JPH04147081A - アクティブソーナー装置 - Google Patents

アクティブソーナー装置

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JPH04147081A
JPH04147081A JP27105790A JP27105790A JPH04147081A JP H04147081 A JPH04147081 A JP H04147081A JP 27105790 A JP27105790 A JP 27105790A JP 27105790 A JP27105790 A JP 27105790A JP H04147081 A JPH04147081 A JP H04147081A
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JP
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JP27105790A
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Hiroyuki Morioka
宏之 森岡
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NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はアクティブソーナー装置に関する。
〔従来の技術〕
従来のアクティブソーナー装置は、受信信号を検波し、
しきい値と比較して目標を検出していた。
第3図は従来のアクティブンーナー装置の構成図、第4
図は第3図のアクティブソーナー装置の動作を説明する
ための波形図である。
送信回路3は、送信信号を発生し、切替器110を通し
て送受波器1から送信音波120として水中に放射する
水中のソーナー目標2で反射されるエコー130は、送
受波器1で音響信号から受信信号101に変換され、受
信回路4で増幅、その他の受信処理を受け、振幅検出回
路8で検波される。検波信号801は目標判定回路って
しきい値と比較され、しきい値を超えた場合のみ、目標
検出信号901として出力される。
次に、第4図を参照して動作をさらに詳細に説明する。
第4図(a)は受信回路出力401を示し、ノイズNお
よびエコーSl、S2を含んでいる。第4図(b)は受
信回路出力401を検波した検波信号801を示す。目
標判定回路9は検波信号801をしきい値802と比較
し、検波信号801がしきい値802を超える場合のみ
第4図(c)の目標検出信号901を出力する。レベル
の高いエコー81は正常に目標検出信号として出力され
ているのに対して、エコーS2はレベルが低いため目標
検出の対象とならず、かつしきい値を超えたノイズNも
目標として検出されていることを示している。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来のアクティブソーナー装置は、受信信号を
検波し、しきい値と比較してこれを超えるものを目標と
して検出する動作となっているので、第4図に示すよう
に、周囲に存在するノイズレベルの影響、エコーレベル
の影響を受けやすく、ノイズによる誤因目標検出や、エ
コーレベルが小さいときには目標検出できないという欠
点がある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明のアクティブソーナー装置は、受信信号を周波数
分析し周波数スペクトルを求める周波数分析回路と、前
記周波数分析回路で求めた周波数スペクトルの所定の評
価フレーム区間ごとの最大レベルを示す最大レベル周波
数を判定する周波数判定回路と、所定の評価期間ごとに
前記最大レベル周波数の分散を求める分散算出回路と、
前記分散が所定の一定時間を超えてしきい値よりも低い
か否かにもとづいて受信信号に含まれる目標信号の存在
を判定する目標判定回路とを備えて構成される。
また本発明のアクティブソーナー装置は、前記分散算出
回路における所定の評価期間を、一探信期間とした構成
を有する。
さらに本発明のアクティブソーナー装置は、前記目標判
定回路における所定の一定時間ならびにしきい値はそれ
ぞれ、送信諸元および目標種別ならびに過去の探信資料
にもとづいてあらかじめ設定した構成を有する。
〔実施例〕
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例の構成図である。第1図の実
施例は、第3図の従来例と同じ送受波器1、送信回路3
、受信回路4および切替器110のほか、本発明の直接
かかわる周波数分折回FI@5と、周波数分析回路5の
出力に対して所定の評価区間ごとの最大のスペクトルレ
ベルを示す最大レベル周波数を判定する周波数判定回路
6と、一探信期間ごとに上述した最大レベル周波数の分
散を求める分散算出回路7と、求めた分散にもとづいて
目標を判定する目標判定回路10とを備えて成る。
次に、本実施例の動作について説明する。第2図は第1
図の実施例の動作を説明するための波形図である。以下
、第2図を併用しつつ動作の説明を続行する。
第1図において、送信回路3は送信信号を発生し、切替
器110を通して送受波器1から送信音波120として
水中に放射される。水中のソーナー目標2によるエコー
130は、送受波器1で音響信号から受信信号101に
変換される。受信信号101は受信回路4で増幅等の受
信処理を施され、受信回路出力401として出力さ、れ
