接地との間に直列に入っている
。そして、この2つのMOSトランジスタの共通のゲー
トが入力端になり、又、共通のドレインが反転回路1の
入力に接続され、この反転回路1の出力が出力端になっ
ている。
The circuit configuration of this input circuit is a complementary MOS transistor (hereinafter referred to as CMOS) configuration, in which a P-channel MOS transistor P and an N-channel MOS transistor N are connected in series between a power supply and ground. . A common gate of these two MOS transistors becomes an input end, a common drain is connected to an input of an inverting circuit 1, and an output of this inverting circuit 1 becomes an output end.

【0004】上記の2つのMOSトランジスタのサイズ
は、それぞれのMOSトランジスタのチャンネル幅とチ
ャンネル長の比を(W/L)P および(W/L)N 
とした時に、 (W/L)P <(W/L)N           
                         
     (1)となるように設定されている。
The sizes of the above two MOS transistors are determined by the ratio of the channel width and channel length of each MOS transistor to (W/L)P and (W/L)N.
When, (W/L)P < (W/L)N

(1).

【0005】このため、この入力回路としての反転増幅
器の入出力特性は、論理しきい値が接地電位側にずれ、
図4に示すような特性となる。
Therefore, the input/output characteristics of this inverting amplifier as an input circuit are such that the logic threshold shifts toward the ground potential side,
The characteristics are as shown in FIG.

【0006】そして図3において、入力VinがNチャ
ンネルMOSトランジスタNのしきい値電圧VTN以下
の場合、このNチャンネルMOSトランジスタNがオフ
しているので、出力VO は「1」レベルである。
In FIG. 3, when the input Vin is lower than the threshold voltage VTN of the N-channel MOS transistor N, the N-channel MOS transistor N is off, so the output VO is at the "1" level.

【0007】逆に電源電位からPチャンネルMOSトラ
ンジスタPのしきい値電圧VTP以内の電位になるとP
チャンネルMOSトランジスタPがオフするので、出力
VO は「0」レベルに固定される。
Conversely, when the potential falls within the threshold voltage VTP of the P-channel MOS transistor P from the power supply potential, P
Since the channel MOS transistor P is turned off, the output VO is fixed at the "0" level.

【0008】この入力回路では、(1)式に示すように
、NチャンネルMOSトランジスタNのW/L比をPチ
ャンネルMOSトランジスタPのW/L比よりも大きく
してあるので、NチャンネルMOSトランジスタNの相
互コンダクタンスの方がPチャンネルMOSトランジス
タPの相互コンダクタンスよりも大きい。
In this input circuit, as shown in equation (1), the W/L ratio of the N-channel MOS transistor N is made larger than the W/L ratio of the P-channel MOS transistor P. The mutual conductance of N is larger than the mutual conductance of P channel MOS transistor P.

【0009】従って、両方のMOSトランジスタが共に
オンしている期間では、NチャンネルMOSトランジス
タNの方が強く、この入力回路の論理しきい値は、Nチ
ャンネルMOSトランジスタのしきい値電圧VTNに近
ずいている。
Therefore, during the period when both MOS transistors are on, the N-channel MOS transistor N is stronger, and the logic threshold of this input circuit is close to the threshold voltage VTN of the N-channel MOS transistor. It's wet.

【0010】ところで、一般にTTLレベルの信号にお
いては、「0」レベルが0.8V以下、「1」レベルが
2.0V以上であることから、入力回路の論理しきい値
としては、(0.8+0.2)/2=1.4Vであれば
最もマージンがある。
By the way, in general, in a TTL level signal, the "0" level is 0.8V or less, and the "1" level is 2.0V or more, so the logic threshold of the input circuit is (0. 8+0.2)/2=1.4V has the most margin.

【0011】従って、上式を満足するように回路を設計
すればCMOS構成の入力回路でもTTLレベルの信号
を入力することが実現できる。
Therefore, if the circuit is designed to satisfy the above equation, it is possible to input a TTL level signal even with a CMOS input circuit.

