JPH04247477A - 画像記録装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は画像記録装置に関し、特
に画像信号により変調されたレ−ザ光束で記録媒体面上
を走査して画像を記録する例えばレーザービームプリン
ター等に好適な画像記録装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】近年画像を記録する画像記録装置として
レ−ザ光束で感光体面上を走査して行うレーザビームプ
リンタがその高速性及び高画質なことより、広く使用さ
れるようになってきている。従来の画像記録装置に用い
られているレ−ザ走査装置の概略図を図１０に示す。

【０００３】図中１は半導体レ−ザ、２はコリメ−タレ
ンズ、４３は偏向器であるポリゴンミラ−、４４は結像
光学系、４５は記録媒体である感光ドラムである。画像
信号により変調された半導体レーザ１からのレーザ光束
はコリメ−タレンズ２によって平行光とされる。その後
、該レーザ光束は偏向器４３により偏向されて結像光学
系４４に入射し、記録媒体４５面上で結像し、走査され
て画像の記録が行われる。

【０００４】半導体レ−ザ１は発光時のチップ部の自己
発熱や周囲温度の変化により発光光量が変化することが
知られている。一般にチップ部の温度が上昇すると発光
光量は低下し、逆に温度が下降すると発光光量が上昇す
る。このような変動は画像記録装置側では画像濃度のム
ラとして現われることとなり、著しい印字性能の低下を
もたらす。

【０００５】図１１に示したのはこのような発光変動に
対処するために従来取られてきた対策の一例の概略図で
ある。半導体レ−ザ１は放熱部材４７の上に接着固定さ
れた電子冷却装置４６に接着固定されている。該電子冷
却装置４６の働きにより半導体レ−ザ１の発光時の発熱
を押え、半導体レ−ザ１の温度が一定値に制御される。 勿論電子冷却装置４６は高温安定ということで発熱ヒ−
タで代用させることも可能である。

【０００６】又、半導体レ−ザ１に図１２（Ｂ）に示し
たように光量センサ１ａを組み込み、これを利用して半
導体レ−ザ１の発光量をモニタして発光量を一定にする
ことも行われている。図１２（Ａ）に示したのは発光量
制御の構成例である。光量センサ１ａは予め別の手段で
モニタされた半導体レ−ザ１の発光量をもとに、ボリュ
−ム４８でキャリブレ−ションが行われる。その後、光
量センサ１ａの出力はＡＤコンバ−タ４９でデジタル処
理され、予め調整されているキャリブレ−ション値とコ
ンパレ−トされ偏差量が求められる。この偏差量を一定
値にするように制御することによって半導体レ−ザ１の
光量がコントロ−ルされる。このような制御方式は一般
にオ−トパワ−コントロ−ル方式（以下ＡＰＣ方式と称
する）と呼ばれる。

【０００７】画像記録装置が温度変動の大きい設置環境
にあったり、光量変動の大きい半導体レ−ザをレ−ザビ
−ムプリンタに使用する場合、印字画像の１ライン毎に
ＡＰＣを行わなければならない必要が生じる場合がある
。又、ＡＤコンバ−タが高価であることから、ＡＰＣに
は別方法として光量のサンプルホ−ルドをコンデンサで
行う、いわゆるアナログＡＰＣ方式がある。この場合、
コンデンサは電位低下で長時間のサンプルホ−ルドがで
きないため、サンプリング間隔を短くするという観点か
ら印字画像の１ライン走査毎にＡＰＣが行われている。

【０００８】半導体レ−ザの発光量の変動は画像濃度の
ムラ以外にも別の影響を記録画像に与える。一般に画像
印字信号の水平同期信号の検出は偏向ミラ−４３により
走査された光束を受光センサ−によって光量を検知し、
その後増幅、波形成形をするこによって行われる。従っ
て半導体レ−ザの射出光量の変動は受光センサ−に入る
走査光量の変動となるため、水平同期信号が不安定とな
る。この問題を解決するため、従来はＡＰＣ制御等の光
量制御を行ったあとに水平同期信号の検出を行うことが
行われていた。

【０００９】一方、一般にこれらの走査系については偏
向ミラ−の面数が多くなると、各面の面精度のばらつき
から走査精度がばらつくという問題がある。又、偏向ミ
ラ−のサイズが同じ場合、面数を多くすると走査を行う
距離を保つためには焦点距離が大きくなって装置全体が
大きくなり好ましくない。

