JPH04131788A - 距離の測定装置 - Google Patents

距離の測定装置

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JPH04131788A
JPH04131788A JP2253803A JP25380390A JPH04131788A JP H04131788 A JPH04131788 A JP H04131788A JP 2253803 A JP2253803 A JP 2253803A JP 25380390 A JP25380390 A JP 25380390A JP H04131788 A JPH04131788 A JP H04131788A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 本発明は多重変調信号の位相差と遅延時間を検出するこ
とにより、距離を測定する光波距離計に俤わり、特に、
1つの周波数で位相差測定測定を行うと共に、遅延時間
の測定を並行して行うことができる距離の測定装置に関
するものである。
「従来の技術」 従来の光波距離計は、光波距離計本体と反射器から構成
されており、光波距離計本体から放射された変調波を反
射器で反射させ、反射変調波を再び光波距離計本体で受
光する様にm成されていた。
光波距離計本体から放射された変調波と反射変調波との
位相差は、光波距離計と反射器との距離に対応すること
から、この位相差を検出することにより光波距離計と反
射器との距離を算出する様になっていた。
なお近距離測定においては、特に、反射ミラーを設けず
、測定対象物を反射部とし、これからの反射を利用する
場合もある。
ところで光波距離計においては、高精度の計測が要求さ
れるなめ、比較的短い波長の変調波により測定する必要
がある。例えば、±5I1m程度の測定精度を得るため
には、精測定用に第1の波長λ1= 20 mを使用す
る必要がある。しかしながら測定距離と位相の関係は、
測定距離が10m(光路長20m)変化するごとに、位
相は0〜2πの範囲で変化する。従って、10m才での
測定を行うことしかできないことになる。(測定周期1
0m)。そこで、前記精測定より測定瑚期の長い波長で
あるλ2を使用して、粗測定(大略測定)を行う必要が
あった。また、更に遠距離測定を可能とするために、粗
測定より測定周期の長い波長^3を使用して、多大略測
定を行う様に構成されていた。
そして、これらの精測定、粗測定(大略測定)、多大略
測定の結果を合成して最終測定結果を得る様になってい
た。即ち、^1、λ2、λ3の3種の周波数の変調波を
使用して測定を行う光波距離計が知られていた。
「発明が解決しようとする課題」 しかしながら上記従来型の光波距離計は、測定周波数が
3種類以上使用しているため、時間毎に各測定波長を切
り替えて測定する必要があり、測定時間が長くなるとい
う問題点があった9測定時間の短縮化を図ろうとすれば
、各測定周波数での測定時間を短縮化せねばならず、精
度を低下させてし戸うという問題点があった9 そこで測定精度を低下させることなく、測定時間を短縮
化させることのできる光波距離計の出現が強く望丈れて
いた。
r課題を解決するための手段」 本発明は上記課題に鑑み案出されたもので、測定点に配
置した反射部からの反射光を検出して距離を測定するた
めの距離測定装置において、第1周波数及び第2周波数
で多重変調信号を発生させるための信号発生手段と、該
信号発生手段からの信号に基づき変調光を発生させるた
めの発光手段と、この発光手段から射出され、測定点に
配置した前記反射部により反射された多重変調光を受光
し、反射多重変調信号を形成するための受光手段と、前
記第1周波数から僅かに異なる第3周波数の第3周期信
号を形成するための第1の局部発振器と、前記第2周波
数から僅かに異なる第4周波数の第4周期信号を形成す
るための第2の局部発振器と、前記受光手段からの反射
多重変調信号と前記第3周期信号との第1の合成信号を
形成するための第1の混合器と、前記受光手段からの反
射多重変調信号と前記第4周期信号との第2の合成信号
を形成するための第2の混合器と、前記第1の合成信号
及び該第2の合成信号から所定の周波数成分を取り出す
ローパスフィルタと、ローパスフィルタを通過させた第
1の合成信号及び第2の合成信号と前記信号発生器の発
生信号に対応する信号との位相差を求める位相差測定手
段と、ローパスフィルタを通過させた第1の合成信号と
前記信号発生手段の発生信号に対応する信号との位相差
及びローパスフィルタを通過させた第2の合成信号と前