【0012】0012

【発明が解決しようとする課題】ところで、上記の入力
回路でTTLレベルの入力信号を受けた場合、スイッチ
ングスピードはPチャンネルMOSトランジスタPの相
互コンダクタンスと出力端に付加される負荷容量とによ
って制限されるため、高速で動作させようとするほど多
くの消費電力が費やされる。
[Problems to be Solved by the Invention] By the way, when the above input circuit receives a TTL level input signal, the switching speed is limited by the mutual conductance of the P-channel MOS transistor P and the load capacitance added to the output terminal. Therefore, the higher the speed, the more power is consumed.

【0013】又、通常のCMOSインバータでは相互コ
ンダクタンスの揃ったPチャンネルMOSトランジスタ
およびNチャンネルMOSトランジスタを用いるため、
その論理しきい値は温度の変化を殆ど受けずほぼ電源電
圧の半分のところに位置するのに対して、前述した入力
回路では、論理しきい値はNチャンネルMOSトランジ
スタNのしきい値電圧VTNに強く依存した論理しきい
値となる。
Furthermore, since a normal CMOS inverter uses P-channel MOS transistors and N-channel MOS transistors with the same mutual conductance,
Its logic threshold is hardly affected by temperature changes and is located at approximately half of the power supply voltage.In contrast, in the input circuit described above, the logic threshold is equal to the threshold voltage VTN of the N-channel MOS transistor N. It becomes a logical threshold that strongly depends on .

【0014】ここで、入力回路の論理しきい値の変動幅
について考えてみる。
[0014] Now, let us consider the fluctuation range of the logic threshold value of the input circuit.

【0015】この入力回路において、製造工程の変動に
起因して生ずるMOSトランジスタのしきい値電圧の変
化の幅を、徳山たかし著,「MOSデバイス」,第3版
,工業調査会,1976年,第16頁に記載されている
ように、±0.2Vとし、温度変化を−40〜+85°
Cとした場合のしきい値電圧の変化幅を、前掲書,第9
6頁に記載されているように、±0.15Vとすると、
しきい値電圧の変化幅は、単純に考えても、±0.2±
0.15=±0.35Vとなる。
[0015] In this input circuit, the width of the change in the threshold voltage of the MOS transistor that occurs due to variations in the manufacturing process is calculated by Takashi Tokuyama, "MOS Devices", 3rd edition, Industrial Research Association, 1976. As described on page 16, ±0.2V and temperature change of -40 to +85°.
The range of change in threshold voltage when C is
As stated on page 6, if it is ±0.15V,
Even if you think about it simply, the range of change in threshold voltage is ±0.2±
0.15=±0.35V.

【0016】更に、PチャンネルMOSトランジスタと
NチャンネルMOSトランジスタの製造工程において生
ずるしきい値電圧の変化は連動する保証がないので、実
際には±0.4〜0.45Vの変化をすることが考えら
れる。
Furthermore, since there is no guarantee that changes in threshold voltage that occur during the manufacturing process of P-channel MOS transistors and N-channel MOS transistors will be linked, it is possible for the threshold voltage to actually change by ±0.4 to 0.45V. Conceivable.

【0017】ところで、上記の議論は入力回路の直流的
な論理しきい値に関するものであって、この場合の論理
しきい値は図3に示す入出力特性に従うが、実際には入
力回路には不連続的なパルス信号が入力されるので、交
流的な論理しきい値を考えてみる。
By the way, the above discussion concerns the DC logic threshold of the input circuit, and the logic threshold in this case follows the input/output characteristics shown in FIG. 3, but in reality, the input circuit has Since a discontinuous pulse signal is input, let's consider an alternating current logic threshold.

【0018】この交流的な論理しきい値とは、出力VO
 のスイッチング速度が同じくなる点を論理しきい値と
見るもので、この見方をすると、相互コンダクタンスの
小さいPチャンネルMOSトランジスタをカバーするに
は出力VO は電源よりにおかれる必要があることが識
られている。
This alternating current logical threshold is the output VO
The point at which the switching speeds of the two transistors become the same is regarded as the logic threshold. From this viewpoint, it is understood that the output VO needs to be placed below the power supply in order to cover the P-channel MOS transistor with small mutual conductance. ing.

【0019】つまり、交流的な論理しきい値は、電源よ
りにずれる。ところがこのシフト量は、入力パルスの周
波数が不定なため正確には見積ることができない。
In other words, the alternating current logical threshold value deviates depending on the power source. However, this shift amount cannot be accurately estimated because the frequency of the input pulse is uncertain.

