JPH04134792A - 半導体メモリ - Google Patents
半導体メモリInfo
- Publication number
- JPH04134792A JPH04134792A JP25640190A JP25640190A JPH04134792A JP H04134792 A JPH04134792 A JP H04134792A JP 25640190 A JP25640190 A JP 25640190A JP 25640190 A JP25640190 A JP 25640190A JP H04134792 A JPH04134792 A JP H04134792A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- current
- search
- semiconductor memory
- match
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 38
- 230000015654 memory Effects 0.000 claims abstract description 97
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 29
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 13
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 11
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 11
- 230000006870 function Effects 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 238000013519 translation Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Static Random-Access Memory (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、半導体メモリに関し、特に、連想メモリに関
するものである。
するものである。
連想メモリは、記憶内容によるデータアクセスを基本機
能とするメモリであり、CAM(Content Ad
dressabl、e Memor’y :内容アクセ
スメモリ)と呼ばれることが多い。
能とするメモリであり、CAM(Content Ad
dressabl、e Memor’y :内容アクセ
スメモリ)と呼ばれることが多い。
CAMは、記憶と内容アクセス機能を有しており、その
有用性は古くから知られている。
有用性は古くから知られている。
かかる連想メモリにおいては、メモリセルに特定のデー
タを与えて記憶内容との一致検索を行い、検索結果に基
づいて、さらに場所を指定してその記憶内容を読みだす
機能が必要となる。
タを与えて記憶内容との一致検索を行い、検索結果に基
づいて、さらに場所を指定してその記憶内容を読みだす
機能が必要となる。
このような、一致検索を行う第1の従来の技術としては
、特開昭63−119096号公報記載の技術が知られ
ている。
、特開昭63−119096号公報記載の技術が知られ
ている。
この技術は、記憶データの各同位ビットを記憶する複数
のメモリセル毎に、一致検出回路と電圧/電流変換回路
を備え、前記複数のメモリセルよりワード線で指定され
るワードに対応す、る一つのメモリセルを選択し、ビッ
ト値を読み出し、検索データの同位ビット値との一致を
検出し、検出結果を電流に変換し、これを全ビットにつ
いてORをとることにより、検索データと記憶データの
一致検索を実現するものである。
のメモリセル毎に、一致検出回路と電圧/電流変換回路
を備え、前記複数のメモリセルよりワード線で指定され
るワードに対応す、る一つのメモリセルを選択し、ビッ
ト値を読み出し、検索データの同位ビット値との一致を
検出し、検出結果を電流に変換し、これを全ビットにつ
いてORをとることにより、検索データと記憶データの
一致検索を実現するものである。
なお、このように、メモリセルよりデータを読みだして
一致検出を行うが、読みだされたデータは小電圧であり
、これより一定の電流を得るためには、電圧/電流変換
回路にバイポーラトランジスタ、または、サイズの大き
なMOSFETを用いる必要がある。
一致検出を行うが、読みだされたデータは小電圧であり
、これより一定の電流を得るためには、電圧/電流変換
回路にバイポーラトランジスタ、または、サイズの大き
なMOSFETを用いる必要がある。
また、−e検素を行う第2の従来の技術としては、アイ
・イー・イー・イー、1989.カスタム インチグレ
イティラド サーキッツ コンファレンス、第10.2
.1項から第10.2.5項(IEEE、1989.C
USTOM INTEGRATED CIRCUITS
CONFERENCE、PP10.2.1−10.2.
5)記載の技術が知られている。
・イー・イー・イー、1989.カスタム インチグレ
イティラド サーキッツ コンファレンス、第10.2
.1項から第10.2.5項(IEEE、1989.C
USTOM INTEGRATED CIRCUITS
CONFERENCE、PP10.2.1−10.2.
5)記載の技術が知られている。
第9図に、この第2の従来技術に係る従来回路の概略を
示す。
示す。
第9図において、DP、DNはデータ線、WLはワード
線、CKはクロック信号、4001はMATCH線ML
をプリチャージするためのPMO5FET、4.200
は波形整形及び負荷駆動用のインバータ回路である。
線、CKはクロック信号、4001はMATCH線ML
をプリチャージするためのPMO5FET、4.200
は波形整形及び負荷駆動用のインバータ回路である。
1100はメモリセルであり、インバータ回路1103
.1104よりなるフリップフロップとメモリセルをリ
ート、ライトする際にオンするNMO5FET 11
01.1102から構成されている。4100は一致検
素回路である。
.1104よりなるフリップフロップとメモリセルをリ
ート、ライトする際にオンするNMO5FET 11
01.1102から構成されている。4100は一致検
素回路である。
NMO5FET 4101.4102.4103.4
104から構成されている。4105は接地電位である
。
104から構成されている。4105は接地電位である
。
5200はCAMセルで、メモリセル1100と検索回
路410oから構成されている。
路410oから構成されている。
クロック信号CKがLowレベルの期間MATCH@M
LはPMO8FET 4001によってHi ghレ
ベルにプリチャージされる。
LはPMO8FET 4001によってHi ghレ
ベルにプリチャージされる。
また、クロック信号CKがHi g hレベルの期間、
検索データとメモリセルの記憶データとの検索結果によ
りMATCH線の電位がHi ghレベルを維持するか
Lowレベルへ下がるか決定される。
検索データとメモリセルの記憶データとの検索結果によ
りMATCH線の電位がHi ghレベルを維持するか
Lowレベルへ下がるか決定される。
すなわち、メモリセル1100の記憶データと検索デー
タであるデータ線DP、DNのデータが一致の場合にM
ATCH線MLの電位はHighレヘルレベ持し、不一