記信号発生手段の発生信号に対応する信号との位相差と
により、測定点滅での距離を精密測定するするための第
1の距離測定手段と、前記発光手段が発光する変調信号
と前記受光手段からの反射多重変調信号との遅れ時間を
測定することにより、測定点までの距離を粗測定するた
めの第2の距離測定手段とから構成される装置「作用」 以上の様に構成された本発明は、信号発生手段が第1の
周波数及び第2の周波数で多重変調信号を発生させ、発
光手段が信号発生手段の信号に基づき、変調光を発光さ
せる。そして受光手段が、発光手段から射出され、測定
点に配置された反射部で反射された多重変調光を受光し
て反射多重変調信号を形成する。また第1の局部発振器
が第1周波数から僅かに異なる第3周波数の第3周期信
号を形成し、第2の局部発振器が第2周波数から僅かに
異なる第4周波数の第4周期信号を形成する。そして第
1の混合器が、受光手段からの反射多重変調信号と第3
周期信号との第1の合成信号を形成し、第2の混合器が
、受光手段からの反射多重変調信号と第4周期信号との
第2の合成信号を形成する様になっている9更にローパ
スフィルタが第1の合成信号及び第2の合成信号から所
定の周波数成分を取り出し、位相差測定手段が、ローパ
スフィルタを通過させた第1の合成信号及び第2の合成
信号と前記信号発生器の発生信号に対応する信号との位
相差を求める様になっている。
そして第1の距離測定手段が、ローパスフィルタを通過
させた第1の合成信号と信号発生手段の発生信号に対応
する信号との位相差及びローパスフィルタを通過させた
第2の合成信号と前記信号発駅測定手段が、発光手段が
発光する変調信号と受光手段からの反射多重変調信号と
の遅れ時間を測定することにより、測定点までの距離を
粗測定することができる。
「実施例」 本発明の実施例を図面に基づいて説明する。第1図は本
実施例の構成を示すもので、光波距離計は、基準信号発
振器1と、同期回路2と、駆動回路3と、発光手段4と
、受光手段5と、第1の位相差検出手段6Aと、第2の
位相差検出手段6Bと、遅れ時間測定手段7と、マイク
ロコンピュータ8と、分周器9と、アンド回路10とか
ら構成されている。
基準信号発振器1は信号発生手段に該当するもので、変
調信号を発生させるものである9基準信号発振器1は、
周波数f、の信号を発振させることができ、更に、第1
の分周器91を介することにより、周波数f2を供給す
ることもできる。同期図i!82は、基準信号発振器1
からの周波数f1及び第1の分周器91からの周波数f
2の論理積出力を入力し、周波数f2に同期した信号を
形成するためのものである。
駆動回路3は発光手段4を駆動させるためのものであり
、同期回路2で同期された信号に基づいて発光手段4を
駆動させることができる。発光手段4は、入力された駆
動信号に基づき変調光を発生させるためのものであり、
本実施例ではレーザーダイオードが採用されている。受
光手段5は、測定点に配置された反射ミラーにより反射
された変調光と受、光するための光電変換素子である。
この受光手段うで得られた反射変調信号は、増輻器51
で増幅された後、位相差検出手段6及び遅れ時間測定手
段7に供給される。
位相差検出手段6は位相差測定手段に該当するもので、
第1の位相差検出手段6Aと第2の位相差検出手段6B
とから構成されている。位相差検出手段6は、発光手段
4が発光する変調信号と受光手段5からの反射多重変調
信号との位相差を検出することにより精密測定を行うた
めのものである。
第1の位相差検出手段6Aは、第1の混合器61Aと、
第1のローパスフィルタ62Aと、第1の波形変換回路
63Aと、第1の位相比較回路64Aと、第1の周波数
発生器65Aとから構成されている。第1の周波数発生
器65Aは第1の局部発振器に該当するもので、第1周
波数(fl)から僅かに異なる第3周波数(f3)の第
3周期信号を形成するためのものである。第1の混合器
61Aは、受光手段からの反射多重変調信号と第3周期
信号との第1の合成信号を形成するためのものである。
第1のローパスフィルタ62Aは、第1の合成信号から
所定の周波数成分を取り出すためのものである。第1の
位相比較回路64Aは、第1の合成信号と基準信号発振
器1の発生信号に対応する信号との位相差を求めるため
のものである。
同様に第2の位相差検出手段6Bは、第2の混合器61
Bと、第2のローパスフィルタ62Bと、第2の波形変
換回路63Bと、第2の位相比較回路64Bと、第2の
周波数発生器65Bとから構成されている。第2の゛周
波数発生器65Bは第2の局部発振器に該当するもので
、 第2周波数(fz)から僅かに異なる第4周波数(
