JPH04251442A - トラッキングエラー検出装置 - Google Patents

トラッキングエラー検出装置

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JPH04251442A
JPH04251442A JP17043591A JP17043591A JPH04251442A JP H04251442 A JPH04251442 A JP H04251442A JP 17043591 A JP17043591 A JP 17043591A JP 17043591 A JP17043591 A JP 17043591A JP H04251442 A JPH04251442 A JP H04251442A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、トラッキングエラー検
出装置に関するものであり、特に、ディスク状記録媒体
の半径方向に対物レンズを移動させた場合に発生するト
ラッキングエラー信号のオフセットや、分離型光ピック
アップ装置における、固定部の光軸に対する可動部の可
動軸の傾き等により発生するトラッキングエラー信号の
オフセットを有効に除去することができるトラッキング
エラー検出装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】光学式情報記録再生装置においては、光
学式ピックアップ装置を用いて、情報記録媒体に光ビー
ムを照射し、その反射光を検出して情報の記録及び/又
は再生を行う。最近は、高速アクセス化の要求の下に、
いわゆる分離型光ピックアップ装置が普及し始めている
【0003】これは、光学式ピックアップ装置を光源を
有する固定部と、この光源から発せられた光束を情報記
録媒体の所定の位置に照射するための対物レンズを有す
る可動部とに分離したものである。光源を含む光学系を
固定してあるため、光源部の組み立て及び調整が容易に
なると共に、可動部に組み込まれた対物レンズや反射部
材を移動調整すること及び/又は可動部全体を移動調整
することによりより高精度にトラッキング制御を行うこ
とができる。
【0004】さらに、シーク時などに、情報記録媒体上
に形成されたトラックを横断して光ビームを大幅に移動
させる場合も、可動部全体をスライダ構造等を介して移
動させることによって容易に行うことができる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】このような分離型光ピ
ックアップ装置においては、固定部からの出射光の光軸
に対して可動部の可動軸が傾きを持っている場合や、機
械的な誤差によりディスクの半径方向における可動部の
位置によって可動部の位置ずれが発生する場合や、光学
式情報記録再生装置内の各素子の熱特性の影響により光
軸ずれが発生する場合などにトラッキングエラー信号に
オフセットが生じる。
【0006】また、可動部と固定部とが分離されていな
い、一体型のピックアップ装置においても、光源から入
射する光ビームに対して対物レンズをディスクの半径方
向に移動させてトラッキング制御を行う場合、分離型光
ピックアップ装置と同様に機械的誤差や各素子の熱特性
の影響などにより、トラッキングエラー信号にオフセッ
トが生じる。
【0007】図11は、分離型光ピックアップ装置にお
いてこのような光軸ずれが発生する状態の一例を示した
ものである。図6に示すように、固定部22からの出射
光束Aに対して可動部21の可動軸がある傾き誤差をも
ている場合、可動部21がディスクの内周部に位置する
ときと、可動部21が移動してディスクの外周部に位置
するとき(図11に破線で示す)とでは、この可動部2
1の可動軸と固定部22からの出射光束Aはトラック方
向においてδだけずれることが明らかである。尚、図6
において、符号23はディスクを回転させるスピンドル
モータの回転軸の位置を示すものである。
【0008】このような分離型ピックアップの固定部と
可動部の光軸ずれを解決する手段として、特開昭61−
182640号公報に、可動部に設けられた反射部材に
入射する光の入射角の変化を検出し、この検出結果に基
づいて、入射角の変化を打ち消すように反射部材の位置
を調整して、ヨーイング等による固定部と可動部との相
対位置の変化を補正するようにした光軸ずれ補正方式が
開示されている。
【0009】しかしながら、この方法では、可動部に光
軸ずれ検出用の2分割光検出器及び、この2分割光検出