る、受信回路出力401を第2図(a>に示す、第2図
(a>において、N1〜N4はノイズ、S3゜S4はそ
れぞれソーナー目標2から得られるエコーを示す。
受信回路出力401は、次に周波数分析回路5に入力さ
れ、−探信周期ごとのデータについて周波数分析が施さ
れ、第2図(a)に示す時間領域データが周波数領域の
周波数スペクトルに変換される。
周波数判定回路6は、周波数分析回路5から提供される
周波数スペクトルの所定の評価フレーム区間ごとの最大
レベルを示す最大レベル周波数を次次に判定し、これを
−探信周期ごとに繰り返す。上述した所定の評価フレー
ム区間は、アクティブソーナー装置の運用実績等にもと
づいてあらかじめ適宜設定される。第2図(b)は、第
2図(a>のノイズN1の1評価フレーム区間の最大レ
ベル周波数、第2図(C)は第2図(a)のエコーS3
の1評価フレーム区間の最大レベル周波数の例を示す。
このようにして、周波数判定回路6では、評価フレーム
を区間ごとの最大レベル周波数が次次に決定され、これ
が−探信周期ごとに繰り返される。この−探信周期ごと
の最大レベル周波数の一例を第2図<d)に示す。第2
図(d)を第2図(a)と対応するに、ノイズ区間では
最大レベル周波数の変動が激しいが、エコー区間ではほ
ぼ安定状態をとる。この継続時間とレベルは送信信号の
特性とソーナー目標の種類等によって決定される。
分散算出回路7は、周波数判定回路6の出力する最大レ
ベル周波数例の分散をとる。この周波数分散を第2図(
e)に示す。第2図(e)のPQはそれぞれエコーS3
.S4に対する分散で、その値はノイズN1〜N4に対
する分散よりも著し低くなる。ただし、ノイズ区間でも
Rに示すように偶発的に他のノイズ区間の分散よりも低
い値を示す場合も含まれる。
目標判定回路10は、第2図(e)に示す周波数分散結
果を受け、これをしきい値GLと比較し、一定時間しき
い値GL以下の低い分散を示すものをソーナー目標によ
るエコーと判定し、第2図(f>に示す目標検出信号S
Pを出力する。この場合、ノイズNl、N3.N4等は
分散が大きいので目標検出信号は出力されず、ノイズN
2による分散Rもしきい値GLよりも低くはなるが、時
間的に所定の一定時間継続しないので目標検出信号は出
力されない。
エコーと判定する評価尺度としてのしきい値GL、およ
び分散がしきい値GL以下となる一定時間は、送信諸元
、ソーナー目標の種類に過去の探信実績にもとづく資料
等を勘案してあらかじめ設定される。
こうして、受信信号のレベル依存性を大幅に軽減してソ
ーナー目標のエコー検出が可能となる。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、アクティブソーナー装置
による受信信号を周波数分析し、所定の評価フレームご
との最大レベルを示す周波数の分散にもとづいてソーナ
ー目標のエコーを判定することにより、受信信号のレベ
ルの大小に対する依存性を著しく抑圧したエコーの検出
が可能となるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の構成図、第2図は第1図の
実施例の動作を説明するための波形図、第3図は従来の
アクティブソーナー装置の構成図、第4図は第3図のア
クティブソーナー装置の動作を説明するための波形図で
ある。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、受信信号を周波数分析し周波数スペクトルを求める
    周波数分析回路と、前記周波数分析回路で求めた周波数
    スペクトルの所定の評価フレーム区間ごとの最大レベル
    を示す最大レベル周波数を判定する周波数判定回路と、
    所定の評価期間ごとに前記最大レベル周波数の分散を求
    める分散算出回路と、前記分散が所定の一定時間を超え
    てしきい値よりも低いか否かにもとづいて受信信号に含
    まれる目標信号の存在を判定する目標判定回路とを備え
    て成ることを特徴とするアクティブソーナー装置。 2、前記分散算出回路における所定の評価期間を、一探
    信期間としたことを特徴とする請求項1記載のアクティ
    ブソーナー装置。 3、前記目標判定回路における所定の一定時間ならびに
    しきい値はそれぞれ、送信諸元および目標種別ならびに
    過去の探信資料にもとづいてあらかじめ設定したもので
    あることを特徴とする請求項1記載のアクティブソーナ
    ー装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6247368B1 (en) 1999-01-04 2001-06-19 International Business Machines Corporation CMP wet application wafer sensor
JP2012098102A (ja) * 2010-11-01 2012-05-24 Hitachi Ltd 機雷掃海システム

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US6247368B1 (en) 1999-01-04 2001-06-19 International Business Machines Corporation CMP wet application wafer sensor
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