f4)の第4周期信号を形成するためのものである。第
2の混合器62Bは、受光手段からの反射多重変調信号
と第4周期信号との第2の合成信号を形成するためのも
のである。第2のローパスフィルタ62Bは、第2の合
成信号から所定の周波数成分を取り出すためのものであ
る。第2の位相比較回路64Bは、第2の合成信号と基
準信号発振器1の発生信号に対応する信号との位相差を
求めるためのものである。
遅れ時間測定手段7は、発光手段4が発光する変調信号
と受光手段5からの反射多重変調信号との遅れ時間を測
定することによりin定を行うためのものであり、比較
器7Iと、カウンタ72と、基準電圧発生器73とから
構成されている。
マイクロコンピュータ8は、各々の回路の動作を制博し
なり、距離の演算等を行うものである。
以上の様に構成された本発明の動作を第1図及び第2図
に基づいて説明する。
基準信号発振器1から周波数f1の信号がアンド回路I
Oに供給される9また基準信号発振器lがらの周波数f
1の信号は、第1の分周器91で分周され周波数r2の
信号となってアンド回路10(こ供給される。従ってア
ンド回路10は、基準信号発振器1からの周波数f1の
信号と、第1の分周器91からの周波数f2の信号の論
理積信号(波形1)を形成する。そして、この周波数f
1と周波数f2とが多重化された信号(即ち、論理積信
号)は、同期回路2に供給されて周波数f2に同期され
た信号となる。そしてマイクロコンピュータ8から測定
開始信号(波形2)が出力され、同期回路に送出される
と、周波数f1と周波数f2とが多重化された信号が駆
動手段3に送出されると共に、スタート信号(波形4)
が遅れ時間測定手段7のカウンタ72に送出される。
駆動手段3は、入力された多重変調信号(波形1)に基
づき発光手段4を駆動させて多重変調光を発生させる。
そして発光手段4から射出された光は、測定点に配置さ
れた反射ミラーで反射され、受光手段5で受光される。
受光手段5では充電変換が行われ、反射多重変調信号が
形成される9この反射多重変調信号は第1の増幅器51
で増幅された後、位相差検出手段6に送出される9第1
の増幅器51で増幅された反射変調信号は、更に第2の
増幅器52で増幅され、遅れ時間測定手段7に供給され
る。
戸ず、遅れ時間測定手段7の動作を説明する。
第2の増幅器52で増幅された反射変調信号(波形5)
は、比較器71に入力される。比較器71は、基準電圧
発生回路73からの基準電圧と、入力された反射変調信
号を比較し、反射変調信号が基準電圧を越えると、スト
ップ信号(波形6)を出力する様になっている9このス
トップ信号(波形6)と、スタート信号(波形4)とが
、カウンタ72に入力される様に構成されており、カウ
ンタ72は、スタート信号とストップ信号の間に入力さ
れる基準信号発振器1のクロックをカウントする様にな
っている(波形7)。このカウントされたクロック数と
基準信号発振器lの周波数とから、マイクロコンピュー
タ8は、反射器と光波距離計との距離を演算することが
できる。
例えば、スタート信号とストップ信号との時間差が25
μs、基準信号発振器1の発振周波数が15MHzであ
る場合には、カウンタ72は「375」を計数する。基
準信号発振器1の1力ウント分は20mに相当するので
、光波距離計と反射器との往復距離は、 375x2Qm=7500m となり、光波距離計と反射器式での距離は3750mと
なる。
なお周波数f2を利用した場合も同様な結果が得られる
従って遅れ時間測定手段7とマイクロコンピュータ8と
が、第2の距離測定手段に該当するものである。
次に位相差検出手段6の動作を説明する。第1の増幅器
51で増幅された反射変調信号は、第1の位相差検出手
段6Aと第2の位相差検出手段6Bに供給される9 まず、第1の位相差検出手段6Aの動作を説明する9第
1の周波数発振器65Aが、周波数f1より僅か周波数
f5異なる、周波数f、の信号(f、=f1 f、)を
発振する。この周波数f3の信号が第1の混合器61A
に供給され、第1の増幅器51で増幅された反射変調信
号と混合され、周波数変換が行われる。ここで、第1の
混合器61Aの出力信号(波形11)の成分を示すと以
下の様になる。
f、       f2     f。
f、+f2   f、−f2   f、−f。
f2+f、    f2−f、    2f、−f。
fl+f2  f5  fl  f2  f52fl 
 f2−fs2f、+f2−fら そして第1の混合器61Aの出力信号は、第1のローパ
スフィルタ62Aに送られ、所定の周波数であるf、の
信号のみが通過される。第1のローパスフィルタ62A
