JPH04233305A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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Publication number
JPH04233305A
JPH04233305A JP40898490A JP40898490A JPH04233305A JP H04233305 A JPH04233305 A JP H04233305A JP 40898490 A JP40898490 A JP 40898490A JP 40898490 A JP40898490 A JP 40898490A JP H04233305 A JPH04233305 A JP H04233305A
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JP
Japan
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transistor
gate
drain
resistor
source
Prior art date
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Pending
Application number
JP40898490A
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English (en)
Inventor
Yukio Sakai
幸雄 堺
Michio Tsuneoka
道朗 恒岡
Takeshi Sato
毅 佐藤
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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  • Inductance-Capacitance Distribution Constants And Capacitance-Resistance Oscillators (AREA)
  • Control Of Amplification And Gain Control (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、チューナーのRF増幅
器などの低入力インピーダンスでしかも広帯域の周波数
特性をもつ増幅器として使用される高周波回路ならびに
チューナーの局部発振増幅器として使用される高周波回
路、ならびにチューナーのミキサ回路として使用される
変換利得を有する周波数変換回路を集積化した半導体装
置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】代表的な従来例について図9〜図11を
用いて説明する。図11はチューナーの周波数変換回路
として使用される高周波回路を集積化して構成された半
導体装置を示す回路図であり、RF増幅器50cとRF
差動増幅器53とダブルバランスドミキサ回路52と局
部発振増幅器(以下LO増幅器という)51aを接続し
た構成を示すものである。図9は前記RF増幅器50c
を示す回路図であり、第1のトランジスタ1のゲートを
接地し、この第1のトランジスタ1のソースを入力端子
とすると同時に第1のコイル3を介して接地し、前記第
1のトランジスタ1のドレインを出力端子とすると同時
に第1の抵抗9を介して正の直流電圧源6に接続されて
構成されていた。
【0003】また、図10はLO増幅器51aを示す回
路図であり、第4のトランジスタ13ならびに第5のト
ランジスタ14のドレイン負荷として第5の抵抗44な
らびに第6の抵抗45が接続されて構成されていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
の構成では前記図9で示すRF増幅器50cについては
第1の抵抗9の値によって第1のトランジスタ1の利得
を固定させる作用と第1のトランジスタ1のドレイン−
ソース間電圧(以下、VDSという)を決める作用を兼
ねているので、半導体装置の製造上から生じるトランジ
スタのしきい値が変動した場合に、それによって追従す
る電流の変化によって第1の抵抗9による電圧降下が変
化するために第1のトランジスタ1のVDSが変化して
しまい結果としてRF増幅器50cの利得が変動すると
いう課題があった。
【0005】また、前記図10で示すLO増幅器51a
