JPH04158558A - 冷却フィン付半導体パッケージおよび半導体冷却装置 - Google Patents

冷却フィン付半導体パッケージおよび半導体冷却装置

Info

Publication number
JPH04158558A
JPH04158558A JP2284079A JP28407990A JPH04158558A JP H04158558 A JPH04158558 A JP H04158558A JP 2284079 A JP2284079 A JP 2284079A JP 28407990 A JP28407990 A JP 28407990A JP H04158558 A JPH04158558 A JP H04158558A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
fin
semiconductor
cooling
fins
semiconductor package
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2284079A
Other languages
English (en)
Inventor
Hitoshi Matsushima
均 松島
Toshio Hatada
畑田 敏夫
Yoshihiro Kondo
義広 近藤
Ko Inoue
井上 滉
Kanji Otsuka
寛治 大塚
Masayuki Shirai
優之 白井
Takao Oba
大場 隆夫
Akira Yamagiwa
明 山際
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP2284079A priority Critical patent/JPH04158558A/ja
Publication of JPH04158558A publication Critical patent/JPH04158558A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/161Cap
    • H01L2924/1615Shape
    • H01L2924/16195Flat cap [not enclosing an internal cavity]

Landscapes

  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、フィンを空冷することにより、半導体チップ
を冷却する構成の冷却フィン付半導体パッケージ、およ
び基板上の半導体を空冷する半導体冷却装置に関する。
〔従来の技術〕
半導体パッケージ冷却用のフィンは、特開昭58−25
249号公報に示されているように、押シ出シ成形加工
による平行平板が基本的なものであるが、その他にも様
々な形状のものが提案されている。
従来、冷却用フィンの仕様を決定する際には、予め何種
類かのフィンを作成し、その1つ1つに対して実験を行
い、実験結果が最も良かったものを採用するようにして
いた6なお、平行平板の冷却フィンの性能を予測する方
法は文献等にも報告されているが、これらはいずれも開
放気流中にさらされた冷却フィンに対する予測法であり
、実装された半導体パッケージについては伝熱性能が過
少評価させる傾向にある。
また、半導体パッケージの内部構造は、第27図に示す
ように、フィン1とチップ15との間に熱拡散板12が
設けられ、この熱拡散板12にはチップ15と配線基板
14との間の配線を容易にするため中央が凸型に形成さ
れている。熱拡散板12として比較的安価で熱伝導性の
良い銅やアルミニュームなどを用いた場合、熱拡散板1
2とチツブISとの間の接着層には熱伝導性の低いシリ
コンゴムなどの接着剤が用いられている。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、上記従来技術では、接着剤として用いた
シリコンゴムが熱抵抗が大きいために、チップ内に熱が
蓄積され易く、また接着層の厚さとチップ内に発熱箇所
にもばらつきがあるため、チップ内に温度分布が生じて
しまい、チップ全体を効率良く冷却することができない
また、熱拡散板は中央の凸部がプレス加工により形成さ
れるが、熱拡散板の面積が大きいため強力なプレス力を
必要とし、プレス装置が大型化する欠点がある。
さらに、冷却フィンは接着剤により熱拡散板に固定され
ているので、ユーザー自身が冷却フィンを他のサイズの
冷却フィンに自由に取替えることができないという問題
がある。最近では半導体パッケージの冷却性能をユーザ
ー側で設定することもあり、この場合はユーザー自身が
冷却フィンを取替える必要がある。
また、複数の半導体パッケージが搭載された基板を空冷
する場合、従来は冷却用空気を基板に沿って平行に流す
だけであり、流した空気の全てが冷却用として有効に使
われていないという問題もある。
本発明の第1の目的は、チップ全体を効率良く冷却する
ことができる空冷フィン付半導体パッケージを提供する
ことである。
また、本発明の第2の目的は、大型プレス装置等を必要
とせず、製造コストの低下が図れる冷却フィン付半導体
パッケージを提供することである。
さらに、本発明の第3の目的は、冷却フィンの着脱を容
易に行うことができる冷却フィン付半導体パッケージを
