JPH04194603A - 可動部品の動作状態検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明はカメラの鏡筒等１本体に対して可動である部品
の変位量や変位前後の位置の適否を判定するための方法
に関するものである。

（従来の技術） 本体に対して可動である部品、特に駆動機構を用いて自
動で作動される可動部品を備えた製品では、一般に、製
造後の検査工程において上記可動部品の変位量や変位前
後の位置の適否を検査が行われ、上記可動部品の一例と
しては多焦点レンズシャッタカメラにおける鏡筒が挙げ
られる。

上記多焦点レンズシャッタカメラの鏡筒は、設定された
焦点距離に応じて進退動作し、カメラ本体に対する突出
量を変化させるようになっており、上記カメラ製造後に
おける鏡筒の進退動作の動作状態検査は、従来より検査
員の目視によるか或はレーザ走査等により行われている
。

即ち、上記目視による検査では検査員が上記鏡筒の進退
動作を目視してその動作状態の適否を判定し、一方上記
レーザ走査による検査ではレーザ光線を上記鏡筒の側方
から照射して、鏡筒の上記レーザ光線照射側とは反対の
側にて鏡筒近傍を通過したレーザ光線を検出して鏡筒の
動作状態の適否を判定するようにしている。

（発明が解決しようとする課題） しかしながら　目視による検査は検査員の熟練度によっ
て誤差が生じるおそれがあり、また人手を要するために
作業能率或は検査コストの面でも好ましくない。

一部レーザ走査による検査はレーザ走査機構及びレーザ
走査に同期して作動する検出回路を設けなければならな
いため、検査装置の構成が複雑となり、またレーザ光線
の検出のために各機構の光軸調整を行わなければならず
、検査作業が繁雑であると共に検査コストが高価となる
という不具合があった。

本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、簡単な
構成によってカメラの鏡筒等、本体に対して可動である
部品の動作状態の検査を高精度且つ低コストで行うこと
ができる可動部品の動作状態検査方法を提供することを
目的とする。

（課題を解決するための手段） 上記目的を達成するために本発明は、本体に対して可動
である部品の側方から、前記可動部品の可動範囲を照光
する平行光線を照射し、前記可動部品によって遮られず
にその近傍を通過した平行光線の光量を検出し、該通過
光線の光量及び前記可動部品の動作時における前記通過
光線の光量の経時変化に基づいて前記可動部品の動作状
態の適否を判定するようにしでなるものである。

（実施例） 以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。

第１図は本発明の一実施例による可動部品の動作状態検
査方法を用いて行われる鏡筒の動作状態検査装置の概略
構成を示す説明図、第２図は第１図に示す鏡筒の動作状
態検査装置における光量検出側の概略構成を示すブロッ
ク図である。

まず第１図に示すように、カメラ本体ｌに対して進退自
在に設けられた可動部品としての鏡筒２を挾んで、投光
部３と受光部４を対峙させて配設する。

上記投光部３には発光手段としてのランプ３１と、この
ランプ３１から発光される光を平行光とするためのコリ
メータレンズ３２が、一方上記受光部４には上記鏡筒２
の進退動範囲に関わる上記発光部３かもの光のみを透過
させるスリット４１と、このスリット４１を透過した光
を上記鏡筒２の進退動方向において集束させる集光レン
ズ４２と、この集光レンズ４２によって集光させた光を
受光してその光量を検出する受光素子４３が夫々設けで
ある。

そして、上記投光部３からの平行光が鏡筒２の進退動方
向の変位領域を全て或は最伸長位置側から一定距離分カ
バーするように、上記鏡筒２の側方から照射されるよう
にしである。

上述の第１図に示した検査装置においてカメラ１の鏡筒
２が進退動すると、その進退動作に応じて上記鏡筒２の
側方から照射される平行光線が、該鏡筒２の進退動方向
において上記カメラ１側から一部乃至全部遮られ、これ
により上記スリット４１及び集光レンズ４２を介して受
光素子４３で受光される光の光量が変化する。