器へ光線を導くためのビームスプリッタを設ける必要が
あり、可動部の重量が大きくなり、シーク特性が劣化す
るという不具合がある。
【0010】また、特開昭61−148630号公報に
は、アクチュエータに入る入射光を2つに分離し、一方
を通常の記録、再生、消去を行うビームとして使用し、
他方をアクチュエータ内で反射させ、この反射光とディ
スクからの反射光とを同一光路を再度通した後、固定光
学系内で両反射ビームを分離し、後者の反射ビームから
検出された光点制御信号に補正をかけ、光軸ずれの影響
を除去するようにした光学式ピックアップが開示されて
いる。  しかしながら、この方法においても、やはり
可動部に光軸ずれ検出用のビームスプリッタ、λ/4板
、ミラーを設ける必要があり、可動部の重量が増して、
シーク特性が劣化するという不具合があるとともに、光
軸ずれ用の検出器へ光線を導くためのビームスプリッタ
を固定部に設けているため、レーザへ戻るP偏向成分が
大きいという不具合がある。
【0011】本発明は、上記の不具合を解決すべく提案
されるもので、オフセット値のみを検出する検出手段を
設けて、オフセット値を含むトラッキングエラーを補正
することができるトラッキングエラー検出装置を提供す
ることを目的とするものである。
【0012】
【課題を解決するための手段及び作用】上記課題を解決
するために、本発明のトラッキングエラー検出装置は、
少なくとも光源と対物レンズと光検出器と、情報記録媒
体からの反射ビームを前記光検出器へ導く光ビーム導入
手段とを具えるピックアップ装置に設けられたトラッキ
ングエラー検出装置において、オフセット値を含んだト
ラッキングエラー信号を検出する第1の検出手段と、前
記記録媒体からの反射ビームを所定の方向に4個以上の
領域に分割し、1個おきの領域の出力の和をそれぞれ検
出し、これら2つの出力の差を前記オフセット値として
検出する第2の検出手段と、前記第1及び第2の検出手
段の出力を差動演算する手段とを具えることを特徴とす
るものである。
【0013】このように、本発明のトラッキングエラー
検出装置では、オフセット値を含むトラッキングエラー
信号を検出する第1の検出手段と、オフセット値のみを
検出する第2の検出手段とを設け、これらの検出手段か
らの出力を差動演算してオフセット値を除去したトラッ
キングエラー信号を検出するようにしている。したがっ
て、光軸ずれを補正したトラッキングエラー信号を得る
ことができ、特に分離型の光ピックアップ装置に本発明
のトラッキングエラー検出装置を適用した場合は、可動
部の重量を軽量に保つことができ、シーク特性を損なう
ことがない。
【0014】
【実施例】図1は、本発明のトラッキングエラー検出装
置の第1実施例を用いた分離型の光学ピックアップ装置
の全体の構成を示す図である。ディスク1をスピンドル
モータ2によって回転させ、ディスク1の下方に分離型
光学ピックアップの可動部3を配置する。この可動部3
には、光源からの光を反射する反射部材4及びこの光を
ディスク1の表面に集光する対物レンズ5を設けており
、可動部3全体及び/又は対物レンズ5をディスク1の
半径方向に移動させることによってトラッキング制御を
行うようにしている。
【0015】可動部3に対して固定部6を設けており、
この可動部3と固定部6とで分離光学系を構成している
。固定部6には、光源としてレーザダイオード7を設け
ており、レーザダイオード7から出射した光ビームはコ
リメートレンズ8を介して平行光束となって第1のビー
ムスプリッタ9に入射する。ここでほとんどの光ビーム
は、第1のビームスプリッタ9を通過して、可動部3に
入射し、可動部3に設けられた反射部材4にて対物レン
ズ5の方向へ反射され、対物レンズ5を介してディスク
1の表面に集光照射される。
【0016】ディスク1に設けた記録層からの反射光は
、対物レンズ5で集光されてほぼ平行な光束となり、反
射部材4で反射された後、前記第1のビームスプリッタ
9に入射する。ここで、一部の光がビームスプリッタ9
の反射面9aで反射されて、検出系へ導かれる。ビーム
スプリッタ9で反射された反射光の光路上に、第2のビ
ームスプリッタ10を配置し、この反射光を2方向に分
離する。一方の分離された光ビームは臨界角プリズム1
1に入射し、臨界角プリズム11のプリズム面で反射さ
れて第1の光検出器12で受光される。尚、第1の光検
出器12は4分割フォトダイオード(PD)からなり、
この出力からフォーカスエラ−信号及びトラッキングエ
