JPH0423299A - Semiconductor nonvolatile memory - Google Patents
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は電気的に書換可能な不揮発性メモリ素子を利
用した半導体不揮発性メモリ装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a semiconductor nonvolatile memory device using an electrically rewritable nonvolatile memory element.
この発明は電気的に書換可能な不揮発性メモリ素子から
成る半導体不揮発性メモリ装置において、数ビット長で
構成される二組の信号線の一致、不一致を判定するのに
、一方の信号線を不揮発性メモリ素子に接続すると共に
、前記不揮発性メモリ素子の書込みは、他方の信号線入
力を常に監視し、あらかじめ定めた入力信号の変化を検
知することで起動し、行うことにより、不揮発性メモリ
素子に接続された側の信号綿データを自由に設定できる
ようにしたものである。In a semiconductor non-volatile memory device consisting of an electrically rewritable non-volatile memory element, this invention uses a non-volatile The nonvolatile memory element is connected to the nonvolatile memory element, and writing to the nonvolatile memory element is started by constantly monitoring the other signal line input and detecting a change in a predetermined input signal. This allows the signal data on the side connected to to be freely set.
数ビット長で構成される二組の信号線の一致不一致を判
定することは、特にcpvを用いた装置において、接続
される周辺デバイスの選択信号を発生する回路を構成す
るのに必要とされる。そしてその選択動作をアドレスデ
コードと称し、それに用いられる汎用ICをアドレスデ
コード用1Cという。Determining whether or not two sets of signal lines each having a length of several bits match or differ is required to configure a circuit that generates a selection signal for a connected peripheral device, especially in equipment using CPV. . The selection operation is called address decoding, and the general-purpose IC used for it is called address decoding 1C.
従来、アドレスデコードに用いられる回路としては、機
械的接点を有するスイッチとデジタル信号一致判定用汎
用ICとを組み合わせたものや、汎用不揮発性メモIJ
I Cを利用したものが知られていた。Conventionally, circuits used for address decoding include those that combine a switch with mechanical contacts and a general-purpose IC for digital signal matching, and a general-purpose nonvolatile memory IJ.
A device using IC was known.
第2図は従来のアドレスデコード回路の第1の例である
。以下図面に基づいて動作概要を説明する。一致判定用
1cIIは】ハイド(8ビツト)長の二組の信号入力の
一致を判定する汎用ICである。そして、二組の信号入
力の内一方のアドレス入力端子2は、CPvの出力する
アドレスバスに接続される。また他方の信号入力は通常
DIPスイッチ9と抵抗アレイ10とから成るデータ設
定回路が接続される。かかる回路構成において、データ
設定回路により設定された1バイトのデータとアドレス
入力端子2に接続されたCPvのアドレスバスの信号は
常時比較され、一致していればデコード出力端子8から
一致信号が出力される。FIG. 2 shows a first example of a conventional address decoding circuit. An outline of the operation will be explained below based on the drawings. The match determination 1cII is a general-purpose IC that determines the match between two sets of signal inputs of hide (8 bits) length. One address input terminal 2 of the two sets of signal inputs is connected to the address bus output from CPv. The other signal input is normally connected to a data setting circuit consisting of a DIP switch 9 and a resistor array 10. In this circuit configuration, the 1-byte data set by the data setting circuit and the signal on the address bus of the CPv connected to the address input terminal 2 are constantly compared, and if they match, a match signal is output from the decode output terminal 8. be done.
第3図は従来のアドレスデコード回路の第2の例であり
、汎用不揮発性メモリIcを用いたものである。第1の
例と同様に一致判定用1cIIの一方の入力はCPvの
出力するアドレスバス15に接続されているのに対し、
他方の信号入力は不揮発性メモリICI2のデータ人出
力綿が接続されている。また不揮発性メモリ1c12の
書込み、読み出しを行うためにデータバス14がハスト
ランシーバ17を介して接続されると共に、5不揮発性
メモリICI2を選択するための信号の発生にアドレス
デコード用ICl3が用いられている。かかる回路構成
において、アドレスデコードに必要なデータの設定はc
pvの制御により、不揮発性メモリ1c12にデータを
書込むことによって行われる。そして制御信号線群16
を操作し、不揮発性メモIJ I C12を読み出し状
態にすることで、アドレスバス15の信号は一致判定用
1cIIにより常時比較され、一致していればデコード
出力端子8から一致信号が出力される。FIG. 3 shows a second example of a conventional address decoding circuit, which uses a general-purpose nonvolatile memory Ic. As in the first example, one input of the match determination 1cII is connected to the address bus 15 output by the CPv.
