JPH04127577U - high frequency measurement probe - Google Patents

high frequency measurement probe

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JPH04127577U
JPH04127577U JP3307091U JP3307091U JPH04127577U JP H04127577 U JPH04127577 U JP H04127577U JP 3307091 U JP3307091 U JP 3307091U JP 3307091 U JP3307091 U JP 3307091U JP H04127577 U JPH04127577 U JP H04127577U
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insulating blade
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明人 小池
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株式会社アドバンテスト
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】 高周波信号を劣化させることなくハイブリッ
ドIC等に入力し、また取出すことができる高周波測定
プローブを提供する。 【構成】 誘電体から成る絶縁板にマイクロストリップ
ラインを形成し、マイクロストリップラインを構成する
信号線13と接地導体12に導電性バネ材によって形成
した接触子を取付けて構成される。
(57) [Summary] (with modifications) [Purpose] To provide a high-frequency measurement probe that can input and take out high-frequency signals into a hybrid IC, etc., without deteriorating them. [Structure] A microstrip line is formed on an insulating plate made of a dielectric material, and contacts made of a conductive spring material are attached to a signal line 13 and a ground conductor 12 that constitute the microstrip line.

Description

【考案の詳細な説明】[Detailed explanation of the idea]

【0001】0001

【産業上の利用分野】[Industrial application field]

この考案は例えばハイブリットICのような素子の動作を試験する場合に用い る高周波測定プローブに関する。 This idea can be used, for example, to test the operation of devices such as hybrid ICs. This invention relates to high frequency measurement probes.

【0002】0002

【従来の技術】[Conventional technology]

図3乃至図5に、従来のプローブの構造を示す。図中1はプローブカードを示 す。このプローブカード1は絶縁板によって構成され、中央に開口部2が形成さ れ、この開口部2にプローブ3が複数突出して取付けられる。プローブ3の先端 が被測定体4に電気的に接触して測定を行なう。 3 to 5 show the structure of a conventional probe. 1 in the figure indicates the probe card. vinegar. This probe card 1 is composed of an insulating plate, and has an opening 2 formed in the center. A plurality of probes 3 are attached to the opening 2 in a protruding manner. Tip of probe 3 makes electrical contact with the object to be measured 4 to perform measurements.

【0003】 被測定体4は例えばハイブリットICのような素子であり、被測定体4の上面 に電気的な入出力端子及び電源端子が形成され、この端子にプローブ3の先端が 電気的に接触して測定装置等に電気的に接続する。 従来のプローブ3は図4及び図5に示すように金属ブレード3Aと、この金属 ブレード3Aの先端に取付た導電性バネ材から成る接触子3Bとによって構成さ れる。金属ブレード3Aは例えば銅、シンチュウ等の電気的良導体によって形成 され、その先端に取付けられる導電性バネ材は例えばパラジウムのように腐蝕し 難いバネ材によって形成する。0003 The object to be measured 4 is an element such as a hybrid IC, and the upper surface of the object to be measured 4 is An electrical input/output terminal and a power supply terminal are formed on the terminal, and the tip of the probe 3 is connected to this terminal. Connect electrically to a measuring device, etc. by making electrical contact. The conventional probe 3 has a metal blade 3A and a metal blade 3A as shown in FIGS. 4 and 5. It consists of a contact 3B made of conductive spring material attached to the tip of the blade 3A. It will be done. The metal blade 3A is made of a good electrical conductor such as copper or copper. The conductive spring material attached to the tip of the spring is corroded, such as palladium. It is made of difficult spring material.

【0004】 プローブカード1には開口部2に沿って導電層5が島状に形成され、この導電 層5に金属ブレード3Aを半田付する等して取付けている。各プローブ3はプロ ーブカード1に形成した印刷配線パターン6によってコンタクト7に接続するか 又は高周波回路では同軸ケーブル8によってコンタクト7に電気的に接続され、 コンタクト7を通じて測定器等に接続される。0004 A conductive layer 5 is formed in the shape of an island along the opening 2 on the probe card 1. A metal blade 3A is attached to the layer 5 by soldering or the like. Each probe 3 is connection to the contacts 7 using the printed wiring pattern 6 formed on the cable card 1. Or in a high frequency circuit, it is electrically connected to the contact 7 by a coaxial cable 8, It is connected to a measuring device etc. through the contact 7.