そこで、上記受光素子４３にて受光された光の光量に比
例した出力を第２図に示すヘッドアンプ４４から出力し
、さらにこの出力を図示しない減算回路にて、上記鏡筒
２によって上記投光部３からの平行光線が全く遮られな
いときに上記受光素子４３乃至ヘッドアンプ４４から出
力される最大出力信号量から減算して、上記鏡筒２の初
期位置からの突出量に比例する信号とした後、後処理回
路５に入力させる。

上記ヘッドアンプ４４側からの信号が入力された後処理
回路５では、その人力信号の大きさ及びその経時変化に
基づいて鏡筒２の位置、変位、及び動作速度を認識して
該鏡筒２の動作状態の適否を判定する。

その具体的な後処理例を第３図乃至第５図を参押して説
明する。

まず第３図に示すのは、投光部３からの平行光が、鏡筒
２の進退動方向の変位領域を該鏡筒２の最伸長位置側か
ら一定距離分カバーするように鏡筒２の側方から照射さ
れる場合における。鏡筒２の絶対位置を算出する後処理
回路５の概略構成である。

これによれば、上記ヘッドアンプ４４側からの上記鏡筒
２の初期位置からの突出量に比例する信号は、加算回路
５１に入力されて上記投光部３からの平行光線のカメラ
ｌ側端と上記鏡筒２の初期位置との距離に応じてあらか
しめ設定されるオフセット量Ｉ２０と加算され、その結
果を示す信号が表示装置６に出力される。

そして、表示装置６側では上記加算回路５１からの出力
に基づいて上記鏡筒２の絶対位置を表示する。

次に第４図（Ａ）に示すのは、投光部３からの平行光が
、鏡筒２の進退勤方向の変位領域を全てカバ、−するよ
うに鏡筒２の側方から照射される場合における、鏡筒２
の進退動前と進退動後との変位を算出する後処理回路５
の概略構成である。

これによれば、上記ヘッドアンプ４４側からの上記鏡筒
２の初期位置からの突出量に比例する信号はサンプルホ
ールド回路５２．５３に人力され、上記各サンプルホー
ルド回路５２．５３には、図示しないトリガパルス出力
回路から鏡筒２の進退動前後に出力されるトリガ信号ｔ
ｌ。

ｔ２が入力されるようになっている。

上記サンプルホールド回路５２はトリガ信号ｔｌにより
トリガされて、上記鏡筒２の進退動前における、上記ヘ
ッドアンプ４４側からのｍＨ２の絶対位置を示す信号を
ホールドする。

一方上記すノブルホールド回路５３はトリガ信号ｔ２に
よりトリガされて、上記鏡筒２の進退動後における、上
記ヘッドアンプ４４側からの鏡筒２の絶対位置を示す信
号をホールドする。

そして、上記サンプルホールド回路５２゜５３は夫々の
ホールド信号Ｖｌ、Ｖ２を減算回路５４に出力し、該減
算回路５４ではホールド信号ｖ２からホールド信号ｖ１
を減算して、その結果を表示装置６に出力する。

該表示装置６は、上記トリガ信号ｔ２の出力タイミング
より後にトリガパルス出力回路から出力されるトリガ信
号ｔ３によりトリガされて、上記減算回路５４からの出
力をホールドし、該ホールドされた上記減算回路５４か
らの出力に基づいて上記鏡筒２の変位量を表示する。

尚、上記トリガ信号ｔｌ、ｔ２．ｔ３、上記サンプルホ
ールド回路５２．５３への人力信号、及び上記ホールド
信号Ｖｌ、Ｖ２の関係は、第４図（Ｂ）のタイミングチ
ャートに示す通りである。

