JPH04233801A - 密閉ハウジング内マイクロ波回路の同調装置 - Google Patents

密閉ハウジング内マイクロ波回路の同調装置

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JPH04233801A
JPH04233801A JP3158845A JP15884591A JPH04233801A JP H04233801 A JPH04233801 A JP H04233801A JP 3158845 A JP3158845 A JP 3158845A JP 15884591 A JP15884591 A JP 15884591A JP H04233801 A JPH04233801 A JP H04233801A
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JP
Japan
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probe
cover assembly
cover
circuit board
housing
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Application number
JP3158845A
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English (en)
Inventor
Gordon O Salmela
ゴードン・オー・サルメラ
Brian M Foley
ブライアン・エム・フォリー
David C Collins
デーヴィッド・シー・コリンズ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Raytheon Co
Original Assignee
Raytheon Co
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01PWAVEGUIDES; RESONATORS, LINES, OR OTHER DEVICES OF THE WAVEGUIDE TYPE
    • H01P11/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing waveguides or resonators, lines, or other devices of the waveguide type

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Casings For Electric Apparatus (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Waveguide Connection Structure (AREA)
  • Microwave Amplifiers (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は一般にマイクロ波回路に
、特に、マイクロ波回路を囲むハウジングをカバーする
ためのアッセンブリーに関する。そのカバーアッセンブ
リーはハウジング上の適所に配置されており、しかも、
そのカバーアッセンブリーはマイクロ波回路の同調を提
供するための外部から利用できるプローブを包含する。
【0002】
【従来の技術】典型的マイクロ波ハイブリッド集積回路
(MHIC)モジュールは複数のセラミック基板から構
成されても良く、基板は表面に半田付けされた抵抗性、
容量性、そして能動性構成要素を包含し、そして更に構
成要素間を接続するために研磨表面上に被着された金製
回路トレースを包含する。構成要素実装基板は通常アル
ミニュームハウジング内に並べて実装され、金ジャンパ
ー線により相互接続され、そしてアルミニュームカバー
によりハウジング内に包囲される。関連のマイクロ波周
波数において、基板上の金製の回路パスの幾何学的形状
や、周辺のハウジング(特にカバーを含む)に関するそ
れらの相互位置は誘電性、且つ容量性の影響を生じる。
【0003】ハウジング内に構成要素実装基板を包含す
る全アッセンブリーは関連の周波数帯域で利得と「雑音
指数」のために同調される。この同調は典型的には主回
路トレースからトレースパスに近接するか、あるいはブ
ランチ端の小同調パッチにジャンパーワイヤーを接続す
ることにより達成される。同調パッチは、例示的には、
0.06インチ(1.5ミリ)x0.02インチ(0.
5ミリ)と、かなり小さいけれども、それらが関連する
トレースの面積や長さを僅かに増加することにより接続
される時、それらは回路の性能に重要な影響を与える。
【0004】残念ながら、上記の同調作業後のアルミニ
ュームハウジング上のカバーの次の設置は、内部同調パ
ッチやジャンパーの相互接続よりも遥かに大きな影響を