ラー信号を検出するように構成されている。
【0017】一方、第2のビームスプリッタ10で分離
された他方の光ビームは、このビームスプリッタ10に
形成されたタンジェンシャル方向にほぼ平行なピッチを
もつグレーティング13によって、0次光、±1次光・
・・に分離された後、レンズ14で集光されて第2の光
検出器15で受光される。
【0018】グレーティング13は、グレーティング1
3によって分離される±1次光が光検出器15上で0次
光に対してラジアル方向に半スポットだけずれるように
回転させてビームスプリッタ10に取り付ける。
【0019】これらの0次光及び±1次光のスポットは
、ディスク10に入射する光ビームがディスク10に形
成されたグルーブを横切ることによって、ラジアル方向
に非対称に強度変化を起こしている。したがって、0次
光に対して±1次光をラジアル方向に半スポットずらせ
て受光することにより、トラッキングエラー信号のAC
成分をほぼキャンセルすることができる。
【0020】図2は、本発明のトラッキングエラー検出
装置の第1実施例に使用する第2の光検出器15の構成
を示す図である。図2に示すように、第2の光検出器1
5はスポット径の約1/2 の幅を有する2分割フォト
ダイオード15a, 15bで構成されており、グレー
ティング13(図1参照)で分割された0次光のスポッ
ト、+1次光のスポット、−1次光のスポットの強度を
ほぼ等しくして、フォトダイオード15a, 15bで
これらのスポットを受光し、差信号を得ることで図3で
の可動部3と固定部6との光軸ずれによるDCオフセッ
ト成分や、フォトダイオード上でスポットが移動したと
きに外乱によって生じるDCオフセット成分を得ること
ができる。
【0021】すなわち、第1の光検出器では、オフセッ
ト量を含んだトラッキングエラー信号を検出し、第2の
光検出器ではトラッキングエラー信号は検出せずに、光
束のずれや、光束内の光量分布の差を検出し、これらと
光検出器の出力の差信号を取ることによって、オフセッ
ト成分を補正したトラッキングエラー信号を得るように
している。なお、集光レンズ14は必ずしも必要ではな
い。
【0022】図3は、このようなトラッキングエラー信
号の検出装置の動作を示したものである。
【0023】まず、第1の光検出器12の出力をラジア
ル方向に差動の演算を行ってトラッキングエラー信号を
検出するが、このトラッキングエラー信号は光軸ずれな
どによるオフセットも含んだ信号である。
【0024】一方、第2の光検出器15の出力をラジア
ル方向に差動の演算を行って、光軸ずれ等によるオフセ
ット信号のみを検出する。
【0025】この光検出器12の差動信号と、光検出器
15の差動信号とを更に差動演算することによって、光
軸ずれ等によるオフセットを除去したトラッキングエラ
ー信号を得ることができる。更に、光検出器12及び光
検出器15で受光する光量のアンバランス、フォトダイ
オードの形状、感度の違いを補正するために、第2の光
検出器15から得た光軸ずれ信号に定数G1 を乗じた
ものを引く演算をすることによって、十分な効果を発揮
することができる。
【0026】図4は、図1に示す第1実施例に使用した
第2の光検出器15の変形例を示す図である。図1の第
1実施例では、第1の光検出器12の出力からオフセッ
ト分を含んだトラッキングエラー信号を得るようにして
いるが、図4(a)に示すように、第2の光検出器15
上の±1次光のスポットのそれぞれ左半分、右半分を受
光するように、フォトダイオード15a、15bの横に
フォトダイオード15c、15dを配置し、フォトダイ
オード15c、15dの差動信号を得ることによってオ
フセットを含むトラッキングエラー信号を得るようにし
ても良い。
【0027】また、図4(b)に示すように、光検出器
15のフォトダイオード15a,15bの0次光のスポ
ットが形成される中央部の横にフォトダイオード15e
,15fを配置して0次光のスポットの左端と右端とを
受光し、これらフォトダイオード15e,15fの差動
信号を得て、オフセットを含むトラッキングエラー信号
を得るようにしてもよい。
【0028】図5は、本発明のトラッキングエラー検出
装置の第2実施例に用いる第2の光検出器15を示す図
である。第2実施例においては、図1に示す第1実施例
において第2のビームスプリッタ10に設けたグレーテ
ィング13に替えてホログラム素子を用いる。
【0029】光検出器15は6分割フォトダイオード1