致の場合にLowレベルへ下がる 〔発明が解決しようとする課題〕 前記第1の従来技術は、複数のメモリセルに対して、一
つの一致検出回路を備える構成であるため、フルアソシ
ェーテイブキャツシュメモリに適用した場合等に検索デ
ータと全記憶データの一致検出を行おうとした場合、メ
モリセルをワード線によって切り替えながら順次比較し
て一致検出を行わねばならず、−m検出の高速性の点で
問題があった。
タであるデータ線DP、DNのデータが一致の場合にM
ATCH線MLの電位はHighレヘルレベ持し、不一
致の場合にLowレベルへ下がる 〔発明が解決しようとする課題〕 前記第1の従来技術は、複数のメモリセルに対して、一
つの一致検出回路を備える構成であるため、フルアソシ
ェーテイブキャツシュメモリに適用した場合等に検索デ
ータと全記憶データの一致検出を行おうとした場合、メ
モリセルをワード線によって切り替えながら順次比較し
て一致検出を行わねばならず、−m検出の高速性の点で
問題があった。
ここで、検、索データと全記憶データの一致検出を一回
の動作で実現しようとすれば、各メモリセルについて一
致検出回路と電圧/電流変換回路を備えなければならな
い。
の動作で実現しようとすれば、各メモリセルについて一
致検出回路と電圧/電流変換回路を備えなければならな
い。
しかし、前記のように、電圧/電流変換回路にはバイポ
ーラトランジスタまたはサイズの大きなMOSFETを
用いる必要があるため、各メモリセルに電圧/電流変換
回路を備えることは、回路面積の増大の点から現実的で
はない。
ーラトランジスタまたはサイズの大きなMOSFETを
用いる必要があるため、各メモリセルに電圧/電流変換
回路を備えることは、回路面積の増大の点から現実的で
はない。
また、第1の従来技術において開示された電圧/電流変
換回路によれば、ビットの一致/不一致にかかわらず、
電圧/電流変換回路に電流を流すものであるため、消費
電力の点よりも問題があった。
換回路によれば、ビットの一致/不一致にかかわらず、
電圧/電流変換回路に電流を流すものであるため、消費
電力の点よりも問題があった。
一方、前記第2の従来技術は、検索機能を有したメモリ
において、同時に検索を行うビット幅が広くなるにした
がい、検索結果を出力するMATCH線の負荷が重くな
る点について考慮されていなかった。
において、同時に検索を行うビット幅が広くなるにした
がい、検索結果を出力するMATCH線の負荷が重くな
る点について考慮されていなかった。
すなわち、前記第2の従来技術によれば、MATCH線
を電源電圧レベルから接地レベルまでフルスウィングさ
せていたため、MATCH線が重付加となった場合、こ
れを充放電するのに時間がかかり高速化の点で問題があ
った。
を電源電圧レベルから接地レベルまでフルスウィングさ
せていたため、MATCH線が重付加となった場合、こ
れを充放電するのに時間がかかり高速化の点で問題があ
った。
また、MATCH線を高速に充放電するためには、第9
図に示したPMO8FET 4001と一致検索回路
を構成するM OS F E Tのゲート幅を大きくし
なければならない。しかし、それによりMATCH線の
負荷は、ますます大きくなってしまう。
図に示したPMO8FET 4001と一致検索回路
を構成するM OS F E Tのゲート幅を大きくし
なければならない。しかし、それによりMATCH線の
負荷は、ますます大きくなってしまう。
結果、高速性と高集積性を両立できないという問題が生
していた。
していた。
そこで、本発明は、高集積性を保ち、かつ、データを構
成するビット幅によらず高速に一致検索を行うことので
きる半導体メモリを提供することを目的とする。
成するビット幅によらず高速に一致検索を行うことので
きる半導体メモリを提供することを目的とする。
前記目的達成のために本発明は、複数のMOSメモリセ
ルと。
ルと。
MOSFETで構成された、入力する検索データとメモ
リセルのフリップフロップ部のデータとの一致検出を行
う検出回路と、検出結果を電流信号に変換し出力する共
通ソース増幅器よりなる、各メモリセル毎に設けられた
検索回路と、前記検索回路よりの電流信号を電圧信号に
変換する出力増幅器とを有することを特徴とする特許の
半導体メモリを提供する。
リセルのフリップフロップ部のデータとの一致検出を行
う検出回路と、検出結果を電流信号に変換し出力する共
通ソース増幅器よりなる、各メモリセル毎に設けられた
検索回路と、前記検索回路よりの電流信号を電圧信号に
変換する出力増幅器とを有することを特徴とする特許の
半導体メモリを提供する。
なお、前記第1の半導体メモリにおいて、n個の前記メ
モリセルに対応するn本の前記電流信号はワイアードO
Rされ、 前記出力増幅器は、ワイアードORされた電流信号を電
圧信号に変換することが望ましい。
モリセルに対応するn本の前記電流信号はワイアードO
Rされ、 前記出力増幅器は、ワイアードORされた電流信号を電
圧信号に変換することが望ましい。
また、前記第1の半導体メモリにおいて、前記出力増幅
器は、n個の前記メモリセルに対応するn本の前記電流
信号を入力し、その論理ORを電圧信号として出方する
ようにしても良い。
器は、n個の前記メモリセルに対応するn本の前記電流
信号を入力し、その論理ORを電圧信号として出方する
ようにしても良い。
また、本発明は、前記目的達成のために、ワードを行と
してマトリックスを形成する複数のメモリセルと、 ライト時に入力されるアドレスの指定するワードに対応
するメモリセルを選択するデコーダと、MOSFETで
構成された、入力する検索データとメモリセルのフリッ
プフロップ部のデータとの一致検出を行う検出回路と、
検出結果を電流信号に変換し出力する共通ソース増幅器
よりなる、各メモリセル毎に設けられた検索回路と、そ
れぞれ1ワード対応分の前記電流信号がワイヤーFOR
されたマツチ(言号線と、 マツチ信号線を入力し、マツチ信号線上の電流信号を電
圧信号に変換して出力する、ワード数分の出力増幅器と ワード数分の出力増幅器よりの電圧信号の論理ORをヒ
ツト信号として出力するヒツト検出回路とを有すること
を特徴とする第2の半導体メモリを提供する。
してマトリックスを形成する複数のメモリセルと、 ライト時に入力されるアドレスの指定するワードに対応
するメモリセルを選択するデコーダと、MOSFETで
構成された、入力する検索データとメモリセルのフリッ
プフロップ部のデータとの一致検出を行う検出回路と、
検出結果を電流信号に変換し出力する共通ソース増幅器
よりなる、各メモリセル毎に設けられた検索回路と、そ
れぞれ1ワード対応分の前記電流信号がワイヤーFOR
されたマツチ(言号線と、 マツチ信号線を入力し、マツチ信号線上の電流信号を電
圧信号に変換して出力する、ワード数分の出力増幅器と ワード数分の出力増幅器よりの電圧信号の論理ORをヒ
ツト信号として出力するヒツト検出回路とを有すること
を特徴とする第2の半導体メモリを提供する。
また、前記第1)第2の半導体メモリにおいて。
前記出力増幅器を、バイポーラトランジスタであって、
前記電流信号を入力信号とするベースを基準電位に接続
した共通ベース増幅器、または、MOSFETであって
、前記電流信号を入力信号とするゲートを基準電位に接
続した共通ゲート増幅器を含んで構成するようにしても
良い。
前記電流信号を入力信号とするベースを基準電位に接続
した共通ベース増幅器、または、MOSFETであって
、前記電流信号を入力信号とするゲートを基準電位に接