The other signal input is connected to the data output terminal of the non-volatile memory ICI2. In addition, a data bus 14 is connected via a transceiver 17 to write and read data into and from the nonvolatile memory 1c12, and an address decoding ICl3 is used to generate a signal for selecting the nonvolatile memory ICI2. There is. In such a circuit configuration, the data settings required for address decoding are c
This is done by writing data to the nonvolatile memory 1c12 under the control of pv. and control signal line group 16
By operating the non-volatile memory IJIC12 and putting it in a read state, the signals on the address bus 15 are constantly compared by the match determination 1cII, and if they match, a match signal is output from the decode output terminal 8.
C発明が解決しようとする課題〕
しかし従来の技術のアドレスデコード回路では、機械的
接点を有するスイッチを用いているため、接点の接触不
良や経時変化に起因する信頼性の低下に加え、スイッチ
の設定条件によっては、抵抗アレイに常時電流を流すこ
とになり、低消費電力化には不向きである。またデータ
の設定を変えるためには、DIPスイッチを操作する必
要があり、その都度装置を停止させて回路基板を抜き差
しする場合もある。これらの欠点を解決するためにブタ
の設定部分を汎用不揮発性メモリに置き換えた従来の技
術のアドレスデコード回路においては、不揮発性メモリ
ICを制御するために、新たにアドレスデコード用IC
と、ハストランシーバが必要であり、それら両ICへの
信号配線が増し、データバス、アドレスバスの負荷が重
くなり、特に高速動作領域におけるCPvシステムの設
計が難しくなると共に、制御信号線も?!雑になる。さ
らにDIRスイッチと抵抗アレイを用いた場合と、汎用
不揮発性メモリICを用いた場合のどちらにおいても部
品点数が多く、省スペース、実装密度の向上、実装工数
の低減らによるコストダウン。Problems to be Solved by Invention C] However, since conventional address decoding circuits use switches with mechanical contacts, in addition to deterioration in reliability due to poor contact and aging, the switch also suffers from Depending on the setting conditions, current will always flow through the resistor array, which is not suitable for reducing power consumption. Furthermore, in order to change data settings, it is necessary to operate a DIP switch, and the device may have to be stopped each time to insert or remove a circuit board. In order to solve these drawbacks, the conventional address decoding circuit replaces the setting part with a general-purpose nonvolatile memory, but in order to control the nonvolatile memory IC, a new address decoding IC is added.
In addition, a transceiver is required, and the number of signal wires to these two ICs increases, the load on the data bus and address bus becomes heavier, making it difficult to design a CPv system especially in high-speed operation areas, and control signal lines also increase. ! It gets messy. Furthermore, both when using a DIR switch and resistor array and when using a general-purpose non-volatile memory IC, the number of parts is large, resulting in cost reductions due to space savings, improved mounting density, and reduced mounting man-hours.
信頼性向上には極めて不向きである。This is extremely unsuitable for improving reliability.
この発明は従来のこのような欠点を解決するために、外
付は部品を必要とせず、信号配線本数が少なく、データ
を設定するのに、回路基板を抜き差しする必要がなく、
CPvの制御によりプログラマブルに行う半導体不揮発
性メモリを提供することを目的としている。In order to solve these conventional drawbacks, this invention does not require any external parts, has a small number of signal wires, and does not require connecting or disconnecting the circuit board to set data.
The object of the present invention is to provide a semiconductor nonvolatile memory that is programmable by controlling CPv.
