JPH0424834A - Switching device - Google Patents
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- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims abstract description 25
- 238000004088 simulation Methods 0.000 claims abstract description 14
- 239000012467 final product Substances 0.000 abstract description 8
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 abstract description 5
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract 2
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 8
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 5
- 230000033772 system development Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 239000000047 product Substances 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は電気的回路における、 切り換え装置に関する。[Detailed description of the invention] [Industrial application field] The present invention relates to an electrical circuit, This invention relates to a switching device.
電気的信号線の
[従来の技術]
複雑な回路を搭載するような電気的システムにおいては
、その回路規模が大きくなるにつれ、各回路の集積化が
、システムの軽量化、小型化、低コスト化を図る上で大
きな要因となってきている。[Prior art] Electrical signal lines [Conventional technology] In electrical systems equipped with complex circuits, as the scale of the circuits increases, the integration of each circuit makes the system lighter, smaller, and lower in cost. This has become a major factor in achieving this goal.
しかし、電気的システムの開発過程においては、設計し
たものの動作確認、評価が重要であり、システムの軽量
化、小型化は、電気的システムの開発時における、不具
合箇所の早急な発見、早急な修正、早急な再確認、評価
、および電気的システムの早期開発の妨げとなっている
。However, in the process of developing an electrical system, it is important to check and evaluate the operation of the designed product, and to make the system lighter and smaller, it is important to quickly discover and correct defects during the development of the electrical system. , impeding rapid reconsideration, evaluation, and early development of electrical systems.
例えば、複雑な回路構成を1つの半導体装置内に集積し
てしまうと、不具合が発生した場合、原因を究明するた
め、半導体装置内での各信号を追跡することは、はとん
ど不可能となってしまい、この半導体装置を修正するこ
とも不可能に近い。For example, if a complex circuit configuration is integrated into a single semiconductor device, if a problem occurs, it is almost impossible to trace each signal within the semiconductor device in order to investigate the cause. Therefore, it is almost impossible to modify this semiconductor device.
このためほとんどの場合は、半導体装置を再度製造し直
さなければならない。Therefore, in most cases, the semiconductor device must be manufactured again.
また、小型化を図るためいくつもの回路構成部品を高密
度に実装するなどの手段を採ると、不具合が発生した場
合、原因を究明するため、高密度実装中の各信号線を追
跡していかなければならず、原因究明作業を困難にして
いる。In addition, when measures are taken to achieve miniaturization, such as mounting multiple circuit components at high density, if a problem occurs, it is necessary to trace each signal line during high-density mounting in order to investigate the cause. This makes it difficult to investigate the cause.
このため、現状では、最終的なシステムと等価な疑似シ
ステムを開発し、回路動作確認、評価を行っている。For this reason, currently we are developing a pseudo system equivalent to the final system, and checking and evaluating the circuit operation.
[発明が解決しようとする課題]
しかし、疑似システムと実システムの相違は必然的に発
生してしまい、たとえ疑似システムで正確に動作してい
たとしても、実システムに置き換えたところで、正しい
動作が得られない場合が多い。[Problem to be solved by the invention] However, differences between the pseudo system and the real system will inevitably occur, and even if the pseudo system operates correctly, it will not work correctly when replaced with the real system. It is often not possible to obtain it.
また、疑似システムは、集積化すべき回路システムのみ
でなく、その周辺に接続される周辺回路までも疑似シス
テムとして開発し、疑似システムの周辺回路開発も大き
な負荷となっている。このため、疑似システムと実シス
テムとの相違はますます増加してい(傾向にある。In addition, the pseudo system is developed not only for the circuit system to be integrated, but also for the peripheral circuits connected around it, and the development of the peripheral circuits for the pseudo system is also a heavy burden. For this reason, the differences between the pseudo system and the real system are increasing (and are trending).
そこで、本発明は、疑似システムと実システムの相違を
極力排除し、共通に使用できるような周辺回路を提供す
ることにより、疑似システムを開発する負荷を大幅に削
減することを目的とする。Therefore, an object of the present invention is to significantly reduce the burden of developing a pseudo system by eliminating the differences between the pseudo system and the real system as much as possible and providing peripheral circuits that can be used in common.
〔課題を解決するための手段]
本発明の切り換え装置は、電気的回路システムと、前記
電気的回路システム中、少なくとも1回路をシミュレー
トする回路システムにおいて、前記電気的回路システム
は、被シミュレート回路と、前記シミュレート回路、あ
るいは前記被シミュレート回路と接続する周辺回路と、
前記シミュレート回路と前記周辺回路を接続するか、前
記被シミュレート回路と前記周辺回路を接続するかを決
定する切り換え回路からなることを特徴とする。[Means for Solving the Problems] A switching device of the present invention includes an electrical circuit system and a circuit system that simulates at least one circuit in the electrical circuit system, wherein the electrical circuit system is configured to simulate a simulated circuit. a circuit, a peripheral circuit connected to the simulated circuit or the simulated circuit,
The present invention is characterized by comprising a switching circuit that determines whether to connect the simulation circuit and the peripheral circuit or to connect the simulated circuit and the peripheral circuit.