続した共通ゲート増幅器を含んで構成するようにしても
良い。
また、前記第1)第2の半導体メモリにおいて、前記検
索回路の共通ソース増幅器が変換する電流信号のピーク
値を抑制する電流リミッタ回路を設けることが望ましい
。
索回路の共通ソース増幅器が変換する電流信号のピーク
値を抑制する電流リミッタ回路を設けることが望ましい
。
また、この場合、前記複数のメモリセルに備えた複数の
検索回路の複数の共通ソース増幅器が変換する電流の接
地側電流路を共通にし、共通にした電流路に前記電流リ
ミッタ回路を設けるようにしても良い。
検索回路の複数の共通ソース増幅器が変換する電流の接
地側電流路を共通にし、共通にした電流路に前記電流リ
ミッタ回路を設けるようにしても良い。
また、前記第1の半導体メモリにおいて出方増幅器を共
通ベース増幅器を含んで構成した場合には、共通ベース
増幅器として用いられるパイポーラトランジシタにエミ
ッタを複数設け、複数入力の1出力の共通ベース増幅器
としても良い。
通ベース増幅器を含んで構成した場合には、共通ベース
増幅器として用いられるパイポーラトランジシタにエミ
ッタを複数設け、複数入力の1出力の共通ベース増幅器
としても良い。
また、さらに本発明は、前記第2の半導体メモリと。
前記半導体メモリの各出力増幅機の出方する電圧信号を
、それぞれワード線としてアクセスされる第2のメモリ
セルマトリックスを有することを特徴とする連想メモリ
を提供する。
、それぞれワード線としてアクセスされる第2のメモリ
セルマトリックスを有することを特徴とする連想メモリ
を提供する。
また、併せて、本発明は、前記連想メモリを内蔵したこ
とを特徴とする1チツププロセツサをも提供する。
とを特徴とする1チツププロセツサをも提供する。
本発明に係る第1)第2の半導体メモリおよび連想メモ
リによれば、検出回路が、充分な電圧値を持つ検索デー
タとメモリセルのフリップフロップ部のデータとの一致
検出を行い、共通ソース増幅器を駆動するので、小型サ
イズの共通ソース増幅器で充分な電流信号を得ることが
できる。また、検索結果を電流信号としているので、重
負荷(容量性)でも高速化が可能である。
リによれば、検出回路が、充分な電圧値を持つ検索デー
タとメモリセルのフリップフロップ部のデータとの一致
検出を行い、共通ソース増幅器を駆動するので、小型サ
イズの共通ソース増幅器で充分な電流信号を得ることが
できる。また、検索結果を電流信号としているので、重
負荷(容量性)でも高速化が可能である。
また、前記出力増幅器を、バイポーラトランジスタであ
って、前記電流信号を入力信号とするベースを基準電位
に接続した共通ベース増幅器、または、MOSFETで
あって前記出力増幅器を。
って、前記電流信号を入力信号とするベースを基準電位
に接続した共通ベース増幅器、または、MOSFETで
あって前記出力増幅器を。
前記電流信号を入力信号とするゲートを基準電位に接続
した共通ゲート増幅器を含んで構成するようにした場合
1)重負荷となる電流信号線の電位をクランプでき、電
流信号線の電圧振幅を小さく抑えることができ、さらに
、微小な電流信号で充分な電圧信号を得ることができる
。
した共通ゲート増幅器を含んで構成するようにした場合
1)重負荷となる電流信号線の電位をクランプでき、電
流信号線の電圧振幅を小さく抑えることができ、さらに
、微小な電流信号で充分な電圧信号を得ることができる
。
したがって、電流信号線の充放電に要する時間が短縮で
き、微小電流を高速に電圧信号に変換できる。また、検
索回路が出力する電流信号は小さくてよいため、検索回
路を構成するMOSFETのサイズをさらに小さくでき
るばかりではなく、さらにはこれを用いた連想メモリそ
のものを小さく作ることができる。また、消費電力を小
さくすることができる。
き、微小電流を高速に電圧信号に変換できる。また、検
索回路が出力する電流信号は小さくてよいため、検索回
路を構成するMOSFETのサイズをさらに小さくでき
るばかりではなく、さらにはこれを用いた連想メモリそ
のものを小さく作ることができる。また、消費電力を小
さくすることができる。
また、前記第1)第2の半導体メモリおよび連想メモリ
において、電流リミッタ回路を設けた場合、さらに消費
電力を小さくすることができる。
において、電流リミッタ回路を設けた場合、さらに消費
電力を小さくすることができる。
また、本発明に係る1チツププロセツサによれば、高速
な連想メモリを用いて高速な処理を行うことができる。
な連想メモリを用いて高速な処理を行うことができる。
(以下余白)
〔実施例〕
以下、本発明に係る半4体メモリの実施例について説明
する。
する。
第1図Aに、本実施例に係る半導体メモリの基本構成を
示す。
示す。
図中、All、A12)Alnは検索データ、111.
112)llnはメモリセル、Bll、B12)Bin
はメモリセルの記憶データである。
112)llnはメモリセル、Bll、B12)Bin
はメモリセルの記憶データである。
211.212.21nは、メモリセルの記憶データB
ll、B12)Binと検索データAll、A12)A
lnのデータの照合、検索を行う検索回路である。
ll、B12)Binと検索データAll、A12)A
lnのデータの照合、検索を行う検索回路である。
C1l、C12)C1nは検索結果を電流信号として出
力する検索出力信号である。
力する検索出力信号である。
1は、検索回路211.212.21nの検索出力信号
C1l、C12)C1nがWiredORされたMAT
CH線である。
C1l、C12)C1nがWiredORされたMAT
CH線である。
21は、MATCH線1の電流信号を受け、電圧信号に
変換するカスコード増幅部である。
変換するカスコード増幅部である。
11は、電圧信号に変換されたMATCH出力信号であ
る。
る。
MATCH線1は、カスコード増幅部21により電位が
クランプされている。
クランプされている。
また、MATCH線1は検索回路211.212.21
nが接続されているため重負荷となっている。
nが接続されているため重負荷となっている。
検索データAll、A12)Alnは、検索回路211
,212.21nによりメモリセルの記憶データBll
、B12)Binとそれぞれ照合、検索される。
,212.21nによりメモリセルの記憶データBll
、B12)Binとそれぞれ照合、検索される。
照合、検索の結果、ある条件を満足した場合、検索出力
信号C11,C12)C1nが電流信号として出力され
る。検索出力信号C1l、CI2およびC1nは電流信
号のままMATCHMIでWired ORされ、カ
スコード増幅部で電圧信号に変換される。MATCH線
1は電流動作のため、重負荷にもかかわらず高速に動作
する。
信号C11,C12)C1nが電流信号として出力され
る。検索出力信号C1l、CI2およびC1nは電流信
号のままMATCHMIでWired ORされ、カ
スコード増幅部で電圧信号に変換される。MATCH線
1は電流動作のため、重負荷にもかかわらず高速に動作
する。
したがって、検索データを入力してから高速にMATC
H出力信号を得ることができる。
H出力信号を得ることができる。
第1図Bは、MATCH線を分割して多入力のカスコー
ド増幅部に接続した場合の基本構成である。
ド増幅部に接続した場合の基本構成である。
図中、第1図Aと同一部分には同一符号を付して示す。
Ahl、Ah21.Ahmは検索データ、lhl、1h
21.1hmはメモリセル、Bhl、Bh21)Blm
はメモリセルの記憶データである。2hl、2h21.