についても同様に第4のトランジスタ13のドレインと
第5のトランジスタ14のドレインに接続された第5の
抵抗44と第6の抵抗45によって利得とVDSが与え
られているので前記RF増幅器50cの場合と同じよう
にトランジスタのしきい値が変動した場合に、結果とし
てLO増幅器51aの利得が変動するという課題があっ
た。
【0006】さらに、前記図9に示すような従来のRF
増幅器50cと、図10に示すような従来のLO増幅器
51aを図11に示すように周波数変換回路を構成する
RF差動増幅器53とダブルバランスドミキサ回路52
に接続した場合、半導体装置の製造上から生じるトラン
ジスタのしきい値の変動に対して追従する電流の変化が
起きたときにRF増幅器50cを構成する第1の抵抗9
による電圧降下分、すなわち第1のトランジスタ1のド
レイン電圧が変化してしまうので、第1のトランジスタ
1のドレインに接続されたRF差動増幅器53を構成す
る第9のトランジスタ25のゲートバイアスが設計値か
らずれてしまい結果としてRF差動増幅器53が動作し
なくなるという課題があった。
【0007】同様にLO増幅器51aを構成する第5の
抵抗44および第6の抵抗45による電圧降下分、すな
わち第4のトランジスタ13と第5のトランジスタ14
のドレイン電圧も変化してしまうので、第4のトランジ
スタ13のドレインに接続されたダブルバランスドミキ
サ回路52を構成する第13のトランジスタ22と第1
4のトランジスタ23のゲートバイアスが、また第5の
トランジスタ14のドレインに接続されたダブルバラン
スドミキサ回路52を構成する第12のトランジスタ2
1と第15のトランジスタ24のゲートバイアスが設計
値からずれてしまうので、結果としてダブルバランスド
ミキサ回路52が動作しなくなるという課題があった。
【0008】また、これらの制限を行うために設定した
トランジスタのしきい値の変動に対する生産の歩留りが
極めて低いという課題があった。
【0009】そこで本発明はトランジスタのしきい値が
変動した場合でも、増幅回路の利得とトランジスタのV
DSが安定したRF増幅器ならびにLO増幅器を提供し
、この両増幅器などによって構成される周波数変換回路
の変換利得低下を阻止し、半導体装置の生産歩留り向上
を提供することを目的とするものである。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明による半導体装置は、第1のトランジスタのゲ
ートを接地し、この第1のトランジスタのソースを入力
端子とすると同時に第1のコイルを介して接地し、第2
のトランジスタのゲートをこの第2のトランジスタのソ
ースに接続し、この第2のトランジスタのドレインを第
1のコンデンサの一端に接続すると同時に正の直流電圧
源に接続し、前記第2のトランジスタのソースを前記第
1のコンデンサの他端に接続すると同時に第1の抵抗と
第2のコイルの並列回路を介して前記第1のトランジス
タのドレインに接続し、この第1のトランジスタのドレ
インを出力端子としたものである。
【0011】上記構成に加えて、少なくとも2つ以上の
トランジスタと定電流回路で構成される差動増幅器にお
いて、第4のトランジスタのゲートを入力端子とし、第
5のトランジスタのゲートを第3のコンデンサを介して
接地し、前記第4のトランジスタのソースを前記第5の
トランジスタのソースに接続すると同時に第6のトラン
ジスタのドレインに接続し、この第6のトランジスタの
ゲートとソースを接地し、第7のトランジスタのドレイ
ンと第8のトランジスタのドレインを正の直流電圧源に
接続し、前記第7のトランジスタのゲートを、この第7
のトランジスタのソースに接続すると同時に前記第4の
トランジスタのドレインに接続し、前記第8のトランジ
スタのゲートを、この第8のトランジスタのソースに接
続すると同時に前記第5のトランジスタのドレインに接
続し、第3の抵抗の一端を前記第4のトランジスタのゲ
ートに接続し、第4の抵抗の一端を前記第5のトランジ
スタのゲートに接続し、前記第3の抵抗の他端を前記第
4の抵抗の他端に接続すると同時に第7の抵抗の一端と
第8の抵抗の一端に接続し、前記第7の抵抗の他端を正
の直流電圧源に接続し、前記第8の抵抗の他端を接地し
、前記第4のトランジスタのドレインと前記第5のトラ
ンジスタのドレインを出力端子としたものである。
【0012】更に、上記構成に加え少なくとも2つ以上
のトランジスタと定電流回路から構成されるRF差動増
