JPH04240759A - ピン構造体及びその製造方法 - Google Patents
ピン構造体及びその製造方法Info
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- JPH04240759A JPH04240759A JP674991A JP674991A JPH04240759A JP H04240759 A JPH04240759 A JP H04240759A JP 674991 A JP674991 A JP 674991A JP 674991 A JP674991 A JP 674991A JP H04240759 A JPH04240759 A JP H04240759A
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Landscapes
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、2つの基板間を電気的
に接続する接続端子の構造に関し、特に接続端子が格子
状に配列されたピン構造体に関する。又、本発明は格子
状に配列されたピン構造体の製造方法に関する。
に接続する接続端子の構造に関し、特に接続端子が格子
状に配列されたピン構造体に関する。又、本発明は格子
状に配列されたピン構造体の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】2つの基板の間をピン構造体で接続する
方法は公知である。例えば一方の基板がプリント基板で
他方がセラミックパッケージ基板であり、セラミックパ
ッケージ基板に銀ろう材で取り付けられたピンを、プリ
ント板にすず−鉛はんだで取り付ける手段は(一般の)
電子機器部品の実装技術として広く用いられている。こ
れらのピンの間隔はインチ系が主流であり、通常0.1
インチ(2,54mm)ピッチが用いられているが、高
密度多端子の実装が必要な場合は0.05インチ(1.
27mm)ピッチの実装も使われだしている。
方法は公知である。例えば一方の基板がプリント基板で
他方がセラミックパッケージ基板であり、セラミックパ
ッケージ基板に銀ろう材で取り付けられたピンを、プリ
ント板にすず−鉛はんだで取り付ける手段は(一般の)
電子機器部品の実装技術として広く用いられている。こ
れらのピンの間隔はインチ系が主流であり、通常0.1
インチ(2,54mm)ピッチが用いられているが、高
密度多端子の実装が必要な場合は0.05インチ(1.
27mm)ピッチの実装も使われだしている。
【0003】例えば、日本電気株式会社のACOSシス
テム3300に用いられているピングリッドアレイタイ
プのパッケージでは、基板外形が約28mm角であり、
この基板のほぼ全面に1.27mmピッチで288ピン
のピンが形成されている。ピン長は2mm,ピン径は0
.2mmである。このピン長とピン系の値ははんだ付け
時の熱による応力の緩和を一つの目的として決定される
。
テム3300に用いられているピングリッドアレイタイ
プのパッケージでは、基板外形が約28mm角であり、
この基板のほぼ全面に1.27mmピッチで288ピン
のピンが形成されている。ピン長は2mm,ピン径は0
.2mmである。このピン長とピン系の値ははんだ付け
時の熱による応力の緩和を一つの目的として決定される
。
【0004】将来のLSIの高集積の動向を考慮すると
、ピンの形成ピッチは1.27mmでも不十分である。 すでに論理設計者はLSI当り500〜1000ピンの
端子数を要求している。しかも全体の実装密度をあげる
ためにもパッケージサイズそのものは大きくしたくない
からである。
、ピンの形成ピッチは1.27mmでも不十分である。 すでに論理設計者はLSI当り500〜1000ピンの
端子数を要求している。しかも全体の実装密度をあげる
ためにもパッケージサイズそのものは大きくしたくない
からである。
【0005】この要求に答えるものとして、特願昭62
−279762,特願昭62−305119等に示され
