JPH0425107A - 縦型露光装置 - Google Patents

縦型露光装置

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JPH0425107A
JPH0425107A JP2128139A JP12813990A JPH0425107A JP H0425107 A JPH0425107 A JP H0425107A JP 2128139 A JP2128139 A JP 2128139A JP 12813990 A JP12813990 A JP 12813990A JP H0425107 A JPH0425107 A JP H0425107A
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JP
Japan
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vertical
wafer
wafer mounting
vacuum
mask
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Application number
JP2128139A
Other languages
English (en)
Inventor
Toru Kamata
徹 鎌田
Fumio Tabata
文夫 田畑
Hidenori Sekiguchi
英紀 関口
Yuji Sakata
裕司 阪田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Priority to JP2128139A priority Critical patent/JPH0425107A/ja
Publication of JPH0425107A publication Critical patent/JPH0425107A/ja
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Machine Tool Units (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 シンクロトロン放射光(SOR)等を用いてウェハ上に
マスクパターンを露光転写させる縦型露光装置に関し、 マスク保持用走査テーブルに対するウェハ搭載部の真空
吸着位置のずれ問題を解消し得ると共にウェハ搭載部が
水平方向変位部に所定の位置で真空吸着されなかった場
合にそれを直ちに検出し得るように構成された縦型露光
装置を提供することを目的とし、 垂直方向に延在する支持面上に取り付けられたXYステ
ージと、XYステージに対して隔設され、しかも垂直方
向に沿って上下に駆動変位し得るマスク保持用走査テー
ブルと、XYステージ上に搭載され、かつマスク保持用
走査テーブル側に向かう水平方向に沿って前後に駆動変
位し得る水平方向変位部とを具備し、水平方向変位部に
はマスク保持用走査テーブルと対面する側で垂直方向に
延在した真空吸着保持面が設けられ、更に、水平力向変
位部の真空吸着保持面に真空吸着され得るようになった
ウェハ搭載部を具備し、ウェハ搭載部はそこに搭載され
たウェハの位置を微調整し得るようになっており、しか
もそれ自身をマスク保持用走査テーブルに対して真空吸
着され得るようになっている縦型露光装置において、ウ
ェハ搭載部を水平方向変位部の真空吸着保持面に対して
所定位置で真空吸着させるべくウェハ搭載部と水平方向
変位部との間にそれぞれ互いに係合し得るようになった
垂直方向位置決め係合部材が設けられ、垂直方向位置決
め係合部材の双方が係合状態にあるか否かを検出する検
出手段が設けられることを特徴とする縦型露光装置を構
成する。
〔産業上の利用分野〕
本発明はシンクロトロン放射光(SOR)等を用いてウ
ェハ上にマスクパターンを露光転写させる縦型線露光装
置に関する。
半導体の製造工程にはウェハ上にマスクパターンを露光
転写させる工程が含まれ、この露光転写工程を実施する
露光装置として、種々のタイプのものが知られている。
近年、露光転写のために用いられる照射光として、特に
シンクロトロン放射光(X線)が注目されている。とい
うのは、シンクロトロン放射光は拡散光としてではなく
平坦なシート状の平行光として得られ、このためサブミ
クロンのオーダの寸法精度を持つマスクパターンの露光