2hmは、メモリセルの記憶データBhl、Bh21)
Bhmと検索データAhl、Ah21)Ahmのデータ
の照合、検索を行う検索回路である。
21.1hmはメモリセル、Bhl、Bh21)Blm
はメモリセルの記憶データである。2hl、2h21.
2hmは、メモリセルの記憶データBhl、Bh21)
Bhmと検索データAhl、Ah21)Ahmのデータ
の照合、検索を行う検索回路である。
Chi、Ch21)Chmは、検索結果を電流信号とし
て出力する検索出力信号である。
て出力する検索出力信号である。
hは、検索回路2hl、2h2.2hmの検索出力信号
Ch1)Ch2)ChmがWiredORされたMAT
CH線である。
Ch1)Ch2)ChmがWiredORされたMAT
CH線である。
22は、電流信号によりWired ORされたMA
TCH線1およびhの電流信号を受け、電圧信号に変換
する多入力のカスコード増幅部である。
TCH線1およびhの電流信号を受け、電圧信号に変換
する多入力のカスコード増幅部である。
12は、電圧信号に変換されたM AT CH出力信号
である。
である。
第1図Aおよび第1図Bの様な構成とすることにより、
検索回路が多数接続されて重負荷となっているMATC
H線の電位をクランプすることができる。すなわち、重
負荷のM A T CH線の電位を小さく抑え電流変化
によるMATCH信号とすることで検索データ入力から
M A T CH出力信号(検索結果出力)までを高速
化できる。
検索回路が多数接続されて重負荷となっているMATC
H線の電位をクランプすることができる。すなわち、重
負荷のM A T CH線の電位を小さく抑え電流変化
によるMATCH信号とすることで検索データ入力から
M A T CH出力信号(検索結果出力)までを高速
化できる。
第2図は、本実施例に係る半導体メモリが、致検索機能
を有する連想メモリである場合における、本実施例の特
徴部の基本構成を示したものである。
を有する連想メモリである場合における、本実施例の特
徴部の基本構成を示したものである。
図中、DP’、DNはメモリセルへのデータのリード、
ライトを行うデータ線、および検索データを入力するデ
ータ線である。WLはワード線である。
ライトを行うデータ線、および検索データを入力するデ
ータ線である。WLはワード線である。
1100はメモリセルであり、インバータ回路1103
.1104よりなるフリップフロップとメモリセルをリ
ード、ライトする際にオンするNMO3FET 11
01.1102から構成されている。
.1104よりなるフリップフロップとメモリセルをリ
ード、ライトする際にオンするNMO3FET 11
01.1102から構成されている。
1200は一致検索回路でありNMOSFET1201
.1202.1203から構成されている。
.1202.1203から構成されている。
1204は接地電位である。5000はCAMセルでメ
モリセル1100と検索回路1200から構成されてい
る。
モリセル1100と検索回路1200から構成されてい
る。
MLはMATCH線であり、検索データDP、DNとメ
モリセルの記憶データを各CAMセル毎に比較し、その
結果をWired ORL/たものである。1300
はカスコード増幅部である。
モリセルの記憶データを各CAMセル毎に比較し、その
結果をWired ORL/たものである。1300
はカスコード増幅部である。
1301は抵抗、13o2はバイポーラトランジスタで
エミッタにMATCH線MLが接続されている。
エミッタにMATCH線MLが接続されている。
1304は基準電位、1303はエミッタフォロワ用バ
イポーラトランジスタ、1305.1306は定電流源
である。1307は電源電位、1308は接地電位、1
309はPMO5FETである。1310はNMO3F
ETであり、PMO5FET 1309とNMOSF
ET1310でCMOSインバータによるレベル変換回
路を構成している。MOはMATCH出力信号である。
イポーラトランジスタ、1305.1306は定電流源
である。1307は電源電位、1308は接地電位、1
309はPMO5FETである。1310はNMO3F
ETであり、PMO5FET 1309とNMOSF
ET1310でCMOSインバータによるレベル変換回
路を構成している。MOはMATCH出力信号である。
以上第2図に示した半導体メモリの動作について説明す
る。
る。
メモリセル1100へのデータの書き込み動作は、ワー
ド線WLがハイレベルの状態で行われる。
ド線WLがハイレベルの状態で行われる。
データ線DP、DNより入力された書き込みデータはN
MO3FET 1101.1102を介してインバー
タ回路1103.1104で構成されたフリップフロッ
プに記憶される。
MO3FET 1101.1102を介してインバー
タ回路1103.1104で構成されたフリップフロッ
プに記憶される。
メモリセル1100からのデータの読みだし動作は、ワ
ード線WLがハイレベルの状態で行われ、インバータ回
路1103.1104で構成されたフリップフロップの
記憶データがNMOSFET1101.1102を介し
てデータ線DP、DNに出力される。
ード線WLがハイレベルの状態で行われ、インバータ回
路1103.1104で構成されたフリップフロップの
記憶データがNMOSFET1101.1102を介し
てデータ線DP、DNに出力される。
次に検索データとメモリセルの記憶データとの一致検索
動作について説明する。
動作について説明する。
データ線DP、DNに入力された検索データはNMO3
FET 1201.1202によってメモリセルの記
憶データと比較され、その結果によって一致の場合はN
MO5FET 1203のゲートがLowレベル、不
一致の場合はHighレベルとなる。
FET 1201.1202によってメモリセルの記
憶データと比較され、その結果によって一致の場合はN
MO5FET 1203のゲートがLowレベル、不
一致の場合はHighレベルとなる。
この場合、DP、DNに入力されるのは検索データであ
り、NMO8FET 1201.1202を駆動する
のはインバータ回路1103.1104の出力であるた
め、NMOSFET1203を駆動するのに充分な電圧
を得ることができる。
り、NMO8FET 1201.1202を駆動する
のはインバータ回路1103.1104の出力であるた
め、NMOSFET1203を駆動するのに充分な電圧
を得ることができる。
したがって、一致検索回路1200に用いるMOSFE
Tは小さなサイズのもので足り、各メモリセルに1)致
検索回路1200を備えても面積上、問題となることは
ない。
Tは小さなサイズのもので足り、各メモリセルに1)致
検索回路1200を備えても面積上、問題となることは
ない。
この結果、MATCHaMLに接続された複数のCAM
セル5000のうち1つでも不一致があるとMATCH
線MLへはNMOSFET1203により電流が流れる
。
セル5000のうち1つでも不一致があるとMATCH
線MLへはNMOSFET1203により電流が流れる
。
すなわち、MATCHAi、MLに接続された全てのC
AMセルが一致の場合に限り電流は流れない。
AMセルが一致の場合に限り電流は流れない。
M A T CH線MLの電流信号は、バイポーラトラ
ンジスタ1302のコレクタ電流となり抵抗1301に
より電圧信号に変換される。このため、一致検出信号を
iXRの電圧信号として出力できる。
ンジスタ1302のコレクタ電流となり抵抗1301に
より電圧信号に変換される。このため、一致検出信号を
iXRの電圧信号として出力できる。
MATCH線MLの電位は、ベースを基準電位1304
へ接続されたバイポーラトランジスタ1302によりク
ランプされ、その電位変化は数十mV程度に抑えらる。
へ接続されたバイポーラトランジスタ1302によりク
ランプされ、その電位変化は数十mV程度に抑えらる。
これにより、MATCH41MLに接続されるCAMセ
ルの数の多少によらず一致検索を高速に行うことができ
る。
ルの数の多少によらず一致検索を高速に行うことができ
る。
第3図は、MATCH線を分割した場合の一致検索機能
を有する連想メモリの特徴部の基本構成を示したもので