提供することである。
またさらに、本発明の第4の目的は、冷却用空気の全て
が半導体基板に当たるようにして、半導体基板を効率良
く冷却することができる半導体冷却装置を提供すること
である。
〔課題を解決するための手段〕
上記第1の目的を達成するために、本発明は。
熱拡散板の一面側に半導体チップが接着され、他面側に
フィンが固着されて、該フィンを空冷することにより、
前記半導体チップを冷却する構成の冷却フィン付半導体
パッケージにおいて、前記フィンの一辺の長さを50〜
70nnとするとともに、該フィンの厚さを0.8〜2
0mmに、フィンの間隔を3〜5moに、フィンの高さ
を30mm以下にそれぞれ設定したことを特徴としてい
る。
さらに、本発明は、熱拡散板の一面側に半導体チップが
接着され、他面側にフィンが固着されて、該フィンを空
冷することにより、前記半導体チップを冷却する構成の
冷却フィン付半導体パッケージにおいて、前記フィンの
表面に微小な凹凸を設けたこと、あるいはフィンをS字
状またはジグザグ状に形成したことを特徴としている。
また、上記第2の目的を達成するために、本発明は、熱
拡散板の中央突出部の表面に半導体チップが接着され、
前記中央突出部の反対側の面にフィンが固着されて、該
フィンを空冷することにより、前記半導体チップを冷却
する構成の冷却フィン付半導体パッケージにおいて、前
記熱拡散板を、前記中央突出部と中央突出部以外の平板
部とからなる分割構造にしたことを特徴としている。
また、上記第3の目的を達成するために、本発明は、熱
拡散板の一面側に半導体チップが接着され、他面側にフ
ィンが設けられて、該フィンを空冷することにより、前
記半導体チップを冷却する構成の冷却フィン付半導体パ
ッケージにおいて前記フィンを前記熱拡散板から分離可
能な構成にしたことを特徴としている。
また、上記第4の目的を達成するために、本発明は、基
板上に搭載された複数の半導体パッケージの周囲に空気
流を生じさせることにより、前記半導体パッケージを冷
却する半導体冷却装置において、前記空気流の上流から
下流に沿って空気流の流路面積を漸次狭くするガイド板
を設けたこと、または前記空気流に対して前記基板を傾
斜させ、半導体パッケージの全てに前記空気流が当る構
成にしたこと、または前記基板の複数箇所に穴を設ける
とともに、前記基板を中空の二重構造にして、前記二重
構造内にも空気を送る構成としたことをそれぞれ特徴と
している。
〔作用〕
平行平板を組み合わせた冷却フィンの冷却性能は以下の
手順■〜■を用いて算出することができる。
■U 1 nからUrsax (式(I8)) 、 U
* (式(9) 〜(14) )を求める(くり返し計
算)。
■h、を求める。(式(6)〜(8))。
■hzを求める。(式(4)〜(5))。
■hptt hps、 hprを求める(式(15) 
〜(17)) 。
■A t 、 A p r + A p s 、 A 
p rを求める(式(3))。
■h□を求める(式(2))。
■冷却フィンの熱抵抗(R=1/h1AB)を求める。
ここで、 U、・・・基板入口風速 U wax・・・流れに垂直方向のパッケージ列間の最
小断面積に対する風速 U*°・・フィン間風速 であり、伝熱を支配する風速は ・・・(1) である。
第1列めのフィン付パッケージでのフィン底部面積As
を基準にした熱伝達率h工をり、= (Q/AB)/ 
(TIIn 7ω)で定義すると、hlは以下のように
表わされる。
h x ” (At h i+ Apt h rt+ 
Apsh ps+Apr h pr)/ As=42)
ここで、A、、A□g Aps) Aprはフィン間、
パッケージ前面、側面、後面の伝熱面積であり、her
 hptt hpsy hprはフィン間、パッケージ
前面、側面、後面の熱伝達率である。
伝熱面積は、第5図に示すフィン形状に対してで与えら
れる。
また、フィン間の熱伝達率は、 ξ で与えられる。ここでhzは、入口空気温度と壁温の差
で定義した熱伝達率であり、h、はフィン間を流れる空
気のバルク平均温度と壁温で定義した熱伝達率である。
ここで、 ・・・(6) D6=2p                  ・・
・(7)ν alr ・・・(9)  HF K=KC+Ke               ・・・
(11)Kc=0.4  (1a”)  +β    
 −(12)Ke=(1a2)−βa        
 −(13)である。また、フィン付パッケージの前面
、側面、後面に対する熱伝達率は、 で与えられる。
なお、Umaxは第6図および第7図に示すような配列
パラメータに対して P工5−WH U**=συ本          ・・・(I9)で
与えられる。
また、冷却フィンにおける圧力損失は次式で予測するこ
とができる。
ΔP ”   I’ (U”*n−U* *2) XW
H−(20)上式を用いて、様々の基板入口風速U l
nに対して決められた熱抵抗値を実現できるフィン仕様
を見出すことにより、基板入口風速ないし冷却フィンで
の圧力損失が最小値を持つ冷却フィンの枚数とピッチが
決定される。
製作上の制約等から、上述した冷却フィンが実現できな
い場合、冷却フィンの高さを基板間隔等の制約までいっ
ばいにとり、かつ押し出し成形の限界を示すトング比(
これについては後述する)を製作上可能な上限とするよ