【0020】以上をまとめると、TTLレベルの「1」
レベルと「0」レベルを分離しているレベルの幅は1.
2Vあるが、製造工程でのしきい値電圧の変動だけで0
.8〜0.9Vの変動があり、更に、実際にパルス信号
が入力された場合の交流的な論理しきい値が電源よりに
シフトすることを考えると、従来の入力回路ではTTL
レベルの入力信号を受けることは困難である。
[0020] To summarize the above, TTL level "1"
The width of the level separating the "0" level is 1.
There is 2V, but it is 0 due to fluctuations in threshold voltage during the manufacturing process.
.. Considering that there is a fluctuation of 8 to 0.9 V and that the AC logic threshold shifts toward the power supply when a pulse signal is actually input, conventional input circuits have TTL
It is difficult to receive high level input signals.

【0021】[0021]

【課題を解決するための手段】本発明の入力回路は、差
動増幅回路の一方の入力を基準電圧に固定し他方の入力
には入力端子を介して入力信号を入力し、この差動増幅
回路の電源側の素子と電源との間には第1導電型の第1
のMOS電界効果トランジスタを直列に接続し接地側の
素子と接地との間には第2導電型の第2のMOS電界効
果トランジスタを直列に接続し、前記第1のMOS電界
効果トランジスタのゲートおよび前記第2のMOS電界
効果トランジスタのゲートを入力端子に接続したことを
特徴とする。
[Means for Solving the Problems] The input circuit of the present invention fixes one input of a differential amplifier circuit to a reference voltage, inputs an input signal to the other input via an input terminal, and fixes one input of a differential amplifier circuit to a reference voltage. A first conductivity type first conductivity type is provided between the power supply side element of the circuit and the power supply.
MOS field effect transistors are connected in series, a second MOS field effect transistor of a second conductivity type is connected in series between the ground side element and the ground, and the gate of the first MOS field effect transistor and The present invention is characterized in that the gate of the second MOS field effect transistor is connected to an input terminal.

【0022】[0022]

【実施例】次に、本発明の最適な実施例について図面を
参照して説明する。図1は本発明の第1の実施例の経路
構成を示す回路図である。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, a preferred embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a circuit diagram showing the route configuration of a first embodiment of the present invention.

【0023】本実施例は、3つのPチャンネルMOSト
ランジスタM1 ,M2 およびM4 と2つのNチャ
ンネルMOSトランジスタM3 およびM5 と反転回
路1とからなっている。
This embodiment consists of three P-channel MOS transistors M1, M2, and M4, two N-channel MOS transistors M3 and M5, and an inverting circuit 1.

【0024】PチャンネルMOSトランジスタM1 は
、ソースが電源に接続され、ゲートが入力端子2に接続
され、ドレインがPチャンネルMOSトランジスタM2
 およびM4 のソースに接続されている。
The P-channel MOS transistor M1 has a source connected to the power supply, a gate connected to the input terminal 2, and a drain connected to the P-channel MOS transistor M2.
and connected to the source of M4.

【0025】PチャンネルMOSトランジスタM2 は
、ゲートに定電圧源3からの基準電圧VREF が加え
られており、ドレインがNチャンネルMOSトランジス
タM3 のドレインに接続されている。尚、Nチャンネ
ルMOSトランジスタM3 のソースは接地されている
The P-channel MOS transistor M2 has a gate applied with a reference voltage VREF from the constant voltage source 3, and a drain connected to the drain of the N-channel MOS transistor M3. Note that the source of the N-channel MOS transistor M3 is grounded.

【0026】PチャンネルMOSトランジスタM4 は
、ドレインがNチャンネルMOSトランジスタM5 の
ドレインに接続されている。尚、NチャンネルMOSト
ランジスタM5 のソースは接地されている。
The drain of P-channel MOS transistor M4 is connected to the drain of N-channel MOS transistor M5. Note that the source of the N-channel MOS transistor M5 is grounded.

【0027】そして、PチャンネルMOSトランジスタ
M4 並びにNチャンネルMOSトランジスタM3 お
よびM5 のゲートは入力端子2に接続されている。
The gates of P-channel MOS transistor M4 and N-channel MOS transistors M3 and M5 are connected to input terminal 2.