るマイクロピン構造がある。この従来のマイクロピン構
造体は図7に示されるように半導体集積回路チップ15
Aに直接マイクロピン12を形成しこれをセラミック多
層配線基板15Bに半田付けする構造をとっている。こ
の構造の目的はいわゆるフリップチップ法によるバンプ
構造では熱ストレスにより半田接続部の断線という問題
があるため、ピン構造により応力を緩和しようという点
にある。外周部に接続端子を形成する手段と比べ面に格
子状に端子を形成する方が端子数が多くとれることはも
ちろんである。
−279762,特願昭62−305119等に示され
るマイクロピン構造がある。この従来のマイクロピン構
造体は図7に示されるように半導体集積回路チップ15
Aに直接マイクロピン12を形成しこれをセラミック多
層配線基板15Bに半田付けする構造をとっている。こ
の構造の目的はいわゆるフリップチップ法によるバンプ
構造では熱ストレスにより半田接続部の断線という問題
があるため、ピン構造により応力を緩和しようという点
にある。外周部に接続端子を形成する手段と比べ面に格
子状に端子を形成する方が端子数が多くとれることはも
ちろんである。
【0006】特願昭62−279762にはピン数,ピ
ン形成ピッチは明記されていないが、その目的とすると
ころから、ピン数では100ピン以上、ピンの配列ピッ
チは実用化されているバンプ技術から推測して0.25
mm〜1mm程度と思われる。具体例としてLSIの大
きさを10mm角、ピン形成本数を1000ピンとする
と、ピン形成ピッチは約0.3mmが必要となる。した
がってピン径としては0.1mm以下にする必要がある
。
ン形成ピッチは明記されていないが、その目的とすると
ころから、ピン数では100ピン以上、ピンの配列ピッ
チは実用化されているバンプ技術から推測して0.25
mm〜1mm程度と思われる。具体例としてLSIの大
きさを10mm角、ピン形成本数を1000ピンとする
と、ピン形成ピッチは約0.3mmが必要となる。した
がってピン径としては0.1mm以下にする必要がある
。
【0007】0.1mmのピン径のピンを0.3mmの
格子状に1000ピン配列し、これをLSIもしくはセ
ラミック基板等に形成するのは作業上の困難性、治具の
精度上、種々の問題がある。従来はピン整列治具として
1.27mmピッチで穴のあいた板をカーボンで作り、
ここにピンを挿入して整列させていた。穴はピンをスム
ーズに挿入させるあめにピン径より0.05〜0.1m
m程度大きくしておき振動等を利用して80〜90%の
穴に自動的にピンを入れたあと未挿入部に1ピンづつピ
ンセットでピンを挿入していた。
格子状に1000ピン配列し、これをLSIもしくはセ
ラミック基板等に形成するのは作業上の困難性、治具の
精度上、種々の問題がある。従来はピン整列治具として
1.27mmピッチで穴のあいた板をカーボンで作り、
ここにピンを挿入して整列させていた。穴はピンをスム
ーズに挿入させるあめにピン径より0.05〜0.1m
m程度大きくしておき振動等を利用して80〜90%の
穴に自動的にピンを入れたあと未挿入部に1ピンづつピ
ンセットでピンを挿入していた。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】図8は図7に示したマ
イクロピンの半田付け時の拡大図である。配線基板15
Bのランド17とマイクロピン12の間にはんだ18が
成形されている。マイクロピン12を用いて熱による応
力を緩和するにははんだ付け後のはんだの形状を制御す
る必要がある。
イクロピンの半田付け時の拡大図である。配線基板15
Bのランド17とマイクロピン12の間にはんだ18が
成形されている。マイクロピン12を用いて熱による応
力を緩和するにははんだ付け後のはんだの形状を制御す
る必要がある。
【0009】しかし従来用いられていたマイクロピンで
は、はんだ形状を図8のように安定的に形成することは
なかなか困難である。よく発生する現象ははんだがピン
12の上方までのぼってしまう現象で、これがおこると