幅器の入力端子に請求項1記載の出力端子を接続し、少
なくとも4つ以上のトランジスタで構成されるダブルバ
ランスドミキサ回路のRF入力端子に前記RF差動増幅
器の出力端子を接続し、前記ダブルバランスドミキサ回
路のLOCAL入力端子に請求項2記載の出力端子を接
続し、前記ダブルバランスドミキサ回路のIF出力端子
から中間周波数信号を取り出すようにしたものである。
【0013】
【作用】以上の構成とした場合、第1のトランジスタの
ドレイン,第4のトランジスタのドレイン,第5のトラ
ンジスタのドレインの負荷が、いずれも抵抗ではなくト
ランジスタであるのでトランジスタのしきい値の変動が
生じて電流が変化しても、第1のトランジスタのドレイ
ン,第4のトランジスタのドレイン,第5のトランジス
タのドレインの直流バイアス値が設計値からずれること
はなく、周波数変換回路を構成した場合、RF差動増幅
器を構成するトランジスタのゲートバイアスならびにダ
ブルバランスドミキサ回路を構成するトランジスタのゲ
ートバイアスが安定するので、結果として歩留りの向上
した半導体装置が供給できる。
【0014】
【実施例】以下、本発明による一実施例について図1〜
図6を用いて説明する。図1は本発明によるRF増幅器
50の構成を示す回路図、図2は同RF増幅器50bの
構成を示す回路図、図3は同LO増幅器51の構成を示
す回路図、図4は上記RF増幅器50とLO増幅器51
にRF差動増幅器53とダブルバランスドミキサ回路5
2を接続することによってチューナーの周波数変換回路
として使用される高周波回路を集積化して構成された半
導体装置を示す回路図、図5および図6は上記図4の構
成に加えLO緩衝増幅器54を接続して構成した半導体
装置を示す回路図であり、以下に個々の構成と動作につ
いて詳細に説明する。
【0015】なお本実施例において、従来例と同一部品
には同一番号をつけて説明を行うものとする。
【0016】(実施例1)図1は本発明によるRF増幅
器50を示す回路図であり、第1のトランジスタ1はR
F入力信号を増幅するためのゲート接地型増幅器で、そ
の特性はしきい値−0.4V,相互コンダクタンス20
0mS/mm,ゲート幅200μmのGaAsMESF
ET(メタルショットキーゲート電界効果トランジスタ
)である(以降、トランジスタはゲート幅以外、全て同
じ特性を有するGaAsMESFETを用いるものとす
る。)。
【0017】第1のコイル3は第1のトランジスタ1の
ソースを直流的に接地し、入力端子8から入力されるR
F入力信号を高周波的に阻止するために設けており、そ
の値は1μHである。第1の抵抗9は第1のトランジス
タ1のドレイン負荷として設けており、その値は300
Ωである。また、第2のコイル4は第1の抵抗9を直流
的に短絡するために設けており、その値は1μHである
【0018】第2のトランジスタ2は直流バイアスをレ
ベルシフトさせるために設けており、その特性は、第1
のトランジスタ1と全く同じものである。第1のコンデ
ンサ5は高周波のバイパス用コンデンサであり第2のト
ランジスタ2が第1のトランジスタ1のドレイン負荷に
ならないために設けており、その値は100pFである
【0019】図1に示すごとく、本実施例においては第
2のトランジスタ2を用いた構成にしたがこの第2のト
ランジスタ2はゲートがソースに接続されているのでゲ
ート−ソース間電圧(以下、VGSという)は、0Vで
ある。一方、第1のトランジスタ1も直流的には第1の
コイル3によってドレインとソースが短絡されているの
でVGSは、0Vである。そしてこの状態において、直
流的に第1のトランジスタ1のドレインが第2のコイル
4を介して第2のトランジスタ2のソースおよびゲート
に接続されている。このように直流的には電源端子6(
5V)と接地の間にVGSが0Vの全く特性の同じトラ
ンジスタが2つ直列に接続されているので、出力端子7
の直流バイアスは、トランジスタのしきい値が変動して
回路を流れる電流が変化しても、第1の抵抗9には直流
電流が流れないので常に2等分され2.5Vとなる。従
って、従来のような第1のトランジスタ1のドレイン負
荷である第1の抵抗9による電圧降下はなくなるので第
1のトランジスタ1のVDSが変化することなく安定し
た増幅作用を行うことが可能となる。
【0020】また、図2も本発明によるRF増幅器50
bを示す回路図であり、この回路は前記図1で示した実
施例1よりも発展した回路で、第1のトランジスタ1の
ドレイン負荷を第3のトランジスタ9aで構成したもの