う冷却フィンの枚数とピッチを決定すると、製作上の制
約を考慮した最適な冷却フィンを選ぶことができる。
基板入口流速および冷却フィンの高さが固定されている
場合、トング比の上限内で冷却フィンの熱抵抗値が最小
となるように、フィン枚数とピッチを決定すると最適な
冷却フィンを選ぶことができる。
基板上に配列された冷却フィン付半導体パッケージの冷
却性能を、前述した手順に従って予測した結果を第8図
に示す。
熱伝達率h1の予測値は、基板間隔と半導体パッケージ
高さとの比(S/I()や基板入口風速(Utn)に対
して実測値と良く一致している。したがって、各種仕様
に対する冷却性能の詳細な予測が可能となる。
半導体パッケージの冷却フィンの寸法および基板間隔を
設定した場合、冷却フィンの伝熱性能を前述の予測式を
用いて各種基板入口風速およびフィンピッチまたはフィ
ン枚数について予測すると、第9図の実線A−Cのよう
な曲線を得る。第9図は、所定のフィン高さ、フィン底
部面積、熱抵抗値を満足するダクト入口風速(またはフ
ィン部圧力損失)とフィン枚数との関係を示したもので
あり、A点において極小値を持つ。したがって、A点に
対応するフィン枚数N工を選択す九ば最少の基板入口風
速または圧力損失で所望の熱抵抗値を達成することがで
きる。なお、A点において極小値を持つのは、フィン枚
数が少ない場合にはフィン枚数が増大するとフィンの面
積増加の影響が強く表われるのに対し、フィン枚数が多
い場合にはフィン枚数’h<増大するとフィン間の隙間
が小さくなり、冷却空気が流れにくくなる影響が現われ
るためである。
平行平板状のフィンの加工方法としては、切削加工、押
し出し成型加工等の様々な方法が考えられるが、生産コ
スト的に最もメリットのあるのが押し出し成型加工であ
る。これは、予め作成した型の中をアルミ等の材料を通
過させて所望の形状に加工する方法である。この方法で
冷却フィンを製造すると大量生産が可能なため、大幅な
コスト低減を達成することができる。しかし、この方法
では、型の強度の関係から、製作可能な形状が限定され
る。最も代表的なものは開口面積と開口幅の自乗の比で
定義されるトング比である。トング比は、フィン1高さ
L□フィン1間隔P(第5図参照)の場合については次
式で定義される。
押し出し成形可能なトング比の上限値は1.5〜4程度
である。
また、冷却用フィンを押し出し成形する場合の伝熱性能
はトング比により制約を受け、一般に一点鎖線B−Cの
ような左下がりのカーブになる。
フィン底部面積が一定である場合、フィン枚数が増大す
るとフィン1の間隔Pが減少する。成形可能なトング比
の値は加工性により決まっているので、式(21)より
フィン1の高さり、が減少する。このため、加工性の制
限を受けない場合の最適枚数N工では、B点のような伝
熱性能となり、最適なポイントではなくなる。トング比
により制約を受ける場合には、最適なポイントはフィン
枚数が少ない方(すなわちフィン高さが大きい方)にず
九、0点に相当するフィン枚数N2が最適なものになる
。なお、−点鎖線B−C上でB点から0点に向うに従っ
てフィン高さは増大し、実線A−Cとの交点Cにおいて
は、基板間隔等の制約から決定された実線A−Cのフィ
ン高さと等しくなる。なお、実際にはフィン枚数は不連
続であり、条件によっては交点Cはフィン枚数値の中間
にくることがあるが、この場合にはその付近のフィン枚
数を選定すれば良い。
以上の説明では、フィン底部面積、フィン高さ上限値、
熱抵抗値を一定とした場合の半導体パッケージ冷却用フ
ィンの最適化方法および構造について述べたが、次に、
基板入口風速(フィン圧力損失)、フィン底部面積、フ
ィン高さを一定とするような冷却用フィンの最適化方法
および構造について第10図を用いて説明する。第10
図は、基板入口風速、フィン底部面積、フィン高さが与
えられた際に、フィン枚数(またはフィン間隔P)によ
り冷却用フィンの熱抵抗がどう変化するかを示したもの
である。曲線D−EはE点において極小値を持つ。この
ため、トング比等の製作上の制約がない場合には、E点
に対応するフィン枚数N4を選択すれば良い。トング比
による制約を考える場合には、加工可能なフィン枚数の
上限が存在する。もし、上限がF点(フィン枚数N、)
にあれば、最適なフィン枚数としては、F点よりも左側
の領域にある極小値E点(N 4枚)を選択すればよく
、上限がD点にあればその点(N3枚)を選択すれば良
い。
第11図は、フィン底部が大きさ60 mgn X 6
0I、フィン高さ20mmの冷却フィンに適用した場合
である。ただし、第11図においては横軸にフィン枚数
の代りにフィン間隔Pをとっである。フィンの肉厚は1
mm〜2Wnを考えた。冷却フィンの熱抵抗値1.4〜
1.5℃/Wを達成するのに必要な風速は、フィン間隔
3.0mm〜3.6ae付近で極小値を持ちこの部分が
最適な領域であることがわかる。
なお、押し出し加工による製作において、加工可能なト
ング比の上限を4とすると、式(21)により実現可能
なフィン間隔はこの例の場合4.5mm以上となる。し
たがって、加工上の制約がある場合にはこの付近が最適
な領域である。
以上のように、フィンの伝熱性能を、各種の仕様および
周回条件について事前予測し、それを整理することによ
り、最も少ない風量ないしフィン部での圧力損失で所定