5g,15h,15i,15j,15k, 15lで構
成し、±1次光をフォトダイオード15i,15l 上
に並べて配置し、0次光はフォトダイオード15g,1
5h,15j,15kにかかるように配置する。
【0030】可動部3と固定部4のトラック方向の光軸
ずれによるオフセットは(g+h+i)−(j+k+l
)により得られ、フォーカス方向の光軸ずれによるオフ
セットは(g+j)−(h+k)によって得られる。
【0031】これらのオフセット値を第1の光検出器1
2から得たオフセットを含むトラッキングエラー信号と
フォーカシングエラー信号とからそれぞれ減算して、オ
フセットを取り除いたエラー信号を生成することができ
る。
【0032】この例では、第2のビームスプリッタ10
にホログラム素子を形成するようにしているが、集光レ
ンズ14に同様のホログラム効果を持たせるようにして
もよい。
【0033】図6は本発明の第3実施例に用いる第2の
光検出器16の構成を示す図である。第3実施例におい
ては、図1に示す検出系のグレーティング13を取り除
き、第2の光検出器15に代えて図6(a)に示す6分
割光検出器16を用いる。光検出器16はディスク10
に設けられたトラックのトラック方向と平行な方向に6
分割されている。
【0034】トラッキングエラー検出の原理は以下の通
りである。図4に示す第2の光検出器の受光領域15a
と15bをそれぞれトラック方向に3分割した構成を図
6(b)に示す、すなわち、図4に示す光検出器15の
受光領域15a,15bは6つの受光領域a,b,c,
d,e,fに分割され、これらの領域は図6(a)に示
す光検出器16の受光領域a,b,c,d,e,fにそ
れぞれ対応する。
【0035】図6(b)に示す光検出器では、受光領域
15aすなわち領域b,d,fの出力の和から、受光領
域15b、すなわち領域a,c,eの出力の和を減算す
ることによりオフセット補正信号を得られる。図6(a
)に示す光検出器16でも、同様の演算すなわち(b+
d+f)−(a+c+e) から、オフセット補正信号が得られる。従って、図6(
a)に示す光検出器と図6(b)、あるいは図4(a)
に示す光検出器16とは機能上等価であると言える。
【0036】オフセット値を含んだトラッキングエラー
信号は、 (a+b+c)−(d+e+f) より得られ、上述のオフセット補正信号にG1を掛けた
ものをオフセットを含むトラックエラー信号から減算す
ることにより、オフセットを補正したトラックエラー信
号を得ることができる。
【0037】第3実施例によれば、グレーティング等の
ビーム分割手段を設けて光ビームを分離する必要がなく
、1本のビームで第1及び第2の実施例と同程度にオフ
セットを補正したトラッキングエラー信号を得ることが
できる。従って装置の部品点数の削減、小型化及び、調
整工数の削減を図ることができる。又、構成が単純にな
るためフォーカス検出との組合せを簡単に行うことがで
きる。
【0038】図7は、第3実施例に使用する光検出器1
6の変形例を示す図である。この変形例は図7に明らか
な通り、図6(a)に示す光検出器16の両外側の受光
領域c及びfを除いた4分割光検出器17である。この
ような4分割の検出器を用いても、ある程度のオフセッ
ト補正信号を得ることができる。もちろんオフセットを
含むトラッキングエラー信号は、図1に示す第1の光検
出器12より得る。図6の光検出器16あるいは図7の
光検出器17の受光領域を分割する分割幅はビームの直
径のほぼ1/4 程度で良く、厳密に規定されるもので
はない。
【0039】図9は、第3実施例の光検出器の他の変形
例を示す図である。この変形例では各受光領域がパター
ンによって形成されており、図6(a)に示す受光領域
a,c,eはパターン18bに、又、受光領域b,d,
fはパターン18aにそれぞれ対応する。オフセット補
正信号は、それぞれパターンからの出力の差動より得ら
れ、各受光領域の加算演算を行う必要がなくなる。
【0040】図9は、第2の光検出器から得たオフセッ
ト信号に乗ずる定数G1を、G1=3に設定し、シミュ
レーションを行って求めた、対物レンズの光軸に対する
シフト量と、光ビームのオフトラック量との関係を示す
グラフである。本発明のトラッキングエラー検出装置を
使ったトラッキング操作のシミュレーションの結果を実
線で示し、従来のトラッキングエラー検出装置を使った
トラッキング操作のシミュレーションの結果を破線で示
す。対物レンズのNAは0.53に、記録媒体上のトラ