である。すなわち、第3のトランジスタ9aによって第
1のトランジスタ1で構成したゲート接地型増幅器の利
得を変化させることができるものであり第3のトランジ
スタ9aのゲート端子10を制御して第1のトランジス
タ1のドレイン負荷を変化させることにより利得を変化
させることが可能となる。
【0021】さらに、第2のコンデンサ5a(0.5p
F〜1.0pF)を出力端子7と第1のトランジスタ1
のドレインの間に入れ直流経路用の第2のコイル4(5
nH〜50nH)との間で同調をとることにより利得の
変化に対して周波数特性が劣化しないようにしたもので
ある。
【0022】(実施例2)図3は本発明によるLO増幅
器51を示す回路図であり、第4のトランジスタ13お
よび第5のトランジスタ14は、LO増幅器51を構成
する差動型の増幅器で、そのゲート幅は100μmであ
る。第7のトランジスタ11および第8のトランジスタ
12は、第4のトランジスタ13および第5のトランジ
スタ14のドレイン負荷であり、そのゲート幅は100
μmである。第6のトランジスタ15は、LO増幅器5
1の定電流源であり、そのゲート幅は200μmである
【0023】第3の抵抗16および第4の抵抗17は、
第4のトランジスタ13のゲートおよび第5のトランジ
スタ14のゲートに直流バイアスを与えるためと入力端
子8aから入力される高周波信号の漏洩を阻止するため
に設けており、その値は10kΩである。第7の抵抗1
8および第8の抵抗19は、電源端子6と接地の間に直
列に接続されたブリーダ抵抗であり、第4のトランジス
タ13のゲートおよび第5のトランジスタ14のゲート
に与える直流バイアスを定めるために設けている。
【0024】第3のコンデンサ20は高周波の接地用コ
ンデンサであり、その値は100pFである。図3に示
すごとく、本実施例においては第7のトランジスタ11
および第8のトランジスタ12を用いた構成にしたがこ
の第7のトランジスタ11のゲートはソースに接続され
ているので、このトランジスタのVGSは0Vであり、
さらに第4のトランジスタ13のドレインに接続されて
いる。また第8のトランジスタ12のゲートもソースに
接続されているので、このトランジスタのVGSも0V
であり、さらに第5のトランジスタ14のドレインに接
続されている。そしてこの状態において、定電流源であ
る第6のトランジスタ15のドレインに第4のトランジ
スタ13のソースおよび第5のトランジスタ14のソー
スが接続されている。このとき、電源端子6(5V)と
接地の間に直列に接続された第7の抵抗18および第8
の抵抗19によって与えられる第4のトランジスタ13
のゲートバイアスおよび第5のトランジスタ14のゲー
トバイアスをこれらトランジスタのVGSが0Vとなる
ように設定すれば見かけ上、電源端子6(5V)と接地
の間にVGSが0Vの全く特性の同じトランジスタが3
つ直列に接続されていることになるので、出力端子7a
の直流バイアスはトランジスタのしきい値が変動して回
路を流れる電流が変化しても、常に3等分され1.67
Vとなる。
【0025】従って、従来のような第4のトランジスタ
13のドレイン負荷である第5の抵抗44による電圧降
下はなくなるので第4のトランジスタ13のVDSが変
化することなく安定した増幅作用を行うことが可能とな
る。
【0026】差動対である第5のトランジスタ14につ
いても全く同様のことがいえる。すなわち、第5のトラ
ンジスタ14のドレイン負荷である第6の抵抗45によ
る電圧降下はなくなるので第5のトランジスタ14のV
DSが変化することなく安定した増幅作用を行うことが
可能となる。しかしながら、実際にトランジスタの製造
上、完全に特性の同じ差動対ができるとは限らないので
、実際の回路においては図4に示すように第4のトラン
ジスタ13のドレインと第5のトランジスタ14のドレ
インの間に安定化抵抗33(500Ω〜1000Ω)を
入れLO増幅器51の周波数特性の向上を図り利得を安
定化させるとともに第4のトランジスタ13のドレイン
バイアスと第5のトランジスタ14のドレインバイアス
をなお一層安定なものにしている。こうすることにより
、トランジスタのしきい値が変動しても安定に動作する
LO増幅器51の提供を行うことが可能となる。
【0027】(実施例3)図4は本発明によるチューナ
ーの周波数変換回路として使用される高周波回路を集積
化して構成された半導体装置を示す回路図であり、前記
実施例1で説明したRF増幅器50と同実施例2で説明
したLO増幅器51にRF差動増幅器53とダブルバラ