【００１０】このように装置全体としての走査精度と光
学配置上の観点から偏向ミラ−の面数には制限が加わる
。例えば図１３に示すように偏向手段として１面や２面
の偏向ミラ−が用いられる場合がある。一般に２面のポ
リゴンミラ−は、丸棒材から削り出して対抗する２面を
形成する。従って走査を行う２面の間は円柱面となる。 ここにＡＰＣ制御時のレ−ザ光や、走査方向の書き出し
信号であるＢＤ信号検知のための走査光束が照射される
と、レ−ザ光が広範囲に散乱され誤検出の原因となる。

【００１１】散乱は一方、感光体を広範囲にわたって露
光してしまうという問題も持っている。このためＡＰＣ
、及びＢＤ信号の検知は走査ミラ−の偏向面で反射した
光束を用い、これを所定の限定された範囲で遮蔽するこ
とで感光体への露光を防止することが行われている。 またポリゴンミラ−の大きさが大きくできない場合には
ミラ−の円柱面へ反射防止膜をつけるようなことも行わ
れていた。

【００１２】

【発明が解決しようとしている課題】しかしながら従来
例では前述のＡＰＣあるいはＢＤ制御のため半導体レ−
ザを発光したとき、感光体にレ−ザ光が入射し走査され
てしまうため、異常画像が印字されないように走査光を
遮断するといった複雑な制御を要求される。

【００１３】また図１３に示すようなポリゴンミラ−を
用いる場合には、主走査方向のミラ−偏向面及び走査レ
ンズが大きくなり装置が大型化したり、ポリゴンミラ−
のコストがアップするという問題があった。これは円柱
面に高価な反射防止膜をつけなければならない場合のコ
スト問題も同様である。

【００１４】本発明ではこうした従来例の問題点より、
ＡＰＣ制御及びＢＤ制御を簡単な制御方式で余計な散乱
光を生じることなく、コンパクトにかつ安価に実現する
ことができる画像記録装置の提供を目的としている。

【００１５】

【課題を解決するための手段】本発明の画像記録装置は
上記目的を達成するためＡＰＣ及びＢＤ制御を行うため
に検出される光束をポリゴンミラ−の偏向走査方向のほ
ぼ端部で処理し、かつ該光束を画像印字領域に対して遮
蔽部材で遮断することによって検出光束の漏れを防ぐと
ともに、ポリゴンミラ−の各偏向反射面に対してのＡＰ
Ｃ制御とＢＤ制御のタイミングを明確化することによっ
てコンパクトで効率の良い走査を実現している。

【００１６】即ち本発明の画像記録装置は半導体レ−ザ
を光源とし、該半導体レ−ザからの射出光を偏向走査す
る偏向器、及び該偏向された光束を感光体上に結像させ
る結像手段と、該感光体への画像の書き込みの初期位置
を制御する初期位置制御手段、該半導体レ−ザの光量を
制御する光量制御光量制御手段、及び該半導体レ−ザの
発光駆動や偏向器の駆動とを制御する電気制御手段とを
有する画像記録装置において、該偏向器への半導体レ−
ザからの光束の３つの照射タイミングを主走査方向の書
き出し信号検知、画像印字として、光量制御の順で行う
ことを基本とすると共に、書き出し信号検知及び光量制
御の際に該半導体レ−ザからの光束が該感光体を露光し
ないよう遮蔽部材を該感光体と該偏向器との間に設けた
ことを特徴とする画像記録装置としている。

【００１７】

【実施例】図１、２、３は本発明の実施例１の要部概略
図である。図中従来例と同じ要素については同一の符号
を付している。本実施例の概略構成図において１は半導
体レ−ザ、２はコリメ−タレンズ、３は半導体レ−ザの
光束を偏向させるためのポリゴンミラ−で、ここでは４
つの反射面の例を示している。ポリゴンミラー３はモ−
タ１２によって回転駆動している。４は結像レンズ、５
は走査されるレ−ザ光線、６は感光体ドラム等の記録媒
体である。