基板15Bのラド17上のはんだ良が不足し、強度低下
や、ひどい場合には断線に至る。また、はんだがピン1
2の側面をおおってしまい、ピンが硬くなりピン自体の
弾力により応力を緩和しようとした効果が得られなくな
ってしまう。
は、はんだ形状を図8のように安定的に形成することは
なかなか困難である。よく発生する現象ははんだがピン
12の上方までのぼってしまう現象で、これがおこると
基板15Bのラド17上のはんだ良が不足し、強度低下
や、ひどい場合には断線に至る。また、はんだがピン1
2の側面をおおってしまい、ピンが硬くなりピン自体の
弾力により応力を緩和しようとした効果が得られなくな
ってしまう。
【0010】対策としてはピン先端のみ、はんだ濡れ性
を良くし、他の部分の濡れ性を悪くすれば良いのだか、
このような微細なピンの1ピン毎にそのような工夫をす
ることは技術的に可能であっても、大幅な価格上昇とな
り、実際的な解決策にはなり得ない。
を良くし、他の部分の濡れ性を悪くすれば良いのだか、
このような微細なピンの1ピン毎にそのような工夫をす
ることは技術的に可能であっても、大幅な価格上昇とな
り、実際的な解決策にはなり得ない。
【0011】また、穴のあいたカーボン製の板を用いた
ピン構造の製造方法についてはピンピッチを0.3mm
では、ピンに対する穴の0.05〜0.1mmの「遊び
」は許容できなくなり、ピンをスムーズに穴に挿入でき
なくなる。またピン径が0.1mm程度となるとピンを
ピンセットで取り扱うのが困難となり、カーボン製の板
の穴へピンを挿入できなくなる。
ピン構造の製造方法についてはピンピッチを0.3mm
では、ピンに対する穴の0.05〜0.1mmの「遊び
」は許容できなくなり、ピンをスムーズに穴に挿入でき
なくなる。またピン径が0.1mm程度となるとピンを
ピンセットで取り扱うのが困難となり、カーボン製の板
の穴へピンを挿入できなくなる。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明のピン構造体は、
有機樹脂フィルムと、この有機樹脂フィルムの表および
裏から両端を突出させて前記有機樹脂フィルムに埋め込
まれて配列させられた複数の金属柱からなるピンとを含
み、前記ピンの前記有機樹脂フィルムから突出した部分
の少なくとも一部がはんだに濡れやすい金属で覆われて
いることを特徴とする。
有機樹脂フィルムと、この有機樹脂フィルムの表および
裏から両端を突出させて前記有機樹脂フィルムに埋め込
まれて配列させられた複数の金属柱からなるピンとを含
み、前記ピンの前記有機樹脂フィルムから突出した部分
の少なくとも一部がはんだに濡れやすい金属で覆われて
いることを特徴とする。
【0013】本発明のピン構造体の製造方法は、配列さ
れた複数のワイヤ状の金属を有機樹脂中に埋め込む第1
の工程と、前記ワイヤ状の金属の切断後の両端が表およ
び裏にくるように前記有機樹脂を切断してフィルムにす
る第2の工程と、前記フィルムの両面を所定の深さまで
除去して前記ピンの両端を前記フィルムの両面から突出
させる第3の工程と、前記ピンの突出部分を、はんだ濡
れ性の良い金属でおおう第4の工程とを含んで構成され
る。
れた複数のワイヤ状の金属を有機樹脂中に埋め込む第1
の工程と、前記ワイヤ状の金属の切断後の両端が表およ
び裏にくるように前記有機樹脂を切断してフィルムにす
る第2の工程と、前記フィルムの両面を所定の深さまで
除去して前記ピンの両端を前記フィルムの両面から突出
させる第3の工程と、前記ピンの突出部分を、はんだ濡
れ性の良い金属でおおう第4の工程とを含んで構成され
る。
【0014】また第4の工程の後にフィルムの両面をさ
らに所定の深さまで除去しピンをはんだ濡れ性の良い金
属でおおわれた部分以外まで前記フィルムから突出させ
る第5の工程を有する構成にもできる。
らに所定の深さまで除去しピンをはんだ濡れ性の良い金
属でおおわれた部分以外まで前記フィルムから突出させ
る第5の工程を有する構成にもできる。
【0015】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。