を通過した信号は、第1の波形変換回路63Aで波形整
形される。(波形9)才な基準信号発振器1で発生した
周波数f、の信号は、第2の分周器92で分周されて周
波数f。
(f5と同一の周波数)の信号となり、この周波数f、
/の信号と、第1の波形変換回路63Aの出力波形であ
る周波数f5の信号とが、第1の位相比較回路64Aに
より位相差比較がなされる。
次に、第2の位相差検出手段6Bの動作を説明する。第
2の周波数発振器65Bが、周波数f2より僅か周波数
f5異なる、周波数f4の信号(f4f2−fう)を発
振する。この周波数f4の信号が第2の混合器61Bに
供給され、第1の増幅器51で増幅された反射変調信号
と混合され、周波数変換が行われる。ここで、第2の混
合器61Bの出力信号(波形12)の成分を示すと以下
の様になる。
f1+f2 f、−f。
f !+ f 2− f 。
f、−2f2+f。
そして第2の混合器61Bの出力信号は、第2のローパ
スフィルタ62Bに送られ、所定の周波数であるf5の
信号のみが通過される9第2のローパスフィルタ62B
を通過した信号は、第2の波形変換回路63Bで波形整
形される。(波形10)そして、第2の分局器92で分
周された周波数f5/の信号と、第2の波形変換回路6
3Bの出力波形である周波数f5の信号とが、第2の位
相比較図164Bにより位相差比較がなされる。
この結果、第1の位相比較回路64Aと第2の位相比較
回路64Bとで得られた位相差を利用して、マイクロコ
ンピュータ8が、光波距離計と反射器までの距離を演算
することができる9従って、第1の位相比較回路64A
と第2の位相比較回路f 、+ f 。
2f2−f。
f、+2f2−f。
f2−f。
1−f2 f、−f2+f。
64Bとマイクロコンピュータ8とが、第1の距離測定
手段に該当するものである。
なお、第1の位相比較回路64Aと第2の位相比較回路
64Bの位相比較動作は、同時に行われるものである。
ここで具体的な距離測定を説明すると、例えば、周波数
f1を15MHzとし、周波数f2を150kHzとし
た場合、第1の位相差検出手段6Aて゛測定した位相差
が9Or!!:、、第2の位相差検出手段6B″C′測
定した位相差が271度の場合、第1の位相差検出手段
6Aは位相差が360度の時10mの距離に相当し、第
2の位相差検出手段6Bは位相差が360度の時100
0mに相当するので、第1の位相差検出手段6Aで測定
した場合の距離換算は2.5mとなり、第2の位相差検
出手段6Bで測定した場合のV1離換算は753mとな
る9この結果マイクロコンピュータ8は、第1の位相差
検出手段6Aと第2の位相差検出手段6Bと遅れ時間測
定手段7とから得られた3種の距離を合成して測定距離
を演算する。即ち、10m以下の距離は第1の位相差検
出手段6Aにより得られた位相差測定から求め、10.
rn以上10’OOm未満の距離は第2の位相差検出手
段6Bにより得られた位相差測定から求め、更に100
0m以上の距離は遅れ時間測定手段7から求めた距離を
使用して、3752.5mと求めるものである。
以上の様に構成された本実施例は、周波数f、と周波数
f2を多重変調した信号を使用して位相差検出手段6に
より精密測定を行い、遅れ時間測定手段7により粗測定
を行っているので、1つの周波数で高精度な計測を行う
ことができるという効果がある。従って、3つの周波数
を使用した光波距離計より測定時間を短くすることがで
きるという卓越した効果がある。 なお、周波数f1、
周波数f2、基準信号発振器1の発振周波数等は、上記
実施例に限定されるものではなく、適宜選択されること
はいうまでもない。
「効果」 以上の様に構成された本発明は、測定点に配置した反射
部からの反射光を検出して距離を測定するための距離測
定装置において、第1周波数及び第2周波数で多重変調
信号を発生させるための信号発生手段と、該信号発生手
段からの信号に基づき変調光を発生させるための発光手
段と、この発光手段から射出され、測定点に配置した前
記反射部により反射された多重変調光を受光し、反射多
重変調信号を形成するための受光手段と、前記第1周波
数から僅かに異なる第3周波数の第3周期信号を形成す
るための第1の局部発振器と、前記第2周波数から僅か
に異なる第4周波数の第4周期信号を形成するための第
2の局部発振器と、前記受光手段からの反射多重変調信
号と前記第3周期信号との第1の合成信号を形成するた
めの第1の混合器と、前記受光手段からの反射多重変調
信号と前記第4周期信号との第2の合成信号を形成する
ための第2の混合器と、前記第1の合成信号及び該第2
の合成信号から所定の周波数成分を取り出すローパスフ