ンスドミキサ回路52を接続することによって構成され
たものであり、以下に詳細に説明する。前記実施例1の
発明内容であるゲート接地型のRF増幅器50の出力端
子7をRF差動増幅器53の入力端子に接続し、前記実
施例2の発明内容であるLO増幅器51の出力端子7a
を第11のトランジスタ21と第12のトランジスタ2
2と第13のトランジスタ23と第14のトランジスタ
24の4つのトランジスタで構成したダブルバランスド
ミキサ回路52のLOCAL入力端子である4つのトラ
ンジスタのゲートに接続し、RF差動増幅器53の出力
端子にダブルバランスドミキサ回路52のRF入力端子
を縦続接続して周波数変換回路を構成したものである。
【0028】ダブルバランスドミキサ回路52を構成す
る第11のトランジスタ21と第12のトランジスタ2
2と第13のトランジスタ23と第14のトランジスタ
24の4つのトランジスタのゲート幅はすべて250μ
mである。また、RF差動増幅器53を構成する第9の
トランジスタ25と第10のトランジスタ26のゲート
幅は各々250μmであり、定電流源である第11のト
ランジスタ29のゲート幅は500μmである。
【0029】本実施例は、LO増幅器51の第3のトラ
ンジスタ13のゲートと第4のトランジスタ14のゲー
トに与える直流バイアスと、RF差動増幅器53の第9
のトランジスタ25のゲートと第10のトランジスタ2
6のゲートに与える直流バイアスを同一のブリーダ抵抗
(第7の抵抗18と第8の抵抗19)で与えておりRF
差動増幅器53も安定に動作するように配慮している。 さらにRF差動増幅器53の定電流源である第11のト
ランジスタ29にはソース抵抗30(12Ω)を直列に
入れておりトランジスタのしきい値の変動に対して追従
する電流の変化を最小限に抑えている。このように構成
することによりしきい値の変動に対してバイアス変化の
ない安定した周波数変換回路が実現できる。
【0030】(実施例4)図5は前記実施例3の図4で
説明した半導体装置に緩衝用の増幅器を接続して構成し
た半導体装置を示す回路図であり、LO増幅器51とダ
ブルバランスドミキサ回路52の間に緩衝用の増幅器(
LO緩衝増幅器54)を入れている。このLO緩衝増幅
器54は、ソースフォロア型の増幅器であり、第16の
トランジスタ35と第17のトランジスタ36のゲート
幅は250μmである。このようにソースフォロア型の
差動対を構成するトランジスタのゲート幅は、ダブルバ
ランスドミキサ回路52を構成するトランジスタのゲー
ト幅以上にしている。
【0031】第12の抵抗37と第13の抵抗38はソ
ース抵抗であり、その値は250Ωである。第18のト
ランジスタ39は定電流源であり、そのゲート幅は50
0μmである。この第18のトランジスタ39のソース
にもトランジスタのしきい値の変動に対して追従する電
流の変化を最小限に抑えるために12Ωのソース抵抗4
0を直列に入れている。
【0032】図5に示すごとく本実施例においては、ダ
ブルバランスドミキサ回路52を構成する4つのトラン
ジスタのゲート幅とLO緩衝増幅器54を構成する第1
6のトランジスタ35と第17のトランジスタ36のゲ
ート幅を同じ値にしているので、歪の少ないLOCAL
信号をダブルバランスドミキサ回路52に注入すること
ができる。またRF増幅器50aはレベルシフト用のト
ランジスタを第1のコンデンサ5の両端に2つ直列に接
続しているので、第1のトランジスタ1のドレインの直
流バイアスは、トランジスタのしきい値が変動して回路
を流れる電流が変化しても、第1の抵抗9には直流電流
が流れないので常に3等分され1.67Vとなる。
【0033】そしてこの状態において、第1のトランジ
スタ1のドレインがRF差動増幅器53aを構成する第
10のトランジスタ26のゲートに接続されている。こ
のRF差動増幅器53aを構成する第9のトランジスタ
25のゲートと第10のトランジスタ26のゲートは、
900Ωのゲート抵抗27aの両端に接続されており、
第1のトランジスタ1のドレイン負荷が400Ωの第1
の抵抗9とゲート抵抗27aの並列接続の形で与えられ
ている。このように構成することにより、しきい値の変
動に対してバイアス変化のない安定した周波数変換回路
が実現できる。
【0034】(実施例5)図6は前記実施例4の図5で
説明した半導体装置のRF増幅器50aを、前記実施例
1で説明したRF増幅器50bに変えて構成した半導体
装置を示す回路図であり、このRF増幅器50bの第3
