JPH04152250A - 表面状態検査装置 - Google Patents
表面状態検査装置Info
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- JPH04152250A JPH04152250A JP2278286A JP27828690A JPH04152250A JP H04152250 A JPH04152250 A JP H04152250A JP 2278286 A JP2278286 A JP 2278286A JP 27828690 A JP27828690 A JP 27828690A JP H04152250 A JPH04152250 A JP H04152250A
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 14
- 238000012795 verification Methods 0.000 claims description 14
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Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Input (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、表面に存在するキズ、ごみ、ざらつき、色む
ら(色調の濃淡)等、表面状態を検出する表面状態検査
装置に関する。
ら(色調の濃淡)等、表面状態を検出する表面状態検査
装置に関する。
[従来の技術]
従来、表面キズ検査装置として、画像データを2値画像
メモリ及びグレイメモリに書き込み、2値画像から検査
領域となるマスクパターンを作成し、そのパターンに対
応するグレイメモリ内の平均値、標準偏差を演算して検
出するものがある(特開昭60−124783 ’)
。
メモリ及びグレイメモリに書き込み、2値画像から検査
領域となるマスクパターンを作成し、そのパターンに対
応するグレイメモリ内の平均値、標準偏差を演算して検
出するものがある(特開昭60−124783 ’)
。
[発明が解決しようとする課題]
然しながら、上記従来の表面キズ検査装置には、下証■
〜■の問題点がある。
〜■の問題点がある。
■検査対象物表面の微妙な異常を検出したい場台には性
能的に不十分である。
能的に不十分である。
■検査時の判定基準となる正確なしきい値の設定が難し
い。
い。
■うまく2値化ができない、ざらつきといった欠陥を検
出できない。
出できない。
本発明は、ざらつき等も含めた表面状態を、高精度で確
実に検査することを目的とする。
実に検査することを目的とする。
[課題を解決するための手段]
本発明は、被検査体の表面を撮像する撮像装置と、撮像
装置の撮像結果に基づいて被検査体の表面状態を検定す
る検定装置と、検定装置の検定結果を出力する出力装置
とを有して構成される表面状態検査装置であって、検定
装置は、撮像装置が撮像した画像データに対する濃度ヒ
ストグラムn(k)を求め、該濃度ヒストグラムn (
k)に基づく平均値μ、標準偏差σを求め、多数の良品
サンプルのそれぞれから求めておいた各濃度ヒストグラ
ムの平均値と標準偏差それぞれの平均値μU、σUをも
つ正規分布に従う理論度数g (k)と、今回の濃度ヒ
ストグラムn (k)との差に相当する適合係数Fを求
め、適合係数Fと標準偏差σ、もしくは適合係数Fと平
均値μ、もしくは適合係数Fと標準偏差σと平均値μを
特徴軸とする平面もしくは空間にて、それら特徴量を今
回検定対象としての表面状態に対応して予め設定してお
いた表面状態良否の境界線もしくは境界面と比較するこ
とにより、被検査体の表面状態を検定するようにしたも
のである。
装置の撮像結果に基づいて被検査体の表面状態を検定す
る検定装置と、検定装置の検定結果を出力する出力装置
とを有して構成される表面状態検査装置であって、検定
装置は、撮像装置が撮像した画像データに対する濃度ヒ
ストグラムn(k)を求め、該濃度ヒストグラムn (
k)に基づく平均値μ、標準偏差σを求め、多数の良品
サンプルのそれぞれから求めておいた各濃度ヒストグラ
ムの平均値と標準偏差それぞれの平均値μU、σUをも
つ正規分布に従う理論度数g (k)と、今回の濃度ヒ
ストグラムn (k)との差に相当する適合係数Fを求
め、適合係数Fと標準偏差σ、もしくは適合係数Fと平
均値μ、もしくは適合係数Fと標準偏差σと平均値μを
特徴軸とする平面もしくは空間にて、それら特徴量を今
回検定対象としての表面状態に対応して予め設定してお
いた表面状態良否の境界線もしくは境界面と比較するこ
とにより、被検査体の表面状態を検定するようにしたも
のである。
[作用]
本発明によれば、下記■〜■の作用がある。
■テレビカメラ等の汎用性のある撮像装置を用いて表面