上記課題を解決するために、この発明は設定データの記
憶、保持に不揮発性メモリ素子を用いると共に、アドレ
ス入力監視回路を設け、前記不揮発性メモリ素子の書込
みを、−mのアドレス入力端子に入力された信号を常に
監視し、あらかしめ定めた入力信号の変化を検知するこ
とで行うようにした。In order to solve the above problems, the present invention uses a non-volatile memory element to store and hold setting data, and also provides an address input monitoring circuit, and inputs the writing of the non-volatile memory element to the -m address input terminal. This is done by constantly monitoring the input signal and detecting changes in the predetermined input signal.
上記のように構成された半導体不運発性メモリ装置にお
いて、アドレス入力監視回路は常にアドレスバスの変化
を監視することで、ある特定のアドレス変化パターンを
検知し、それに続く一連のアドレス入力信号を不揮発性
メモリ素子へ書込む設定データ及び機能設定用データと
して取り込み、自動的に取り込みデータを不揮発性メモ
リ素子に書込む、さらにアドレス入力監視回路はアドレ
スバスを監視し続け、あらかしめ定めたアドレス入力信
号により、アドレスデコートを開始させる。In the semiconductor nonvolatile memory device configured as described above, the address input monitoring circuit constantly monitors changes in the address bus, detects a specific address change pattern, and converts a series of subsequent address input signals into a non-volatile state. The address input monitoring circuit continues to monitor the address bus and outputs the predetermined address input signal. starts address decoding.
上述の動作によりアドレスデコードのデータ設定をCP
vの制御によりプログラマブルに行うと共に、設定デー
タの取り込みを、−組のアドレス入力端子から行うこと
で本半導体不揮発性メモリ装置の必要端子数を最少にし
た。The above operation sets the address decode data to CP.
The number of terminals required for this semiconductor non-volatile memory device is minimized by programmably controlling v and by importing setting data from the - set of address input terminals.
以下にこの発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明す
る。Embodiments of the present invention will be described in detail below based on the drawings.
第1図は本発明の不揮発性メモリ装置の実施例を示す構
成図である。信号SELが入力されるデバイス選択入力
端子lと8ビツト長のアドレス入力端子2は、アドレス
入力監視回路3に接続され、信号SELが能動状態(本
実施例では“L”)にある時点でのアドレス入力を監視
しており、例えば同一アドレス入力が二度連続したこと
を検知することでその次にアドレス入力端子2に入力さ
れる信号を、不揮発性メモリ素子に書込むべき設定デー
タとして取り込み、さらに次のアドレス入力信号を機能
設定用データとして取り込み、それぞれをデータラッチ
4に保持する。次いでデータラッチ4に保持されたデー
タは書込み、読み出し制御回路5を通して不揮発性メモ
リ素子6に書込まれる。この時不揮発性メモリ素子の書
込みに必要とされる高電圧パルス列と、タイミングは本
発明の不揮発性メモリ装置内部で発生ずる。書込みが終
了した後、アドレス入力信号を取り込み、あらかしめ定
めたアドレス入力(本実施例でははしめに二度連続した
アドレス入力)と同一であった場合には、不揮発性メモ
リ素子6に書込んだ設定ブタを書込み、読み出し制御回
路5を作用させ読み出し、一致判定回路7の二組の入力
端子群の一方に送る。−敗判定回路7の他方の入力端子
は、前記アドレス入力端子2に接続されており、両者の
信号分群の一致判定を行い、その結果出力信号OUTを
デコード出力端子8に出力する。FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a nonvolatile memory device of the present invention. The device selection input terminal 1 to which the signal SEL is input and the 8-bit address input terminal 2 are connected to the address input monitoring circuit 3, and when the signal SEL is in the active state (“L” in this embodiment), It monitors the address input, and by detecting, for example, that the same address input is repeated twice, the next signal input to the address input terminal 2 is taken in as setting data to be written to the nonvolatile memory element. Further, the next address input signal is taken in as function setting data and each is held in the data latch 4. The data held in the data latch 4 is then written into the nonvolatile memory element 6 through the write/read control circuit 5. At this time, the high voltage pulse train and timing required for writing to the nonvolatile memory element are generated within the nonvolatile memory device of the present invention. After writing is completed, the address input signal is fetched, and if it is the same as the predetermined address input (in this embodiment, two successive address inputs), the address input signal is written to the nonvolatile memory element 6. The setting button is written, the readout control circuit 5 is activated, the readout data is sent to one of the two sets of input terminal groups of the match determination circuit 7. - The other input terminal of the defeat determination circuit 7 is connected to the address input terminal 2, performs a match determination between both signal groups, and outputs the resulting output signal OUT to the decode output terminal 8.