回路性能に与える。明かに、カバーは、アッセンブリー
が最後に試験される前に適所に配備されねばならないが
、設置されたカバーが在ると、それが回路をカバーする
ので、通常更なる調整が出来ない。
【0005】カバーの取り付け、上記利得やノイズパラ
メータの試験、そしてカバーの除去を含む一連の反復中
における回路トレースへの同調パッチの半田付けに関し
て経験的推察を行うことが過去におけるプラクテスであ
った。この時間のかかる作業は、その全てが、電気的試
験が正確に実行される前に完全に適所に配備されなけれ
ばならない多数のカバー用ネジにより更に厳しくなる。 平均8回のそのような同調反復は、その電気的仕様に一
致するまでに各々のモジュールに対して平均8回の同調
作業の繰返しが必要となることが普通である。
【0006】明かに、反復的同調作業のこの形態はあら
ゆる回路製造設備における障害となる。必要とされるこ
とは、正確に密閉ハウジングをシミュレートする環境下
で同調パッチへのジャンパーを通じて回路を同調させる
ためのリアルタイム処置である。
【0007】
【発明の概要】故に、密閉ハウジングをシミュレートす
る環境内でマイクロ波回路を同調させるための手段を提
供することが本発明の第一の目的である。
【0008】密閉ハウジング内のマイクロ波回路の電気
的同調調整を行うことが出来るようにするための道具を
提供することが本発明の更なる目的である。
【0009】マイクロ波回路を収納するハウジングを包
囲するための同調カバーを提供することが本発明の更な
る目的であり、ここで、同調カバーはマイクロ波回路の
同調調整を行うための外部利用可能手段を包含する。
【0010】本発明のこれら、及び他の目的は通常プリ
ント回路基板を収納するハウジングを包囲するカバーア
ッセンブリーを提供することにより得られる。カバーア
ッセンブリーはハウジングをカバーするために適応され
たカバープレートから構成され、カバープレートは貫通
開口部、そしてその開口部を貫通して延長するプローブ
を有し、そのプローブは電気的伝導性チップを有し、伸
ばした位置と引っ込めた位置間で移動可能である。プロ
ーブの延長位置はその導電性チップを回路基板のプリン
ト配線トレースと電気的接触させるが、プローブの後退
位置はその伝導チップを回路基板から離す方向に引っ込
める。
【0011】本発明の好適実施例において、カバーアッ
センブリーはカバープレート内に複数の対応開口部を通
過して延長する複数のプローブを包含する。複数のプロ
ーブは、プリント配線トレースをパッチに接続する単一
延長位置を提供する第1タイプのプローブ、選択的に2
つのパッチのいずれかをプリント配線トレースに接続す
る2つの延長位置を提供する第2タイプのプローブ、選
択的に2つのパッチのいずれか又は両方をプリント配線
トレースに接続する3つの延長位置を提供する第3タイ
プのプローブを包含することができる。
【0012】この配置構成で、実際のハウジングカバー
を正確にシミュレートする同調カバーアッセンブリーを
使用することにより密閉ハウジング内のマイクロ波回路
を同調させることが可能となる。
【0013】本発明の他の特長や長所は次の好適形態の
詳述、特許請求の範囲、そして添付の図により更に理解
されよう。
【0014】
【実施例】図1には、通常のカバー12から取り外され
て示されたマイクロ波回路モジュールハウジング10が
示されている。ハウジング10はその中にプリント配線
回路モジュール14を収納し、そしてその周辺に沿って
複数のネジ切りされた開口部16を包含する。カバー1
2は通常のカバー12内の開口部20を通過してネジ切
りされた開口部16内に延長する複数の対応ネジ18を
介してハウジング10に堅固に取り付けられる。本発明
は一時的に通常のカバーを置き換え、そしてそれにより
周波数範囲で利得や雑音指数のためのマイクロ波回路モ
ジュール14を同調させる初期回路調整を可能にする同
調カバーアッセンブリーに関する。
【0015】図2と図3は、回路同調工程中に通常カバ
ー12を置き換えて、図1のマイクロ波ハイブリッド集
積回路ハウジング10とともに使用するための本発明の
同調カバーアッセンブリー30の各々の平面及び側面図
である。カバーアッセンブリー30は、例えば、ニッケ
ルで表面硬化処理されたアルミニュームから作られたカ
バープレート32、開口部36を貫通してその周辺に沿
ってマイクロ波回路ハウジング10(図示されない)内
の対応するネジ切りされた開口部16にカバープレート
32を取り付けるための、例えば、複数の機械ネジの締
め付け手段34、そして開口部38を貫通してカバープ
レート32内に延長する複数のプローブ40(12個が
示されている)を包含する。カバープレート32に取り
付けられるのは4本脚42であり、例示的にネジ44を
介して取り付けられている。カバープレート32の底部
表面からプローブ40の先端部の延長長さを越えて延長
する脚42は、カバーアッセンブリー30がマイクロ波