の熱抵抗値を達成できる冷却フィンの構造(平行平板状
フィンでは、フィン枚数、フィンピッチ)を求めること
ができる。
基板入口風速またはフィンでの圧力損失を最小とすれば
、冷却ファンおよび冷却ファンを駆動する動力源も小型
にすることができ、騒音まで考慮した形で最適な冷却用
フィンを設計することができる。
チップと熱拡散板とを低熱抵抗で接着できる材質として
は、A Q N 、 Cu W 、 S i Cなどが
考えられる。これらの材料を用いるとAu−5nの共晶
や、薄いA g m A nペースト等で接着が可能で
あり、この接着層での熱抵抗は非常に小さくなる。
しかし、これらの材料はいずれもCuなどと比較して高
価である。この材料を熱拡散板のチップ側の突起部のみ
に用い、残りをCuなど安価な材料にすることにより、
全体のコストを殆ど上げることなく、チップと熱拡散板
の間の接着層での熱抵抗を低減できる。また、チップ内
部での発熱にばらつきがあった場合でも、熱拡散板内で
熱が拡がるために、チップを効率良く冷却することがで
きる。
また、冷却フィンの表面に微小な凹凸を設けたり、冷却
フィンをS字状またはジグザグ状にしたりすれば、冷却
フィンの表面積を増加させることができ、チップを一層
効率良く冷却することが可能となる。
さらに、冷却フィンが熱拡散板から分離できる構成にし
ておけば、冷却フィンを他のサイズの冷却フィンにユー
ザー側で自由に取替えることができるため、ユーザーは
自分達が要求した冷却性能にマツチした冷却用フィン付
半導体パッケージを得ることができる。
また、空気流に沿って流路面積が狭くなるガイド板を設
けたり、空気流に対して半導体基板を傾斜させたり、ま
たは半導体基板を二重構造にして半導体パッケージ搭載
側に複数個の穴を設けたりすれば、基板上の半導体パッ
ケージの1つ1つの十分な空気流を当てることができ、
全ての半導体パッケージを効率良く冷却することが可能
となる。
〔実施例〕
以下に本発明の一実施例を図面に従って説明する。
第12図は本発明の半導体パンケージに設けられた冷却
フィンを示している。ここに示した冷却フィンは、フィ
ン底部面積60X60mm2、基板間隔25mm111
+前後、発熱量20〜30Wの半導体パッケージの冷却
設計に適用した例である。本実施例においては、基板入
口風速1〜2m/sで熱抵抗値1.5℃/Wを満足する
ように最適化を行い、高さ18++waで厚さ1ma+
程度のアルミニウムでフィン1が構成されている。熱抵
抗値が1.5℃/Wの場合、チップの発熱量が20Wと
すると、フィン1の温度は周囲の空気温度に比べて30
℃高くなる。この条件においては、フィン1の枚数が1
4枚のときに、最も少ない基板入口風速または圧力損失
で所定の熱抵抗値を得ることができる。
第13図は第12図で示した冷却フィンの両端に長さ5
++a程度の枝フィン2を設けた例である。
このように枝フィン2を設けると、冷却フィン1の伝熱
面積を増加させることができるので、伝熱性能を向上さ
せることが可能となる。また伝熱性能の向上に伴って、
所定の熱抵抗値を得るために必要な基板入口風速を減少
させることができる。
上述した第12図と第13図の実施例ではトング比が4
を越えており、押し出し成形加工ができない。そこで、
第14図と第15図に示した冷却フィンでは、トング比
が加工可能な上限である4以下となるよう最適化が図ら
れている。なお、上述以外の制約条件は第12図および
第13図の実施例と同じである。本実施例においては、
フィン1の枚数は12枚で、高さは17.45mmであ
る。
本実施例の冷却フィンを用いた場合、フィン1の有効面
積が第12図または第13図の実施例のものに比べて1
4%程度減少するため、1.5℃/Wの熱抵抗値とする
ためには基板入口風速を17%程度大きくする必要があ
る。
なお、第13図および第15図の実施例では、枝フィン
2の枚数が4になっているが、4枚に限るものではない
以上の実施例においては、最も少ない基板入口風速で所
定の熱抵抗値を達成することができるため、冷却ファン
の動力も最小にすることができる。
これは冷却のための騒音を低減させる上で効果がある。
第16図から第22図は、押し出し成形加工上の制約を
考慮した形で基板入口風速を最小とするユニットフィン
3を、所定の大きさのフィンベース4上に多数搭載した
マルチフィン状の冷却フィンの例である。
第23図と第24図は、先の実施例で述べた冷却フィン
の表面に微小な凹凸20を設けたものである。微小凹凸
20はフィン1の押し出し加工時に同時に付ければ良く
、コスト増加とはならない。
このような微小凹凸20により、冷却フィン1の表面積
を増大させることができ、冷却性能の向上に効果がある
第25図は、フィン1の表面を曲面21にしたものであ
り、このようにしても表面積の増加を図ることができる
。なお、第25図の実施例において、第13図と第15
図で示した枝フィン2を設けても良く、さらに、第23
図と第24図で示した微小凹凸を設けても良い。
ここで、上記冷却フィン(例えば第12図と第14図に
示すフィン)の形状を決定する方法について第26図を
用いて説明する。図に示すように、ステップ100にお
いて、冷却フィンの最大高さ、幅、奥行等の寸法制限と
目標熱抵抗値を設定し、ステップ101において、フィ
ン枚数、フィン高さ、フィンの幅、フィンの奥行、各フ