のトランジスタ9aのゲート端子10を制御することに
よってRF増幅器50bの利得を変化させることができ
る。RF差動増幅器53bは定電流源を構成するトラン
ジスタのゲート幅を250μmの2つのトランジスタで
Π型にしているのでRF差動増幅器53bもゲート幅が
400μmである第18のトランジスタ42のゲートを
制御することによって利得を変化させることができる。 さらに200Ωの第15の抵抗41を第9のトランジス
タ25のソースと第10のトランジスタ26のソースの
間に接続して、RF差動増幅器53bの利得制御範囲が
必要以上にならないように配慮している。
【0035】このように構成することによりRF増幅器
50bで15dB、RF差動増幅器53bで15dBの
利得制御を行うことが可能となり、RF入力信号が−2
0dBmという大入力時においても3次の相互変調歪の
抑圧比が66dBcという優れた値を実現することがで
き、チューナーとしての利用範囲を向上させることが可
能となる。
【0036】図7は、トランジスタのしきい値の変動に
対する周波数変換回路の変換利得を表したグラフであり
、図11に示す従来例と図5に示した本発明による実施
例とを比較したものである。図7に示すごとく、従来例
のものはしきい値が−0.45Vより深くなると急激に
変換利得が低下するのに対して本発明による実施例では
変換利得の急激な低下は見られない。これは図8に示し
たトランジスタのゲートバイアスのしきい値依存性から
わかるように、従来例ではトランジスタのしきい値の変
動に伴ってトランジスタのゲートバイアスが大きく変化
するのに対して本発明による実施例ではほとんど変化し
ないためであり、トランジスタのしきい値の変動に対し
て非常に強い回路構成をしているといえる。
【0037】
【発明の効果】以上のように本発明による半導体装置は
半導体装置の製造上から生じるトランジスタのしきい値
が変動した場合に、それによって追従する電流が変化し
ても出力端子のバイアスが変化することはなく、その結
果、第1のトランジスタならびに第4のトランジスタと
第5のトランジスタのVDSも変化しないので、安定し
たRF増幅器ならびにLO増幅器を提供することができ
る。
【0038】また同様にトランジスタのしきい値が変動
した場合に、それによって追従する電流が変化してもR
F増幅器の出力端子ならびにLO増幅器の出力端子のバ
イアスが変化することはなく、その結果、RF差動増幅
器を構成する第9のトランジスタと第10のトランジス
タのゲートバイアスならびにダブルバランスドミキサ回
路を構成する4つのトランジスタのゲートバイアスも変
化しないので、変換利得の安定した周波数変換回路を実
現することができ、トランジスタのしきい値の変動に対
して歩留りの向上した半導体装置を供給することができ
る工業的価値の大なるものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例1によるRF増幅器を示す回路
【図2】本発明の実施例1によるRF増幅器を示す回路
【図3】本発明の実施例2によるLO増幅器を示す回路
【図4】本発明の実施例3による半導体装置を示す回路
【図5】本発明の実施例4による半導体装置を示す回路
【図6】本発明の実施例5による半導体装置を示す回路
【図7】周波数変換回路における変換利得のしきい値依
存特性図
【図8】各トランジスタのゲートバイアスのしきい値依
存特性図
【図9】従来のRF増幅器を示す回路図
【図10】従来
のLO増幅器を示す回路図
【図11】従来の半導体装置
を示す回路図
【符号の説明】
1  第1のトランジスタ 2  第2のトランジスタ 3  第1のコイル 4  第2のコイル 5  第1のコンデンサ 5a  第2のコンデンサ 6  電源端子 7  出力端子 7a  出力端子 8  入力端子 8a  入力端子 9  第1の抵抗 9a  第3のトランジスタ 10  ゲート端子 11  第7のトランジスタ 12  第8のトランジスタ 13  第4のトランジスタ 14  第5のトランジスタ 15  第6のトランジスタ 16  第3の抵抗 17  第4の抵抗 18  第7の抵抗 19  第8の抵抗 20  第3のコンデンサ 21  第12のトランジスタ 22  第13のトランジスタ 23  第14のトランジスタ 24  第15のトランジスタ 25  第9のトランジスタ 26  第10のトランジスタ 27  第10の抵抗 27a  ゲート抵抗 28  第11の抵抗 29  第11のトランジスタ 30  第9の抵抗(ソース抵抗) 31  IF出力端子 32  IF出力端子 33  安定化抵抗 34  第4のコンデンサ 35  第16のトランジスタ 36  第17のトランジスタ 37  第12の抵抗 38  第13の抵抗 39  第18のトランジスタ 40  第14の抵抗(ソース抵抗) 41  第15の抵抗 42  第19のトランジスタ 43  第1のダイオード 44  第5の抵抗 45  第6の抵抗 50,50a,50b,50c  RF増幅器51,5