転写に適しているからである。シンクロトロン放射光等
の照射光を用いる露光装置としては、照射光を光学系で
もって偏向させてマスクをその偏向光でもって走査する
タイプのものと、照射光を固定させたままでマスクをウ
ェハと共に変位させて該マスクをその固定光でもって走
査するタイプのものとが知られている。本発明は後者の
タイプ、すなわち照射光に対してマスクをウェハと共に
変位させるタイプの縦型露光装置の改良に向けられてい
る。
〔従来の技術〕
第4図(a)ないし第4図(f)を参照すると、照射光
としてシンクロトロン放射光を用いる従来の縦型露光装
置で露光操作を行う際の操作ステップが順に図示されて
いる。
縦型露光装置は支持基盤10を具備し、この支持基盤1
0は垂直方向に延在する支持面IQaを提供する。支持
基盤10の支持面10aにはXYステージ12が取り付
けられ、このXYステージ12は支持基盤10の支持面
10a上に水平方向に固定された一対の平行な水平ガイ
ドレールI2a、12aと、この一対の水平ガイドレー
ル12a、12aに沿って適当な駆動機構(図示されな
い)によって案内移動させられる垂直ガイドレール12
bと、この垂直ガイドレール12bに沿って適当な駆動
機構(図示されない)によって案内移動させられる搭載
台12cとから構成される。
このような構成により、XYステージ12の搭載台12
cはXY力方向移動させられて所定位置に位置決めされ
ることになる。
縦型露光装置は、更に、XYステージ12に対して隔設
されたマスク保持用走査テーブル14を具備し、このマ
スク保持用走査テーブル14は例えば−枚岩から形成さ
れ、しかも適当な駆動機構(図示されない)によって垂
直方向に沿って上下に駆動変位させられる。なお、マス
ク保持用走査テーブル14の内側壁面、すなわちXYス
テージ12側に向けられた壁面にはマスクM(第4図で
破線で示す)が取り付けられる。
χYステージ12の搭載台12c上には水平方向変位部
I6が搭載され、この水平方向変位部16はマスク保持
用走査テーブル14側に向かう水平方向に沿って前後に
駆動変位させられる。この点について詳しく述べると、
第5図(a)および第5図(b)から明らかなように、
水平方向変位部16は矩形状の形態を呈し、その四隅側
には4つの軸受16aが設けられ、各軸受16aにはx
Yステージ12の搭載台12cから突出する案内ロッド
16bが摺動自在に収容され、これにより水平方向変位
部16はマスク保持用走査テーブル14側に対して前後
に変位自在とされる。また、XYステージ12の搭載台
12cと水平方向変位部16との間には一対の作動シリ
ンダ16c、16cが上下位置に配置され、この作動シ
リンダ16c、16Cの作動によって、水平方向変位部
16はマスク保持用走査テーブル14側に対して前後に
変位駆動させられる。また、水平方向変位部16にはマ
スク保持用走査テーブル14と対面する側で垂直方向に
延在した真空吸着保持面16dが設けられ、第5図(a
)から明らかなように、その真空吸着保持面16dには
溝部16eが適当なパターン形状で形成され、この溝部
16eを適当な真空源例えば真空ポンプ等と連通させら
れる。なお、第5図(b)では、溝部16eを真空源に
連通させるためのホースが参照符号16fで示されてい
る。
水平方向変位部16の真空吸着保持面16dにはウェハ
搭載部18が真空吸着でもって保持され得るようになっ
ている。第6図(a)および第6図(b)から明らかな
ように、ウェハ搭載部18は略皿状の形態を呈したウェ
ハ搭載部本体18aからなり、その底側で水平方向変位
部16の真空吸着保持面16dに吸着保持される(第5
図(b))。ウェハ搭載部18にはウェハW(第4図で
破線で示す)を搭載し得るようになったXY微動ステー
ジ18bが設けられる。第6図(a)に示すように、χ
Y微動ステージ18bはウェハ搭載盤18b、を含み、
このウェハ搭載盤18b+ は井桁状に配置された4つ
の板ばね18b2上に取り付けられる。ウェハ搭載盤1
8b1には垂直方向および水平方向から適当な駆動体例
えば圧電素子が適用され、これら圧電素子への印加電圧
を適当に調節するとによって、ウェハ搭載盤18b1に
XY力方向微動変位を生じさせることが可能となる。ま
た、第6図(a)に示すように、ウェハ搭載盤18b+
 には溝部18cが適当なパターン形状で形成され、こ
