JPH0425115A - 現像装置 - Google Patents

現像装置

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JPH0425115A
JPH0425115A JP12992790A JP12992790A JPH0425115A JP H0425115 A JPH0425115 A JP H0425115A JP 12992790 A JP12992790 A JP 12992790A JP 12992790 A JP12992790 A JP 12992790A JP H0425115 A JPH0425115 A JP H0425115A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
resist
air
suction hole
developing device
Prior art date
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Pending
Application number
JP12992790A
Other languages
English (en)
Inventor
Masaaki Kawahara
正明 川原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
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Publication of JPH0425115A publication Critical patent/JPH0425115A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概 要〕 基板表面に被着したレジストに現像液をスプレーして現
像するスプレー式の現像装置に関し、レジストを均一に
現像することのできるスプレー式の現像装置の提供を目
的とし、 挿通孔と排気管を有する底板を両端開口の筒管の内周面
に密着させて形成した処理カップと、処理カップの底板
の挿3J1孔を挿通した回転軸に連結し、表面に吸着し
た基板を水平に回転する吸着チャックと、 処理カップの筒管内で当該筒管の内周面若しく番よ処理
カップの底板の表面に密着し、基板を取り囲んで、基板
の外周面との間にリング状の空気吸込孔を形成する開口
部を有する跳返り防止板と、跳返り防止板の開口部を通
過させて、基板に被着したレジストに現像液をスプレー
するスプレーガンと、 処理カップの排気管に連結して空気吸込孔から吸入した
空気を処理カップ外に排気する排気装置とを含んでなる
スプレー式の現像装置において、跳返り防止板の開口部
の周囲上方に空気吸込孔と連通した筒状の整流筒を設け
てスプレー式の現像装置を構成する。
〔産業上の利用分野〕
本発明は、スプレー式の現像装置、特にレジストを均一
に現像することのできるスプレー式の現像装置に関する
最近の半導体装置の配線パターン幅は、IMDRA M
や4 M D RA M (DRAM ; Dynam
ic Random Access Memory;記
憶保持動作が必要な随時書き込み読め出しメモリー)等
でみられるように、まずまず微4111化されている。
従って、このような半導体装置を製造するために使用す
るスプレー式の現像装置も、より高性能なものが求めら
れるようになっている。
〔従来の技術〕
次に、従来のスプレー式の現像装置について図面を参照
しながら説明する。
第2図は、従来の現像装置を説明するだめの図で、同図
(a)は装置の要部を模式的に示す側断面図、同図(b
)は装置の要部平面図である。
尚、同じ部品・材料に対してば全図を通して同し記号を
付与しである。
従来の現像装置は第2図に示すように、回転装置(図示
せず)に一端が連結された回転軸12を挿通させる挿通
孔1]a及び排気管11.bとを有する底板11cを、
両端開口の筒管11dの内周面に密着させて形成した処
理カップ11と、 処理カップ11の底板1.1cの挿通孔11aを挿通し
た回転軸12の他端に連結し、表面に真空吸着した基板
31を水平に回転する吸着チャンク13と、処理カップ
11の筒管11d内で底板11cの表面に密着し、吸着
チャック13に吸着された基板31を取り囲んで、この
基板31の外周面との間にリング状の空気吸込孔15を
形成する開口部14aを有する跳返り防止板14と、 跳返り防止板14の開口部14aを通過させて吸着チャ
ック13に吸着された基板31に被着されて露光済のレ
ジスト32に現像液33をスプレーするスプレーガン1
6と、 処理カップ11の排気管11bに連結し、跳返り防止板
14の開口部14aの中央部を吸着チャック13に吸着
された基板31により仕切るようにして構成した空気吸
込孔15から吸入した空気を処理カップ11外に排出す