[作 用1
電気的回路システムにおいて、切り換え回路は、被シミ
ュレート回路と、その周辺回路とを結合する。電気的回
路システムの開発時において、切り換え回路は、シミュ
レート回路と、前記の周辺回路を結合する。[Function 1] In an electrical circuit system, a switching circuit couples a simulated circuit with its peripheral circuits. During the development of an electrical circuit system, a switching circuit couples the simulation circuit with the peripheral circuit described above.
[実 施 例]
第1図は、本発明をマイクロプロセッサを使用したシス
テムに応用した場合を示すブロック図である。[Embodiment] FIG. 1 is a block diagram showing a case where the present invention is applied to a system using a microprocessor.
101はマイクロプロセッサを応用した回路基板を示し
、本システム使用時には、101のシステム基板のみで
一定の機能を達成することができるようになっている6
102はマイクロプロセッサ、103はマイクロプロセ
ッサに接続される周辺回路ブロックを示す。104はス
イッチ回路ブロックを示し、102のマイクロプロセッ
サと103の周辺回路の接続は、すべてこのスイッチを
通過するようになっている。101システムのみで機能
を達成する際には、スイッチがオンの状態のままである
。Reference numeral 101 indicates a circuit board to which a microprocessor is applied, and when this system is used, certain functions can be achieved only with the system board 101. 6 102 is a microprocessor, and 103 is connected to the microprocessor. This figure shows the peripheral circuit blocks. Reference numeral 104 indicates a switch circuit block, and all connections between the microprocessor 102 and the peripheral circuits 103 pass through this switch. When accomplishing a function with only the 101 system, the switch remains on.
111は前記102のマイクロプロセッサをシミュレー
トするシステムを示す5
111は102のマイクロプロセッサと等価な回路構成
となっているが、102のマイクロプロセッサに内蔵さ
れたプログラムは、読みだし専用メモリ(以下ROMと
記述する)であるのに対して、111のプログラムは、
随時書き込み読みだしメモリc以下RAMと記述する)
で構成されている。これは、102が最終製品の形態で
あるのに対し、111はシステムの開発時にプログラム
を書き換えながら動作確認、評価を行っていくことを可
能にしたものである。Reference numeral 111 indicates a system for simulating the microprocessor 102. 5 111 has a circuit configuration equivalent to the microprocessor 102, but the program built into the microprocessor 102 is stored in a read-only memory (hereinafter referred to as ROM). ), whereas the 111 program is
Read/write memory (hereinafter referred to as RAM)
It consists of This is because, while 102 is in the form of a final product, 111 makes it possible to check and evaluate operations while rewriting the program during system development.
システム開発時には、111のシミュレートシステムと
101のシステム基板を121のコネクタを通じて接続
する。これにより、前記104のスイッチ回路ブロック
はオフの状態となり、102のマイクロプロセッサと1
03の周辺回路は電気的に切り離され、新たに接続した
111のシミュレートシステムと103の周辺回路は接
続される。During system development, the simulation system 111 and the system board 101 are connected through a connector 121. As a result, the switch circuit block 104 is turned off, and the microprocessor 102 and the switch circuit block 104 are turned off.
The peripheral circuit 03 is electrically disconnected, and the newly connected simulation system 111 and the peripheral circuit 103 are connected.
これにより、最終製品段階においては、101の回路基
板のみで102のマイクロプロセッサのROMに記憶さ
れたプログラムを実行し、システム開発時においては、
新たに接続された111のシミュレートシステムのRA
Mに記憶されたブロダラムを実行するという、二つの機
能をどちらも同一周辺回路基板を用いて達成することが
可能である。As a result, at the final product stage, only 101 circuit boards can execute programs stored in the ROM of 102 microprocessors, and during system development,
RA of newly connected 111 simulation systems
Both functions of executing the program stored in M can be accomplished using the same peripheral circuit board.
第2図は第1図104の切り換え回路ブロックを示した
回路図である。FIG. 2 is a circuit diagram showing the switching circuit block 104 of FIG. 1.
201〜204はアナログスイッチを示し、ここでは4
本の信号線について切り換えられる。205は201〜
204のアナログスイッチ制御信号線を示し、この信号
線が低レベル時にはスイッチオンとなり、高レベル時に
は、スイッチオンとなる。201 to 204 indicate analog switches, here 4
Can be switched about the main signal line. 205 is 201~
An analog switch control signal line 204 is shown, and when this signal line is at a low level, the switch is turned on, and when this signal line is at a high level, the switch is turned on.