第4図は上記動作を説明する動作タイミング図である。FIG. 4 is an operation timing chart explaining the above operation.
本実施例では特定のアドレス変化バクーンとしては、同
一アドレスが二度連続して入力されることを条件とした
が、それに限るものではなく、CPVを用いたVtlに
おいて、通常は起こり得ないアドレスバスサイクルであ
ればより理想的である。実際のCPVを用いた装置内で
の接続は、デバイス選択入力端子lにメモリーリード信
号あるいはI10リード信号を出力するCPVの出力端
子を接続し、アドレス入力端子2には、アドレスバスを
接続するだけでよい。ここでメモリーリード信号あるい
はI10リード信号を使用するのは、CPVを用いた装
置内の他の周辺デバイスに対して影響を与えないためで
ある。In this embodiment, the specific address change Bakun is based on the condition that the same address is input twice consecutively, but the condition is not limited to this, and in VTL using CPV, the address bus A cycle would be more ideal. To connect an actual CPV in a device, simply connect the output terminal of the CPV that outputs the memory read signal or I10 read signal to the device selection input terminal 1, and connect the address bus to the address input terminal 2. That's fine. The reason why the memory read signal or I10 read signal is used here is to avoid affecting other peripheral devices in the device using CPV.
動作タイミング図中、ステートT3においてデコード設
定データ、ステートT4において機能設定データとして
取り込んでいるが、機能設定データは以下の用途に必要
である。第1にデコードするデータのビット長が8ビツ
ト必要でない場合には、一致判定においてビット列の一
部を無効にしなければならない。よって、ビット列の有
効、無効情報を、上記機能設定データより取り込むこと
とする。第5図にはビット列の有効、無効を取り入れた
場合の一致判定回路の一実施例を示す。In the operation timing diagram, decode setting data is taken in state T3 and function setting data is taken in state T4, but the function setting data is necessary for the following uses. First, if the bit length of the data to be decoded is not required to be 8 bits, part of the bit string must be invalidated in the match determination. Therefore, the bit string validity/invalidity information is taken in from the above function setting data. FIG. 5 shows an embodiment of a coincidence determination circuit that incorporates valid/invalid bit strings.
第2に本不揮発性メモリ装置が、cpvを用いた装置内
で複数個使用される場合には、複数個ある本メモリ装置
の内から一つあるいは任意の所望のメモリ装置をj’A
択する必要がある。そのような場合には、ステートT4
で取り込んだ機能設定データを利用してi!択するごと
とする。以上のことから機能設定データは一回のアドレ
ス入力で取り込むことのできるビット長より多くのデー
タを必要とする場合が存在するが、そのような場合には
ステー)T4での機能設定データの取り込みに次いで、
さらに機能設定データを追加することで容易に実現でき
る。よって本発明においては、取り込みデータ長及び、
データ数に特別な制限は設けない。Second, when a plurality of nonvolatile memory devices of the present invention are used in a device using cpv, one or any desired memory device from among the plurality of memory devices of the present invention is used.
You need to choose. In such a case, state T4
Using the function setting data imported with i! Each time you choose. From the above, there are cases where the function setting data requires more data than the bit length that can be imported with one address input, but in such cases, the function setting data cannot be imported at T4. Next,
Furthermore, this can be easily realized by adding function setting data. Therefore, in the present invention, the captured data length and
There is no special limit on the number of data.
木工揮発性メモリ装置に必要な人力信号はデバイス選択
入力端子に入力されるSELとアドレス入力端子に入力
されるアドレス入力信号のみであるため、従来のDIP
スイッチと抵抗アレイを用いたアドレスデコード回路を
容易に置き換えることが可能である。The only manual signals required for the woodworking volatile memory device are the SEL input to the device selection input terminal and the address input signal input to the address input terminal, so conventional DIP
Address decoding circuits using switches and resistor arrays can be easily replaced.