回路ハウジングに取り付けられていない時、偶発的、或
は可能性のある有害な接触からプローブ先端部を保護す
る。
【0016】プローブ40の各々は固定プローブハウジ
ング48内に可動スプリング装填プランジャー46を包
含する。プローブハウジング48は、搭載フランジ50
と位置決めパイロット58とともに、通常ステンレス製
の管状部材60から構成される。プローブ40はフラン
ジ50内の凹所52と係合するカム54を介してカバー
プレート32に堅固に保持され、カムはネジ56により
カバープレート32に保持される。位置決めパイロット
58は、カバープレート32上のパイロット整列構造6
2に対して同じ高さまで上昇、或は近接プローブ40の
位置決めパイロット58に対して同じ高さまで上昇する
プローブハウジング48内の平坦表面から構成される。
【0017】図4において、図2や図3のいずれかのプ
ローブと類似のものにすることが可能なプローブ40の
部分横断面図が示されている。プローブ40は例えば、
ステンレス銅で製造される通常環状円筒プローブハウジ
ング48を包含する。ハウジング48は搭載フランジ5
0と位置決めパイロット58を包含し、カバープレート
32にプローブハウジング48を取り付けるためのそれ
らの機能は前述した通りである。ハウジング48内の中
央ボアー70は、中央ボアー70の直径が変化している
ショルダー部72を包含する。
【0018】プローブ40は更にハウジング48の中央
ボアー70内で縦方向及び回転方向の運動が出来るプラ
ンジャー74を包含する。プランジャー74は3つの構
成要素、先端部分76、コントロールロッド78、そし
てキャップ80から構成される。
【0019】先端部分76は第1直径の第1環状セクシ
ョン76aと、第2直径の第2環状セクション76bに
絞られたロッドから構成される。本例において、先端部
分76はアルミナから作られ、そして長さが0.885
インチ(2.25cm)で、第1セクション76aの直
径は0.188インチ(4.78mm)、そして第2セ
クション76bの直径は0.125インチ(3.18m
m)である。先端部分76の小径セクション76bの自
由端におけるプローブ先端部100が図5に詳細に示さ
れ、それに関連する説明は後で行なう。
【0020】コントロールロッド78は先端部分76の
大径セクション76a内に開けられた軸穴82内に入り
込み、そこで望ましくは熱硬化性エポキシ接着剤を使用
してそれは接着される。コントロールロッド78の材料
は先端部分76の熱膨張と一致するように選択され、好
適形態におけるコントロールロッド78はアルミナの熱
膨張係数と十分に一致する係数を有するチタンで製造さ
れる。本実施例において、コントロールロッド78の直
径は0.062インチ(1.6mm)である。コントロ
ールロッド78と先端部分76から構成される接着され
たアッセンブリーのハウジング48内への挿入に先だっ
て、圧縮スプリング84がコントロールロッド78の自
由端上に滑入され、ここでその一端が先端部分76の大
径端に支持される。このアッセンブリーがプローブハウ
ジング48の中央ボアー70内に挿入されると、スプリ
ング84の他端は中央ボアー70のショルダー部72に
対して支持される。スプリング84は、プローブ40を
伸ばした位置にある時に、先端部分76が、下にある回
路上に例えば、1ポンドの力を及ぼすように選択される
【0021】望ましくはチタン製のキャップ80は軸穴
86を有し、コントロールロッド78がその軸穴貫通し
て延長し、そしてそれに溶接されている。キャップ80
がコントロールロッド78に溶接されると、スプリング
84は中央ボアー70内で圧縮状態となることが前述の
説明から理解されよう。キャップ80は、プランジャー
74の軸方向及び回転方向への運動を操作する時の指の
接触性を高めるための突起表面88と凹所エリア90を
包含する。
【0022】ハウジング48に近接するキャップ80の
部分はハウジング48内の連結構造に噛み合うように適
応されたフォーク状構造92を含んでいる。フォーク状
構造92はハウジング48上の対応平坦表面96と連結
する平坦内部表面94を有する二つの歯を包含する。こ
の連結配置は、プランジャー74がスプリング84の圧
縮力に抗してカバープレート32から離れるようにキャ
ップ80を手動で引くことにより引っ込められると、プ
ローブ先端部100は捻れること無く下の回路基板から
直接的に持ち上げられることを確実にする。この配置は
回路基板のプリント配線に関する先端100の正しい配
置をも確保する。つまり引っ込んだ位置において、キャ
ップ80の表面94がハウジング84の表面と接触して
いない時、センタ100の接触エリアはカバープレート
32の底部(内部)表面と一直線をなす。
【0023】図5において、例示的プローブ先端100
の拡大図が示されている。図5は図4のプランジャー7
4のアルミナ先端部分76の絞り込まれた円筒のセクシ
ョン102、そして例示的には0.050インチ(1.