の溝部18cを適当な真空源例えば真空ポンプ等と連通
させることによって、ウェハWはそこに真空吸着でもっ
て保持される。ウェハ搭載部本体18aの周囲縁部には
環状溝部18dが形成され、この環状溝部18dも適当
な真空源例えば真空ポンプ等と連通させられ、これによ
りウェハ搭載部18は後述するようにマスク保持用走査
テーブル14に対して真空吸着でもって保持させられる
。なお、第6図(b)には環状溝部18dを真空源に連
通させるためのポースが参照符号18eで示されている
次に、第4図(a)ないし第4図(f)を1頓次参照し
て、従来の縦型露光装置の露光作業について説明する。
なお、ここでは、マスクMは半導体の一チップ分の単位
パターンを持つものとされる。
先ず、露光作業の開始段階では、第4図(a)に示すよ
うに、水平方向変位部16はXYステージ12側に接近
した位置すなわち初期位置に置かれ、水平方向変位部1
6の真空吸着保持面16dにはウェハ搭載部18が真空
吸着で保持されている。
また、マスクMはマスク保持用走査テーブル14の所定
位置に取り付けられ、一方つエバWはウェハ搭載部18
のウェハ搭載盤18b+上に真空吸着で保持されている
。この状態でXYステージ12を駆動することにより、
マスクMに対するウェハWの粗位置決めが行われ、この
ときウェハWの任意の露光箇所がマスクMに対してほぼ
整合された状態となる。
次いで、水平方向変位部16の作動シリンダ16cの駆
動により、ウェハ搭載部18はマスク保持用走査テーブ
ル14のマスク保持面に向かって変位させられると、ウ
ェハ搭載部8は第4図(1))に示すように該マスク保
持面に対して密着させられ、その結果ウェハWの露光箇
所にはマスクMが適用されることになる。しかしながら
、この状態では、ウェハWの露光箇所がマスクMに対し
て正確に整合されている訳ではないので、ウェハ搭載部
18に設けたXY微動ステージ18bが駆動され、これ
によりウェハWの露光箇所がマスクMに対して正確に整
合させられる。このような整合位置決め′が完了すると
、ウェハ搭載部18はその環状溝部18dでもってマス
ク保持用走査テーブル14に対して真空吸着させられ、
一方水平方向変位部16とウェハ搭載部18との間の真
空吸着状態は解除される。
その後、水平方向変位部16の作動シリンダI6Cの駆
動により、水平方向変位部16が初期位置に戻されると
、第4図(C)に示すように、ウェハ搭載部18だけが
マスク保持用走査テーブル14に保持された状態で残さ
れ、この時点で、露光プロセスの準備段階はすべて完了
したことになる。
そこで、第4図(d)に示すような露光プロセスが行わ
れ、これによりマスクMのマスクパターンがウェハWに
露光転写されることになる。すなわち、第4図(d)で
は′、マスク保持用走査テーブル14が適当な駆動機構
によって垂直方向に沿って駆動変位させられると共にシ
ンクロトロン放射光(破線で示す矢印)が照射され、こ
れによりマスクMは該シンクロトロン放射光でもって走
査され、このときウェハWへのマスクパターンの露光転
写が達成される。
露光転写が終了すると、マスク保持用走査テーブル14
は第4図(e)に示すように初期位置まで戻される。次
いで、水平方向変位部16の作動シリンダ16cの駆動
により、水平方向変位部16がウェハ搭載部18側に向
かって駆動変位させられると、水平方向変位部16は第
4図(f)に示すようにウェハ搭載部18に密着させら
れる。この状態で、ウェハ搭載部IBが水平方向変位部
16に真空吸着させられ、一方マスク保持用走査テーブ
ル14とウェハ搭載部18との間の真空吸着状態が解除
され、次いで水平方向変位部16が初期位置に戻される
(第4図(a))。
以上の露光作業を順次繰り返すことにより、ウェハWの
全域へのマスクパターンの露光転写が完了することにな
る。
〔発明が解決しようとする課題〕
ところで、第4図(a)に示すように、ウェハ搭載部I
8が水平方向変位部I6を介してxYステージ12に対
して片持ち梁の態様で保持されているとき、ウェハ搭載
部18はその自重のためにきわめて僅かな距離ではある
が垂直方向下側に偏向した位置を取り、また同様に水平
方向変位部16もウェハ搭載部18の荷重のためにきわ
めて僅かな距離ではあるが垂直方向下側に偏向した位置
を取る。なお、そのような位置偏向の要因としては、種
々の駆動系の僅かな遊び例えば軸受16aと案(I4) 内ロッド16bとの間の僅かな遊び等が挙げられる。一