る排気装置17とを含んで構成したものである。
このように構成してクリーンルーム内に設置した現像装
置により、半導体ウェー八等の基板の表面に被着されて
露光済のレンスI・を現像する方法を説明する。
まず、表面に露光済のレジストを被着した基板31を吸
着チャック13に載置した後、吸着チャック13に連結
した真空装置(図示せず)を作動し、基板31を吸着チ
ャック13に真空吸着する。
次いで、排気装置17を作動させると、排気装置17は
、スプレーガン16から高圧の気体とともに現像液33
を吸着チャック13に吸着された基板31を目掛けてス
プレーした際に、現像液33や当該現像液33により溶
解・除去されたレジスト32が跳ね返って基板31の表
面に付着するのを防止するために、空気を空気吸込孔1
5から吸入して矢印B−C−Dで示すような空気の流れ
を発生させる。
なお、排気装置17はクリーンルーム外に設置されてい
るので、排気装置17が排気した空気はクリーンルーム
外に排出されることは勿論である。
この後、回転装置を作動し、回転軸12を介して吸着チ
ャックI3と基板31を矢印R方向に回転させながら、
この基板31に被着したレジスト32に、高圧の気体と
ともに現像液33をスプレーガン16から噴射する。
すると、レジスト32がポジ型のレジストであれば、基
板31に被着して露光された部分のレジスト32が現像
液33で溶解・除去されるとともに、露光されてないレ
ジストは現像液33により溶解・除去されることなく所
望のパターンとなって基板31に残り、基板31に被着
したレジスト32が現像されることとなる。
〔発明が解決しようとする課題〕
ところが、従来の現像装置の空気吸込孔15は、第2図
の(a)図に示す如く跳返り防止板14の開口部14a
の周囲部の当該跳返り防止板14と、吸着チャック13
に吸着された基板31とをほぼ同じ平面内に配置して構
成していた。
従って、基板31のレンス1−32を現像する際に排気
装置17を作動すると、空気吸込孔15の直上部の空気
が、矢印Bで示すように空気吸込孔15に対してほぼ垂
直な流れとなって空気吸込孔15から吸い込まれること
となる。
斯くして、スプレーガン16から現像液33とともに基
板31を目掛けて噴射された気体は、基板31の周縁部
で跳ね返って矢印Eで示すようにスプレーガン16から
噴射した気体の流れと反対方向の成分を有する流れを発
生させる。
このため、基板31の中央部に比べて、基板31の周縁
部には現像液33の供給が少なくなって、基板31の中
央部と周縁部間で現像むらが発生ずる問題があった。
本発明は、このような問題を解決するためになされたも
ので、その目的はレジストを均一に現像することのでき
るスプレー式の現像装置を提供することににある。
〔課題を解決するだめの手段〕
前記目的は第1図に示すように、挿通孔11aおよび排
気管11bとを有する底板11cを両端開口の筒管11
dの内周面に密着させて形成した処理カップ11と、 処理カップ11の挿通孔11aを挿通した回転軸12に
連結し、表面に吸着した基板31を水平に回転する吸着
チャック13と、 処理カップ11の筒管11d内で該筒管11dの内周面
若しくは処理カンプ11の底板11cの表面に密着し、
基板31を取り囲んで、基板31の外周面との間にリン
グ状の空気吸込孔15を形成する開口部14aを有する
跳返り防止板14と、 跳返り防止板14の開口部14aを通過させて基板31
に被着したレンス1−32に現像液33をスプレーする
スプレーガン16と、 排気管11bに連結して空気吸込孔15から吸入した空
気を処理カップ11外に排気する排気装置17とを含ん
でなるスプレー式の現像装置において、跳返り防止板1
4の開口部14aの周囲上方に空気吸込孔15と連通し
た筒状の整流筒21を設けたことを特徴とする現像装置
によって達成される。
〔作 用〕
本発明の現像装置は、跳返り防止板14の開口部14a
の周囲上方に空気吸込孔15と連通した筒状の整流筒2
1を設けて構成している。
従って、基板31に被着したレジスト32を現像する際
に排気装置17を作動させると、排気装置17は整流筒
21内を」−から下に流れて空気吸込孔15に流れ込む
空気の流れを発生させる。
この結果、スプレーガン16から高圧の気体とともに噴
射された現像液33は、矢印Fで示すように整流筒21
内を上から下に流れて空気吸込孔15に流れ込む空気の
流れに乗って、基板31に被着したレジスト32に均一
にスプレーされることとなる。
斯くして、基板3Iに被着したレンス1−32は、均一
に現像されることとなる。
〔実 施 例〕
以下、本発明の一実施例を図面を参照しながら説明する
第1図は、本発明の一実施例の現像装置を説明するため
の図であって、同図(a)は装置の要部を模式的に示す
側断面図、同図(b)は装置の要部平面図である。
すなわち、第1図に示すように本発明の−実施例の現像