る。
【0016】図1は本発明の一実施例の斜視図である。
【0017】有機樹脂フィルム11に金属ピン1が格子
状に配列されて埋め込まれている。金属ピン1の両端は
フィルム面から突出しており、突出している部分の一部
もしくは全部が他の金属でおおわれている。
状に配列されて埋め込まれている。金属ピン1の両端は
フィルム面から突出しており、突出している部分の一部
もしくは全部が他の金属でおおわれている。
【0018】有機樹脂フィルム11の材質は耐熱性樹脂
であり、具体的にはポリイミド系樹脂が用いられている
。厚さは1mm〜0.3mm程度である。金属ピン1の
材質はコバール,銅合金,タングステン,ニッケル合金
,金等を用いることができる。所望する弾力と導電性,
熱膨張係数により適当な金属を選ぶ。フィルムが薄くピ
ン1自体に強度が求められる場合には、タングステンや
ニッケル合金が用いられる。また高い導電性が要求され
る場合は、金や銅合金を用い、タングステンやニッケル
合金と比べてのピン自体の機械的強度の低下はフィルム
を厚くすることでおぎなうことがでいる。熱膨張係数を
アルミナ等のセラミックにあわせたい場合にはコバール
が用いられる。
であり、具体的にはポリイミド系樹脂が用いられている
。厚さは1mm〜0.3mm程度である。金属ピン1の
材質はコバール,銅合金,タングステン,ニッケル合金
,金等を用いることができる。所望する弾力と導電性,
熱膨張係数により適当な金属を選ぶ。フィルムが薄くピ
ン1自体に強度が求められる場合には、タングステンや
ニッケル合金が用いられる。また高い導電性が要求され
る場合は、金や銅合金を用い、タングステンやニッケル
合金と比べてのピン自体の機械的強度の低下はフィルム
を厚くすることでおぎなうことがでいる。熱膨張係数を
アルミナ等のセラミックにあわせたい場合にはコバール
が用いられる。
【0019】ピン1の径は0.03〜0.2mm程度、
ピンの配列ピッチは0.2〜1mm程度である。ピン長
はフィルム厚にも関係するが2〜0.5mm程度である
。図2は本実施例の部分断面図である。
ピンの配列ピッチは0.2〜1mm程度である。ピン長
はフィルム厚にも関係するが2〜0.5mm程度である
。図2は本実施例の部分断面図である。
【0020】ピン1の両端がフィルム11の面から突出
しており、そこがはんだぬれ性の良い他の金属13でお
おわれている。突出している高さはピン径にもよるが0
.03〜0.3mm程度である。金属13の具体例とし
ては、金,パラジウム,銅,スズ,スズ−鉛などがある
。ピン12と金属13の間に他の金属が介在することも
ありうる。例えばピン12がコバールで金属13が金の
場合、その間にニッケルがあることが通常である。これ
はコバールと金との密着を得るために必要である。
しており、そこがはんだぬれ性の良い他の金属13でお
おわれている。突出している高さはピン径にもよるが0
.03〜0.3mm程度である。金属13の具体例とし
ては、金,パラジウム,銅,スズ,スズ−鉛などがある
。ピン12と金属13の間に他の金属が介在することも
ありうる。例えばピン12がコバールで金属13が金の
場合、その間にニッケルがあることが通常である。これ
はコバールと金との密着を得るために必要である。
【0021】図3は本発明の他の実施例の部分断面図で
ある。本実施例ではフィルム11から突出しているピン
2の一部のみが金属13でおおわれている。ピン2の露
出面14ははんだ濡れ性の良くない材料であることが特
徴である。ピン2がコバールやタングステンの場合は、
ピン2自体の材質がそのまま露出していても良いが耐腐
食性を考慮し、ニッケルやクロム,チタン等でおおう場
合が多い。ピン2が銅合金や金の場合はむしろはんだ濡
れ性を悪くする目的でニッケルやクロムでおおう。本実
施例の場合の突出部の高さは0.1〜0.5mm程度で
あり、このうち金属13でおおわれている高さは0.0
3〜0.3mm程度である。
ある。本実施例ではフィルム11から突出しているピン