3mm)の厚み、そしてセクション102の直径と等し
い径を有する円形アルミナデイスクである接触先端部1
04を包含する。コンタクト先端部104は、例示的に
は0.030インチ(0.76mm)の厚み、そしてセ
クション102及び接触先端部104の直径に等しい径
の60ジュロメータ・ブチルゴムのデイスクの弾性材料
のレイヤー106によりセクション102から間隔が設
けられている。弾性レイヤー106は、例えば、好適形
態におけるサイアノアクリレートなどの適切な接着手段
を使用してプローブ100のアルミナ部分102と10
4に固定される。
【0024】斜角をつけられた表面104a、104b
、104c、そして104dは接触先端部104の露出
表面上に形成され、それにより、接触エリア104eを
典型的には0.030インチ(0.76mm)x0.0
60インチ(1.5mm)の小さい長方形に低減するこ
とが出来る。本例においては、表面104a、104b
、104c、そして104dは表面104eから約25
度の斜角が付けられる。接触先端部104の露出表面の
傾斜は先端部分76の縦(回転)軸98(図4参照)に
関する接触エリア104eの位置を決定する。もし接触
先端部104が、接触エリア104eが軸に関して対称
的となるように斜角が付けられるならば、180度離れ
た固定停止位置へプランジャー74が回転しても、下の
回路基板上のトレースに関する接触エリア104eの位
置は変らない。但し、もし接触先端部104が軸98に
関し偏心的に配置される接触エリア104cを生成する
ように斜角が付けられるならば、180度離れた固定停
止位置へプランジャー74が回転しても、回路基板上の
トレースに関する接触エリア104eの位置は変る。
【0025】コンタクト先端部104の端部における長
方形エリア104eは、典型的に金メッキ108により
、電気的伝導性にしてあり、その厚みは図5においては
誇張したスケールで示されている。金メッキ108は平
坦エリア104e上に電気的に被着されるのが望ましく
、そして例示的には、600オングストロームの厚みで
良い。前述の1ポンドスプリング力に関連して、弾性レ
イヤー106は、接触エリア104eを回路板の表面と
一直線に揃えさせるために接触先端部104を数度傾斜
させるのに十分であり、それにより良好な電気的接触を
確保することが出来る。
【0026】理想的には、プローブ40は、マイクロ波
ハウジングの密閉容器内に他の材料を導入すること無く
、メッキ接触先端部104を介してプリント配線トレー
ス間の一時的ジャンパーを加えることであろう。本発明
においては、この目的は低損失及び低誘電率の材料から
作られた細長い非導電性先端部分76を使用することに
より最も良く達成される。好適実施例においては、優れ
た電気的特性を有する材料の中でも、その高機械的強度
性により非常に小径の先端部分76が可能になるアルミ
ナが選択された。この小さな体積の先端部分76は、こ
のセラミック材料の高い比誘電率を補う以上のものがあ
る。更に、好適形態で使用するために選択されたブチル
ゴムは低損失及び低誘電率の特性をも有する。
【0027】前述のプローブ40に加えて、本発明のプ
ローブは更に複雑性を有するプローブ200をも包含す
る。偏心的に配置された接触先端部分とともにプローブ
先端部分を有することに加えて、プローブ200はプロ
ーブ先端部分の偏心位置決めを提供する回転可能内部ハ
ウジングを更に包含する。この配置構成で、下にある回
路基板とのプローブ先端部分の少なくとも一つ以上の接
触位置が得られる。
【0028】図6において、少なくとも3箇所の接触位
置にプローブ200の先端部分が配置される構成要素を
示すプローブ200の底面図が示されている。プローブ
200は搭載フランジ204に取り付けられた固定外部
ハウジング202を包含する。固定ハウジング202内
には回転可能ハウジング206があり、そして回転可能
ハウジング206内には回転可能プランジャー208が
ある。回転可能ハウジング206と回転可能プランジャ
ー208との両方ともプローブ先端部分が2箇所の位置
に延長されるそれらの位置に強制的に固定することが出
来るように固定ハウジングに噛み合う連結構造を包合し
、各々の位置は180度だけ間隔が設けられている。
【0029】図6からも解るように、プランジャー20
8の先端部分には斜角が付けられているので、接触エリ