状態を検出でき、装置構成をコンパクトにてきる。
状態を検出でき、装置構成をコンパクトにてきる。
■表面の濃度分布状態により表面状態を検出するもので
あるため、ざらつき等も含めた表面状態を人間に近い感
覚で検出できる。
あるため、ざらつき等も含めた表面状態を人間に近い感
覚で検出できる。
■多数の良品サンプルのそれぞれから求めておいた各濃
度ヒストグラムの平均値と標準偏差それぞれの平均値μ
u、σuをもつ正規分布に従う理論度数g (k)と今
回の濃度ヒストグラムn (k)との差に相当する適合
係数Fを求め、適合係数Fと標準偏差σ、もしくは適合
係数Fと平均値μ、もしくは適合係数Fと標準偏差σと
平均値μを特徴軸とする平面もしくは空間にて、それら
特徴量を今回検定対象としての表面状態に対応して予め
設定しておいた表面状態良否の境界線もしくは境界面と
比較することにより、被検査体の表面状態を検定するも
のであるから、被検査体の良否を確実に分離し、検定精
度を向上できる。
度ヒストグラムの平均値と標準偏差それぞれの平均値μ
u、σuをもつ正規分布に従う理論度数g (k)と今
回の濃度ヒストグラムn (k)との差に相当する適合
係数Fを求め、適合係数Fと標準偏差σ、もしくは適合
係数Fと平均値μ、もしくは適合係数Fと標準偏差σと
平均値μを特徴軸とする平面もしくは空間にて、それら
特徴量を今回検定対象としての表面状態に対応して予め
設定しておいた表面状態良否の境界線もしくは境界面と
比較することにより、被検査体の表面状態を検定するも
のであるから、被検査体の良否を確実に分離し、検定精
度を向上できる。
[実施例〕
第1図は本発明の検査装置の一例を示すブロック図、第
2図は画像データを示す模式図、第3図は本発明による
検査手順を示す流れ図、第4図は標準偏差による検定結
果を示す模式図、第5図は適合係数と標準偏差を用いた
検定結果を示す模式表面状態検査装置1は、テレビカメ
ラ10(撮像装N)と、検定装置20と、出力装置30
とを有し、被検査体である例えば熱可塑性発泡体シート
の表面の異常の有無を検査する。
2図は画像データを示す模式図、第3図は本発明による
検査手順を示す流れ図、第4図は標準偏差による検定結
果を示す模式図、第5図は適合係数と標準偏差を用いた
検定結果を示す模式表面状態検査装置1は、テレビカメ
ラ10(撮像装N)と、検定装置20と、出力装置30
とを有し、被検査体である例えば熱可塑性発泡体シート
の表面の異常の有無を検査する。
表面状態検査装置1の基本的動作は下記(1)〜(4)
である。
である。
(1)テレどカメラ10により、発泡体シートの表面を
撮像する。
撮像する。
テレビカメラ10は、画素単位てサンプリングした多値
画像を検定装置20に転送する。
画像を検定装置20に転送する。
(2)検定装置2oは、テレビカメラ10の撮像データ
をA/D変換器21て例えば8ビツト(256階調)に
て量子化し、MXN画素のデジタル画像を作り、これを
画像メモリ22に入力する。
をA/D変換器21て例えば8ビツト(256階調)に
て量子化し、MXN画素のデジタル画像を作り、これを
画像メモリ22に入力する。
(3)検定装置20は、画像メモリ、22に入力された
画像に基づいて、CPU23により表面の異常の有無を
検定する。
画像に基づいて、CPU23により表面の異常の有無を
検定する。
(4)出力装置30は、検定装置20の検定結果を表示
し、必要により警報を発生せしめる。
し、必要により警報を発生せしめる。
尚、撮像装置(10)としては、テレビカメラの代わり
に、M個の空間分解能を持つラインセンサを用いても良
く、この場合には、ラインセンサと被検査体とを相対移
動させ、得られるN個群のデータを画像メモリに蓄える
。
に、M個の空間分解能を持つラインセンサを用いても良
く、この場合には、ラインセンサと被検査体とを相対移
動させ、得られるN個群のデータを画像メモリに蓄える
。
検定装置l120は、必ずしも画像メモリ22を用いず
、A/D変換器21の出力データを直接的にCPU23
に入力しても良い。
、A/D変換器21の出力データを直接的にCPU23
に入力しても良い。
然るに、上記検定装置20による検定動作は下記■〜■
の如くなされる(第3図参照)。
の如くなされる(第3図参照)。
■MXN画素の画像データに対して、濃度ヒストグラム
n (k)を求める(k:濃度値、n:度数)。
n (k)を求める(k:濃度値、n:度数)。
この濃度ヒストグラムn (k)の作成に際しては、被
検査体において予め予想される異常部分の大きさ、或い
はテレビカメラ10によるサンプリング密度によっては
、検定装置20に入力されたMXN画素全てを使わなく
とも、その中のmXn(15M、n≦N)画素(第2図
(A)参照)や、また例えばNが偶数の画素(第2図(
B)参照)のようにMXN画素の一部を用いても良い。