【0028】この差動増幅回路の出力はPチャンネルM
OSトランジスタM4 とNチャンネルMOSトランジ
スタM5 の共通のドレインから、次段の反転回路1を
介して出力端子4から出力される。反転回路1は波形整
形のために設けてある。
The output of this differential amplifier circuit is P channel M
The signal is outputted from the output terminal 4 from the common drain of the OS transistor M4 and the N-channel MOS transistor M5 via the inverting circuit 1 at the next stage. The inverting circuit 1 is provided for waveform shaping.

【0029】次に本実施例の動作について説明する。こ
の回路は、PチャンネルMOSトランジスタM2 およ
びNチャンネルMOSトランジスタM4 を差動入力と
する差動増幅回路であり、NチャンネルMOSトランジ
スタM5 は負荷である。又、PチャンネルMOSトラ
ンジスタM1 はソース側電流源である。
Next, the operation of this embodiment will be explained. This circuit is a differential amplifier circuit having a P-channel MOS transistor M2 and an N-channel MOS transistor M4 as differential inputs, and an N-channel MOS transistor M5 is a load. Furthermore, the P-channel MOS transistor M1 is a source-side current source.

【0030】ここで、NチャンネルMOSトランジスタ
M3 はスイッチ素子であって、NチャンネルMOSト
ランジスタM5 に比べて大きな相互コンダクタンスを
持っている。従って、このMOSトランジスタがオン状
態の時はPチャンネルMOSトランジスタM2 のドレ
インが接地されていることと等価である。
Here, the N-channel MOS transistor M3 is a switching element and has a larger mutual conductance than the N-channel MOS transistor M5. Therefore, when this MOS transistor is on, it is equivalent to the drain of P-channel MOS transistor M2 being grounded.

【0031】通常の差動増幅回路では、図1中のPチャ
ンネルMOSトランジスタM1 およびNチャンネルM
OSトランジスタM5 の部分が定電流源素子あるいは
抵抗素子で構成されているのに対して、本実施例ではゲ
ートが入力端子2につながれたMOSトランジスタを用
いている最大の理由は、入力レベルが電源電位または接
地電位となった時に入力回路の電源・接地間に貫通電流
が流れないようにするためである。
In a normal differential amplifier circuit, the P-channel MOS transistor M1 and the N-channel MOS transistor M in FIG.
The main reason for using a MOS transistor whose gate is connected to input terminal 2 in this embodiment is that while the OS transistor M5 is composed of a constant current source element or a resistor element, the input level is This is to prevent a through current from flowing between the power source and the ground of the input circuit when the potential or ground potential is reached.

【0032】本実施例では、CMOSLSIは信号が変
化しない時には電力を消費しないという特徴を最大に発
揮するために、上記のような構成になっている。
In this embodiment, the CMOS LSI has the above-described configuration in order to maximize the feature of not consuming power when the signal does not change.

【0033】一般的にCMOSLSIの入力回路に差動
増幅回路が使われかったのは、上記の貫通電流を防ぐこ
とができなかったからである。
The reason why a differential amplifier circuit is generally not used in the input circuit of a CMOS LSI is that the above-mentioned through current cannot be prevented.

【0034】差動増幅回路を用いた時の最大の利点は、
論理しきい値が温度変化の影響を受けにくくなる点であ
る。又、製造プロセスの変動の影響も受けにくくなる。
The biggest advantage when using a differential amplifier circuit is
This is the point where the logic threshold becomes less susceptible to temperature changes. It is also less susceptible to variations in the manufacturing process.

【0035】この結果、本実施例では、論理しきい値が
基準電圧VREF にほぼ等しくなり、従来難しかった
TTLレベルの信号の入力回路が容易に設計できること
になる。
As a result, in this embodiment, the logic threshold value becomes approximately equal to the reference voltage VREF, and it becomes possible to easily design an input circuit for TTL level signals, which has been difficult in the past.

【0036】次に、本発明の第2の実施例について述べ
る。本実施例は、第1の実施例では基準電圧VREF 
を定電圧源3によって得ていたのに対して、差動入力ト
ランジスタのしきい値電圧を変えることによって基準電
圧を発生させるようにしたものである。
Next, a second embodiment of the present invention will be described. In this embodiment, in the first embodiment, the reference voltage VREF
was obtained from a constant voltage source 3, whereas the reference voltage is generated by changing the threshold voltage of the differential input transistor.