方、水平方向変位部16がウェハ搭載部18の荷重から
解放された際には垂直方向下側への位置偏向が解消され
る。すなわち、水平方向変位部16ばウェハ搭載部18
の荷重からの解放時に垂直方向上側にきわめて僅かな距
離ではあるが変位させられる。このためウェハ搭載部1
8を水平方向変位部16とマスク保持用走査テーブル1
4との間で繰り返し移行させている間に、マスク保持用
走査テーブル14に対して保持されるべきウェハ搭載部
18の位置が次第に垂直方向下側にずれることになる。
このようなずれが生じても、そのずれ量がウェハ搭載部
18に設けられたXY微動ステージ18bによっである
いはマスク保持用走査テーブル14側に組み込まれた所
謂Zθ微動ステージによって得られる微調整範囲内であ
れば、マスクMに対するウェハWの露光箇所の正確な位
置決めは可能である。しかしながら、かかるずれ量が大
きくなるにつれて、XY微動ステージ18bあるいはZ
θ微動ステージによる微調整量が増え、このため位置決
め操作に必要な時間が長くなるという不都合が生じる。
また、マスク保持用走査テーブル14に対するウェハ搭
載部18の保持位置のずれ量が次第に累積してXY微動
ステージあるいはZθ微動ステージの微調整範囲を越え
た場合には、それら微動ステージによる位置決めを行い
得ないというきわめて面倒な事態に到る。
また、露光プロセスを行うべ(マスク保持用テーブル1
4を垂直方向に駆動する際にその駆動源の振動等のため
に、ウェハ搭載部18が該マスク保持用テーブル14に
対する真空吸着面内で任意方向の位置ずれ例えば回転方
向の位置ずれ等を受けたりすることもある。このような
任意の位置ずれは通常はきわめて僅かなものであり、そ
れを作業員が視認することは殆ど不可能である。かかる
任意方向の位置ずれが生じた場合には、ウェハ搭載部は
水平方向変位部に対して所定の位置で真空吸着されるこ
とはなく、それ以後ウェハに対する適正なマスクパター
ン露光転写を行うことができなくなる。
したがって、本発明の目的は、上述したようなタイプの
縦型露光装置であって、マスク保持用走査テーブルに対
するウェハ搭載部の真空吸着位置のずれ問題を解消し得
ると共に該ウェハ搭載部が水平方向変位部に所定の位置
で真空吸着されなかった場合にそれを直ちに検出し得る
ように構成された縦型露光装置を提供することである。
〔課題を解決するための手段〕
本発明による縦型露光装置は垂直方向に延在する支持面
上に取り付けられたXYステージと、このXYステージ
に対して隔設され、しかも垂直方向に沿って上下に駆動
変位し得るマスク保持用走査テーブルと、XYステージ
上に搭載され、かつマスク保持用走査ギーブル側に向か
う水平方向に沿って前後に駆動変位し得る水平方向変位
部とを具備する。該水平方向変位部にはマスク保持用走
査テーブルと対面する側で垂直方向に延在した真空吸着
保持面が設けられる。本発明による縦型露光装置は更に
水平方向変位部の真空吸着保持面に真空吸着され得るよ
うになったウェハ搭載部を具備し、このウェハ搭載部は
そこに搭載されたウェハの位置を微調整し得るようにな
っており、しかもそれ自身をマスク保持用走査テーブル
に対して真空吸着され得るようになっている。本発明に
よれば、以上のような構成の縦型露光装置において、ウ
ェハ搭載部を水平方向変位部の真空吸着保持面に対して
所定位置で真空吸着させるべく該ウェハ搭載部と該水平
方向変位部との間にそれぞれ互いに係合し得るようにな
った垂直方向位置決め係合部材が設けられ、これら垂直
方向位置決め係合部材の双方が係合状態にあるか否かを
検出する検出手段が設けられることが特徴とされる。
〔作用〕
以上の構成から明らかなように、本発明による縦型露光
装置にあっては、ウェハ搭載部と水平方向変位部との間
にそれぞれ互いに係合し得るようになった垂直方向位置
決め係合部材が設けられ、この双方の垂直方向位置決め
係合部材の係合によって、ウェハ搭載部は水平方向変位
部の真空吸着保持面に対して所定位置で真空吸着される
ことになるが、該垂直方向位置決め係合部材が非係合状
態となっているときには、その非係合状態が検出手段に
よって検出され、その結果ウェハ搭載部が水平方向変位
部の真空吸着保持面に対して所定位置に置かれていない
ことが判明する。
〔実施例〕
次に、添付図面の第1図ないし第3図を参照して、 本発明による縦型露光装置の実施例について説明する。