検査体において予め予想される異常部分の大きさ、或い
はテレビカメラ10によるサンプリング密度によっては
、検定装置20に入力されたMXN画素全てを使わなく
とも、その中のmXn(15M、n≦N)画素(第2図
(A)参照)や、また例えばNが偶数の画素(第2図(
B)参照)のようにMXN画素の一部を用いても良い。
■ヒストグラムを滑らかにするため各濃度値を隣同士で
平均化する0例えば、濃度値にの度数n ’ (k)を n ’ (k) = [n (k−2) + 2 n
(k−1)+ 3 n (k) + 2 n (
k+1)+ n (k+2) ] / 9
・・・(1)で置き換える。
平均化する0例えば、濃度値にの度数n ’ (k)を n ’ (k) = [n (k−2) + 2 n
(k−1)+ 3 n (k) + 2 n (
k+1)+ n (k+2) ] / 9
・・・(1)で置き換える。
■上記平均化した濃度ヒストグラムn′(に)に基づき
、その平均値μ、標準偏差σを求める。
、その平均値μ、標準偏差σを求める。
Σに−n’(k)
μ :
Σn ’ (k) ・・・(2)
■多数の良品サンプルから求めておいた理論度数g (
k)と今回の濃度ヒストグラムn ’ (k)との差に
相当する適合係数Fを下記(4)式または(5)式によ
り求める。但し、この適合係数Fは、g (k)≠0の
濃度値について求め、また(4)式と(5)式において
βビット量子化ならばL=212−1である。
■多数の良品サンプルから求めておいた理論度数g (
k)と今回の濃度ヒストグラムn ’ (k)との差に
相当する適合係数Fを下記(4)式または(5)式によ
り求める。但し、この適合係数Fは、g (k)≠0の
濃度値について求め、また(4)式と(5)式において
βビット量子化ならばL=212−1である。
g (k) ・・・(5)こ
こで、上述の理論度数g (k)は、(a)多数の良品
サンプルのそれぞれについて、前記■、■と同一のステ
ップを経ることにて、各濃度ヒストグラムの平均値と標
準偏差を求め、(b)それら平均値と標準偏差それぞれ
の平均値μu、σuをもつ正規分布に従って求めたもの
である。
こで、上述の理論度数g (k)は、(a)多数の良品
サンプルのそれぞれについて、前記■、■と同一のステ
ップを経ることにて、各濃度ヒストグラムの平均値と標
準偏差を求め、(b)それら平均値と標準偏差それぞれ
の平均値μu、σuをもつ正規分布に従って求めたもの
である。
■適合係数Fと標準偏差σ、もしくは適合係数Fと平均
値μ、もしくは適合係数Fと標準偏差σと平均値μを特
徴軸とする平面もしくは空間にて、それら特徴量を今回
検定対象としての表面状態に対応して予め設定しておい
た表面状態良否の境界線もしくは境界面と比較すること
により、被検査体の表面状態を検定し、結果を出力する
。
値μ、もしくは適合係数Fと標準偏差σと平均値μを特
徴軸とする平面もしくは空間にて、それら特徴量を今回
検定対象としての表面状態に対応して予め設定しておい
た表面状態良否の境界線もしくは境界面と比較すること
により、被検査体の表面状態を検定し、結果を出力する
。
第4図は濃度ヒストグラムに基づく標準偏差σを、今回
検定対象としての表面状態に対応して予め設定しておい
たしきい値と比較することにより、被検査体の表面状態
を検定した結果であるが、しきい値の設定が困難である
(○は良品、・は不良品を示す)。
検定対象としての表面状態に対応して予め設定しておい
たしきい値と比較することにより、被検査体の表面状態
を検定した結果であるが、しきい値の設定が困難である
(○は良品、・は不良品を示す)。
これに対し、第5図は本発明の結果であり、第4図にお
けると同一サンプル品について、本発明における適合係
数Fと標準偏差σを特徴量とする平面にて、図示の如く
の表面状態良否の境界線を設定したことにより、良品と
不良品を確実に分離できる。
けると同一サンプル品について、本発明における適合係
数Fと標準偏差σを特徴量とする平面にて、図示の如く
の表面状態良否の境界線を設定したことにより、良品と
不良品を確実に分離できる。
また、第5図の適合係数Fと標準偏差σに、平均値μを
組み合わせれば、表面の色の濃淡も検出できるので、濃
度指定範囲外で不良となるものにも適応できる。
組み合わせれば、表面の色の濃淡も検出できるので、濃
度指定範囲外で不良となるものにも適応できる。
次に、上記実施例の作用について説明する。
■テレビカメラ10等の汎用性のある撮像装置を用いて
表面状態を検出でき、装置構成をコンパクトにできる。
表面状態を検出でき、装置構成をコンパクトにできる。
また、処理内容が単純であって、表面状態を短時間で検
定でき被検査体の搬送ライン上でも検査を完了できる。
定でき被検査体の搬送ライン上でも検査を完了できる。
■表面の濃度分布状態により表面状態を検出するもので