【0037】図2において、PチャンネルMOSトラン
ジスタM6 のゲートを接地し、又、PチャンネルMO
SトランジスタM4 のしきい値電圧VTM4 よりP
チャンネルMOSトランジスタM6 のしきい値電圧V
TM6 の方を、約1.4V(TTLレベルの論理しき
い値)だけ高く設定することによって、TTLレベル信
号の入力回路を実現することができる。
In FIG. 2, the gate of P-channel MOS transistor M6 is grounded, and the gate of P-channel MOS transistor M6 is grounded.
P from threshold voltage VTM4 of S transistor M4
Threshold voltage V of channel MOS transistor M6
By setting TM6 higher by about 1.4 V (logic threshold of TTL level), an input circuit for a TTL level signal can be realized.

【0038】この回路では、論理しきい値が製造プロセ
スの変動によるMOSトランジスタのしきい値電圧の変
動の影響を受けるが、PチャンネルMOSトランジスタ
M4 とPチャンネルMOSトラジスタM6 とは導電
型が同じくPチャンネルであるため、しきい値電圧の差
はそれほど広がらず、±0.15V以内に抑えることは
容易である。
In this circuit, the logic threshold is affected by variations in the threshold voltage of the MOS transistor due to variations in the manufacturing process, but the P-channel MOS transistor M4 and the P-channel MOS transistor M6 have the same conductivity type. Since it is a channel, the difference in threshold voltage does not increase so much, and it is easy to suppress it to within ±0.15V.

【0039】本実施例では、PチャンネルMOSトラン
ジスタM6 のゲートを電源端子につなぐことも考えら
れるが、この場合には、 入力信号レベル(1.4V)−VTM4 =電源電圧−
VTM6 の式を満たすように2つのPチャンネルMOSトランジ
スタのしきい値電圧を設定すればよい。
In this embodiment, it is possible to connect the gate of P-channel MOS transistor M6 to the power supply terminal, but in this case, input signal level (1.4V) - VTM4 = power supply voltage -
The threshold voltages of the two P-channel MOS transistors may be set so as to satisfy the formula VTM6.

【0040】又、PチャンネルMOSトランジスタM1
 のドレイン側とNチャンネルMOSトランジスタM5
 のドレイン側に電流源素子あるいは抵抗素子を入れて
この回路の直流ゲインを上げる方法もある。
[0040] Also, P-channel MOS transistor M1
drain side and N-channel MOS transistor M5
Another method is to increase the DC gain of this circuit by inserting a current source element or a resistance element on the drain side of the circuit.

【0041】尚、第1の実施例および第2の実施例では
、差動入力としてPチャンネルMOSトランジスタを用
いた場合を説明したが、NチャンネルMOSトランジス
タを用いても同様な効果を得ることができる。
In the first and second embodiments, the case where P-channel MOS transistors were used as the differential input was explained, but it is also possible to obtain the same effect by using N-channel MOS transistors. can.

【0042】[0042]

【発明の効果】以上説明したように、本発明は、入力回
路として差動増幅回路を取り入れたことにより、その論
理しきい値が製造プロセスの変動によるMOSトランジ
スタのしきい値電圧の変動の影響、および温度変化の影
響を受けにくくなったので、TTLレベルの入力信号の
入力回路として用いることができる。
As explained above, the present invention incorporates a differential amplifier circuit as an input circuit, so that its logical threshold value is free from the effects of fluctuations in the threshold voltage of MOS transistors due to fluctuations in the manufacturing process. , and is less susceptible to temperature changes, so it can be used as an input circuit for TTL level input signals.

【0043】又、本発明の入力回路は、TTLレベルの
入力信号ではなくCMOSレベルの入力信号を扱う場合
には、入力信号が接地レベルまたは電源レベルの時、こ
の入力回路には電源電流が流れないという特徴も併せ持
っている。
Furthermore, when the input circuit of the present invention handles a CMOS level input signal instead of a TTL level input signal, when the input signal is at the ground level or power supply level, a power supply current flows through the input circuit. It also has the characteristic of not having any.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

【図1】本発明の第1の実施例の回路図である。FIG. 1 is a circuit diagram of a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第2の実施例の回路図である。FIG. 2 is a circuit diagram of a second embodiment of the invention.

【図3】従来の入力回路の回路図である。FIG. 3 is a circuit diagram of a conventional input circuit.