本発明による縦型露光装置は第4図ないし第6図に示し
た従来の縦型露光装置の水平方向変位部16およびウェ
ハ搭載部18に代えて第1図(a)ないし第1図(C)
に示されるような水平方向変位部16°およびウェハ搭
載部18′を用いることによって得られる。換言すれば
、第4図ないし第6図を参照して説明した支持基盤10
.XYステージ12およびマスク保持用走査テーブル1
4は本発明による縦型露光装置の構成要素ともなり得る
ものである。したがって、支持基盤10.XYステージ
12およびマスク保持用走査テーブル14についての説
明は本発明による縦型X線露光装置のものとして援用す
ることする。
第1図(a)ないし第1図(C)では、水平方向変位部
16′が実線で示され、この水平方向変位部16に真空
吸着されたウェハ搭載部18’ は図示の複雑化を避け
るために破線で示されている。
水平方向変位部16゛は第5図(a)および第5図(b
)に示した水平方向変位部16と実質的に同じ構成を持
つ。詳述すると、水平方向変位部16゛には4つの軸受
16a”が設けられ、これら軸受15 al の機能は
水平方向変位部16の軸受16aと同じ機能を果たす。
すなわち、各水平方向変位部16”にはXYステージ1
2の搭載台12cがら突出する案内ガイド(第1図では
図示されないが、案内ガイド16bに対応する)を受入
れ、これにより水平方向変位部16”はマスク保持用走
査テーブル14側に対して前後に変位自在とされる。ま
た、水平方向変位部16′は一対の作動シリンダ16c
’ 、16C’ を具備し、これにより水平方向変位部
16°はマスク保持用走査テーブル14側に対して前後
に変位駆動させられる。更に、水平方向変位部16゛に
はマスク保持用走査テーブル14と対面する側で垂直方
向に延在した真空吸着保持面16d゛が設けられ、この
真空吸着保持面16d゛には溝部16e゛が適当なパタ
ーン形状で形成され、これにより水平方向変位部16′
の真空吸着保持面16d’にはウェハ搭載部18゛が真
空吸着でもって保持され得る。
一方、ウェハ搭載部18°も第6図(a)および第6図
(b)に示したウェハ搭載部18と実質的に同じ構成を
持つ。第1図(a)ないし第1図(C)では、ウェハ搭
載部18゛はウェハ搭載部18とは異なって方形の形態
を呈しているが、ウェハ搭載部18にはウェハの微細な
位置決めを行うXY微動ステージ(XY微動ステージ1
8bに対応する)が設けられ、またウェハ搭載部18”
自体をマスク保持用走査テーブル14に真空吸着でもっ
て保持されるためにそのウェハ搭載部本体の周囲縁には
例えば矩形状溝部(環状溝部18dに対応する)が形成
される。
水平方向変位部16゛およびウェハ搭載部18゛が水平
方向変位部16およびウェハ搭載部18と大きく異なる
点は、水平方向変位部16゛およびウェハ搭載部18゛
 との間に互いに係合するようになった傾斜面20およ
び22が形成され、しかもそれら傾斜面20および22
が共にマスク保持用走査テーブル14側からxYステー
ジ12側に向かって上向きとなっているということであ
る。
本実施例では、第1図(b)に最もよ(示すように、あ
たかも円形短軸24を約45°の角度で切断し、その一
方の切断部分24aを水平方向変位部16゛の上辺側に
、その他方の切断部分24bをウェハ搭載部18°の上
辺側に取り付けるような態様でもって、かかる傾斜面2
0および22が与えられる。要するに、傾斜面20を持
つ短軸要素24aと、傾斜面22を持つ短軸要素24b
とがそれら傾斜面を互いに係合させ得るように水平方向
変位部16゛およびウェハ搭載部18゛のそれぞれの上
辺側に取り付けられる。また、本実施例では、第1図(
a)および第1図(C)から明らかなように、短軸要素
24aおよび24bはそれぞれ一対ずつ設けられ、しか
も各対の短軸要素は水平方向変位部16゛およびウェハ
搭載部18゛の共通垂直軸線に対して対称に配置される
。ウェハ搭載部18が水平方向変位部16゛の真空吸着
保持面16dに吸着保持される際、短軸要素24aおよ
び24bはそれぞれの傾斜面20および22でもって互
いに係合してウェハ搭載部18゛を水平方向変位部16
°の真空吸着保持面16d゛に対して所定の垂直方向位
置に位置決めする垂直方向位置決め係合部材として機能
する。
また、本実施例では、水平方向変位部16゛の両側辺に
は一対の突出部26.26が設けられ、各突出部26.