2の一部のみが金属13でおおわれている。ピン2の露
出面14ははんだ濡れ性の良くない材料であることが特
徴である。ピン2がコバールやタングステンの場合は、
ピン2自体の材質がそのまま露出していても良いが耐腐
食性を考慮し、ニッケルやクロム,チタン等でおおう場
合が多い。ピン2が銅合金や金の場合はむしろはんだ濡
れ性を悪くする目的でニッケルやクロムでおおう。本実
施例の場合の突出部の高さは0.1〜0.5mm程度で
あり、このうち金属13でおおわれている高さは0.0
3〜0.3mm程度である。
【0022】図4は本実施例のマイクロピン構造体を用
いてIC15Aを配線基板15Bにとりつけたところの
側面図である。IC15Aの表面にランド16,配線基
板15Bの表面にはランド17が形成されており、そこ
にマイクロピン2がはんだ付けされている。はんだ18
はマイクロピン2の側面のうちはんだぬれ性のよい金属
13でおおわれた部分までしかのぼっていかないのでラ
ンドサイズやピン径に応じたはんだ量をあらかじめ設定
しておくことにより、再現性よく求めるはんだフィレッ
ト形状を得ることができる。また、フィルム11でおお
われた部分を含めてマイクロピン2の所望する部分には
んだが付着するのを防ぐことができるのでピン自体の弾
力性を保持することができ、ねらい通りの応力緩和効果
を得ることができる。
いてIC15Aを配線基板15Bにとりつけたところの
側面図である。IC15Aの表面にランド16,配線基
板15Bの表面にはランド17が形成されており、そこ
にマイクロピン2がはんだ付けされている。はんだ18
はマイクロピン2の側面のうちはんだぬれ性のよい金属
13でおおわれた部分までしかのぼっていかないのでラ
ンドサイズやピン径に応じたはんだ量をあらかじめ設定
しておくことにより、再現性よく求めるはんだフィレッ
ト形状を得ることができる。また、フィルム11でおお
われた部分を含めてマイクロピン2の所望する部分には
んだが付着するのを防ぐことができるのでピン自体の弾
力性を保持することができ、ねらい通りの応力緩和効果
を得ることができる。
【0023】ICや配線基板に対するマイクロピン構造
体の位置あわせも例えばフィルム11上に、位置あわせ
用の認識マークを設けることにより、容易におこなうこ
とができる。さらにこのような構造体をとることにより
、ピン全体で強度を得ていることから1〜2ピン取り付
け強度の弱いものが発生しても、そのピンだけとれると
いうこともなく、全体としての信頼性も向上する。
体の位置あわせも例えばフィルム11上に、位置あわせ
用の認識マークを設けることにより、容易におこなうこ
とができる。さらにこのような構造体をとることにより
、ピン全体で強度を得ていることから1〜2ピン取り付
け強度の弱いものが発生しても、そのピンだけとれると
いうこともなく、全体としての信頼性も向上する。
【0024】図5は図2に示すマイクロピン構造体の製
造方法を示す工程断面図である。
造方法を示す工程断面図である。
【0025】図5の(A)はワイヤ状の金属20を、金
型23に形成された穴に通すことにより精度良く整列さ
せ、そこに、有機樹脂ワニス21を流し込んだところを
示してある。このように精度良い金型を用いて配列がで
きるためピン配列の手間はほとんどかからない。
型23に形成された穴に通すことにより精度良く整列さ
せ、そこに、有機樹脂ワニス21を流し込んだところを
示してある。このように精度良い金型を用いて配列がで
きるためピン配列の手間はほとんどかからない。
【0026】次にワニス21を硬化させ、図5の(B)
に示すように、所望の厚さに切断する。切断されたワイ
ヤ20はピン1となる。
に示すように、所望の厚さに切断する。切断されたワイ
ヤ20はピン1となる。
【0027】次に、図5(C)に示すように有機樹脂ワ
ニス21の表面の一部を除去する。ワニス21は一部を
除去されてフィルム11となる。ワニス21がポリイミ
ド系の樹脂の場合はO2 +CF4 のガスを用いたプ
ラズマ処理で0.1mm/時間以上のはやさで除去する