最後に第５図（Ａ）に示すのは、投光部３からの平行光
が、鏡筒２の進退勤方向の変位領域を全てカバーするよ
うに鏡筒２の側方から照射される場合における、鏡筒２
の最大変位を算出する後処理回路５の概略構成である。

これによれば、上記ヘッドアンプ４４側がらの上記鏡筒
２の初期位置からの突出量に比例する信号はピークホー
ルド回路５５に入力され、上記ピークホールド回路５５
には、図示しないクロックパルス出力回路からのリセッ
ト信号ｐｉが入力されるようになっている。

上記ピークホールド回路５５はリセット信号ｐｌにより
リセットされて、それ以後に上記ヘッドアンプ４４側か
ら入力される鏡筒２の位置を示す信号の最大値をホール
ドし、次に上記クロックパルス出力回路からのリセット
信号が入力されるまでの間、上記ホールドした最大値信
号を表示装置６に出力する。

該表示装置６は上記ピークホールド回路５５からの出力
に基づいて、上記リセット信号ｐｉの出力以後法のリセ
ット信号がピークホールド回路５５に人力されるまでの
間における、鏡筒２の最大変位量を表示する。

尚、上記リセット信号ｐ１、鏡筒２の変位量。

及びピークホールド回路５５から出力される最大値信号
の関係は、第５図（Ｂ）のタイミングチャートに示す通
りである。

このように本実施例によれば、鏡筒２の進退動時にその
側方から照射される平行光線の光量を検出することによ
り、上記鏡筒２の動作状態の適否を判定することができ
るので、簡単な構成によってカメラｌの鏡筒２の動作状
態の検査を高精度且つ低コストで行うことができる。

尚、上述の本実施例においては上記加算回路５１、減算
回路５４、及びピークホールド回路５５からの出力をそ
のまま表示装置６に入力して表示させる構成としたが、
これらの出力信号を図示しない比較回路に入力してあら
かじめ設定されたしきい値との比較を行い、この比較結
果に基づいて上記鏡筒２の進退動状態の適否を判定して
その結果を表示装置６に表示させるようにしても良い。

また上述の本実施例においては、上記鏡筒２の進退動方
向に開口したスリット４１を通過した光を受光素子４３
に集束させる集光レンズ４２として、上記通過光を鏡筒
２の進退動方向に集束させるシリンドリカルレンズとし
たが、これに限らず球面レンズ等によって受光素子４３
に集光させるものとしてもよい。

さらに上記本実施例では、カメラの鏡筒２の進退動に関
する検査の場合についで説明したが１例えばある−点を
中心に回動する例えば巻き上げレバーやモータの回転軸
等の動作状態検査に用いることもできる。

この具体的な実施例を示したのが第６図であり、ＤＣモ
ータ７１の低速回転時における、回転ムラの有無等の回
転状態を検査するものを示している。尚、同図中第１図
と同一の要素には第１図で付したものと同一の引用符号
を付し、その説明を省略する。

そしてこの場合には、上記ＤＣモータ７１（本体）の回
転軸７２（可動部品）に平面略半円状の遮蔽板７３（連
動部品）を取り付け、該遮Ｗｉ板７３の受光素子４３側
近傍に配設されるスリット４５の開口部の形状を、上記
鏡筒２の進退動に関する検査の場合のように該進退動方
向を長手方向とする直線状のものではな（、上記遮蔽板
７３の回転方向に合わせて円弧状としである。

また、上記スリット４５の受光素子４３側近傍に配設さ
れる、スリット４５を通過した光を受光素子４３に集束
させるレンズとして球面レンズ４６を用いている。

上記構成によるＤＣモータ７１の低速回転時の回転状態
検査装置では、上記遮蔽板７３がスリット４５の開口部
形成領域に差し掛かった持点がら上記遮蔽板７３によっ
てスリット４５の開口部形成領域が全て覆われるまでの
間、受光素子４３で受光された上記スリット４５の通過
光の光量を、第２図と同様の後処理回路５が所定の時間
おきにサンプリングするようにしている。