26にはXYステージ12側に向かって外方に傾斜した
垂直傾斜面28が形成される。一方、ウェハ搭載部18
゛の両側辺には一対の半球最突出部30.30が形成さ
れ、各半球最突出部30.30はウェハ搭載部18”が
水平方向変位部16゛に吸着保持された際にそれに対応
した突出部26の垂直傾斜面28と係合させられるよう
になっている。すなわち、水平方向変位部16゛の真空
吸着保持面16d゛に対するウェハ搭載部18゛の吸着
保持時、突出部26および半球最突出部30は互いに係
合してウェハ搭載部18゛を水平方向変位部16゛の真
空吸着保持面16d’ に対して所定の水平方向位置に
位置決めする水平方向位置決め係合部材として機能する
本実施例においては、短軸要素24aおよび24b金属
等の導電性材料から形成され、第1図(b)に示すよう
に、短軸要素24aは接地され、一方短軸要素24bに
は例えば5ボルトの電圧が印加され、その間には電圧計
32が設けられる。したがって、短軸要素24aおよび
24bが係合状態にあるときは、電圧計32は0ポルト
を指示するが、短軸要素24aおよび24bが非係合状
態にあるときは、電圧計32は5ボルトを指示すること
になる。すなわち、電圧計32は短軸要素24aおよび
24bが係合状態であるか否かを検出する検出手段とし
て機能する。同様に、突出部26および半球最突出部3
0も導電性材料から形成され、突出部26は接地され、
一方半球形突出部30には例えば5ボルトの電圧が印加
され、その間には電圧計34が設けられ、この電圧計3
4も突出部26および半球最突出部30が係合状態であ
るか否かを検出する検出手段として機能する。
次に、第2図(a)ないし第2図(f)を参照して、本
発明による縦型X線露光装置での露光操作について説明
することにする。なお、第2図(a)ないし第2図げ)
では、図示の複雑化を避けるために、短軸要素24aの
傾斜面20は水平方向変位部16自体に、また短軸要素
24bの傾斜面22はウェハ搭載部18′自体に形成さ
れたものとされており、また突出部26および半球最突
出部30の図示については省かれている。
第2図(a)では、第3図(a)の場合と同様に、先ず
、XY微動ステージ12の駆動により、マスクMに対す
るウェハWの露光箇所の粗位置決めが行われる。なお、
このとき短軸要素24aおよび24bならびに突出部2
6および半球最突出部30はそれぞれ互いに係合状態に
あり、このためウェハ搭載部18゛は水平方向変位部1
6°の真空吸着保持面16d”に対して垂直方向におい
ても水平方向においても所定位置で吸着保持されている
第2図(b)では、第3図(b)の場合と同様に、水平
方向変位部16゛の作動シリンダ16c゛の駆動により
、ウェハ搭載部18”がマスク保持用走査テーブル14
のマスク保持面に向かって変位させられてそこに密着さ
せられる。なお、このときウェハ搭載部18”はその自
重のためにきわめて僅かな距離ではあるが垂直方向下側
に偏向した位置を取る。次いで、ウェハ搭載部18”の
XY微動ステージの駆動により、ウェハWの露光箇所が
マスクMに対して正確に整合させられる。このような整
合位置決めが完了すると、ウェハ搭載部18゛はマスク
保持用走査テーブル14に対して真空吸着でもって保持
させられ、一方水平方向変位部16゛とウェハ搭載部1
8゛との間の真空吸着状態が解除される。このとき水平
方向変位部16”はウェハ搭載部18′の荷重から解放
されるので、ウェハ搭載部18°の保持時の垂直方向下
側への偏向位置から垂直方向上側にきわめて僅かな距離
ではあるが変位させられる。
水平方向変位部16゛が第2図(C)に示すように初期
位置に戻されると、ウェハ搭載部18′はマスク保持用
走査テーブル14側に残され、このとき露光プロセスの
準備段階がすべて完了することになる。
第2図(d)では、第3図(d)の場合と同様に、マス
ク保持用走査テーブル14が適当な駆動機構によって垂
直方向に沿って駆動変位させられると共にシンクロトロ
ン放射光(破線で示す矢印)が照射され、これによりマ
スクMは該シンクロトロン放射光でもって走査されて、
そのマスクパターンがウェハWに露光転写される。
露光転写が終了すると、マスク保持用走査チープル14
は第2図(e)に示すように初期位置まで戻され、次い
で水平方向変位部16゛がウェハ搭載部18゛側に向か
って駆動変位させられてそこに密着させられると、短軸
要素24aおよび24bならびに突出部26および半球
形突出部3oが第2図(f)に示されるようにそれぞれ
互いに係合させられると、水平方向変位部16′がウェ
ハ搭載部18゛の荷重ために水平方向下側に偏向された
ときと同じ位置でウェハ搭載部18’に対して密着させ
られ、この場合にはウェハ搭載部18“は水平方向変位
部16′の真空吸着保持面16d″に対して垂直方向に
おいても水平方向においても所定位置で吸着保持された
ことになる。引き続き、上述の露光作業ステップを繰り
返すことにより、ウェハMの全域にマスクパターンが露
光転写されることになる 一方、ウェハ搭載部18“が露光プロセス中に何らかの