ことができる。ポリイミドエッチャントを用いたウェッ
トエッチングでも良い。
ニス21の表面の一部を除去する。ワニス21は一部を
除去されてフィルム11となる。ワニス21がポリイミ
ド系の樹脂の場合はO2 +CF4 のガスを用いたプ
ラズマ処理で0.1mm/時間以上のはやさで除去する
ことができる。ポリイミドエッチャントを用いたウェッ
トエッチングでも良い。
【0028】こうしてピン1の一部を露出したあと、そ
こを図5(D)に示すように他の金属13でおおう。通
常は無電解メッキでおおうのが簡単である。例えばコバ
ールや銅合金,タングステン等のピンに無電解でニッケ
ル/金メッキを施すことは広く用いられており、困難性
は少ない。ポリイミドでおおわれた部分にはメッキがつ
かないのはもちろんである。
こを図5(D)に示すように他の金属13でおおう。通
常は無電解メッキでおおうのが簡単である。例えばコバ
ールや銅合金,タングステン等のピンに無電解でニッケ
ル/金メッキを施すことは広く用いられており、困難性
は少ない。ポリイミドでおおわれた部分にはメッキがつ
かないのはもちろんである。
【0029】このようにポリイミドフィルムにピンを埋
め込むことによりその後のピンの両端の露出,メッキ処
理がバッチ処理でおこなえ、1ピンづつ処理する方法に
比べ大幅な 工数削減となる。
め込むことによりその後のピンの両端の露出,メッキ処
理がバッチ処理でおこなえ、1ピンづつ処理する方法に
比べ大幅な 工数削減となる。
【0030】また片面づつ電極を取る方法を用いれば、
電気メッキも可能であることはもちろんである。
電気メッキも可能であることはもちろんである。
【0031】図6は図3に示すマイクロピン構造体の製
造方法を示したものである。
造方法を示したものである。
【0032】図5(D)に示す状態の有機樹脂フィルム
の表面をエッチングで除去し、ピンの一部を露出させて
いる。本製造方法の場合は図6には図示していないが図
3に示すようにピン側面をあらかじめ他の金属でおおっ
ておくことが望ましい。そのためには図5(A)の工程
で金属ワイヤ12の表面がすでに他の金属でおおわれて
いるものを用いる。たとえばニッケルメッキされたコバ
ールワイヤや銅合金ワイヤを用いれば良い。
の表面をエッチングで除去し、ピンの一部を露出させて
いる。本製造方法の場合は図6には図示していないが図
3に示すようにピン側面をあらかじめ他の金属でおおっ
ておくことが望ましい。そのためには図5(A)の工程
で金属ワイヤ12の表面がすでに他の金属でおおわれて
いるものを用いる。たとえばニッケルメッキされたコバ
ールワイヤや銅合金ワイヤを用いれば良い。
【0033】本実施例の製造方法はフィルムエッチング
→メッキ→フィルムエッチングの工程をおこなうだけで
ピンの1部にのみ他の金属13を形成している。1ピン
ずつメッキする従来の製造方法ではピンの部分メッキは
大幅な工数上昇となり、本発明の製造方法と比較し、問
題が多い。
→メッキ→フィルムエッチングの工程をおこなうだけで
ピンの1部にのみ他の金属13を形成している。1ピン
ずつメッキする従来の製造方法ではピンの部分メッキは
大幅な工数上昇となり、本発明の製造方法と比較し、問
題が多い。
【0034】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のマイクロ
ピン構造体は、ワイヤ状の金属を整列して有機樹脂フィ
ルムに埋め込み、その両端をフィルムから突出させ、さ
らに突出した部分の一部もしくは全部をはんだぬれ性に
対する特性をかえるという構造をとることにより、1.
取扱いが簡単でマイクロピンを基板に取りつける工程が
楽になる2.精度よくピンを取りつけることができる3
.取り付け後のはんだの形状を再現性良く制御すること
ができ、強い取りつけ強度を得ることができる。
ピン構造体は、ワイヤ状の金属を整列して有機樹脂フィ
ルムに埋め込み、その両端をフィルムから突出させ、さ
らに突出した部分の一部もしくは全部をはんだぬれ性に
対する特性をかえるという構造をとることにより、1.
