JPH04148853A - 検反装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、経糸と交差して織られて織物を構成する緯糸
の織疵（織物の欠点）の有無を検査する検反装置に関す
るものである。

〔従来技術〕

一般に、織機を用い°ζ経糸と緯糸を組の合わせて織物
を作る場合、以下の丁ｌ１ｌＩ′ｔにて作業が実施され
る。

即ら、綜絖によって経糸が上下二段に分けられ−ζ杼道
が作られ、この杼道に緯糸を保持した杼か投げ込まれて
この緯糸が通される。この経糸に通された緯糸が筬にて
織１−コに月ら（＝ｊけられて織物か１′［られる。そ
して、織物が１′［置ろれるに従い、必要な長さ分だけ
の経糸か送り出されると共乙こ７反対側では織られた織
物が連続的に巻き取られる。

上記のような手順にて織られた織物では、織疵の有無を
検査する場合、例えば′ｒｖカメラ等を有し２てなる画
像処理装置か用いられ−（いる。

即ら、織物が作られた後９巻き取られるまでの工程にお
いて、ＴＶカメラが設置され、このＴＶカメラにより捕
えられた映像を画像処理するごとにより織疵の有無か判
定される。

また、設備コストがかからないことから、一部では２作
業者の目視によるチエツクに゛ζ織ｈｉＥの有無の検査
が行なわれている。

尚、上記織疵としては１例えば緯糸に関し２代表的なも
のとして以１・゛の２つの場合がある。

０節（製糸段階で部分的に糸が脹らんだ状態）■ゆるめ
（織物を織る段階で部分的にゆるんだ状態〕 ［発明が解決しようとする課題］ ところが、上記のようＱこ画像処理を行・うことにより
繊１ｉｉＥの有無を検査する場合には、設備コスト的に
高価になるという問題かある。

また２作業者の目視によるチエツクにて織１ｉｉＥの有
無を検査する場合には、この作業者にかなりの労働１′
！担をしいることになると共に、織疵の見落としを招く
という問題を生じる。

そごで５本発明の目的とするところは、何ら作業者の手
を頬わせることなく、比較的簡単且つ安価な構成にて織
物を構成する糸ニア糸の織／ｉｉＥの有無を検査するこ
とのできる検反装置を提供することてある。

〔課題を解決するための手段〕

」１記目的を達成するために１本発明が採用する主たる
手段は２その要旨とするところが、経糸と交差して織ら
れて織物を構成する緯糸のｍ疵の有無を検査する検反装
置において、上記織物の平面に対して光を投射する灯光
手段と、上記織物の平面と略平行に配備され、上記緯糸
の幅に対して所定の幅寸法を有し、該緯糸の方向に指向
されたスリット手段と、上記織物からの光を上記スリン
Ｉ・手段を介して検出する検出手段と、上記スリン［・
手段及び上記検出手段を１１記経糸の方向へ上記緯糸に
対して相対的にスキャンさせる移動手段と。

上記移動手段により上記曽糸乙こ対して相対的にスキャ
ンされる一Ｊ−，記検出手段からの信号に基づいて上記
緯糸に関する織疵のイ１無を判定する判定下段とを具備
してなる点に係る検反装置である。

〔作用〕

本発明に係る検反装置においては、検出手段により検出
される織物からの光乙こ応じて該検出手段から信号が出
力される。ごの場合の信号は、スリット丁段を介して検
出される光に対応しているため緯糸の状態に応して種々
変化する（第３図参照）そして、この信号の状態に基づ
いて、８糸の織疵の有無が判定される。

（実施例〕 以下、添イ・１図面を参照して６本発明を具体化した実
施例に付き説明し１本発明の理解に供する。

尚、以下の実施例は７本発明を具体化した一例であって
１本発明の技術的範囲を限定する性格のものではない。

ここに、第１図（ａ）は本発明の一実施例に係る検反装
置の概略構成図、同図（ｂ）は上記検反装置を構成する
スリット手段の平面図、第２図は織物を構成する緯糸の
種々のパターン図、第３図は第２図における各種の緯糸
を上記検反装置を構成する検出手段により検出した際の
出力信号の波形図、第４図は上記検反装置におい゛ζ緯
糸の各種織疵と出力信号の波形（固有特性）との関係を
示す図表である。

この実施例に係る検反装置１（第１図（ａ）、α））参
照）は１例えば織物２が作られた後２巻き取られるまで
の間の工程に配備されている。

即ち、」１記織物２のｆ面側には、該織物２の平面に対
して光を投射する光源３が配備されておりＬ記織物２を
挟んで上記光源３と対向する側には。

スリット板４及び受光センサ５が配備されている。

上記スリット板４ば、上記織物２の平面とほぼ平行に配
備され、上記織物２を構成する緯糸６の幅すに対して所
定の幅寸法Ｂを有し、該緯糸６の方向に指向されたスリ
ット・１，３が穿設されている。