ア210は先端部分の中心から僅かの距離だけオフセッ
トされている。さらに、プランジャー208は回転可能
プランジャー206の中心軸から僅かの距離だけオフセ
ットされていることが解る。ここに示されているように
、プランジャー208の中心から接触エリア210に関
して最初に言及したオフセットの効果は、プランジャー
208が回転可能ハウジング206に関して180度回
転される時、その接触エリア210を右に移動させるこ
とである。また、次に言及した回転可能ハウジング20
6の中心からのプランジャー208のオフセットの効果
は、ここに示されるように、回転可能ハウジング206
が固定ハウジング202に関して180度回転される時
、その接触エリア210を左に移動させることである。 容易に理解することができるように、これらのオフセッ
トの総合的効果は、下にある回路基板に関して接触エリ
ア210を4箇所に配置することが可能であることであ
る。但し、この実施例においては、第1番目に説明した
オフセットは第2に説明したオフセットに等しい。 即ち、接触エリア210が左に向うようにプランジャー
208が位置決めされ(示されるように)、そしてプラ
ンジャー208が右に向うように回転可能ハウジング2
06が位置決めされる時(示されるように)、プランジ
ャー208と回転可能ハウジング206との両方が18
0度回転しても、下にある回路基板に対する接触エリア
270の横移動は実質的には無くなる。
【0030】図7において、3つのハイブリッドモジュ
ール120、122、そして124を表し、そして典型
的回路線トレース及び近接配置された同調パッチを示す
MHICモジュールの一部の平面図が示されている。第
1の例として、ゾーン130は、回路の同調要件に従い
短絡されるか、又は接続されないままかのいずれであっ
ても良いプリント配線トレース132と近接パッチ13
4を示している。ゾーン140に示される第2の例にお
いては、回路同調はプリント配線トレース146から構
成されるブランチ端にパッチ142のみ、或は両パッチ
142と144を短絡することによって達成することが
できる。最後に、ゾーン150に示される同調の第3の
例は、回路トレース156にパッチ152、又はパッチ
154、或はパッチ152と154の両方いずれかを短
絡することにより達成される。
【0031】図8a乃至8cを参照すると、カバーアッ
センブリー30のプローブ40とプローブ200がプリ
ント回路配線トレースとプリント回路パッチ間の一時的
ジャンパーを提供する方法が図示されている。図8aは
プリント回路トレース162とパッチ164間の電気的
連続性を提供する一時的ジャンパーの位置160を示す
。図8bは、第1位置170におけるプリント回路トレ
ース174とパッチ176間の電気的接触、そして第2
位置172において、プリント回路トレース174とパ
ッチ176及び178との間の電気的接触を提供する一
時的ジャンパーの2箇所の位置170と172を示す。 図8cは、第1位置180におけるプリント回路トレー
ス186とパッチ188間の電気的接触、そして第2位
置182における、プリント回路トレース186とパッ
チ190の電気的接触、そして第3位置184における
、プリント回路トレース186とパッチ188及び19
0との間の電気的接触を提供する一時的ジャンパーの3
箇所の位置180、182及び184を示す。図7a乃
至7cに示される各々の場合において、プローブは如何
なる接触も避けることが出来るように収縮させることが
可能である。
【0032】図8aの配置構成において、位置160に
おいて一時的ジャンパーを提供する接触先端部はプロー
ブの回転軸166に関して対称的に配置される。故に、
図8aの構成配置のプローブがその2つの180度離れ
たロッキング位置間で回転されると、それは1つの効果
的な接触位置160を有する。
【0033】図8bの構成配置において、位置170又
は位置172において選択的に一時的ジャンパーを提供
する接触先端部はプローブの回転軸179に関して非対
称的に配置されている。故に、プローブは接触位置17
0に回転され、回路トレース174をパッチ176に短
絡し、そして接触位置172へ更に180度回転して、
回路トレース174を両パッチ176及び178に短絡
することができる。
【0034】図8cの構成配置はプローブ200(図6
)として示されたタイプのプローブを利用する。第1位