あるため、色むら等も含めた表面状態を、人間に近い感
覚で検出できる。
あるため、色むら等も含めた表面状態を、人間に近い感
覚で検出できる。
■多数の良品サンプルのそれぞれから求めておいた各濃
度ヒストグラムの平均値と標準偏差それぞれの平均値μ
u、σuをもつ正規分布に従う理論度数g (k)と今
回の濃度ヒストグラムn (k)との差に相当する適合
係数Fを求め、適合係数Fと標準偏差σ、もしくは適合
係数Fと平均値μ、もしくは適合係数Fと標準偏差σと
平均値μを特徴軸とする平面もしくは空間にて、それら
特徴量を今回検定対象としての表面状態に対応して予め
設定しておいた表面状態良否の境界線もしくは境界面と
比較することにより、被検査体の表面状態を検定するも
のであるから、被検査体の良否を確実に分離し、検定精
度を向上できる。
度ヒストグラムの平均値と標準偏差それぞれの平均値μ
u、σuをもつ正規分布に従う理論度数g (k)と今
回の濃度ヒストグラムn (k)との差に相当する適合
係数Fを求め、適合係数Fと標準偏差σ、もしくは適合
係数Fと平均値μ、もしくは適合係数Fと標準偏差σと
平均値μを特徴軸とする平面もしくは空間にて、それら
特徴量を今回検定対象としての表面状態に対応して予め
設定しておいた表面状態良否の境界線もしくは境界面と
比較することにより、被検査体の表面状態を検定するも
のであるから、被検査体の良否を確実に分離し、検定精
度を向上できる。
[発明の効果]
以上のように本発明によれば、ざらつき等も含めた表面
状態を、高精度て確実に検査てきる。
状態を、高精度て確実に検査てきる。
第1図は本発明の検査装置の一例を示すブロック図、第
2図は画像データを示す模式図、第3図は本発明による
検査手順を示す流れ図、第4図は標準偏差による検定結
果を示す模式図、第5図は適合係数と標準偏差を用いた
検定結果を示す模式%式% 特許出願人 積水化学工業株式会社 桟表者 廣 1) 馨 第1図 第2図 (A) (B) 第3図
2図は画像データを示す模式図、第3図は本発明による
検査手順を示す流れ図、第4図は標準偏差による検定結
果を示す模式図、第5図は適合係数と標準偏差を用いた
検定結果を示す模式%式% 特許出願人 積水化学工業株式会社 桟表者 廣 1) 馨 第1図 第2図 (A) (B) 第3図
Claims (1)
- (1)被検査体の表面を撮像する撮像装置と、撮像装置
の撮像結果に基づいて被検査体の表面状態を検定する検
定装置と、検定装置の検定結果を出力する出力装置とを
有して構成される表面状態検査装置であって、検定装置
は、撮像装置が撮像した画像データに対する濃度ヒスト
グラムn(k)を求め、該濃度ヒストグラムn(k)に
基づく平均値μ、標準偏差σを求め、多数の良品サンプ
ルのそれぞれから求めておいた各濃度ヒストグラムの平
均値と標準偏差それぞれの平均値μu、σuをもつ正規
分布に従う理論度数g(k)と、今回の濃度ヒストグラ
ムn(k)との差に相当する適合係数Fを求め、適合係
数Fと標準偏差σ、もしくは適合係数Fと平均値μ、も
しくは適合係数Fと標準偏差σと平均値μを特徴軸とす
る平面もしくは空間にて、それら特徴量を今回検定対象
としての表面状態に対応して予め設定しておいた表面状
態良否の境界線もしくは境界面と比較することにより、
被検査体の表面状態を検定するものである表面状態検査
装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2278286A JPH04152250A (ja) | 1990-10-16 | 1990-10-16 | 表面状態検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2278286A JPH04152250A (ja) | 1990-10-16 | 1990-10-16 | 表面状態検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04152250A true JPH04152250A (ja) | 1992-05-26 |
Family
ID=17595233
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2278286A Pending JPH04152250A (ja) | 1990-10-16 | 1990-10-16 | 表面状態検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04152250A (ja) |
-
1990
- 1990-10-16 JP JP2278286A patent/JPH04152250A/ja active Pending
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