ある。
を有する連想メモリの特徴部の基本構成を示したもので
ある。
ただし、MATCH線を2つに分け、カスコード増幅部
もマルチエミッタバイポーラトランジスタによる2入力
構成としている。
もマルチエミッタバイポーラトランジスタによる2入力
構成としている。
図中、第2図と同一部分には同一符号を付して示す。
DP−1)DNIおよびDP−に、DN−には差動のデ
ータ線対、1100−1.1100−にはメモリセル、
1200−1.1200−には一致検索回路、5000
−1.5000−2はCAMセル、ML−1)ML−2
はMATCH線である。MATCH線ML−1)ML−
2には別のCAMセルが接続されている。
ータ線対、1100−1.1100−にはメモリセル、
1200−1.1200−には一致検索回路、5000
−1.5000−2はCAMセル、ML−1)ML−2
はMATCH線である。MATCH線ML−1)ML−
2には別のCAMセルが接続されている。
1400はカスコード増幅部であり、抵抗1401)マ
ルチエミッタバイポーラトランジスタ14o2)基準電
位1403)定電流源1405.1406)電源電位1
407)接地電位1408等から構成されている。
ルチエミッタバイポーラトランジスタ14o2)基準電
位1403)定電流源1405.1406)電源電位1
407)接地電位1408等から構成されている。
なお、カスコード増幅部140oにおいて、先に第2図
で示したエミッタフォロワとレベル変換回路は省略して
示した。
で示したエミッタフォロワとレベル変換回路は省略して
示した。
第3図に示す実施例では、ワード線WLに接続されたC
AMt!ル5000−1〜5000−k(7)一致検出
結果を2本のMATCHmML−1)ML−2に出力す
ることで、MATCH線の負荷および電流量を分散して
いる。
AMt!ル5000−1〜5000−k(7)一致検出
結果を2本のMATCHmML−1)ML−2に出力す
ることで、MATCH線の負荷および電流量を分散して
いる。
2本のMATCHmML−1,ML−2は、カスコード
増幅部1400内のマルチエミッタバイポーラトランジ
スタ1402の各エミッタにそれぞれ接続されている。
増幅部1400内のマルチエミッタバイポーラトランジ
スタ1402の各エミッタにそれぞれ接続されている。
したがって、ワード線WLに接続された各CAMセル5
000−1〜5000−にの一致検索出力信号はマルチ
エミッタバイポーラトランジスタ1402を介し、抵抗
1401により電圧信号となって出力される。
000−1〜5000−にの一致検索出力信号はマルチ
エミッタバイポーラトランジスタ1402を介し、抵抗
1401により電圧信号となって出力される。
以上、第3図ではMATCH線を2本に分け、カスコー
ド増幅部を2入力のマルチエミッタバイポーラトランジ
スタで構成している例を示したが、MATCH線3本と
3入力のマルチエミッタバイポーラトランジスタ、ある
いはMATCH線4本と4入力のマルチエミッタバイポ
ーラトランジスタの組み合わせ等、拡張は容易に行うこ
とができる。
ド増幅部を2入力のマルチエミッタバイポーラトランジ
スタで構成している例を示したが、MATCH線3本と
3入力のマルチエミッタバイポーラトランジスタ、ある
いはMATCH線4本と4入力のマルチエミッタバイポ
ーラトランジスタの組み合わせ等、拡張は容易に行うこ
とができる。
ここで、カスコード増幅部の他の構成例を第4図と第5
図に2種示す。
図に2種示す。
第4図に示したカスコード増幅部1500は、第3図に
て示したカスコード増幅部1400と同様、ML−1)
ML−2はM A T CH線入力を。
て示したカスコード増幅部1400と同様、ML−1)
ML−2はM A T CH線入力を。
1本の検索出力信号に変換する。
1501.1502は抵抗、15o3.1504はMA
TCHgML−1)ML−2がそれぞれエミッタに接続
されたバイポーラトランジスタ、15o5は基準電位、
1506.1507はエミッタフォロワ用バイポーラト
ランジスタ、1508はレベル変換機能を兼ねたOR回
路、1509.1510.1511.1512は定電流
源、1513は検索出力信号、1514は電源電位、1
515は接地電位である。
TCHgML−1)ML−2がそれぞれエミッタに接続
されたバイポーラトランジスタ、15o5は基準電位、
1506.1507はエミッタフォロワ用バイポーラト
ランジスタ、1508はレベル変換機能を兼ねたOR回
路、1509.1510.1511.1512は定電流
源、1513は検索出力信号、1514は電源電位、1
515は接地電位である。
このカスコード増幅部1500の動作を説明する。
MATCHgML−1)ML−2の電流信号はバイポー
ラトランジスタ1503.1504のコレクタ電流とな
り、抵抗1501.1502により電圧信号に変換され
る。
ラトランジスタ1503.1504のコレクタ電流とな
り、抵抗1501.1502により電圧信号に変換され
る。
変換された2本の電圧信号は、エミッタフォロワ用バイ
ポーラトランジスタ1506.1507によりそれぞれ
レベルシフトされ、さらにレベル変換回路1508によ
り電圧振幅を大きくすると共にORされ1本の検索出力
信号となる。
ポーラトランジスタ1506.1507によりそれぞれ
レベルシフトされ、さらにレベル変換回路1508によ
り電圧振幅を大きくすると共にORされ1本の検索出力
信号となる。
第5図に示したカスコード増幅部は、
MOSFETにより構成される。
第5図において、1601は抵抗、1602はゲートを
基準電位1603に接続されたNO3FET、1604
は電源電位である。
基準電位1603に接続されたNO3FET、1604
は電源電位である。
本カスコード増幅部において、MATCH,IML(7
)電流信号は、NMO8FET1602(7)ドレイン
電流となり、抵抗1601により電圧信号に変換される
。 次に、第2図に示したCAMセル5000の他の構
成を第6図に示す。
)電流信号は、NMO8FET1602(7)ドレイン
電流となり、抵抗1601により電圧信号に変換される
。 次に、第2図に示したCAMセル5000の他の構
成を第6図に示す。
第2図と同一部分には同一符号を付して示し、説明を省
略する。
略する。
第6図中、1700は一致検出回路である。
1701.1702.1703.1704はNMO5F
ET、1705は接地電位である。
ET、1705は接地電位である。
5100はCAMセルで、メモリセル1100と一致検
出回路1700から構成されている。
出回路1700から構成されている。
メモリセル1100の記憶データと検索データDP、D
Nが不一致の場合にMATCH線MLから接地電位17
05へ電流が流れる。反対に一致していればMATCH
iMLから接地電位へ電流は流れない。
Nが不一致の場合にMATCH線MLから接地電位17
05へ電流が流れる。反対に一致していればMATCH
iMLから接地電位へ電流は流れない。
したがって、カスコード増幅部により、MATCH線M
Lに8力される電流信号によりメモリセルの記憶データ
とデータ1iDP、DNのデータの一致、不一致を検出
することができる。
Lに8力される電流信号によりメモリセルの記憶データ
とデータ1iDP、DNのデータの一致、不一致を検出
することができる。
次に、本実施例に係る半導体メモリに電流リミッタ回路
を設けた例を第7図に示す。
を設けた例を第7図に示す。
第7図はMATCH線から接地電位への電流経路を示し
たものである。
たものである。
図中、MLはMATCHAB、1800は検索回路、1
900−1.1900−2は電流リミッタ回路、19o
1はNMO5FET、19o2は基準電位、2000は
接地電位である。
900−1.1900−2は電流リミッタ回路、19o
1はNMO5FET、19o2は基準電位、2000は
接地電位である。
MATCHA!MLに接続された検索回路180oによ
り、MATCHIMLから接地電位2000への電流経
路ができる。
り、MATCHIMLから接地電位2000への電流経
路ができる。
その電流経路に電流リミッタ回路1900−1.190
0−2を設けている。