十記スリノ）４ａの幅寸法Ｂとしては２例えば、上記緯
糸６の幅」法ｌ）以）−であって、該緯糸６の幅−・１
法すと、隣接する他の緯糸６との間に形成される空間の
幅寸法とを加えた値よりも以下の値に設定すると最も効
果的である。具体的−例としては、上記スリソ）・４ａ
の幅寸法Ｉ３を１．　ＯＯμ、長さＩ−を３ｍｍに設定
する場合があげられる。

尚ごの場合、織疵の大きさやスリブｌ−４，に対する織
物２の相対的移動速度が大きい程、該スリット４．の幅
寸法を適宜法げるとより効果的である。

上記受光センサ５は、十二記光ｔＸ３から投射されて上
記織物２を透過した光を上記スリット４ａを介して検出
するだめのものであって　メモリ７ＣＰ　Ｌ、Ｊ　８．
　、　　インターフェイス９等をイｊしてなる制御装置
１０に接続されている。上記制御装置１０には、織カシ
の存在を報知するアラーム１５　その箇所を指示するマ
トリックス状の表示ユニソｌ−１６が接続されている。

１−１記受光センザ５及びスリット板４は９例えば拡大
用の対物レンズ１１等と共に筐体１２にて支持され１例
えばボールネジ、ポールナツト　ステッピングモータ等
を有してなる第１の移動機構１３８に連結されている。

上記第１の移動機構１３３１は、上記受光センサ５及び
スリット十反４等を経糸１４の方向へ製織速度よりも速
い速度で且つ比較的短いピッチで往復スキャンさせるも
のであって、上記制御装置１０からの駆動信号により制
御される。

更に上記受光センサ５及びスリット板４等は。

上記第１の移動機構１３．と略同様に構成された第２の
移動機構１３ｂによって緯糸６の方向へも織物２の幅に
応じて往復スキャンされる。

上記のように第１の移動機構１３ａによりスキャンされ
る一Ｆ記受光センサ５からは１例えば第３図に示すよう
な波形の信号が出力され、この信号に基づいて、−１：
記緯糸６に関する織疵の有無ばかりか、その信号の状態
に基づいて上記織疵の種類をも分別することができる。

即ら、スリット４ａを介して光を検出することにより、
正常状態にある緯糸６に対しては同図（イ）にしＪ＜ず
ような波形の信号が出力され、緯糸６に節か生じている
場合には同図（ロ）に示すように波形の信号が出力され
、緯糸６にゆるみが生じた場合には同図（ハ）に示すよ
うな波形の信号が出力される。これらの状態に対応する
パターンデータは予め上記メモリ７内上記惰されている
。そして、上記のような波形の信号か出力されろ場合の
各緯糸６の状態は、それぞれ第２図（イ）及至（ハ）に
対応させて示す。従って１本装置によれば、織物２にお
ける緯糸６の織疵の７１無と共にその位置をも検出する
ことができる（経糸１４の方向に関し２ては織物２の走
行データ及び第１の移動機構１３．の移動距離データ乙
こ基づいて検出され緯糸６の方向に関しては第２０）移
動機構＋３ｂの移動距離データにＷついて検出さ４つる
）。

本装置によれば、上記のような織ｈ１〔の種類（節ゆる
み）の分別は、第４図に示すように、光の通過、遮光時
間に対応する幅（１，↑、。：正常時の波長周ｊ！Ｊｌ
）により行う場合及び／若しくは上記出力信号を周波数
（ｆ、ｆｏ：正常時の周波数）処理して所定の周波数の
のを通過許容あるいは通過拒否するフィルタを介するこ
とにより行・う場合とがある。

本実施例に係る検反装置１は上記したよう乙こ構成され
ている。

引き続き、−上記検反装置１により緯糸６の織疵の有無
を検査する場合の手順について説明する。

先ず、織物２の製織動作中において、Ｌ記筐体１２が上
記第１の移動機構１３．により経糸１４の方向へ往復ス
キャンされると共に上記第２の移動機構１３．、により
緯糸６の方向へもスー１−ヤンされる。

そして、光源３から投射されて織物２を透過した光がス
リント板４のスリンｌ　４　ａを通して受光センサ５に
より検出される。

上記受光センサ５により検出された透過光は第３図に示
すような波形のイ計υとなってＭり）のデジタル処理回
路にてデジタル処理された後、制御装置１０に出力され
る。

−１−１記制御装置１０に出力された信号の状態に基づ
いて、゛１１該制御１ｆｌｌ装置１０により１上記織物
２の緯糸６に関する織疵の有無更にはその織疵の種類の
分別がその位置検出と共に行われる。

