JPH04143713A - 探知装置 - Google Patents

探知装置

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JPH04143713A
JPH04143713A JP2267798A JP26779890A JPH04143713A JP H04143713 A JPH04143713 A JP H04143713A JP 2267798 A JP2267798 A JP 2267798A JP 26779890 A JP26779890 A JP 26779890A JP H04143713 A JPH04143713 A JP H04143713A
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JP
Japan
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optical system
image
image plane
detection device
angle
Prior art date
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Pending
Application number
JP2267798A
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English (en)
Inventor
Makoto Kamozawa
鴨沢 誠
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は9例えば目標物が発射・放射もしくは反射す
る光が光学系に入射し、光学系がその入射光を検知素子
・フィルムなどの像面に結像させることによって目標物
の位置を探知する探知装置に関するものである。
[従来の技術] 一般に、飛しょう体の誘導装置や火器管制装置等には、
電波やレーザを自ら発射し、その反射を利用して目標物
の角度情報と距離情報を得るレーダ方式の探知装置が用
いられている。しかしこの方式では、目標物の形状が確
認できない。したがって目標物が何であるかを判断する
ことが困難であり、目標物の形状も確認できる探知装置
が必要となった。
従来このような要求に応えるものとして、第4図に示す
ような光学系を使用して目標物を2次元の画像に写像し
、その画像から目標物の形状や角度情報を得る探知装置
が提案されている。図中(2)は光学系、(3)は像面
、(4)は探知装置。
(5)は目標物、(6)は像点である。
このとき光学系(2)には、光学系の焦点距離をf、入
射光と光軸の角度をθ、角度θの入射の像面(3)上で
の像点(6)と像面の中心(像面と光軸の交点)との距
離をLとしたとき L=f−tanθ ・−・(1) の関係が成立する。この光学系は一般の写真機やTVカ
メラに使用され発達したものである。この画像から目標
物の敬称を確認するとともに、像面上の座標を(x、y
)とすると次式より目標物の角度情報を得ることができ
る。
θt  =ta n  −’−・ ・ ・ (2)θ、
=tan−’−・ ・ ・ (3)ここで、像面上X軸
は地面に対して水平方向。
y軸は垂直方向に対応しθ8.θヶは光軸上の点をOと
したときの目標物のそれぞれ水平方向及び垂直方向の角
度を示す。
[発明が解決しようとする課題] 従来の探知装置に使用されている光学系は、上記のよう
に一般の写真機やTVカメラ等に使用されている (1
)式の関係を満たす光学系であり、理論上θ=π/2を
探知することは不可能で、広角を探知する場合、探知装
置自体を動かさなければならないという欠点があった。
また、従来の探知装置に使用されている光学系は、目標
物の放射輝度が一定の場合入射角が大きければ大きいほ
ど像面上の放射照度が小さくなりその関係次式で表され
る。
E=Eocos’θ ・・−(4) ここで E:像面上の放射照度 Eo:i1面中心(光軸上)の放射照度従ってθが大き
い場合画面中心と周辺では同一放射輝度の物体を結像さ
せた場合でも像面上の放射照度が大きく異なる。これを
補正するためになんらかの画像処理が必要となり時間の
ロスとなる。
この発明は、上記のような課題を解決するためになされ
たもので、探知装置において広角を、光学系を動かすこ
となしに容易に探知する事を可能とするとともに、像面
上どこでも物体放射輝度と像面上の放射照度が同一で1
画像処理の時間を短くすることが出来る。
[課題を解決するための手段] この発明に係る探知装置は第4図において下式%式%(
5) の関係が成立する光学系を有するものである。
(5)式の関係が成立するような光学系は2通常のレン
ズ設計ではできるだけ除去するよう努力する歪曲収差を
、逆に(5)を満足するように発生させることで得るこ
とが出来る。
し作用] この発明において探知装置自体を固定したままで広角を
探知するとともに、像面上の放射照度が入射角に依存す
ることなしに、同一、同距離の物体であれば像面上どこ
でも放射照度が一定であるという作用がある。
「実施例] 第1図はこの発明による探知装置を飛しよう体誘導装置
に利用した一実施例である。飛しよう体誘導装置(1)
内には光学系(2)及び像面(3)で構成される探知装
置(4)が含まれる。目標物(5)から発射・放射もし
くは反射された光は光学系(2)に、光軸(飛しよう体
の機軸方向と一致する)に対してθ(RAD)の角度で
入射し、像面(3)1像の中心(像面と光軸の交点)か
らLだけ離れた像点(6)に結像する。このとき目標物
の角度情報は下式によって求めることが出来る。
θ、=SIN−’−・ ・ ・ (6)θ、=SIN−
’−・ ・ ・ (7)二二で一般の(1)式を満足す
る光学系を使用する従来の探知装置とこの発明に係る探
知装置のθと放射照度Eの関係を表1に示す。
この表からも明らかなように従来の探知装置で広角を探
知する場合、同一、同距離の物体でも入射角がOoと4
0°では像面上の放射照度の比が0.34にもなり、中
央で写っていた物体が画面周辺で写らなくなったり異な
った物体に確認されるなどの不都合が生じる可能性があ
る。それに対し、この発明にかかる探知装置では(1)
式を満足する光学系を用いることにより像面上の放射照
度が入射角に依存することなしに、同一、同距離の物体
であれば像面上とこでも放射照度が一定であり、上に延
べた不都合は生じない。
(5)式を満足するような光学系の構成例を第2図に示
す。図中S1〜s20は面番号である。第2図の光学系
の構成を第3図(a)に、また入射角Oと像高y“の関
係を第3図(b)に示す。図中間番号は第2図の面番号
に対応し、各面の面間隔。
屈折率は第2図において面の右側の媒室の厚さ及び屈折
率を表す。
[発明の効果] 以上のようにこの発明に係る探知装置は(5)式を満足
する光学系を用いることにより、従来の探知装置に比べ
画像処理の時間を短縮すると同時に広角を光学系を固定
したままで探知することが可能となった。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明による探知装置を飛しよう体誘導装置
に利用した一実施例を示す図、第2図は(5)式を満足
する光学系の構成例を示す図、第3図は第2図の光学系
の構成及び入射角と像高の関係を示した図、第4図は従
来の探知装置を示す図である。 図において(1)は飛しよう体誘導装置、(2)は光学
系、(3)は像面、(4)は探知装置、(5)は目標物
、(6)は像点、またs1〜s20は面番号である。 なお9図中同−又は相当部分には同一符号を付して示し
である。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)光学系及び検知素子フィルム等の像面で構成され
    る探知装置において、光学系の焦点距離をf、入射光と
    光軸の角度をθ(rad)、角度θの入射光が像面上で
    結像する像点と像面の中心(像面と光軸の交点)の距離
    をLとしたときL=f・SINθ という関係が成立する光学系を使用することを特徴とす
    る探知装置。
  2. (2)目標物の角度情報θ_x、θ_yを θ_x=SIN^−^1(x/f) θ_y=SIN^−^1(y/f) よりうることを特徴とする特許請求範囲第(1)項記載
    の探知装置。 ただし、x、yは画面上の座標 θ_x、θ_yは光軸とそれぞれの軸との角度である。
JP2267798A 1990-10-05 1990-10-05 探知装置 Pending JPH04143713A (ja)

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