ックのトラックピッチは1.6 μm に、対物レンズ
の瞳径は4mmに設定した。
【0041】従来の装置を設定して得た結果においては
、対物レンズが基準位置から0.3mm 以上シフトす
ると、トラッキングエラー信号がゼロクロスしなくなっ
てトラッキング操作を行うことができなくなった。これ
に対して、本発明の装置を設定して得た結果においては
、トラッキングエラー信号のオフセットが補正されてい
るため、対物レンズが基準位置から0.3mm シフト
した時の光ビームのオフセット量は、0.03μm と
ごく僅かであり、対物レンズが光軸からシフトしている
場合でも良好なトラッキング操作を行うことができた。
【0042】その他、本発明のトラッキングエラー検出
装置はフォースカ検出系と組み合わすことも可能である
【0043】図10(a)は、非点収差法によるフォー
カシングエラー検出と本発明のトラッキングエラーの検
出の組み合せに用いる光検出器の構成を示す図である。 光検出器19は上側半分を受光領域16a,16b,1
6c,16d,16e,16fに6分割し、下側半分を
受光領域16g,16hに2分割したものを用いる。オ
フセットを含むトラッキングエラー信号は、 (g−h)/(g+h) もしくは {(a+b+c+g)−(d+e+f+h)}/(a+
b+c+d+e+f+g+h) から得られ、オフセット補正信号は、 {(b+d+f)−(a+c+e)}/(a+b+c+
d+e+f+g+h) から得られる。このオフセットを含むトラッキングエラ
ー信号からオフセット補正信号にG1を乗じたものを減
算することによって、オフセットを補正したトラッキン
グエラー信号を得ることができる。なお、フォーカスエ
ラー信号は {(a+b+c+h)−(d+e+f+g)}/(a+
b+c+d+e+f+g+h) を演算することにより得られる。
【0044】図10(b)は、ビームサイズ法によるフ
ォーカシングエラーの検出と本発明のトラッキングエラ
ーの検出との組み合せに用いる光検出器の構成を示す図
である。光検出器20は2つの受光素子20−1,20
−2からなる。受光素子20−1,20−2はそれぞれ
トラック方向に直交する方向に3分割され、さらに受光
素子20−2の中央の受光領域はトラック方向に平行な
方向に受光領域18a,18b,18c,18d,18
e,18fに6分割されている。オフセットを含むトラ
ッキングエラー信号は、    {(a+b+c)−(
d+e+f)}/(a+b+c+d+e+f)から得ら
れ、オフセット補正信号は、     {(b+d+f)−(a+c+e)}/(a+
b+c+d+e+f)から得られる。オフセットを除去
したトラッキング信号は、オフセットを含むトラッキン
グエラー信号からオフセット補正信号にG1を乗じたも
のを減算することによって得られる。フォーカスエラー
信号は    {(b+g+h)−(i+k+a+b+
c+d+e+f)}/      (a+b+c+d+
e+f+g+h+i+j+k)より得られる。
【0045】図10(c)は、ナイフエッジ法によるフ
ォーカシングエラー検出と、本発明のトラッキングエラ
ー検出との組み合せに用いる光検出器を示す図である。 光検出器21の構成は、図10(a)に示す非点収差法
に用いたものと同様である。光検出器21は光検出器2
1を上下方向に分割する分割線が、光ビームスポットの
弦に平行となるように配置しておく。オフセットを含む
トラッキングエラー信号は   TE={(a+b+c)−(d+e+f)}/(a
+b+c+d+e+f)より得られ、オフセット補正信
号は     {(b+d+f)−(a+c+e)}/(a+
b+c+d+e+f)より得られる。オフセットと補正
したトラッキングエラー信号は、オフセットを含むトラ
ッキングエラー信号から、オフセット補正信号にG1を
乗じたものを減算することによって得られる。又、フォ
ーカスエラー信号は    {(a+b+c+d+e+
f)−g}/(a+b+c+d+e+f+g)より得ら
れる。
【0046】図10(a),10(b),10(c)に
示した通り、フォーカシングエラー検出と本発明のトラ
ッキングエラー検出とを組み合わせた場合、第1の光検
出器は不要となり、更に部品点数の調整工数の軽減を図
ることができる。
【0047】上述した実施例では、分離型ピックアップ
装置を例にとって説明したが、一体型のピックアップ装
置においても本発明のトラッキングエラーの検出装置を
用いて、対物レンズをラジアル方向に移動させる際に発