0−2を設けている。
電流リミッタ回路1900−1は検索回路18001つ
につき1つ設けている例である。
につき1つ設けている例である。
また、@流すミッタ回路1900−2は複数の検索回路
につき1つ設けた例である。
につき1つ設けた例である。
このように、電流リミッタ回路を設けることにより、M
OSFETのバラツキによる不要な電力消費を排除でき
る。
OSFETのバラツキによる不要な電力消費を排除でき
る。
すなわち、第2図において、NMO5FET1203が
MATCH4@MLに流れるt流4m ヲ決定するが、
MOSFETには、一定の製造バラツキが避けられない
ため、最小電流値を保証しようとすれば、必ず、これを
超えるNMO5FET1203が存在することになり不
要な電流を流し、消費電力を増大させることになる。
MATCH4@MLに流れるt流4m ヲ決定するが、
MOSFETには、一定の製造バラツキが避けられない
ため、最小電流値を保証しようとすれば、必ず、これを
超えるNMO5FET1203が存在することになり不
要な電流を流し、消費電力を増大させることになる。
そこで、電流リミッタ回路により、この不要な電流を抑
圧し、消費電力の増大を防ぐことができる。
圧し、消費電力の増大を防ぐことができる。
最後に、本実施例に係る半導体メモリが連想メモリであ
る場合の全体構成を第8図に示す。
る場合の全体構成を第8図に示す。
第8図中、DPl、DN−1)DP−k、DN−にはC
AMセル用データ線、WL−1)WL−jはCAMセル
用ワード線、ML−1)ML−jはMATCH線、BP
−1)BN−1)BP−i、BN−iはRAMセル用デ
ータ線、RWL−1,RWL−jはRAMセル用ワード
線である6 3100は入力されるアドレスに従って該当するメモリ
セルを選択するCAMセル用デコーダで、CAMセルを
読み書きする際に使用す名。
AMセル用データ線、WL−1)WL−jはCAMセル
用ワード線、ML−1)ML−jはMATCH線、BP
−1)BN−1)BP−i、BN−iはRAMセル用デ
ータ線、RWL−1,RWL−jはRAMセル用ワード
線である6 3100は入力されるアドレスに従って該当するメモリ
セルを選択するCAMセル用デコーダで、CAMセルを
読み書きする際に使用す名。
CAMセル用デコーダ3100は、検索時には全てのメ
モリセルを選択する。
モリセルを選択する。
3200はCAMセル、1300はカスコード増幅部で
ある。カスコード増幅部1300内は一部省略しである
が、出力信号はレベル変換後の電圧信号である。330
0はHIT検出回路であり、CAMセルの特定のワード
において、検索データDP−1〜DN−にの各データと
、いずれかのワ−トの全メモリセルの各記憶内容が一致
したことを検出しHIT信号を発生するものである。
ある。カスコード増幅部1300内は一部省略しである
が、出力信号はレベル変換後の電圧信号である。330
0はHIT検出回路であり、CAMセルの特定のワード
において、検索データDP−1〜DN−にの各データと
、いずれかのワ−トの全メモリセルの各記憶内容が一致
したことを検出しHIT信号を発生するものである。
3400はワードドライバで、RAMセル部のワード線
を能動する。35oOはRAMセルである。
を能動する。35oOはRAMセルである。
検索データDP−1)DN−1〜DP−k、DN−にの
データとメモリセルの各記憶データが、一致したワード
のMATCHA!ML−1〜ML−jに検索出力信号が
出力される。MATCH線ML−1〜ML−jに出力さ
れた検索出力信号は電流信号であり、またMATCH線
ML−1〜Mr=−jの電位はカスコード増幅部130
0によりクランプされている。MATCH線の電流信号
はカスコード増幅部で電圧信号に変換され、HIT検出
回路3300およびワードドライバ3400に供給され
る。
データとメモリセルの各記憶データが、一致したワード
のMATCHA!ML−1〜ML−jに検索出力信号が
出力される。MATCH線ML−1〜ML−jに出力さ
れた検索出力信号は電流信号であり、またMATCH線
ML−1〜Mr=−jの電位はカスコード増幅部130
0によりクランプされている。MATCH線の電流信号
はカスコード増幅部で電圧信号に変換され、HIT検出
回路3300およびワードドライバ3400に供給され
る。
ワードドライバ3400により駆動されたRAMセル用
ワード線RW−L−1)〜RWL−jで選択されたRA
Mセルの記憶データがデータ線BP−1)BM−1〜B
P−1,BN−iを通して出力される。
ワード線RW−L−1)〜RWL−jで選択されたRA
Mセルの記憶データがデータ線BP−1)BM−1〜B
P−1,BN−iを通して出力される。
第8図に示した構成によれば、MATCH線に接続され
るC A Mセルの数が多く、MATCH線Xが重負荷
の場合でも高速にデータ検索を行うことができる。
るC A Mセルの数が多く、MATCH線Xが重負荷
の場合でも高速にデータ検索を行うことができる。
そのためHIT信号の高速化と、検索データを入力して
からRA Mセルデータの出力までも高速化できる。
からRA Mセルデータの出力までも高速化できる。
以上、本発明の実施例を主として連想メモリへの適用を
例にとり説明してきたが1本発明はマイクロコンピュー
タのキャッシュメモリやアドレス変換を行うためのT
L B (TranslationLookasaid
e Buffer)などに広く適用できるものである。
例にとり説明してきたが1本発明はマイクロコンピュー
タのキャッシュメモリやアドレス変換を行うためのT
L B (TranslationLookasaid
e Buffer)などに広く適用できるものである。
以上のように、本実施例によれば、CAMセルのビット
幅に比例して重負荷となるMATCH線の電位をカスコ
ード増幅部でクランプしているため、その電圧振幅を数
十mV程度に小さくできる。
幅に比例して重負荷となるMATCH線の電位をカスコ
ード増幅部でクランプしているため、その電圧振幅を数
十mV程度に小さくできる。
また、CAMセルからMATCH線に出力される信号は
微小電流信号であり、その微小電流信号をカスコード増
幅部で高速に増幅している。そのため、M A T C
H線の負荷の影響を受けに<<、データの検索を高速に
行うことができるにれらにより、連想メモリへの検索デ
ータ入力からHIT検出信号の出力まで、および、連想
メモリへの検索データ入力からRAMセルデータの出力
までを高速化できる効果がある。
微小電流信号であり、その微小電流信号をカスコード増
幅部で高速に増幅している。そのため、M A T C
H線の負荷の影響を受けに<<、データの検索を高速に
行うことができるにれらにより、連想メモリへの検索デ
ータ入力からHIT検出信号の出力まで、および、連想
メモリへの検索データ入力からRAMセルデータの出力
までを高速化できる効果がある。
また、CAMセル内の検索回路は、前記のように充分な
駆動電圧より微小電流を発生すればよいためMOSFE
Tのサイズを小さくできる。
駆動電圧より微小電流を発生すればよいためMOSFE
Tのサイズを小さくできる。
これによりCAMセルを小さく作ることができ、連想メ
モリ全体をも小さくできる効果がある。
モリ全体をも小さくできる効果がある。
また、MATCH線から検索回路を介して接地電位へな
がれる電流経路に電流リミッタを設けることにより、M
ATCHlsに流れる電流量の最大値を制限でき、消費
電力の低減やMATCH線のエレクトロマイグレーショ
ンの信頼性を上げる効果がある。
がれる電流経路に電流リミッタを設けることにより、M
ATCHlsに流れる電流量の最大値を制限でき、消費
電力の低減やMATCH線のエレクトロマイグレーショ
ンの信頼性を上げる効果がある。
以上により、マイクロコンピュータ等のキャッシュメモ
リやTLBなどに適用できる高速、高集積でき低消費電
力の連想メモリを提供することができる。
リやTLBなどに適用できる高速、高集積でき低消費電
力の連想メモリを提供することができる。
以上のように本発明によれば、高集積性を保ち、かつ、
データを構成するビット幅によらず高速に一致検索を行
うことのできる半導体メモリを提供することができる。