原因例えば振動、操作ミス等でマスク保持用走査テーブ
ル14上の吸着位置がら任意方向例えば回転変位の伴う
垂直方向上向きにずれたりした場合には、水平方向変位
部16°がウェハ搭載部18”に対して密着させられて
も短軸要素24aおよび24bならびに突出部26およ
び半球形突出部30がそれぞれ非係合状態となり、この
非係合状態は電圧計32および34の指示電圧(5ボル
ト)によって知ることができる。この場合には、水平方
向変位部16゛の真空吸着保持面16d゛に対するウェ
ハ搭載部18゛の再位置決めが行われ、その後露光作業
が再開される。なお、ウェハ搭載部18′が露光プロセ
ス中にマスク保持用走査テーブル14上の吸着位置から
垂直方向下向きにずれた場合には、短軸要素24aおよ
び24bならびに突出部26および半球形突出部30の
それぞれ係合が保証されるので、ウェハ搭載部18°は
水平方向変位部16°の真空吸着保持面16d゛に対し
て所定位置に位置決めされ得ることになる。
第3図を参照すると、本発明による縦型露光装置の別の
実施例が示され、この実施例においては、電圧計32お
よび34により短軸要素24aおよび24bならびに突
出部26および半球形突出部30のいずれが一方もしく
は双方の非係合状態が判明した際にウェハ搭載部18”
を移動させて水平方向変位部16”の真空吸着保持面1
6d゛に対して所定位置に位置決めするための駆動手段
が設けられる。
本実施例では、かかる駆動手段は一対の垂直方向空気シ
リンダ36.36と1つの水平方向空気シリンダ38と
から構成される。一対の垂直方向空気シリンダ36.3
6はリニアガイド40に取り付けられ、このリニアガイ
ド40はマスク保持用テーブル14の上辺に取り付けら
れたガイドレール40aに沿って自由に走行し得る。ま
た、水平方向シリンダ38はリニアガイド42に取り付
けられ、このリニアガイド42はマスク保持用テーブル
14の一方の側辺に取り付けられたガイドレール42a
に沿って自由に走行し得る。要するに、一対の垂直空気
シリンダ36はマスク保持用テーブル14の上辺に沿っ
て自由に移動可能であり、また水平方向空気シリンダ3
8はマスク保持用テーブル14の側辺に沿って自由に移
動可能である。
各垂直空気シリンダ36の作動ロッド36aの先端部に
はリニアガイド36bが取り付けられ、このリニアガイ
ド35bはウェハ搭載部18”の上辺に取り付けられた
ガイドレール36cと係合させられる。同様に、水平空
気シリンダ38の作動ロッド38aの先端部にもリニア
ガイド38bが取り付けられ、このリニアガイド38b
はウェハ搭載部18゛の一方の側辺に取り付けられたガ
イドレール38cと係合させられる。ガイドレール36
cおよびガイドレール38cは共に第3図の紙面に対し
て直角方向に延在し、その長さはウェハ搭載部18′の
水平方向に沿う移動距離(すなわち、水平方向変位部1
6゛の作動シリンダ15 C1のストローク長)にほぼ
等しいかそれ以上とされる。すなわち、ウェハ搭載部1
8“かどのような位置にあっても、リニアガイド36b
、38bはそれぞれのガイドレール36c、38cと係
合状態に置かれる。しかしながら、垂直方向空気シリン
ダ36および水平方向空気シリンダ38が非作動状態下
に置かれているとき、それらの作動ロッド36a、38
aは変位自在となっているので、XYステージ12によ
ってウェハ搭載部18”をマスクに対して粗位置決めを
行う際に該ウェハ搭載部18゛の移動が垂直方向空気シ
リンダ36および水平方向空気シリンダ3日によって拘
束されるようなことはない。
垂直方向空気シリンダ36および水平方向空気シリンダ
38の作動については、電圧計32および34により短
軸要素24aおよび24bならびに突出部26および半
球形突出部30のいずれが一方もしくは双方の非係合状
態が判明したときだけ行われ、このとき垂直方向空気シ
リンダ36はウェハ搭載部18°を垂直方向下向きに移
動させるように作動させられ、また水平方向空気シリン
ダ38はウェハ搭載部18”を水平方向に移動させるよ
うに作動させられ、これにより短軸要素24aおよび2
4bならびに突出部26および半球形突出部30が係合
状態とされて、ウェハ搭載部18″は水平方向変位部1
6゛の真空吸着保持面16d゛に対して所定位置に位置
決めされることになる。
〔発明の効果〕
以上の記載から明らかなように、本発明による縦型露光
装置にあっては、ウェハ搭載部を水平方向変位部とマス
ク保持用走査テーブルとの間で繰り返し移行させても、
マスク保持用走査テーブルに対して吸着保持されるべき
ウェハ搭載部の位置が次第に垂直方向下側にずれるよう
なことはないので、またウェハ搭載部が露光プロセス中
に振動あるいは走査ミス等によってマスク保持用テーブ
ル上の吸着位置からずれても、そのずれが確実に検出さ
れるので、露光操作を長期に亘って安定して行い得ると
共にその信頼性を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)は本発明による縦型露光装置に用いられる
水平方向変位部の正面図、第1図(b)は第1図(a)