そして後処理回路５では各サンプリング値と前回のサン
プリング値との差を算出し、さらにその差の値の平均値
Δを算出する。

ここでサンプリング回数をｉ　　（ｉ＝Ｌ、２゜・・・
、ｎ）、サンプリング値の初期値即ちスリット４５の開
口部形成領域が遮蔽板７３によって全（覆われない場合
の受光素子４３の受光光量をＶｏ、各サンプリング値を
Ｖ、とし、上記平均値△によって仮定される理想的なサ
ンプリング値■、を■。−１Δとする。

そして５例えば実際のサンプリング１ｔｉＶ、と理想的
なサンプリング値Ｖ、との二乗誤差を算出する、以下に
示す数式（１）の値があらかじめ定めた閾値を越えた場
合に、上記ＤＣモータ７１が低速回転時において回転ム
ラを起こしているものと判定する。

（但し、ｉ＝１．２．・・・、ｎ） 尚、上記数式は後処理回路５がＤＣモータ７１の回転ム
ラを検出するために用いる式の一例であり、後処理回路
５による上記回転ムラの検出の具体的な手段は、上記受
光素子４３により受光される光の光量に基づいて行うも
のであれば何でもよい。

また、上記両実施例ではスリット４１．４５を集光レン
ズ４２側に設けであるが、コリメータレンズ３２側に設
けてもよい。

さらに、上記両実施例では可動部品が直線方向の往復動
を行う鏡筒２や回転運動を行う回転軸７２である場合に
ついて説明したが、例えばＳ字状といった複雑な動作を
行う部品についても、スリットに形成する開口部の形状
をその部品の動作に倣った形状とすることにより適用す
ることができる。

（発明の効果） 以上説明したように本発明の可動部品の動作状態検査方
法によれば、本体に対して可動である部品にその側方か
ら平行光線を叩射し、該可動部品によって遮られずにそ
の近傍を通過した平行光線の光量と、前記可動部品の動
作時における前記通過光線の光量の経時変化とに基づい
て前記可動部品の動作状態の適否を判定するようにした
ので、簡単な構成によってカメラの鏡筒等、本体に対し
て可動である部品の動作状態の検査を高精度且つ低コス
トで行うことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例による鏡筒の動作状態検査方
法を用いて行われる可動部品の動作状態検査装置の概略
構成を示す説明図、第２図は第１図に示す鏡筒の動作状
態検査装置における光量検出側の概略構成を示すブロッ
ク図、第３図は第２図における後処理回路の一例を示す
ブロック図、第４図（Ａ）及び第５図（Ａ）は夫々第２
図における後処理回路の他の例を示すブロック図、第４
図（Ｂ）及び第５図（Ｂ）は夫々第４図（Ａ）及び第５
図（Ａ）に示す後処理回路における入力信号と出力信号
との関係を示す波形図、第６図は本発明の他の実施例に
よる可動部品の動作状態検査方法を用いて行われるＤＣ
モータの動作状態検査装置の概略構成を示す説明図であ
る。 なお、図中１はカメラ（本体）、２は鏡筒（可動部品）
、３は投光部、４は受光部、５は後処理回路、６は表示
装置、７１はＤＣモータ（本体）、７２は回転軸（可動
部品）である９特許出願人　　　　　　旭光学工業株式
会社代理人　弁理士　　　　　　野　１）　茂第２図 第３図 、Ｌ　５１　　　６ 第４図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 本体に対して可動である部品の側方から、前記可動部品
   の可動範囲を照光する平行光線を照射し、 前記可動部品によって遮られずにその近傍を通過した平
   行光線の光量を検出し、 該通過光線の光量及び前記可動部品の動作時における前
   記通過光線の光量の経時変化に基づいて前記可動部品の
   動作状態の適否を判定する、ことを特徴とする可動部品
   の動作状態検査方法。