1a  LO増幅器 52  ダブルバランスドミキサ回路 53,53a,53b  RF差動増幅器54  LO
緩衝増幅器

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】第1のトランジスタのゲートを接地し、こ
    の第1のトランジスタのソースを入力端子とすると同時
    に第1のコイルを介して接地し、第2のトランジスタの
    ゲートをこの第2のトランジスタのソースに接続し、こ
    の第2のトランジスタのドレインを第1のコンデンサの
    一端に接続すると同時に正の直流電圧源に接続し、前記
    第2のトランジスタのソースを前記第1のコンデンサの
    他端に接続すると同時に第1の抵抗と第2のコイルの並
    列回路を介して前記第1のトランジスタのドレインに接
    続し、この第1のトランジスタのドレインを出力端子と
    することを特徴とした高周波回路を集積化した半導体装
    置。
  2. 【請求項2】少なくとも2つ以上のトランジスタと定電
    流回路で構成される差動増幅器において、第4のトラン
    ジスタのゲートを入力端子とし、第5のトランジスタの
    ゲートを第3のコンデンサを介して接地し、前記第4の
    トランジスタのソースを前記第5のトランジスタのソー
    スに接続すると同時に第6のトランジスタのドレインに
    接続し、この第6のトランジスタのゲートとソースを接
    地し、第7のトランジスタのドレインと第8のトランジ
    スタのドレインを正の直流電圧源に接続し、前記第7の
    トランジスタのゲートを、この第7のトランジスタのソ
    ースに接続すると同時に前記第4のトランジスタのドレ
    インに接続し、前記第8のトランジスタのゲートを、こ
    の第8のトランジスタのソースに接続すると同時に前記
    第5のトランジスタのドレインに接続し、第3の抵抗の
    一端を前記第4のトランジスタのゲートに接続し、第4
    の抵抗の一端を前記第5のトランジスタのゲートに接続
    し、前記第3の抵抗の他端を前記第4の抵抗の他端に接
    続すると同時に第7の抵抗の一端と第8の抵抗の一端に
    接続し、前記第7の抵抗の他端を正の直流電圧源に接続
    し、前記第8の抵抗の他端を接地し、前記第4のトラン
    ジスタのドレインと前記第5のトランジスタのドレイン
    を出力端子とすることを特徴とした高周波回路を集積化
    した半導体装置。
  3. 【請求項3】少なくとも2つ以上のトランジスタと定電
    流回路から構成されるRF差動増幅器の入力端子に請求
    項1記載の出力端子を接続し、少なくとも4つ以上のト
    ランジスタで構成されるダブルバランスドミキサ回路の
    RF入力端子に前記RF差動増幅器の出力端子を接続し
    、前記ダブルバランスドミキサ回路のLOCAL入力端
    子に請求項2記載の出力端子を接続し、前記ダブルバラ
    ンスドミキサ回路のIF出力端子から中間周波数信号を
    取り出すことを特徴とした高周波回路を集積化した半導
    体装置。
JP40898490A 1990-12-28 1990-12-28 半導体装置 Pending JPH04233305A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009094595A (ja) * 2007-10-04 2009-04-30 Fujitsu Microelectronics Ltd 差動増幅回路

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JP2009094595A (ja) * 2007-10-04 2009-04-30 Fujitsu Microelectronics Ltd 差動増幅回路

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