【図4】従来の入力回路の入出力特性を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing input/output characteristics of a conventional input circuit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1    反転回路 2    入力端子 3    定電圧源 4    出力端子 1 Inversion circuit 2 Input terminal 3 Constant voltage source 4 Output terminal

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】  差動増幅回路の一方の入力を基準電圧
に固定し他方の入力には入力端子を介して入力信号を入
力し、この差動増幅回路の電源側の素子と電源との間に
は第1導電型の第1のMOS電界効果トランジスタを直
列に接続し接地側の素子と接地との間には第2導電型の
第2のMOS電界効果トランジスタを直列に接続し、前
記第1のMOS電界効果トランジスタのゲートおよび前
記第2のMOS電界効果トランジスタのゲートを入力端
子に接続したことを特徴とする入力回路。
[Claim 1] One input of a differential amplifier circuit is fixed to a reference voltage, an input signal is inputted to the other input via an input terminal, and an element on the power supply side of this differential amplifier circuit is connected to the power supply. A first MOS field effect transistor of a first conductivity type is connected in series to the ground, a second MOS field effect transistor of a second conductivity type is connected in series between the ground side element and the ground, and An input circuit characterized in that a gate of the first MOS field effect transistor and a gate of the second MOS field effect transistor are connected to an input terminal.
JP3019603A 1991-02-13 1991-02-13 Input circuit Pending JPH04258020A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3019603A JPH04258020A (en) 1991-02-13 1991-02-13 Input circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3019603A JPH04258020A (en) 1991-02-13 1991-02-13 Input circuit

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04258020A true JPH04258020A (en) 1992-09-14

Family

ID=12003784

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3019603A Pending JPH04258020A (en) 1991-02-13 1991-02-13 Input circuit

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH04258020A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6034555A (en) * 1992-06-15 2000-03-07 Fujitsu Limited Semiconductor integrated circuit with input/output interface adapted for small-amplitude operation

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6720804B2 (en) 1992-05-15 2004-04-13 Fujitsu Limited Semiconductor integrated circuit with input/output interface adapted for small-amplitude operation
US6034555A (en) * 1992-06-15 2000-03-07 Fujitsu Limited Semiconductor integrated circuit with input/output interface adapted for small-amplitude operation
US6492846B1 (en) 1992-06-15 2002-12-10 Fujitsu Limited Semiconductor integrated circuit with input/output interface adapted for small-amplitude operation
US6707325B2 (en) 1992-06-15 2004-03-16 Fujitsu Limited Semiconductor integrated circuit with input/output interface adapted for small-amplitude operation
US6737893B2 (en) 1992-06-15 2004-05-18 Fujitsu Limited Semiconductor integrated circuit with input/output interface adapted for small-amplitude operation
US6744300B2 (en) 1992-06-15 2004-06-01 Fujitsu Limited Semiconductor integrated circuit with input/output interface adapted for small-amplitude operation

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4752703A (en) Current source polarity switching circuit
US4103190A (en) Complementary power saving comparator/inverter circuits
JP2885177B2 (en) Power supply monitor circuit
JPS61202523A (en) Semiconductor integrated circuit
JP2003318721A (en) Output circuit
JPH02188024A (en) Level shifting circuit
US7061322B2 (en) Low voltage differential amplifier circuit and bias control technique enabling accommodation of an increased range of input levels
US7167052B2 (en) Low voltage differential amplifier circuit for wide voltage range operation
JPH04150411A (en) Double voltage source interface circuit
JP3249608B2 (en) Integrated comparator circuit
JP2988430B2 (en) Level conversion circuit
US20010011915A1 (en) Schmitt Trigger circuit
JPH06152341A (en) Buffering circuit
JPH04258020A (en) Input circuit
JPS591005B2 (en) Schmidt trigger circuit
TW202013895A (en) Level shift circuit
JPS6213120A (en) Semiconductor device
JPS58162130A (en) Semiconductor inputting circuit
JPH05110419A (en) Cmos inverter circuit
JPH03249817A (en) Power on signal generation circuit
JPH0159773B2 (en)
US20030102888A1 (en) Input buffer circuit
JPH05268002A (en) Voltage controlled oscillator
JP2541289B2 (en) Output circuit
JP2927112B2 (en) Test circuit