取扱いが簡単でマイクロピンを基板に取りつける工程が
楽になる2.精度よくピンを取りつけることができる3
.取り付け後のはんだの形状を再現性良く制御すること
ができ、強い取りつけ強度を得ることができる。
【0035】などの効果がある。
【0036】さらに本発明のマイクロピン構造体の製造
方法をとることにより 1.長い金属ワイヤ状態で整列するため整列が容易であ
る 2.多数のピンに同時に部分メッキが容易におこなえる
3.有機樹脂フィルムからのピンの突出長のコントロー
ルが容易におこなえるなどの効果がある。
方法をとることにより 1.長い金属ワイヤ状態で整列するため整列が容易であ
る 2.多数のピンに同時に部分メッキが容易におこなえる
3.有機樹脂フィルムからのピンの突出長のコントロー
ルが容易におこなえるなどの効果がある。
【図1】本発明の一実施例のマイクロピン構造体の斜視
図である。
図である。
【図2】図1に示す実施例の部分断面図である。
【図3】本発明の他の実施例の部分断面図である。
【図4】図3に示すマイクロピン構造体を用いて2つの
基板を接続したところの断面図である。
基板を接続したところの断面図である。
【図5】図2に示すマイクロピン構造体の製造方法を示
す工程図である。
す工程図である。
【図6】図3に示すマイクロピン構造体の製造方法を示
す工程図である。
す工程図である。
【図7】従来のマイクロピン構造体の断面図である。
【図8】図8の部分の拡大断面図である。
1,2,12 ピン
11 有機樹脂フィルム
13 はんだ濡れ性の良い金属
14 はんだ濡れ性の悪い金属
15A IC
15B 配線基板
16,17 ランド
18 はんだ
20 金属ワイヤ
21 有機樹脂ワニス
23 金型
Claims (4)
- 【請求項1】 有機樹脂フィルムと、この有機樹脂フ
ィルムの表および裏から両端を突出させて前記有機樹脂
フィルムに埋め込まれて配列させられた複数の金属柱か
らなるピンとを含み、前記ピンの前記有機樹脂フィルム
から突出した部分の少なくとも一部がはんだに濡れやす
い金属で覆われていることを特徴とするピン構造体。 - 【請求項2】 配列された複数のワイヤ状の金属を有
機樹脂中に埋め込む第1の工程と、前記ワイヤ状の金属
の切断後の両端が表および裏にくるように前記有機樹脂
を切断してフィルムにする第2の工程と、前記フィルム
の両面を所定の深さまで除去して前記ピンの両端を前記
フィルムの両面から突出させる第3の工程と、前記ピン
の突出部分を、はんだ濡れ性の良い金属でおおう第4の
工程とを含むことを特徴とするピン構造体の製造方法。 - 【請求項3】 第4の工程の後にフィルムの両面をさ
らに所定の深さまで除去しピンをはんだ濡れ性の良い金
属でおおわれた部分以外まで前記フィルムから突出させ
る第5の工程を有する請求項2記載のピン構造体の製造
方法。 - 【請求項4】 第1の工程で複数のワイヤ状の金属を
型に形成された穴に通すことにより整列させてから有機
樹脂中に埋め込む請求項2または3記載のピン構造体の
製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP674991A JPH04240759A (ja) | 1991-01-24 | 1991-01-24 | ピン構造体及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP674991A JPH04240759A (ja) | 1991-01-24 | 1991-01-24 | ピン構造体及びその製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04240759A true JPH04240759A (ja) | 1992-08-28 |
Family
ID=11646843
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP674991A Pending JPH04240759A (ja) | 1991-01-24 | 1991-01-24 | ピン構造体及びその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04240759A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7036221B2 (en) | 1996-07-09 | 2006-05-02 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method of manufacturing a semiconductor element-mounting board |
JP2007194646A (ja) * | 2007-02-09 | 2007-08-02 | Fujitsu Ltd | 表裏導通基板の製造方法および表裏導電基板 |
-
1991
- 1991-01-24 JP JP674991A patent/JPH04240759A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7036221B2 (en) | 1996-07-09 | 2006-05-02 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method of manufacturing a semiconductor element-mounting board |
JP2007194646A (ja) * | 2007-02-09 | 2007-08-02 | Fujitsu Ltd | 表裏導通基板の製造方法および表裏導電基板 |
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