装置は、第2図により説明した従来の現像装置の跳返り
防止板14の開口部14aの周囲上方に、空気吸込孔1
5と連通した筒状の整流筒21を新たに付加して構成し
たものである。
従って、吸着ヂャソク13に吸着された基板31に被着
したレンス1−32を現像する際に排気装置17を作動
させると、排気装置17は矢印Fで示すような整流筒2
1内を上から下に流れて空気吸込孔15に流れ込む空気
の流れを発生させる。
この結果、スプレーガン16から高圧の気体とともに噴
射された現像液33は、整流筒21内を上から下に流れ
て空気吸込孔15に流れ込む空気の流れに乗って、基板
31に被着したレジスト32に均一・にスプレーされる
こととなる。
斯くして、本発明の一実施例の現像装置は、基板31に
被着したレジスト32を均一に現像することとなる。
なお、本発明の一実施例の現像装置による基板に被着し
たレジストの現像方法は、従来の現像装置による現像方
法と同様であるので此処での説明■ ■ は割愛する。
〔発明の効果〕
以」―の説明から明らかなように本発明によれば、半導
体ウェー八に被着したレンス1−を均一に現像するごと
のできるスプレー式の現像装置を提供できる。
従って、本発明の現像装置を導入すれば、半導体装置等
の製造歩留まりの向−にば固より、半導体装置の信頼度
の向」−を可能にする。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の一実施例の現像装置を説明するだめ
の図、 第2図は、従来の現像装置を説明するだめの図である。 図において、 11は処理カップ、 11aは挿通孔、 11bは排気管、 ]1.c は底亭反、 11dは筒管、 12ば回転軸、 13は吸着チャック、 14は跳返り防止板、 ]4aは開口部、 15は空気吸込孔、 16はスプレーガン・ 17ば排気装置、 21は整流筒、 31は基板、 32ばレジスト、 33ば現像液をそれぞれ示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】  挿通孔(11a)及び排気管(11b)とを有する底
    板(11c)を両端開口の筒管(11d)の内周面に密
    着させて形成した処理カップ(11)と、 前記挿通孔(11a)を挿通した回転軸(12)に連結
    し、表面に吸着した基板(31)を水平に回転する吸着
    チャック(13)と、 前記筒管(11d)内で当該筒管(11d)の内周面若
    しくは前記底板(11c)の表面に密着し、前記基板(
    31)を取り囲んで、基板(31)の外周面との間にリ
    ング状の空気吸込孔(15)を形成する開口部(14a
    )を有する跳返り防止板(14)と、 前記開口部(14a)を通過させて前記基板(31)に
    被着したレジスト(32)に現像液(33)をスプレー
    するスプレーガン(16)と、 前記排気管(11b)に連結して前記空気吸込孔(15
    )から吸入した空気を前記処理カップ(11)外に排気
    する排気装置(17)とを含んでなるスプレー式の現像
    装置において、 前記跳返り防止板(14)の開口部(14a)の周囲上
    方に前記空気吸込孔(15)と連通した筒状の整流筒(
    21)を設けたことを特徴とする現像装置。
JP12992790A 1990-05-18 1990-05-18 現像装置 Pending JPH0425115A (ja)

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JP12992790A JPH0425115A (ja) 1990-05-18 1990-05-18 現像装置

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JPH0425115A true JPH0425115A (ja) 1992-01-28

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ID=15021859

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JP (1) JPH0425115A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04211263A (ja) * 1990-02-19 1992-08-03 Hitachi Chem Co Ltd 現像方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04211263A (ja) * 1990-02-19 1992-08-03 Hitachi Chem Co Ltd 現像方法

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