置180、第2位置182、或は第3位置184におい
て選択的に一時的ジャンパーを提供する接触先端部は、
プランジャーの回転軸192に関して非対称的に配置さ
れ、そして、そのプランジャーは同調カバーに搭載され
た固定ハウジング内に偏心的に配置される回転可能ハウ
ジングを更に包含する。その結果、プランジャーと回転
可能ハウジングが回転されると、接触エリアは下の回路
基板の表面に対して移動する。故に、プローブが接触位
置180に配置されると、回路トレース186をパッチ
188に短絡し、プランジャー又は回転可能ハウジング
のいずれかを180度だけ回転することにより、接触エ
リアは接触位置182に下方移動され、それにより回路
配線トレース186を両バッチ188と190に短絡し
、そして他方(プランジャーと回転可能ハウジングのう
ち)を180度回転することにより、接触エリアは接触
位置184に更に下方移動され、それにより回路トレー
ス186をパッチ180だけに短絡することが出来る。
【0035】ここで開示された本発明は次の例示的行程
によるマイクロ波ハイブリッド集積回路モジュールの製
造に使用することができ、カバーアッセンブリー30は
ネジ34を締付けることによりハウジング10に確実に
取り付けられる。関連の周波数範囲でのMHICモジュ
ールの利得や雑音指数等を測定するための、例えば、信
号発生器、ノイズソース、雑音指数計、オシロスコープ
、周波数カウンター、そして電源(全て示されていない
)を含む試験機構を使用して、MHICモジュールの性
能がモニターされる。プローブ40(及びプローブ20
0)は操作されて、密閉ハウジング内の回路基板上の種
々のプリント配線パッチをプリント配線トレースに一時
的に結合させ、そして性能に与える影響が観察される。 プローブジャンバー選択の特定の組み合せが良好なモジ
ュールの性能を提供するようである時、プローブの各位
置は記録され、そしてそのカバーアッセンブリーは除去
される。プローブ40(及びプローブ200)の接触先
端部104の金レイヤー106と同様の大きさを有する
永久的金ジャンパーは記録されたデータに従って回路基
板トレースに半田付けされ、そして通常のカバー12が
ハウジング10に取り付けられる。それで、ハウジング
カバーの脱着を含む数多くの反復的段階を前もって要求
するモジュール同調行程はただ1つの同調ステップで完
了する。
【0036】本発明の原理を図示された構成に関連して
説明したが、種々の試みが本発明の実施において可能で
あることが認識されよう。本発明の範囲はここで開示さ
れた特定の構成に限定されるものではなく、特許請求の
範囲によって規定されるものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】通常のハウジングカバーとともに示された典型
的マイクロ波回路モジュールを示す。
【図2】本発明による同調カバーアッセンブリーの平面
である。
【図3】本発明による同調カバーアッセンブリーの側面
図である。
【図4】図2及び図3の同調カバーアッセンブリーで使
用するためのプローブの部分切り欠き図である。
【図5】図4に示されたプローブ先端部の拡大図である
【図6】図2及び図3の同調カバーアッセンブリーで使
用するための変形プローブの底面図である。
【図7】図2及び図3の同調カバーアッセンブリーとと
もに使用するための同調パッチを包含するマイクロ波回
路モジュールの平面図である。
【図8】図8a〜図8cは、1つ以上の同調プレートと
マイクロ波回路トレースを相互接続するために如何に図
2及び図3の同調カバーアッセンブリーが使用されるか
を示す。
【符号の説明】
10:マイクロ波ハイブリッド集積回路モジュールハウ
ジング 12:カバー                   
   14:プリント配線回路モジュール 16:ネジ切りされた開口部        18:ネ
ジ30:カバーアッセンブリー        40:
プローブ50:搭載フランジ            
    100:プローブ先端部 200:プローブ

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  プリント配線基板を収容するハウジン
    グを包囲するためのカバーアッセンブリーであって、内
    部を貫通する開口部を有し、前記ハウジングをカバーす