【００１８】ポリゴンミラ−３によって走査される光束
は空間的な位置によって５−１、５−２、５−３という
３種類の領域に分類される。図中ポリゴンミラー３の回
転に伴って１番最初に走査される領域５−１は主走査方
向での書き出し信号、即ち水平同期信号であるＢＤ信号
が検知される光束の存在域を示している。続いて走査さ
れる領域５−２は画像の印字記録を行うための走査光束
の存在域であり、５−３はレ−ザの光量制御、即ちＡＰ
Ｃ制御を行うタイミングを得るために設けられている走
査光束の領域である。

【００１９】ＢＤ信号が検知される領域５−１中の光束
は支持部材７によって固定された反射ミラ−８で反射を
受け、光量センサ９によって受光される。支持部材７は
一方でＢＤ信号受光時に走査光束が印字領域５−２に入
らないようにする遮蔽機能も兼ねている。スリット９−
１は光量センサ９の前方に配置されており、矢印のＡ方
向に移動させて主走査方向の書き出し調整を行っている
。調整された結果得られたＢＤ信号は電気制御回路ユニ
ット１０に送られる。

【００２０】電気制御回路ユニット１０は半導体レ−ザ
１に対して画像信号に基づき点滅駆動を行うと共に、不
図示の内蔵された光量センサからの出力信号を受けて、
設定光量にフィ−ドバック制御を行う機能を持っている
。また電気制御回路ユニット１０はＢＤ信号からの出力
を受けて画像印字のための水平同期信号の制御、及びポ
リゴンミラ−３の回転を行うモ−タ１２の制御も合わせ
行っている。

【００２１】走査光束は画像印字の領域５−２を走査し
た後ＡＰＣ制御を行う領域５−３に入る。１１は走査光
束が５−３に入ったときに余分な光が印字領域５−２に
行かないように光束を遮蔽する遮蔽部材である。

【００２２】本実施例のような構成の走査光学系でＢＤ
信号の処理に要する時間は数十マイクロ秒から数百マイ
クロ秒である。印字画像の処理に要する時間は数百マイ
クロ秒から数ミリ秒、ＡＰＣ制御に要する時間はほぼＢ
Ｄ信号処理に要する時間と同様である。

【００２３】ＡＰＣ制御及びＢＤ制御の方式にはアナロ
グ式とデジタル式の２種類がある。デジタル方式では受
光センサ９からの出力は電気制御回路１０に送られ、電
気制御回路１０内部のアナログ・デジタルコンバ−タ（
Ａ／Ｄコンバ−タ）でデジタル信号に変換されてメモリ
内に保存される。この変換された値は既に保存されてい
る前回のキャリブレ−ション値と比較され、制御が行わ
れる。アナログ方式では受光センサ９の出力はサンプリ
ング後、電気制御回路ユニット１０内のメモリ用コンデ
ンサに蓄積される。蓄積された電位は前回のキャリブレ
−ション値と比較され、デジタル方式と同様の制御が行
われる。従来技術のところでも述べたようにアナログ方
式は高価なＡ／Ｄコンバ−タが不要であり、コストダウ
ンが可能である。しかし、出力をコンデンサに蓄えるた
め、既に保存されている前回のキャリブレ−ション値と
の比較を高速に行わないと、コンデンサのメモリ値が自
然放電されて正確な制御ができない。またサンプリング
のためにコンデンサに蓄積する時間が短すぎても正確な
制御ができない。実際アナログ方式でＡＰＣ制御または
ＢＤ制御を行うためには、制御時間の間隔を数十マイク
ロから数百マイクロ秒以内とすることが望ましい。

【００２４】ＢＤ制御とＡＰＣ制御に必要な時間は前述
のようにほぼ同等なので、本実施例では制御のタイミン
グをＢＤ制御、画像処理、ＡＰＣ制御の順序で行うこと
を特徴としている。一般に結像レンズ４の表面は球面で
できている。球面は図１４に示したように、カ−ブジェ
ネレ−タと呼ばれるほぼ半球状の皿４８を回転させなが
ら研磨加工を行うことによって形成される。そのため結
像レンズ４の有効領域はレンズの光軸を含み、光軸に対
して対称に配置することが望ましい。レンズ形状を非対
称にするためには最終の精密研磨仕上げの段階でレンズ
加工面にかかる加工抵抗力を不均等に断続的にかけるよ
うな加工が必要となり、高精度な加工ができなくなる。 結像性能の必要な印字画像領域はレンズ光軸を含んで対
称に配置され、レンズの有効領域を最大限活用するよう
になっている。像性能をそれほど要求されない領域にＡ
ＰＣ制御及びＢＤ制御の信号検知域は印字画像領域の外
にレンズ光軸に対してほぼ対称に設けられ、ＢＤ制御、
画像処理、ＡＰＣ制御の順序のタイミングで制御が行わ
れる。このように光学系の特性と制御タイミングとをう
まくマッチさせることでレンズ４がコンパクトとなって
装置全体の小型化が達成され、レンズ材料費のコストダ
ウンも可能となる。