以上説明したように、この発明はアドレステコ−1−回
路を外付部品無しで、しかも信号配線本数が少なく、デ
ータ設定をCPvの制御によりプログラマブルに行うこ
とにより、部品点数の削減省スペース、実装密度の向上
、実装工数の低減によるコストダウンに加え、本装置を
用いた装置全体の信転度、保守性を向上させるという効
果がある。As explained above, the present invention provides an address lever 1 circuit without external components, with a small number of signal wires, and by programmably setting data under the control of CPv, reducing the number of components, saving space, and In addition to cost reductions due to improved density and reduced mounting man-hours, this device has the effect of improving reliability and maintainability of the entire device.
第1図は本発明の半導体不揮発性メモリ装置の実施例を
示す構成図、第2図、第3図はそれぞれ従来のアドレス
デコード回路を示す回路図、第4図は本発明の半導体不
揮発性メモリ装置の実施例の動作タイミング図、第5図
は本発明にかかる半導体不揮発性メモリ装置における一
致判定回路図である。
1 ・
2 ・ ・
4 ・ ・
5 ・ ・
6 ・ ・
7 ・ ・
8 ・
9 ・ ・
11・ ・
12・ ・
13・ ・
14・ ・
16・
・デバイス選択入力端子
・アドレス入力端子
アドレス入力監視回路
・データラッチ
書込み、読み出し制御回路
不揮発性メモリ素子
・一致判定回路
デコード出力端子
・DIPスイッチ
・抵抗アレイ
・一致判定用rc
・不揮発性メモリIC
・アドレスデコード用1c
・データラッチ
・アドレスハ゛ス
・制御信号線群
・パストランシーバ−
27ドしス入力鳩舌
千4葦発・)1メモリ装置のa瓜−図
第
図
(疋来のゴドシス干コー1゛回路図
¥2図FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a semiconductor nonvolatile memory device of the present invention, FIGS. 2 and 3 are circuit diagrams showing conventional address decoding circuits, and FIG. 4 is a semiconductor nonvolatile memory device of the present invention. FIG. 5, which is an operation timing diagram of an embodiment of the device, is a match determination circuit diagram in a semiconductor nonvolatile memory device according to the present invention. 1 ・ 2 ・ ・ 4 ・ ・ 5 ・ ・ 6 ・ ・ 7 ・ 8 ・ 9 ・ ・ 11 ・ 12 ・ 13 ・ 14 ・ 16 ・ Device selection input terminal Address input terminal Address input monitoring circuit Data latch write and read control circuit Non-volatile memory element / Match judgment circuit Decode output terminal / DIP switch / Resistor array / RC for match judgment / Non-volatile memory IC / 1c for address decoding / Data latch / Address bus / Control signal line group・Path transceiver - 27 doss input pigeon tongue 1,4 reeds ・) 1 Memory device a-diagram (Hikira's Godsis 1゛ circuit diagram ¥2
Claims (1)
不揮発性メモリ装置において、数ビット長で構成される
二組の信号線の一致を判定するのに、一方の信号線を不
揮発性メモリ素子に接続すると共に、前記不揮発性メモ
リ素子の書込みは、前記二組の信号線のうち、もう一方
の信号線入力状態を常に監視し、あらかじめ定めた入力
信号の変化を検知することで行うことを特徴とする半導
体不揮発性メモリ装置。In a semiconductor nonvolatile memory device consisting of an electrically rewritable nonvolatile memory element, one signal line is connected to the nonvolatile memory element to determine whether two sets of signal lines each having a length of several bits match. In addition, writing to the nonvolatile memory element is performed by constantly monitoring the input state of the other signal line of the two sets of signal lines and detecting a change in a predetermined input signal. semiconductor non-volatile memory device.
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1990
- 1990-05-17 JP JP12774790A patent/JP3117984B2/en not_active Expired - Lifetime
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