    るために適合されたカバープレートと、前記開口部内に
    延長し、延長位置と収縮位置との間で移動可能であるプ
    ローブと、を含み、前記プローブの前記延長位置は前記
    回路基板のプリント配線トレースと電気的接触した状態
    に前記導電性先端部を配置し、前記プローブの前記収縮
    位置は前記回路基板から前記導電性先端部を引き離す、
    カバーアッセンブリー。
  2. 【請求項2】  前記ハウジングに前記カバープレート
    を取り付けるため前記カバープレートに結合された手段
    を更に含む請求項1に記載のカバーアッセンブリー。
  3. 【請求項3】  前記カバープレートは複数の開口部を
    有し、前記カバーアッセンブリーは前記開口部内を貫通
    して延長してなる対応する複数のプローブを更に含み、
    前記複数のプローブの各々は電気的導電性先端部を有し
    、且つ延長位置と収縮位置間で移動可能である請求項1
    に記載のカバーアッセンブリー。
  4. 【請求項4】  前記プローブの前記導電性先端部は前
    記回路基板上の前記プリント配線トレースと前記回路基
    板上のプリント同調パッチ間の電気的パスを提供するよ
    うに適応される請求項1に記載のカバーアッセンブリー
  5. 【請求項5】  前記プローブは第2延長位置に更に移
    動可能であり、前記第2延長位置は、前記回路基板上の
    前記プリント配線トレースと前記回路基板上の第2プリ
    ント同調パッチ間に電気的パスを提供出来るように前記
    プローブの前記導電性先端部を配置する請求項4に記載
    のカバーアッセンブリー。
  6. 【請求項6】  前記プローブは第3位置に更に移動可
    能であり、前記第3延長位置は、前記回路基板上の前記
    プリント配線トレースと前記回路基板上の前記の第1プ
    リント同調パッチ、及び前記第2プリント同調パッチ間
    に電気的パスを提供できるように前記プローブの前記導
    電性先端部を配置する請求項5に記載のカバーアッセン
    ブリー。
  7. 【請求項7】  前記延長位置と前記収縮位置間で前記
    プローブを移動させるための手段を更に含み、前記移動
    手段は前記回路基板からの前記カバープレートの反対側
    に配置されている請求項1に記載のカバーアッセンブリ
    ー。
  8. 【請求項8】  前記プローブは前記導電性先端部と前
    記プリント配線トレース間に有効な接触を提供するため
    の手段を含む請求項1に記載のカバーアッセンブリー。
  9. 【請求項9】  前記接触提供手段は、前記プローブが
    前記延長位置にある時、前記プリント配線トレースに対
    して前記導電性先端部を押しつけることが出来るように
    バイアスされているスプリング手段を含む請求項8に記
    載のカバーアッセンブリー。
  10. 【請求項10】  前記プローブは縦軸を有するほぼ円
    筒形状を有し、前記プローブは中間の弾性部分に隣接し
    た2つの同軸堅固部分から構成されている請求項1に記
    載のカバーアッセンブリー。
  11. 【請求項11】  前記プローブの前記2つの堅固部材
    は非導電性のセラミック材料から製造される請求項10
    に記載のカバーアッセンブリー。
  12. 【請求項12】  前記セラミック材料はアルミナから
    構成される請求項11に記載のカバーアッセンブリー。
  13. 【請求項13】  前記弾性部分はブチルゴムから構成
    される請求項10に記載のカバーアッセンブリー。
JP3158845A 1990-06-29 1991-06-28 密閉ハウジング内マイクロ波回路の同調装置 Pending JPH04233801A (ja)

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US572071 1990-06-29
US07/572,071 US5095268A (en) 1990-06-29 1990-06-29 Tool for tuning microwave circuit within a closed housing

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