【００２５】ＢＤ制御及びＡＰＣ制御時に発光する光量
は支持部材７及び遮蔽部材１１によって感光体６に達す
る前に露光が防止される。また、画像形成装置の立ち上
がり第１回目の印字であるファ−ストプリントに入る前
、即ち潜像形成前にＡＰＣ制御を行えば、次のＢＤ制御
時には光量センサ９に入射する光量出力が安定し、安定
した水平同期信号を得ることができる。

【００２６】図２及び図３は本発明の実施例１における
制御をポリゴンミラ−３の回転に従って図示したもので
ある。本実施例においてポリゴンミラ−３の面数は特に
限定されるものではないが、ここでは４面の場合を例に
とって説明を行う。図に従って４面ポリゴンの各面をそ
れぞれＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄ面とする。

【００２７】図２はポリゴン３のＡ面にレ−ザが当たっ
たときの制御を説明する図である。本実施例ではＢＤ検
知と画像印字の制御が同時に１面おきに行われる。本実
施例のような４面ポリゴンミラ−の場合、対向する２面
であるＡ面とＣ面がそれに当たり、図２に示すＡ面の走
査によりＢＤ検知及び画像印字の制御が完結される。そ
の間ポリゴンミラ−３は連続的に回転し、次のＢ面での
走査状態に達する。図３に示したのはＢ面におけるレ−
ザの制御状態である。Ｂ面では結像レンズの主走査方向
の端部のタイミングで半導体レ−ザの発光が行われ、Ａ
ＰＣ制御のための検出が行われる。遮光部材１１は前述
のように感光体６への余分な露光を防止する役割を果た
す。

【００２８】本実施例はＢＤ制御、画像印字とＡＰＣ制
御の１面おきの交互繰り返しである。従ってＣ面での走
査では再びＡ面と同様にＢＤ検知及び画像印字の制御が
行われ、Ｄ面の走査ではＢ面と同様にＡＰＣ制御が行わ
れる。

【００２９】このように本実施例ではＢＤ信号検知とＡ
ＰＣ制御の処理時間の同等性と光学系の特性を活かすこ
とで、コンパクトな光学系で余分な露光光を生じること
なく、簡単な制御で画像の印字を行うことができる。ま
たＡＰＣ制御からＢＤ制御に行く時間間隔が光学系の配
置を見れば分かるように短いため、アナログ式のＡＰＣ
制御でも画像の劣化を生じさせないという特徴も持って
いる。

【００３０】本発明の実施例２はハ−ド的には実施例１
と同一であるが制御方式が異なるものである。そのため
本発明においても説明には図２及び図３を用いる。本実
施例においてもポリゴンミラ−３の面数は特に限定され
るものではないが、ここでは簡単のため４面を例に取っ
て説明を行う。

【００３１】本実施例ではまずＡ面においてＢＤ検知及
び画像印字が行われる。その間ポリゴンミラ−３は連続
的に回転しＢ面に達する。次いでＢ面では画像印字は行
わず、結像レンズのほぼ主走査方向の端部のタイミング
でＡＰＣ制御が行なわれる。このＡＰＣ制御では遮蔽部
材１１の効果で感光体６への露光が防止される。Ｃ面で
の走査では再びＡ面と同じ様にＢＤ検知及び画像印字が
行なわれる。ここまでは実施例１と同様な制御であるが
、本実施例ではＤ面でＡ面と同様にＢＤ検知及び画像印
字を行なうことが特徴となっている。