【0005】[0005]

【考案が解決しようとする課題】[Problem that the idea aims to solve]

従来のプローブ3は金属ブレード3Aと導電性バネ材によって形成された接触 子3Bとによって構成されるため、高周波信号に対してはインピーダンス整合が とれていない。従って高周波信号を授受する回路が存在する場合、高周波信号の 波形に歪みを与え、正確な測定を行なうことができない欠点がある。 The conventional probe 3 has a contact formed by a metal blade 3A and a conductive spring material. 3B, impedance matching is possible for high frequency signals. I haven't taken it yet. Therefore, if there is a circuit that sends and receives high-frequency signals, It has the disadvantage that it distorts the waveform and makes it impossible to perform accurate measurements.

【0006】 この考案の目的は高周波信号に対してもインピーダンス整合がとれた状態で信 号を授受することができる高周波測定プローブを提供しようとするものである。[0006] The purpose of this invention is to provide high-frequency signals with impedance matching. The aim is to provide a high-frequency measurement probe that can send and receive signals.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】[Means to solve the problem]

この考案ではブレードを誘電体板から成る絶縁ブレードとし、この絶縁ブレー ドにマイクロストリップラインを形成する。マイクロストリップラインの信号線 と接地用導体に導電性バネ材によって形成した接触子を取付ける。接触子の遊端 部は絶縁ブレードの端部から突出して支持され、その遊端部に被測定体の電極が 接触される。 In this idea, the blade is an insulated blade made of a dielectric plate. Form a microstrip line on the board. Microstrip line signal line A contact made of conductive spring material is attached to the grounding conductor. Free end of contact The part is supported by protruding from the end of the insulating blade, and the electrode of the object to be measured is attached to the free end. be contacted.

【0008】 この考案の構成によれば接触子の取付部分までマイクロストリップラインによ って信号路が形成されるから、絶縁ブレードの部分ではインピーダンス整合がと れた状態に維持することができる。然も接触子の部分では信号用接触子と接地用 接触子とが近接して被測定体に向って延長されるから、その対向する距離を適当 に選定することによってインピーダンスをマイクロストリップライン上の特性イ ンピーダンスに近ずけることができる。[0008] According to the configuration of this invention, the microstrip line extends to the contact mounting area. Since a signal path is formed, impedance matching is achieved at the insulating blade. can be maintained in a stable condition. However, in the contact part, there is a signal contact and a grounding contact. Since the contacts are close to each other and extend toward the object to be measured, set the facing distance appropriately. By selecting the impedance as impedance can be approximated.

【0009】 従ってこの考案によれば接触子の部分からブレードの出口の部分まで、ほぼ全 体にわたってインピーダンス整合がとれたプローブを構成することができる。[0009] Therefore, according to this invention, almost the entire area from the contact part to the blade exit part is Probes can be constructed with impedance matching across the body.

【0010】0010

【実施例】【Example】

図1及び図2にこの考案の一実施例を示す。図中1はプローブカード、2はこ のプローブカード1に形成した開口部、5はプローブカード1の上面に形成した 導電層を示す。尚、この例では導電層5は接地導体の場合を示す。 10はこの考案による高周波測定プローブを示す。この考案による高周波測定 プローブ10は誘電体板から成る絶縁ブレード11と、この絶縁ブレード11の 一方の面の全体に形成した接地導電層12と、絶縁ブレード11の他方の面に形 成したマイクロストリップラインを構成する信号線13と、この信号線13に一 端側が電気的、機械的に接続された信号用接触子14と、接地導電層12に電気 的、機械的に接続された接地用接触子15とによって構成される。 An embodiment of this invention is shown in FIGS. 1 and 2. In the figure, 1 is a probe card, 2 is a The opening 5 is formed on the top surface of the probe card 1. Shows a conductive layer. In this example, the conductive layer 5 is a ground conductor. 10 shows a high frequency measurement probe according to this invention. High frequency measurement using this idea The probe 10 includes an insulating blade 11 made of a dielectric plate and an insulating blade 11 made of a dielectric plate. A ground conductive layer 12 formed on the entire surface of one surface and a shape formed on the other surface of the insulating blade 11. The signal line 13 constituting the microstrip line that has been A signal contact 14 whose end side is electrically and mechanically connected, and an electrically connected ground conductive layer 12. and a mechanically connected ground contact 15.