ィンの厚さなどを決定する。次にステップ102におい
て、目標熱抵抗値を満足する基板入口風速を仮定し。
ステップ103において、その仮定した基板入口風速に
よる熱抵抗値及び圧力損失を求める。そして、ステップ
104において、求めた熱抵抗値が目標値を満足してい
るか否かを判断し、満足していればステップ106へ進
み、満足していなければステップ105で基板入口風速
を修正したのち、ステップ103に戻る6次にステップ
106において、フィン形状を変更するか否かを判断し
、変更しないならばステップ107において、フィン形
状と基板入口風速および圧力損失との関係をプロットし
、これらが極小となるフィン形状を見い出す。また、ス
テップ106において、フィン形状を変更すると判断し
たならばステップ102に戻る。
以上説明した冷却フィンを半導体パッケージに搭載した
実施例を第1図乃至第4図に示す。
第1図と第2図の実施例は、第14図で示した冷却フィ
ンを使用した例である。多数のピン6を有する半導体パ
ッケージ5の上に冷却フィン1が取付けられている。冷
却フィン1は、最も少ない圧力損失で1.5℃/W以下
の熱抵抗値となるよう最適化されている(基板入口風速
1〜2 m / sに対して)ため、有効な半導体パッ
ケージ5の冷却が可能である。
第3図と第4図の実施例は、第15図で示した冷却フィ
ンを使用した例である。本実施例では枝フィン2が付加
されていることにより、冷却フィン1の表面積が増加す
るため、さらに良好な冷却性能を得ることが可能である
次に第28図から第32図は、半導体パッケージの熱拡
散板に関する実施例である。
第28図の実施例では、CuまたはAQを用いたフィン
側部材(平板部)12′とA12N、CuWまたはSi
Cを用いたチップ側部材(中央突出部)12”と、から
熱拡散板5が構成されており、前記両部材12″、12
”はシリコン接着剤で接着され、両部材12″、12”
の間には接着層23が存在している。またチップ側部材
12″とチップ15との間には接着層16が存在してい
る。
この接着層において、AlNやCuWではA u −8
などの金属結合を用いることができ、SiCではチップ
(Si)との線膨張係数がほぼ等しいため熱ひずみを考
える必要がなく、AgペーストやAuペーストなどの接
着層の厚さを最/J%限に押さえることができる。これ
により、従来、熱拡散板12にCuを用いた場合に問題
となっていた接着層での熱抵抗を著しく低減させること
ができる。
なお、接着層23における熱抵抗が無視できなくなるが
、チップ側部材12″の面積はチップ15よりも大きく
することができるので、同じシリコン接着剤を用いた場
合の全熱抵抗は、熱拡散枚12にCuのみを用いた場合
に比べ20〜30%低減できる。
また、フィン側部材12′とチップ側部材12″はいず
れも四角形の平板であるから、加工性を向上させること
ができる。しかも、本実施例のように構成すれば、チッ
プ内での発熱にはらっきがあった場合でも、熱がチップ
側部材12″′の中で十分拡散するため、熱拡散板12
内での温度分布のばらつきをほぼなくすことができる。
チップ側凸部12′′に用いる材料は、第1表に示すよ
うに、Cuなどに比べて割高であるが、本実施例ではフ
ィン側部材12′とチップ側部材12″才の体積比が(
10〜12):1であり、材料コストはCuやAQを単
独で用いた場合と比べて大きな違いはない。
また、フィン側部材12′にCuを、チップ側部材12
″にCuWをそれぞれ用いると、線膨張係数がCuと比
較的近いので、熱ひずみに対する制約が緩くなり、接着
層23でのシリコン厚さを薄くでき、全熱抵抗の低減に
効果がある。
第29図の実施例は、フィン側部材12′に凹部を設け
、この凹部にチップ側部材12″を嵌合させたものであ
る。このようにすると、チップ側部材12″の位置決め
作業を容易にすることができる。また、接着面23の面
積が増加するので、接着層23での熱抵抗低減に対して
も効果がある。
第30図の実施例は、2つの材料の接合面に凹凸22を
設け、接着層23での熱抵抗の低減を図ったものである
。凹凸22の形状は第31図のような帯状でもよく、ま
た第32図のような複数の独立した凸部でも良い。
第33図の実施例は冷却フィンのベース4と熱拡散板1
2に8つ張り部を設け、この出っ張り部をネジ17で固
定できるようにしたものであり、このような構成とする
ことにより冷却フィンの着脱を容易にすることができる
第34図は、出張り部に更に端部出張り部18を設け、
これにクリップ19を取り付けることによりワンタッチ
の着脱を可能にしたものである。
この場合、第35図に示すような係止片19′を端部出
張り部18に取り付け、この係止片19′をビスとナツ
トで押え付けるようにしてもよい。
第36図の実施例は、本発明の冷却用フィン付半導体パ
ッケージ5を小形高性能電子演算機に実装した場合を示
す。半導体パッケージ5は基板9上に1個ないし複数個
搭載されており、基板9上にはこの他に発熱量の小さい
半導体パッケージ10も搭載されている。基板9は筺体
7の内部に固定されており、筐体7上部には基板9を冷
却するための空気を流すファン8が設置されている。本
実施例では、半導体パッケージ5の冷却フィンでの圧力
損失が最小となるよう最適化されているため、基板9上
での流速分布の一様性が向上するという利点がある。