に示した水平方向変位部の右側面図、第1図(c)は第
1図(a)に示した水平方向変位部の平面図、第2図(
a)ないし第2図(f)は本発明による縦型露光装置で
の露光作業を説明する露光作業ステップ図、第3図は本
発明による縦型露光装置の別の実施例に用いられるマス
ク保持用テーブルおよびウェハ搭載部の正面図、第4図
(a)ないし第4図(f)は従来の縦型X線露光装置で
の露光操作を説明する露光操作ステップ図、第5図(a
)は従来の縦型X線露光装置に用いられる水平方向変位
部の正面図、第5図(b)は第5図(a)のb−b線に
沿う断面図、第6図(a)は従来の縦型X線露光装置に
用いられるウェハ搭載部の正面図、第6図(b)は第6
図(b)に示したウェハ搭載部の一部破断右側面図であ
る。 10・・・支持基盤、 12・・・XYステージ、 14・・・マスク保持用走査テーブル、16”・・・水
平方向変位部、 18”・・・ウェハ搭載部、 0・20・・・傾斜面、 4a・24b・・・短軸要素、 6・・・突出部、 0・・・半球形突出部、 2・34・・・電圧計、 6・・・垂直方向空気シリンダ、 8・・・水平方向空気シリンダ

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、垂直方向に延在する支持面上に取り付けられたXY
    ステージ(12)と、 前記XYステージ(12)に対して隔設され、しかも垂
    直方向に沿って上下に駆動変位し得るマスク保持用走査
    テーブル(14)と、 前記XYステージ(12)上に搭載され、かつ前記マス
    ク保持用走査テーブル(14)側に向かう水平方向に沿
    って前後に駆動変位し得る水平方向変位部(16’)と
    を具備し、この水平方向変位部(16’)には前記マス
    ク保持用走査テーブル(14)と対面する側で垂直方向
    に延在した真空吸着保持面(16d’)が設けられ、 更に、前記水平方向変位部(16’)の真空吸着保持面
    (16d’)に真空吸着され得るようになったウェハ搭
    載部(18’)を具備し、このウェハ搭載部(18’)
    はそこに搭載されたウェハ(W)の位置を微調整し得る
    ようになっており、しかもそれ自身を前記マスク保持用
    走査テーブル(14)に対して真空吸着され得るように
    なっている縦型露光装置において、 前記ウェハ搭載部(18’)を前記水平方向変位部(1
    6’)の真空吸着保持面(16d’)に対して所定位置
    で真空吸着させるべく該ウェハ搭載部(18’)と該水
    平方向変位部(16’)との間にそれぞれ互いに係合し
    得るようになった垂直方向位置決め係合部材(24a、
    24b)が設けられ、これら垂直方向位置決め係合部材
    (24a、24b)の双方が係合状態にあるか否かを検
    出する検出手段(32)が設けられることを特徴とする
    縦型露光装置。 2、請求項1に記載の縦型露光装置において、前記垂直
    方向位置決め係合部材(24a、24b)の双方が前記
    検出手段(32)によって非係合状態にあることが判明
    した際に前記ウェハ搭載部(18’)を垂直方向に移動
    させて該垂直方向位置決め係合部材の双方を係合状態と
    させる駆動手段(36)が前記マスク保持用テーブル(
    14)に設けられていることを特徴とする縦型露光装置
    。 3、請求項1に記載の縦型露光装置において、前記ウェ
    ハ搭載部(18’)と前記水平方向変位部(16’)と
    の間のそれぞれには更に互いに係合し得るようになった
    水平方向位置決め係合部材(26、30)が設けられ、
    これら水平方向位置決め係合部材(26、30)の双方
    が係合状態にあるか否かを検出する検出手段(34)が
    設けられることを特徴とする縦型露光装置。 4、請求項3に記載の縦型露光装置において、前記水平
    方向位置決め係合部材の双方が前記検出手段(34)に
    よって非係合状態にあることが判明した際に前記ウェハ
    搭載部(18’)を水平方向に移動させて該水平方向位
    置決め係合部材(26、30)の双方を係合状態とさせ
    る駆動手段(38)が前記マスク保持用テーブル(14
    )に設けられていることを特徴とする縦型露光装置。
JP2128139A 1990-05-19 1990-05-19 縦型露光装置 Pending JPH0425107A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006351347A (ja) * 2005-06-16 2006-12-28 Toshiaki Inoue 砲弾型発光ダイオード接続用弾性基盤
JP2011166137A (ja) * 2010-02-09 2011-08-25 Asml Holding Nv サポート構造、リソグラフィ装置、および位置決め方法

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