データを構成するビット幅によらず高速に一致検索を行
うことのできる半導体メモリを提供することができる。
第1図Aは本発明の一実施例に係る半導体メモリの基本
構成を示すブロック図、第1図BはMATCH線を分割
した場合の半導体メモリの基本構成を示すブロック図、
第2図は連想メモリの特徴部の基本構成を示す回路図、
第3図はMATCH線を分割した場合の連想メモリの特
徴部の基本構成を示す回路図、第4図はカスコード増幅
部の他第1種の構成を示す回路図、第5図はカスコード
増幅部の他の第2種の構成を示す回路図、第6図はCA
Mセルの他の構成を示す回路図、第7図は電流リミッタ
回路を備えた場合の電流経路図、第8図は連想メモリの
全体構成を示すブロツク図、第9図は従来の半導体メモ
リの構成を示すブロック図である。 1・・・MATCH線、11・・・MATCH出力信号
、21・・・カスコード増帳部、All、A12)A
l n−検索データ、111,112.llnメモリセ
ル、Bll、B12)Bln・・・メモリセルの記憶デ
ータ、211.212.21n・・・は検索を行う検索
回路、C1l、C12)C1n・・・検索出力信号であ
る。 出願人 株式会社 日 立 製 作 所代理人 弁理士
富 1)利子 図A 図8 第 図 第 図 第 図 第 図
構成を示すブロック図、第1図BはMATCH線を分割
した場合の半導体メモリの基本構成を示すブロック図、
第2図は連想メモリの特徴部の基本構成を示す回路図、
第3図はMATCH線を分割した場合の連想メモリの特
徴部の基本構成を示す回路図、第4図はカスコード増幅
部の他第1種の構成を示す回路図、第5図はカスコード
増幅部の他の第2種の構成を示す回路図、第6図はCA
Mセルの他の構成を示す回路図、第7図は電流リミッタ
回路を備えた場合の電流経路図、第8図は連想メモリの
全体構成を示すブロツク図、第9図は従来の半導体メモ
リの構成を示すブロック図である。 1・・・MATCH線、11・・・MATCH出力信号
、21・・・カスコード増帳部、All、A12)A
l n−検索データ、111,112.llnメモリセ
ル、Bll、B12)Bln・・・メモリセルの記憶デ
ータ、211.212.21n・・・は検索を行う検索
回路、C1l、C12)C1n・・・検索出力信号であ
る。 出願人 株式会社 日 立 製 作 所代理人 弁理士
富 1)利子 図A 図8 第 図 第 図 第 図 第 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)複数のMOSメモリセルと、 MOSFETで構成された、入力する検索データとメモ
リセルのフリップフロップ部のデータとの一致検出を行
う検出回路と、検出結果を電流信号に変換し出力する共
通ソース増幅器よりなる、各メモリセル毎に設けられた
検索回路と、 前記検索回路よりの電流信号を電圧信号に変換する出力
増幅器とを有することを特徴とする半導体メモリ。 2)請求項1記載の半導体メモリであって、前記出力増
幅器を、前記電流信号を入力信号とするベースを基準電
位に接続した共通ベース増幅器を含んで構成したことを
特徴とする半導体メモリ。 3)請求項1記載の半導体メモリであって、前記出力増
幅器を、前記電流信号を入力信号とするゲートを基準電
位に接続した共通ゲート増幅器を含んで構成したことを
特徴とする半導体メモリ。 4)請求項1記載の半導体メモリであって、n個の前記
メモリセルに対応するn本の前記電流信号はワイアード
ORされ、 前記出力増幅器は、ワイアードORされた電流信号を電
圧信号に変換することを特徴とする半導体メモリ。 5)請求項1記載の半導体メモリであって、前記出力増
幅器は、n個の前記メモリセルに対応するn本の前記電
流信号を入力し、その論理ORを電圧信号として出力す
ることを特徴とする半導体メモリ。 6)請求項2記載の半導体メモリであって、前記出力増
幅器の共通ベース増幅器を、エミッタを複数設けた、複
数入力の1出力の共通ベース増幅器としたことを特徴と
する半導体メモリ。 7)請求項1記載の半導体メモリであって、前記検索回
路の共通ソース増幅器が変換する電流信号のピーク値を
抑制する電流リミッタ回路を設けたことを特徴とする半
導体メモリ8)請求項7記載の半導体メモリであって、
前記複数のメモリセルに備えた複数の検索回路の複数の
共通ソース増幅器が変換する電流の接地側電流路を共通
にし、共通にした電流路に前記電流リミッタ回路を設け
たことを特徴とする半導体メモリ。 9)ワードを行としてマトリックスを形成する複数のメ
モリセルと、 ライト時に入力されるアドレスの指定するワードに対応
するメモリセルを選択するデコーダと、MOSFETで
構成された、入力する検索データとメモリセルのフリッ
プフロップ部のデータとの一致検出を行う検出回路と、
検出結果を電流信号に変換し出力する共通ソース増幅器
よりなる、各メモリセル毎に設けられた検索回路と、 それぞれ1ワード対応分の前記電流信号がワイアードO
Rされたマッチ信号線と、 マッチ信号線を入力し、マッチ信号線上の電流信号を電
圧信号に変換して出力する、ワード数分の出力増幅器と ワード数分の出力増幅器よりの電圧信号の論理ORをヒ
ット信号として出力するヒット検出回路とを有すること
を特徴とする半導体メモリ。 10)請求項9記載の半導体メモリと、 前記半導体メモリの各出力増幅機の出力する電圧信号を
、それぞれワード線としてアクセスされる第2のメモリ
セルマトリックスを有することを特徴とする連想メモリ
。 11)請求項10記載の連想メモリを内蔵したことを特
徴とする1チッププロセッサ。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25640190A JPH04134792A (ja) | 1990-09-26 | 1990-09-26 | 半導体メモリ |
KR1019910016782A KR100208142B1 (ko) | 1990-09-26 | 1991-09-26 | 반도체 메모리 |
US07/765,838 US5285414A (en) | 1990-09-26 | 1991-09-26 | Semiconductor memory having transistors which drive data lines in accordance with values of write data and column select signal |
US08/159,256 US5657264A (en) | 1990-09-26 | 1993-11-30 | Semiconductor memory |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25640190A JPH04134792A (ja) | 1990-09-26 | 1990-09-26 | 半導体メモリ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04134792A true JPH04134792A (ja) | 1992-05-08 |
Family
ID=17292169
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP25640190A Pending JPH04134792A (ja) | 1990-09-26 | 1990-09-26 | 半導体メモリ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04134792A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0613089A1 (en) * | 1993-02-19 | 1994-08-31 | Digital Equipment Corporation | Content addressable memory having memory cells storing don't care states for address translation |