ィルタと、ローパスフィルタを通過させた第1の合成信
号及び第2の合成信号と前記信号発生器の発生信号に対
応する信号との位相差を求める位相差測定手段と、ロー
パスフィルタを通過させた第1の合成信号と前記信号発
生手段の発生信号に対応する信号との位相差及びローパ
スフィルタを通過させた第2の合成信号と前記信号発生
手段の発生信号に対応する信号との位相差とにより、測
定点までの距離を精密測定するするための第1の距離測
定手段と、前記発光手段が発光する変調信号と前記受光
手段からの反射多重変調信号との遅れ時間を測定するこ
とにより、測定点までの距離を粗測定するための第2の
距離測定手段とから構成されているので、粗測定に別個
の周波数の信号を使用する必要がないという効果がある
9更に2つの周波数の信号を多重化しているので、通常
の2波長分の位相差測定を同時もこ測定することができ
るという効果がある。また、位相差測定と時間差測定の
ハードウェアが独立しているので、測距時間を短縮する
ことができ、特に、従来のものに比較して1波長測定分
の時間−で測定が完了するという卓越した効果がある。
更に、粗測定が遅れ時間を利用して゛いるので、発光手
段から発光された光が反射される限り、測定距離に制限
がないという効果がある。
【図面の簡単な説明】
図は本発明の実施例を示すもので、第1図は本実施例の
構成を説明する図であり、第2図は本実施例の動作を説
明する波形を示す図である。 1・・・・基準信号発振器 2・・・・同期回路 3・・・・駆動回路 4・・・・発光手段 5・・・・受光手段 6・・・・位相差検出手段 6A・・・第1の位相差検出手段 6B・・・第2の位相差検出手段 61A・・第1の混合器 62A・・第1のローパスフィルタ 63A・・第1の波形変換回路、 64、A・・第1の位相比較回路 65A・・第1の周波数発生器 61B・・第2の混合器 62B・・第2のローパスフィルタ 63B・・第2の波形変換回路 64B・・第2の位相比較回路 65B・・第2の周波数発生器 7・・・・遅れ時間測定手段 71・・・比較器 72・・・カウンタ 73・・・基準電圧発生回路 8・・・・マイクロコンピュータ 91・・・第1の分周器 92・・・第2の分周器 10・・・アンド回路 特許出願人 株式会社 ドブコン

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)測定点に配置した反射部からの反射光を検出して
    距離を測定するための距離測定装置において、第1周波
    数及び第2周波数で多重変調信号を発生させるための信
    号発生手段と、該信号発生手段からの信号に基づき変調
    光を発生させるための発光手段と、この発光手段から射
    出され、測定点に配置した前記反射部により反射された
    多重変調光を受光し、反射多重変調信号を形成するため
    の受光手段と、前記第1周波数から僅かに異なる第3周
    波数の第3周期信号を形成するための第1の局部発振器
    と、前記第2周波数から僅かに異なる第4周波数の第4
    周期信号を形成するための第2の局部発振器と、前記受
    光手段からの反射多重変調信号と前記第3周期信号との
    第1の合成信号を形成するための第1の混合器と、前記
    受光手段からの反射多重変調信号と前記第4周期信号と
    の第2の合成信号を形成するための第2の混合器と、前
    記第1の合成信号及び該第2の合成信号から所定の周波
    数成分を取り出すローパスフィルタと、ローパスフィル
    タを通過させた第1の合成信号及び第2の合成信号と前
    記信号発生器の発生信号に対応する信号との位相差を求
    める位相差測定手段と、ローパスフィルタを通過させた
    第1の合成信号と前記信号発生手段の発生信号に対応す
    る信号との位相差及びローパスフィルタを通過させた第
    2の合成信号と前記信号発生手段の発生信号に対応する
    信号との位相差とにより、測定点までの距離を精密測定
    するするための第1の距離測定手段と、前記発光手段が
    発光する変調信号と前記受光手段からの反射多重変調信
    号との遅れ時間を測定することにより、測定点までの距
    離を粗測定するための第2の距離測定手段とからなる距
    離の測定装置。
JP2253803A 1990-09-10 1990-09-21 距離の測定装置 Expired - Lifetime JP2952698B2 (ja)

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