205のスイッチ制御線は、外部にシミュレート回路を
接続しない場合、206のプルダウン抵抗回路により、
低レベル信号が入力され、スイッチはオン状態である。The switch control line 205 is connected to the pull-down resistor circuit 206 when no external simulation circuit is connected.
A low level signal is input and the switch is in the on state.
これにより、102のマイクロプロセッサと103の周
辺回路は接続された状態となる。As a result, the microprocessor 102 and the peripheral circuit 103 are connected.
また、外部にシミュレート回路を接続した場合、111
のシミュレート回路から高レベル信号の入力が205の
アナログスイッチ制御信号線に供給され、201〜20
4のアナログスイッチは、すべてオフ状態となる。これ
により、102のマイクロプロセッサと103の周辺回
路は切り離された状態となり、111のマイクロプロセ
ッサシミュレートシステムと103の周辺回路のみが接
続される。Also, if a simulation circuit is connected externally, 111
A high level signal input is supplied from the simulation circuit to the analog switch control signal line 205, and
All analog switches No. 4 are in the off state. As a result, the microprocessor 102 and the peripheral circuit 103 are separated, and only the microprocessor simulation system 111 and the peripheral circuit 103 are connected.
[発明の効果]
以上本発明によれば、最終製品と開発時の周辺回路構成
を同一にしたため、システム開発時の評価結果と最終製
品時の評価結果を近づけることができ、開発段階から最
終製品への移行が容易に図られ、開発時の評価結果を最
終製品に生かすことも可能である。[Effects of the Invention] According to the present invention, since the peripheral circuit configurations of the final product and the development stage are made the same, the evaluation results during system development and the evaluation results of the final product can be made similar, and the final product can be improved from the development stage. It is possible to easily transition to the next generation, and it is also possible to utilize the evaluation results during development in the final product.
また、システムの開発時における、周辺回路の疑似回路
開発が不要となり、開発システムの開発が短期間で完了
する。Further, it is not necessary to develop pseudo circuits for peripheral circuits during system development, and the development of the developed system can be completed in a short period of time.
さらに、集積化された半導体装置を改良したい場合にも
、本システムを利用することができ、回路基板を変更す
ることなしに、回路基板などを付加するだけで、改良さ
れた新システムに移行することも容易である。Furthermore, this system can also be used when you want to improve an integrated semiconductor device, and you can migrate to a new, improved system by simply adding a circuit board, etc., without changing the circuit board. It is also easy.
第1図は、本発明をマイクロプロセッサを使用したシス
テムに応用した場合を示すブロック図。
第2図は、本発明における切り換え回路を示す回路図。
101・・・・・・・マイクロプロセッサを応用した回
路基板
102・・・・・・・マイクロプロセッサ103・・・
・・・・周辺回路ブロック104・・・・・・・スイッ
チ回路ブロック111・・・・・・・マイクロプロセッ
サシミュレートシステム
121・・・・・・・コネクタ
201〜204・・・アナログスイッチ205・・・・
・・・アナログスイッチ制御信号線
206・・・・・・・プルダウン抵抗
第2図
12]FIG. 1 is a block diagram showing a case where the present invention is applied to a system using a microprocessor. FIG. 2 is a circuit diagram showing a switching circuit in the present invention. 101...Circuit board to which a microprocessor is applied 102...Microprocessor 103...
... Peripheral circuit block 104 ... Switch circuit block 111 ... Microprocessor simulation system 121 ... Connectors 201 to 204 ... Analog switch 205 ... ...
...Analog switch control signal line 206...Pull-down resistor Fig. 2 12]
Claims (1)
なくとも1回路をシミュレートする回路システムにおい
て、前記電気的回路システムは、被シミュレート回路と
、前記シミュレート回路、あるいは前記被シミュレート
回路と接続する周辺回路と、前記シミュレート回路と前
記周辺回路を接続するか、前記被シミュレート回路と前
記周辺回路を接続するかを決定する切り換え回路からな
ることを特徴とする切り換え装置。An electrical circuit system, and a circuit system that simulates at least one circuit in the electrical circuit system, wherein the electrical circuit system is connected to a simulated circuit, the simulated circuit, or the simulated circuit. 1. A switching device comprising: a peripheral circuit that performs a simulation; and a switching circuit that determines whether to connect the simulation circuit and the peripheral circuit or to connect the simulated circuit and the peripheral circuit.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13077790A JPH0424834A (en) | 1990-05-21 | 1990-05-21 | Switching device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13077790A JPH0424834A (en) | 1990-05-21 | 1990-05-21 | Switching device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0424834A true JPH0424834A (en) | 1992-01-28 |
Family
ID=15042427
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13077790A Pending JPH0424834A (en) | 1990-05-21 | 1990-05-21 | Switching device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0424834A (en) |
-
1990
- 1990-05-21 JP JP13077790A patent/JPH0424834A/en active Pending
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