WO1996029705A1 (fr) * | 1995-03-17 | 1996-09-26 | Hitachi Ltd. | Circuit integre a semi-conducteurs |
JP2012043533A (ja) * | 2011-11-29 | 2012-03-01 | Renesas Electronics Corp | 内容参照メモリ |
US8310852B2 (en) | 2006-04-25 | 2012-11-13 | Renesas Electronics Corporation | Content addressable memory |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63119096A (ja) * | 1986-11-06 | 1988-05-23 | Hitachi Ltd | キャッシュメモリ装置 |
JPH02192098A (ja) * | 1988-10-28 | 1990-07-27 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 連想メモリセル及び連想記憶装置 |
-
1990
- 1990-09-26 JP JP25640190A patent/JPH04134792A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63119096A (ja) * | 1986-11-06 | 1988-05-23 | Hitachi Ltd | キャッシュメモリ装置 |
JPH02192098A (ja) * | 1988-10-28 | 1990-07-27 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 連想メモリセル及び連想記憶装置 |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0613089A1 (en) * | 1993-02-19 | 1994-08-31 | Digital Equipment Corporation | Content addressable memory having memory cells storing don't care states for address translation |
WO1996029705A1 (fr) * | 1995-03-17 | 1996-09-26 | Hitachi Ltd. | Circuit integre a semi-conducteurs |
US6121646A (en) * | 1995-03-17 | 2000-09-19 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor integrated circuit |
US6342710B1 (en) | 1995-03-17 | 2002-01-29 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor integrated circuit |
US8310852B2 (en) | 2006-04-25 | 2012-11-13 | Renesas Electronics Corporation | Content addressable memory |
US8638583B2 (en) | 2006-04-25 | 2014-01-28 | Renesas Electronics Corporation | Content addressable memory |
US9042148B2 (en) | 2006-04-25 | 2015-05-26 | Renesas Electronics Corporation | Content addressable memory |
US9620214B2 (en) | 2006-04-25 | 2017-04-11 | Renesas Electronics Corporation | Content addressable memory with reduced power consumption and increased search operation speed |
JP2012043533A (ja) * | 2011-11-29 | 2012-03-01 | Renesas Electronics Corp | 内容参照メモリ |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US3765002A (en) | Accelerated bit-line discharge of a mosfet memory | |
US5289414A (en) | Comparator | |
JPH04313895A (ja) | 検出増幅回路およびその実行方法 | |
KR100208142B1 (ko) | 반도체 메모리 | |
US4369503A (en) | Decoder circuit | |
US4677589A (en) | Dynamic random access memory cell having a charge amplifier | |
US5253197A (en) | Semiconductor associative memory device with current sensing | |
US3969707A (en) | Content-Addressable Memory capable of a high speed search | |
JPH06196637A (ja) | 保持形bicmos感知増幅器を有するメモリ | |
JPH05198755A (ja) | 半導体論理回路 | |
US4845676A (en) | Non-clocked static memory cell | |
US5218567A (en) | Match detection circuit for cache memory apparatus | |
US4127899A (en) | Self-quenching memory cell | |
JPH04134792A (ja) | 半導体メモリ | |
EP0365730B1 (en) | Double stage bipolar sense amplifier for BICMOS SRAMS with a common base amplifier in the final stage | |
US20030058672A1 (en) | Associative memory circuit judging whether or not a memory cell content matches search data by performing a differential amplification to a potential of a match line and a reference potential | |
GB1281808A (en) | Associative stores | |
KR940002857B1 (ko) | 반도체 메모리 장치 | |
US4280197A (en) | Multiple access store | |
US5483479A (en) | Associative storage memory | |
US5200924A (en) | Bit line discharge and sense circuit | |
US4488065A (en) | Sensing and logic for multiple bit per cell ROM | |
JP3094159B2 (ja) | キャッシュメモリ装置 | |
US5448523A (en) | BICMOS cache TAG having small signal exclusive OR for TAG comparison | |
US5473561A (en) | BICMOS cache TAG having ECL reduction circuit with CMOS output |