【0011】 絶縁ブレード11は誘電率が高く、マイクロストリップラインを構成すること ができる例えばセラミック板を用いることができる。セラミック板から成る絶縁 ブレード11は細条形状とされ、一方の面の全面にマイクロストリップライン用 の接地導電層12が被着形成される。絶縁ブレード11の他方の面にはマイクロ ストリップラインを構成する信号線13が形成される。信号線13は印刷配線パ ターンによって構成され、絶縁ブレード11の先端部に向かって延長されて形成 される。[0011] The insulating blade 11 has a high dielectric constant and forms a microstrip line. For example, a ceramic plate can be used. Insulation consisting of ceramic plates The blade 11 is in the form of a strip, and one surface is coated for microstrip lines. A ground conductive layer 12 is deposited. The other side of the insulating blade 11 has a micro A signal line 13 constituting a strip line is formed. The signal line 13 is a printed wiring pattern. It is formed by a turn and extends toward the tip of the insulating blade 11. be done.

【0012】 絶縁ブレード11の先端に延長されて形成された信号線13に、信号用接触子 14を取付ける。この取付は半田付、或は溶着等を利用することができる。信号 用接触子14は、信号線13と接触する部分だけ絶縁ブレードの一方の面に接触 し、この接触部分から折曲られて絶縁ブレード11の底面部分に沿わせ、底面部 の先端から前方に突出される。0012 A signal contact is attached to the signal wire 13 formed by extending from the tip of the insulating blade 11. Install 14. This attachment can be done using soldering, welding, or the like. signal The contactor 14 contacts one side of the insulating blade only at the part that contacts the signal line 13. Then, it is bent from this contact part and placed along the bottom part of the insulating blade 11. protrudes forward from the tip.

【0013】 接地用接触子15は接地導電層12に半田付等によって取付けられた導電ブロ ック16の底面に一端が取付けられて支持される。導電ブロック16は接地用接 触子15と信号用接触子14との間の間隙Gを適当な値に選定して接地用接触子 15を配置するために設けられる。導電ブロック16は銅或はシンチューのよう な導電体によって構成される。[0013] The grounding contact 15 is a conductive block attached to the grounding conductive layer 12 by soldering or the like. One end is attached to and supported by the bottom surface of the rack 16. The conductive block 16 is for grounding. By selecting an appropriate value for the gap G between the feeler 15 and the signal contact 14, the ground contact 15. The conductive block 16 is made of copper or copper. It is composed of a conductor.

【0014】 信号線13と接地導電層12には同軸ケーブル17の中心導体と外部導体とを 接続し、同軸ケーブル17を通じて接触子14と15を図3に示したコンタクト 7に接続する。 絶縁ブレード11は接地導電層12をプローブカード1に形成した導電層5に 半田付してプローブカード1上に固定する。[0014] The center conductor and outer conductor of the coaxial cable 17 are connected to the signal line 13 and the ground conductive layer 12. Connect the contacts 14 and 15 through the coaxial cable 17 to the contacts shown in FIG. Connect to 7. The insulating blade 11 connects the ground conductive layer 12 to the conductive layer 5 formed on the probe card 1. Solder it and fix it on the probe card 1.

【0015】 上述したように、この考案によれば接触子14と15の取付支持部までが同軸 ケーブル17とマイクロストリップラインを構成する信号線13によって電気信 号路が構成される。マイクロストリップラインは周知のように絶縁ブレード11 を構成する誘電体板の誘電率と、信号線13の線幅等を適当に設定することによ って特性インピーダンスを任意に設定することができる。よってマイクロストリ ップラインと、同軸ケーブル17の特性インピーダンスを、整合させることがで きる。[0015] As mentioned above, according to this invention, up to the mounting support parts of the contacts 14 and 15 are coaxial. Electrical communication is carried out by cable 17 and signal line 13 that constitutes a microstrip line. A route is constructed. As is well known, the microstrip line has an insulating blade 11. By appropriately setting the dielectric constant of the dielectric plate constituting the signal line 13 and the line width of the signal line 13, Therefore, the characteristic impedance can be set arbitrarily. Therefore, microstri The characteristic impedance of the top line and the coaxial cable 17 can be matched. Wear.