即ち、第３図（イ）に示すような信号の場合には織７＋
ｆＥば存在しないと判断され、同図（ロ）に示すような
信号の場合にはその位置における緯糸６に節があると判
断される。また、同図（ハ）に示すような信号の場合に
υＪその位置における緯糸６にゆるみがあると判断され
る。そして、これらの状態が検出されると、その位置が
表示ユニット１６にて指示されると共に、織物２の所定
長さに対する織疵の発生頻度の設定によって小食と判断
された場合にはアラームＩ５により報知される。

上記のように本実施例装置によれば、何ら作業者の手を
煩わせることなく、また画像処理装置を用いることなく
極めて節ｔＩ′Ｌ（例えばデータ処理量の大幅な低減等
）１１一つ安価な構成にて織物２を構成する緯糸６の織
疵の有無更にはその種類を判定することができる。

尚、」二記実施例においては、製織中における織物２に
対して織疵の有無を検査する場合を例に説明したが、製
織後にお＆Ｊる静止状態にある織物２に対し、当該検査
装置１を経糸１４の方向ヘスキャンさせると共に、経糸
６の方向へも上記スリット４ａの長さ寸法丁、を１ピツ
チとして順次スキャンさせて織疵の有無を検査するよう
にしてもよい。

更に上記実施例においては、スリッｌ−４ｄを１個のみ
設けた場合を例に説明したが、このようなスリット４．
を緯糸６の方向へ２個以上設けて構成してもよく、この
場合該スリット４，１を織物２の全幅にわたって複数個
配設することにより、上記第２の移動機構１３１．を省
略することができる。

また、上記実施例においては織物２に対する透過光を利
用して検出する場合を例に説明したが光ｔＸ３を織物２
の−１−面側へ配備して反射光を利用したり、あるいは
この反射光と透過光よを併用するよう乙こしても良い。

このように反射光と透過光とを併用することにより、よ
り顕著な出力波形の信号を得ることができ、検出精度が
向」７する。

（発明の効果〕 本発明は、−上記したように、経糸と交差して織られて
織物を構成する緯糸の織疵の有無を検査する検反装置に
おいて、」１記織物の平面に対して光を投射する灯光手
段と、上記織物の平面と略モ行に配備され、−上記緯糸
の幅に対して所定の幅寸法を有し、該緯糸の方向に指向
されたスリット手段と、上記織物からの光を上記スリッ
ト手段を介して検出する検出手段と、−上記スリンｌ−
手段及び−ト。

記検出手段を上記経糸の方向へ上記緯糸に対して相対的
にスキャンさ・ける移動手段と、上記移動手段により上
記緯糸に対して相対的にスキャンされる」二記検出手段
からの信月に基づいて上記緯糸に関する職疵の有無を判
定する判定手段とを具備してなることを特徴とする検反
装置であるから、何ら作業者の手を煩わせることなく、
比較的簡単且つ安価な構成にて織物を構成する緯糸の織
疵の有無を正確に検査することができる。

４、図面の簡−￥ｎオくβ２明 第１図（ａ）は本発明の一実施例に係る検反装置の概略
構成図２同図（ｂ）は上記検反装置を構成するスリット
手段の平面図、第２図は織物を構成する緯糸の種々のパ
ターン図、第３図は第２図における各種の緯糸を上記検
反装置を構成する検出手段により検出した際の出力信号
の波形図、第４図は」二記検反装置において緯糸の各種
織疵と出力信号の波形（固有特性）との関係を示す図表
である。

（符号の説明〕 １・・・検反装置 ３・・・光源 ４ａ・・・スリット ６・・・緯糸 １３、・・・第１の移動機構 １３１、・・・第２の移動機構 １４・・・経糸 ２・・・織物 ４・・・スリット板 ５・・・受光センサ １０・・・制御装置

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、経糸と交差して織られて織物を構成する緯糸の織疵
   の有無を検査する検反装置において、上記織物の平面に
   対して光を投射する灯光手段と、 上記織物の平面と略平行に配備され、上記緯糸の幅に対
   して所定の幅寸法を有し、該緯糸の方向に指向されたス
   リット手段と、 上記織物からの光を上記スリット手段を介して検出する
   検出手段と、 上記スリット手段及び上記検出手段を上記経糸の方向へ
   上記緯糸に対して相対的にスキャンさせる移動手段と、 上記移動手段により上記緯糸に対して相対的にスキャン
   される上記検出手段からの信号に基づいて上記緯糸に関
   する織疵の有無を判定する判定手段とを具備してなるこ
   とを特徴とする検反装置。 ２、上記スリット手段が、上記緯糸の方向へ複数配設さ
   れてなる請求項１に記載の検反装置。 ３、上記移動手段が、上記スリット手段及び上記検出手
   段を上記緯糸の方向へもスキャンさせる請求項１若しく
   は２に記載の検反装置。 ４、上記判定手段が、上記検出手段からの信号の状態に
   基づいて上記緯糸に関する織疵の種類を分別する分別手
   段を具備してなる請求項１、２若しくは３に記載の検反
   装置。