【００３２】本発明の走査では上記の制御が繰り返し行
なわれる。このように４面のポリゴンミラ−３のうち３
面を画像印字に使用すれば、実施例１と同じハ−ドウェ
アを用いて走査密度を１．５倍に上げることが可能であ
る。もちろん実施例１の場合と比較してＡＰＣ制御の回
数が減る分レ−ザ光量の変動は大きくなるが、実効的に
はほとんど問題とならない場合が多い。

【００３３】本実施例でのポリゴンミラ−は４面を例に
取って述べたが、前述した様に特にこれに限定されるも
のではなく、最小３面のポリゴンミラ−でも実施例１の
場合より高い走査密度の画像印字を実現することができ
る。

【００３４】実施例２で示したように、本発明では制御
方法によって様々な変形例を得ることができる。図３、
図４、図５を利用して本発明の実施例３を説明する。図
中実施例１と同じ部材については同一の番号がつけられ
ている。

【００３５】一般にポリゴンミラ−の１面のみで走査を
行うと、ポリゴンミラ−に関する誤差に起因する副走査
方向のピッチむらが解消できる。本実施例ではこの事実
に着目し、画像印字は常に特定の１面、ここではＡ面を
用いて行うことを特徴としている。したがって本実施例
ではＢＤ検知、画像印字、ＡＰＣ制御のタイミングはそ
れぞれ別々の面で行われる。ＢＤ信号の制御タイミング
はポリゴンミラ−のＤ面で行われる。次いで前述の画像
の印字が第５図に示されているようにＡ面による走査を
用いて行われる。Ｃ面では半導体レ−ザの発光は行われ
ず、次いでポリゴンミラ−３の回転に伴って、再びＤ面
での走査に戻る。勿論、本発明は最小３面のポリゴンミ
ラ−でも同様の制御を行うことができる。

【００３６】本実施例ではこのように、例えば４面で構
成されたポリゴンミラ−各面の走査の目的を分離するこ
とによって、画像印字性能の向上を達成することができ
る。また、各面の特性の専門化によってポリゴンミラ−
が縮小できるため、ポリゴンミラ−の材料コストの削減
や装置の小型化も容易に実現することができる。

【００３７】図６、及び図７は本発明の実施例の概略図
である。図中の符号のつけ方は実施例１と同様であるが
、ここではポリゴンミラ−３が円柱面を持つ２面の走査
面を持つ形状のものとなっている。

【００３８】図６はポリゴンミラ−Ａ面での走査状態を
示すもので、ＢＤ信号及びＡＰＣ信号の検知が行われる
様子が図示されている。一方、画像の印字は図７に示さ
れているようにＢ面の走査によって行われる。円柱面で
の不要な散乱光による露光を防ぐために、半導体レ−ザ
はポリゴンミラ−が円柱形状面で走査するのに相当する
る位置に来たときには発光させない。この場合にも画像
印字は常に特定の一面であるＢ面で行われるので副走査
方向の誤差の影響を小さくできる。また本実施例ではＢ
Ｄ信号検知を主走査のスタ−ト側、ＡＰＣ制御をエンド
側としているが、これを反対にしても同様の効果が得ら
れる。

【００３９】図８及び図９は本発明の実施例５の概略図
である。本実施例での特徴はポリゴンミラ−３が４面形
状の長方形ミラ−となっていることである。ここでのポ
リゴンミラ−各面のタイミング制御は以下のとおりであ
る。図８は長方形ポリゴンミラ−３の長辺方向の走査面
Ａでの走査状態を示している。Ａ面ではＢＤ信号検知、
画像印字、及びＡＰＣ制御の総てが行われる。ポリゴン
ミラ−３はその間回転していき長方形の短辺方向の走査
面Ｂに達する。Ｂ面ではＢＤ検知及び画像印字の制御が
行われる。次いでＣ面での走査はＡ面での走査と同様に
ＢＤ検知、画像印字、ＡＰＣ制御が行われ、Ｄ面はＢ面
と同じという繰り返しが行われる。長辺方向と短辺方向
の走査では走査時間が異なるため、それぞれの面の特性
を活かした制御方法といえる。