さらに、本実施例では冷却風を有効に制御するためのガ
イド板11が設けられている。このような構成にすると
冷却風がむだなく基板9上を流れるため、ファン8の負
荷を軽くすることができ、筺体7中で発生する騒音を低
減できる利点がある。
第37図の実施例においては、基板9が流れ方向に対し
て傾いた形状となっている。このような構成にすると冷
却空気は半導体パッケージ9,10の1つ1つにぶつか
るように流れるため、半導体パッケージ9,10まわり
の熱伝達率および冷却空気の混合効率が向上するため、
冷却効果が大きい。
なお、本実施例において必ずしも上側の基板9′が流れ
方向に平行である必要はない。また上側の板は基板9′
の代りにガイド板11であっても良い。
第38図の実施例においては、基板9は中空の二重構造
となっており、下面および側面がフタ25により封じら
れ、かつ基板9に複数個の穴24が設けられている。こ
のような構成においては、中空部を上から下へ流れる空
気は穴24を通して基板9の表面へ噴出する。この噴出
した空気によ 4す、基板9上を上から下に流れている
空気が混合され、半導体パッケージの冷却効率が向上す
る。
なお、本実施例においては、噴出空気の流量を増大させ
るために、中空部中に小さなファンを内蔵しても良い。
また、基板9とファン8との間にガイドを設け、このガ
イドによって空気を誘導するようにしても良い。
なお1本実施例においては、上面および側面にフタ25
を設け、冷却空気を基板9に明けた穴24を通して吸引
するようにしても良い。
〔発明の効果〕
以上説明したように1本発明によれば、最少の冷却ファ
ン動力でチップ全体を効率良く冷却できるので、騒音ま
で考慮した形で最適なスペックを与えることができる。
また、与えられたスペックに対して、製造コストおよび
伝熱性能のうえから最適な冷却フィン付半導体パッケー
ジを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の冷却フィン付半導体パッケージの正面
図、第2図はその底面図、第3図は枝フィンを付けた冷
却フィン付半導体パッケージの正面図、第4図はその底
面図、第5図は冷却フィンの斜視図、第6図は冷却フィ
ン付半導体パッケージを搭載した基板の正面図、第7図
はその平面図、第8図は熱伝達率に対する予測値と実測
値を示す図、第9図は基板入口風速またはフィン圧力損
失とフィン枚数との関係を示す線図、第10図は熱抵抗
とフィン枚数との関係を示す線図、第11図は基板入口
風速とフィン間隔との関係を示す線図、第12図〜第2
5図は冷却フィンの様々な形状を示す説明図、第26図
はフィン形状を決定する手順を示すフローチャート、第
27図は冷却フィン付半導体パッケージの内部構造図、
第28図〜第32図は熱拡散板を分割した場合の説明図
、第33図〜第35図は冷却フィンを着脱自在にした場
合の説明図、第36図〜第38図は半導体パッケージを
搭載した基板を冷却する場合の説明図である。 1・パフイン、2・・・枝フィン、4・・・フィンベー
ス、5.10・・・半導体パッケージ、6・・・ピン、
8・・・ファン、9・・・基板、11・・・ガイド板、
12・・・熱拡散板、13,16.23・・・接着層、
14・・・配線基板、15・・・チップ、18・・・端
部品っ張り部、19・・・クリップ。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、熱拡散板の一面側に半導体チップが接着され、他面
    側にフィンが固着されて、該フィンを空冷することによ
    り、前記半導体チップを冷却する構成の冷却フィン付半
    導体パッケージにおいて、前記フィンの一辺の長さを5
    0〜70mmとするとともに、該フィンの厚さを0.8
    〜20mmに、フィンの間隔を3〜5mmに、フィンの
    高さを30mm以下にそれぞれ設定したことを特徴とす
    る冷却フィン付半導体パッケージ。 2、熱拡散板の一面側に半導体チップが接着され、他面
    側にフィンが固着されて、該フィンを空冷することによ
    り、前記半導体チップを冷却する構成の冷却フィン付半
    導体パッケージにおいて、前記フィンの表面に微小な凹
    凸を設けたことを特徴とする冷却フィン付半導体パッケ
    ージ。 3、熱拡散板の一面側に半導体チップが接着され、他面
    側にフィンが固着されて、該フィンを空冷することによ
    り、前記半導体チップを冷却する構成の冷却フィン付半
    導体パッケージにおいて、前記フィンをS字状またはジ
    グザグ状に形成したことを特徴とする冷却フィン付半導
    体パッケージ。 4、熱拡散板の中央突出部の表面に半導体チップが接着
    され、前記中央突出部の反対側の面にフィンが固着され
    て、該フィンを空冷することにより、前記半導体チップ
    を冷却する構成の冷却フィン付半導体パッケージにおい
    て、 前記熱拡散板を、前記中央突出部と中央突出部以外の平
    板部とからなる分割構造にしたことを特徴とする冷却フ
    ィン付半導体パッケージ。 5、請求項4記載の冷却フィン付半導体パッケージにお
    いて、 前記平板部中央には凹部が形成され、該凹部に前記中央
    突出部を嵌合させ固定したことを特徴とする冷却フィン