【0016】 またこの考案では信号用接触子14と接地用接触子15を近接させて配置した から、その対向間隔Gを適当な値に設定することにより接触子14と15の部分 の特性インピーダンスもマイクロストリップラインの特性インピーダンス及び同 軸ケーブルの特性インピーダンスに近ずけることができる。[0016] In addition, in this invention, the signal contact 14 and the ground contact 15 are placed close to each other. By setting the facing distance G to an appropriate value, the parts of contacts 14 and 15 can be The characteristic impedance of the microstrip line is also the same as that of the microstrip line. The characteristic impedance of the axial cable can be approximated.

【0017】[0017]

【考案の効果】[Effect of the idea]

従ってこの考案によれば接触子14及び15の先端から同軸ケーブル17の接 続部分までの間の特性インピーダンスを同軸ケーブル17の特性インピーダンス に整合させることができる。 この結果、高周波信号を授受する回路に用いることにより、授受する信号に歪 み、反射等を発生させることなく高周波信号を授受することができる。よってこ の考案による高周波測定プローブを高周波信号の伝送路に利用することによって 高周波用ハイブリッドIC等を精度よく調整することができ、その効果は実用に 供して頗る大である。 Therefore, according to this invention, the coaxial cable 17 is connected from the tips of the contacts 14 and 15. The characteristic impedance between the connecting parts is the characteristic impedance of the coaxial cable 17. can be matched to As a result, by using it in circuits that send and receive high-frequency signals, the signals being sent and received are distorted. It is possible to send and receive high frequency signals without causing any reflections or the like. Therefore By using the high frequency measurement probe invented by It is possible to precisely adjust high frequency hybrid ICs, etc., and its effects can be put to practical use. It's a big deal to offer.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

【図1】この考案の一実施例を示す斜視図。FIG. 1 is a perspective view showing an embodiment of this invention.

【図2】この考案の一実施例を示す平面図。FIG. 2 is a plan view showing an embodiment of the invention.

【図3】従来の技術を説明するための平面図。FIG. 3 is a plan view for explaining a conventional technique.

【図4】従来の技術を説明するための拡大平面図。FIG. 4 is an enlarged plan view for explaining a conventional technique.

【図5】従来の技術を説明するための拡大側面図。FIG. 5 is an enlarged side view for explaining a conventional technique.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 プローブ 11 絶縁ブレード 12 接地導体 13 信号線 14 信号用接触子 15 接地用接触子 16 導電ブロック 10 probe 11 Insulated blade 12 Ground conductor 13 Signal line 14 Signal contact 15 Ground contact 16 Conductive block

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 【請求項1】 A.一方の面の全体に接地用導電層が被
着形成され、他方の面にマイクロストリップラインを構
成する信号線が形成された誘電体板から成る絶縁ブレー
ドと、B.この絶縁ブレードに形成された信号線に、一
端側が電気的機械的に接続され、遊端部が絶縁ブレード
から突出して支持され導電性バネ材によって形成された
信号用接触子と、C.上記絶縁ブレードの接地用導電層
に一端側が電気的機械的に接続され、遊端部が上記信号
用接触子に沿って上記絶縁ブレードから突出して支持さ
れ、導電性バネ材によって形成された接地用接触子と、
によって構成した高周波測定プローブ。
[Claim 1] A. B. an insulating blade made of a dielectric plate having a grounding conductive layer adhered to the entire surface of one surface and signal lines constituting a microstrip line formed on the other surface; a signal contact formed of a conductive spring material, one end of which is electrically and mechanically connected to the signal line formed on the insulating blade, a free end of which is supported by protruding from the insulating blade; One end side is electrically and mechanically connected to the grounding conductive layer of the insulating blade, the free end is supported by protruding from the insulating blade along the signal contact, and the grounding layer is formed of a conductive spring material. with a contactor,
A high frequency measurement probe constructed by
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