【００４０】本実施例のような制御を行えば、ポリゴン
ミラ−の全反射面でＢＤ制御、画像印字、ＡＰＣ制御総
てを行う場合に比べてポリゴンミラ−が小型化でき、結
果的にポリゴンミラ−の材料コストの削減と、装置の小
型化が実現できる。またポリゴンミラ−の小型化は回転
時の風損の低減を招くため、モ−タ１２の消費電力の削
減と共に、モ−タの回転に伴う回転の安定で画質の高度
化を実現することができる。

【００４１】

【発明の効果】以上説明したように本発明ではレ−ザビ
−ムプリンタ等の走査光学装置において、画像印字領域
の両端部にＢＤ信号及びＡＰＣ制御信号の検出領域を設
けるとともに、偏向ミラ−へのレ−ザ照射のタイミング
を■ＢＤ検知■画像信号■ＡＰＣ制御という順序で制御
し、ポリゴンミラ−の各反射面へのレ−ザ照射のタイミ
ングをある反射面で■ＢＤ検知■画像印字を処理し、続
く次の反射面で■ＡＰＣ制御を処理する等の処理を行な
うことにより以下の効果を実現することができた。 （イ）ポリゴンミラ−を小型化することが可能となり、
装置の小型化及びコストダウンが実現できる。 （ロ）リアルタイムな制御が可能なため自己発熱や周囲
温度環境に起因した半導体レ−ザの発光光量の変動を正
確に制御でき、高品位な印字画像が実現できる。 （ハ）リアルタイム制御が行なえるため高価な電子冷却
装置が不要であり、その結果コストダウンとともに装置
全体の小型化が可能となる。 （ニ）リアルタイム制御が行なえるため、従来半導体レ
−ザの温度制御を行なうために必要であった高価なＡ／
Ｄコンバ−タの代わりに、安価なコンデンサによるアナ
ログ式のＡＰＣ制御が可能となりコスト上のメリットが
大きい。

【図面の簡単な説明】

【図１】　　本発明の実施例１を示す走査光学装置の概
略構成図

【図２】　　本発明の実施例２を示す走査光学装置の概
略構成図

【図３】　　本発明の実施例３を示す走査光学装置の概
略構成図

【図４】　　本発明の実施例３を示す走査光学装置の概
略構成図

【図５】　　本発明の実施例３を示す走査光学装置の概
略構成図

【図６】　　本発明の実施例４を示す走査光学装置の概
略構成図

【図７】　　本発明の実施例４を示す走査光学装置の概
略構成図

【図８】　　本発明の実施例５を示す走査光学装置の概
略構成図

【図９】　　本発明の実施例５を示す走査光学装置の概
略構成図

【図１０】従来例を示した走査光学形の概略構成図

【図
１１】半導体レ−ザの構成及び制御回路を示す図

【図１
２】半導体レ−ザの構成及び制御回路を示す図

【図１３
】走査面を２面持つ円柱型ポリゴンミラ−を示す図

【図１４】レンズ加工を説明する図

【符号の説明】

１　　半導体レ−ザ ２　　コリメ−タレンズ ３　　ポリゴンミラ− ４　　結像レンズ ５　　レ−ザ光線 ６　　感光体ドラム ７　　支持部材 ８　　反射ミラ− ９　　光量センサ １０　　電気制御回路ユニット １１　　遮蔽部材 １２　　モ−タ

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】　　半導体レ−ザを光源とし、該半導体レ
   −ザからの射出光を偏向走査する偏向器、及び該偏向さ
   れた光束を感光体上に結像させる結像手段と、該感光体
   への画像の書き込みの初期位置を制御する初期位置制御
   手段、該半導体レ−ザの光量を制御する光量制御手段、
   及び該半導体レ−ザの発光駆動や偏向器の駆動とを制御
   する電気制御手段とを有する画像記録装置において、該
   偏向器への半導体レ−ザからの光束の３つの照射タイミ
   ングを主走査方向の書き出し信号検知、画像印字として
   、光量制御の順で行うことを基本とすると共に、書き出
   し信号検知及び光量制御の際に該半導体レ−ザからの光
   束が該感光体を露光しないよう遮蔽部材を該感光体と該
   偏向器との間に設けたことを特徴とする画像記録装置。
2. 【請求項２】　　前記３つの照射タイミングを該偏向器
   を構成する偏向ミラ−の各面に単数あるいは複数個対応
   させて制御することを特徴とする請求項１の画像記録装
   置。