    付半導体パッケージ。 6、請求項4記載の冷却フィン付半導体パッケージにお
    いて、 前記中央突出部と平板部の間には複数の凹凸が形成され
    、この凹凸が噛み合って前記中央突出部が前記平板部に
    固定されていることを特徴とする冷却フィン付半導体パ
    ッケージ。 7、請求項4、5、または6記載の冷却フィン付半導体
    パッケージにおいて、 前記平板部を熱伝導性の良い材料で、前記中央突出部を
    熱伝導性が比較的良く、かつ前記半導体チップと金属接
    合が可能で半導体チップを線膨張率が略等しい材料で構
    成したことを特徴とする冷却フィン付半導体パッケージ
    。 8、請求項7記載の冷却フィン付半導体パッケージにお
    いて、 前記平板部の材料はCuまたはAlであり、前記中央突
    出部の材料はAlNまたはCuWであることを特徴とす
    る冷却フィン付半導体パッケージ。 9、熱拡散板の一面側に半導体チップが接着され、他面
    側にフィンが設けられて、該フィンを空冷することによ
    り、前記半導体チップを冷却する構成の冷却フィン付半
    導体パッケージにおいて、前記フィンを前記熱拡散板か
    ら分離可能な構成にしたことを特徴とする冷却フィン付
    半導体パッケージ。 10、請求項9記載の冷却フィン付半導体パッケージに
    おいて、 前記フィンと熱拡散板に両者を互いに結合するための出
    っ張り部を設けたことを特徴とする冷却フィン付半導体
    パッケージ。 11、基板上に搭載された複数の半導体パッケージの周
    囲に空気流を生じさせることにより、前記半導体パッケ
    ージを冷却する半導体冷却装置において、 前記空気流の上流から下流に沿って空気流の流路面積を
    漸次狭くするガイド板を設けたことを特徴とする半導体
    冷却装置。 12、基板上に搭載された複数の半導体パッケージの周
    囲に空気流を生じさせることにより、前記半導体パッケ
    ージを冷却する半導体冷却装置において、 前記空気流に対して前記基板を傾斜させ、半導体パッケ
    ージの全てに前記空気流が当たる構成にしたことを特徴
    とする半導体冷却装置。 13、基板上に搭載された複数の半導体パッケージの周
    囲に空気を送ることにより、前記半導体パッケージを冷
    却する半導体冷却装置において、前記基板の複数箇所に
    穴を設けるとともに、前記基板を中空の二重構造にして
    、前記二重構造内にも空気を送る構成としたことを特徴
    とする半導体冷却装置。
JP2284079A 1990-10-22 1990-10-22 冷却フィン付半導体パッケージおよび半導体冷却装置 Pending JPH04158558A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2284079A JPH04158558A (ja) 1990-10-22 1990-10-22 冷却フィン付半導体パッケージおよび半導体冷却装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2284079A JPH04158558A (ja) 1990-10-22 1990-10-22 冷却フィン付半導体パッケージおよび半導体冷却装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04158558A true JPH04158558A (ja) 1992-06-01

Family

ID=17673992

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2284079A Pending JPH04158558A (ja) 1990-10-22 1990-10-22 冷却フィン付半導体パッケージおよび半導体冷却装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH04158558A (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008278576A (ja) * 2007-04-26 2008-11-13 Toshiba Corp パワー半導体素子の冷却装置
JP2010045077A (ja) * 2008-08-08 2010-02-25 Furukawa Electric Co Ltd:The 冷却装置および冷却装置の設計方法
JP2010511971A (ja) * 2007-09-14 2010-04-15 エスエムクリエーション リミテッド 安定器を有する蛍光灯用のled照明灯
JP2012023057A (ja) * 2011-10-28 2012-02-02 Mitsubishi Electric Corp 誘導加熱調理器及びコイルユニット
JP2015027144A (ja) * 2013-07-25 2015-02-05 三菱電機株式会社 モータ駆動装置
WO2020050044A1 (ja) * 2018-09-07 2020-03-12 株式会社デンソー ヘッドアップディスプレイ装置
JP2020529132A (ja) * 2017-07-28 2020-10-01 ツェットカーヴェー グループ ゲーエムベーハー 車両投光器の冷却体