生する光検出器上でのオフセットを同様に補正すること
ができる。
【0048】
【発明の効果】上記に詳述した通り、本発明のトラッキ
ングエラー検出装置によると、光ピックアップ装置にお
いて、固定部からの出射光の光軸に対して可動部の可動
軸がラジアル方向に傾き誤差を有する場合、可動部のデ
ィスク半径上の位置によって、可動部にラジアル方向の
位置ずれが生じている場合、ピックアップ装置内の構成
要素の熱特性の影響によりラジアル方向の位置ずれが発
生する場合、ディスクのラジアル方向の傾角が半径位置
によって異なる場合等において、ディスクのどこの半径
位置でトラッキングしているかによってオフセット量が
変化するようなトラッキングオフセットがキャンセルさ
れ、安定した情報の記録、再生、消去、シークが可能と
なる。特に、分離型ピックアップ装置においては、オフ
セット検出用の光学素子を固定部に設けるようにしてい
るため、可動部の重量を大きくすることがなく、シーク
特性を損なうことがない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のトラッキングエラー検出系を用いた光
ピックアップ装置の構成を示す図である。
【図2】本発明の第1実施例を示す図である。
【図3】本発明のトラッキングエラー信号検出系の動作
を示す図である。
【図4】本発明の第1実施例の変形例を示す図である。
【図5】本発明の第2実施例を示す図である。
【図6】本発明の第3実施例を示す図である。
【図7】本発明の第3実施例の変形例を示す図である。
【図8】本発明の第3実施例の他の変形例を示す図であ
る。
【図9】シミュレーションによる対物レンズのシフト量
と光ビームのオフトラック量との関係を示す図である。
【図10】フォーカスエラー検出と本発明によるトラッ
キングエラー検出との組合せを説明するための図である
【図11】分離型ピックアップ装置における固定部と可
動部のずれの状態を示す図である。
【符号の説明】
1  ディスク 2  スピンドルモータ 3  可動部 4  反射部材 5  対物レンズ 6  固定部 7  光源 8  コリメータレンズ 9  第1ビームスプリッタ 10  第2ビームスプリッタ 11  臨界角プリズム 12  第1光検出器 13  グレーティング 14  集光レンズ

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  少なくとも光源と対物レンズと光検出
    器と、情報記録媒体からの反射ビームを前記光検出器へ
    導く光ビーム導入手段とを具えるピックアップ装置に設
    けられたトラッキングエラー検出装置において、オフセ
    ット値を含んだトラッキングエラー信号を検出する第1
    の検出手段と、前記記録媒体からの反射ビームを所定の
    方向に4個以上の領域に分割し、1個おきの領域の出力
    の和をそれぞれ検出し、これら2つの出力の差を前記オ
    フセット値として検出する第2の検出手段と、前記第1
    及び第2の検出手段の出力を差動演算する手段とを具え
    ることを特徴とするトラッキングエラー検出装置。
  2. 【請求項2】  請求項1に記載のトラッキングエラー
    検出装置において、前記第2の検出手段が前記光ビーム
    導入手段によって光検出器に導かれる反射ビームを少な
    くとも3本の光ビームに分離する光ビーム分離手段を具
    え、前記光検出器は、前記光ビームのビーム径のほぼ1
    /4 の幅をもって前記情報記録媒体上に形成されたト
    ラックの方向と平行な方向に少なくとも2分割された受
    光領域を具え、前記少なくとも3本の光ビームが、前記
    光検出器上において前記トラックの延在方向に直交する
    方向にほぼ半ビームずつずれて、かつ前記受光領域を画
    成する光検出器の分割線に対してほぼ対称に照射される
    ように構成されていることを特徴とするトラッキングエ
    ラー検出装置。
  3. 【請求項3】  請求項1に記載のトラッキングエラー
    検出装置において、前記光検出器は、前記情報記録媒体
    上に形成されたトラックの延在方向と平行する方向に、
    前記反射ビームのビーム径のほぼ1/4 の幅をもって
    少なくとも4分割された受光領域を具えることを特徴と
    するトラッキングエラー検出装置。
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