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5752185A (en) * 1980-05-20 1982-03-27 De Beers Ind Diamond Heat sink
JPS60202957A (ja) * 1984-03-28 1985-10-14 Hitachi Ltd 放熱フイン
JPH021145B2 (ja) * 1982-07-13 1990-01-10 San Kinzoku Kogyo Kk

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5752185A (en) * 1980-05-20 1982-03-27 De Beers Ind Diamond Heat sink
JPH021145B2 (ja) * 1982-07-13 1990-01-10 San Kinzoku Kogyo Kk
JPS60202957A (ja) * 1984-03-28 1985-10-14 Hitachi Ltd 放熱フイン

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008278576A (ja) * 2007-04-26 2008-11-13 Toshiba Corp パワー半導体素子の冷却装置
JP2010511971A (ja) * 2007-09-14 2010-04-15 エスエムクリエーション リミテッド 安定器を有する蛍光灯用のled照明灯
JP2010045077A (ja) * 2008-08-08 2010-02-25 Furukawa Electric Co Ltd:The 冷却装置および冷却装置の設計方法
JP2012023057A (ja) * 2011-10-28 2012-02-02 Mitsubishi Electric Corp 誘導加熱調理器及びコイルユニット
JP2015027144A (ja) * 2013-07-25 2015-02-05 三菱電機株式会社 モータ駆動装置
JP2020529132A (ja) * 2017-07-28 2020-10-01 ツェットカーヴェー グループ ゲーエムベーハー 車両投光器の冷却体
WO2020050044A1 (ja) * 2018-09-07 2020-03-12 株式会社デンソー ヘッドアップディスプレイ装置
JP2020040468A (ja) * 2018-09-07 2020-03-19 株式会社デンソー ヘッドアップディスプレイ装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7040388B1 (en) Heat sink, method of manufacturing the same and cooling apparatus using the same
US6942025B2 (en) Uniform heat dissipating and cooling heat sink
US7128132B2 (en) Staggered fin array
US7532468B2 (en) Heat sink having high heat dissipation efficiency
US6533028B2 (en) Heat sink, method of manufacturing the same, and cooling apparatus using the same
GB2358243A (en) Cooling apparatus for electrical equipment
JP4913333B2 (ja) ヒートシンクおよび均一な冷却方法
US7589967B2 (en) Heat dissipation device
CN2720626Y (zh) 散热器
US5705854A (en) Cooling apparatus for electronic device
KR102296543B1 (ko) 수냉식 히트싱크
CN1435075A (zh) 散热器
JPH04158558A (ja) 冷却フィン付半導体パッケージおよび半導体冷却装置
JP2833999B2 (ja) Lsiの冷却モジュール
US20080011452A1 (en) Heat sink
US20050150637A1 (en) Heat sink and multi-directional passages thereof
JP2011054778A (ja) 櫛型放熱ユニットを用いた熱交換器
CN210381736U (zh) 散热设备和电气装置
EP0619606B1 (en) Electronic equipment
JP2003338595A (ja) 電子部品の冷却装置
US20100139892A1 (en) Heat dissipation device
JPH06112382A (ja) 発熱体の冷却装置
JP2010093034A (ja) 電子部品の冷却装置
TW200536463A (en) A dissipating device and manufacturing method thereof
JP2000260916A (ja) ヒートシンク