JPH04126104U - レーザー測長装置用補助ターゲツト - Google Patents

レーザー測長装置用補助ターゲツト

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JPH04126104U
JPH04126104U JP4009191U JP4009191U JPH04126104U JP H04126104 U JPH04126104 U JP H04126104U JP 4009191 U JP4009191 U JP 4009191U JP 4009191 U JP4009191 U JP 4009191U JP H04126104 U JPH04126104 U JP H04126104U
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裕二 杉田
幹雄 伊藤
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株式会社ソキア
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 本考案の目的は、レーザー光の送光部とレー
ザー光の受光部間のスパンが異なっても使用可能で、汎
用性があると共に作業性を向上させたレーザー測長装置
用補助ターゲットを提供することにある。 【構成】 本考案に係るレーザー測長装置用補助ターゲ
ット10はレーザー測長装置Sに用いられるもので、レ
ーザーヘッド51から出射されたレーザー光軸のセッテ
ィングのための指標16及びレーザー光透過部12が形
成され、干渉計52,ターゲットプリズム53に装着し
て使用されるものである。この補助ターゲット10は、
レーザーヘッド51の送光部51aと受光部51bとを
含む大きさを備え、補助ターゲット10のレーザー透過
部12は、レーザー光を透過すると共にレーザー光の透
過を視認できる薄いシート材で形成され、このシート材
には前記出射レーザー光の照射基準である指標となる目
盛の付された十字線16が表示されたものである。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、レーザーヘッドに対し、干渉計とターゲットプリズムを位置決めす る際に、干渉計やターゲットプリズムに取着して使用するレーザー測長装置用補 助ターゲットに関する。
【0002】
【従来の技術】
従来から被測長物体を極めて正確に測長する装置としてレーザー測長装置が用 いられている。このレーザー測長機の距離精度は光学式スケール,磁気スケール が1μm程度のものであるのに対し、0.1μm程度のものである。そしてレー ザー測長装置Sは、図5で示すように、レーザーヘッド51と被測長物体に取付 けた測長側ターゲットプリズム53の間に干渉計52を配置し、測長側ターゲッ トプリズム53の位置と干渉計52の位置との相対的な直線移動距離を測定する ものであり、レーザーヘッド51のレーザー光送光部51aより出射されたレー ザー光L1は干渉計52に入り、干渉計52内のビームスプリッタ54に入射し 、ビームスプリッタ54によって基準レーザー光L2と測定用レーザー光L3と に分けられる。そして基準レーザー光L2は干渉計52に組み込まれている基準 反射鏡55により反射した後、ビームスプリッタ54に戻り、さらにレーザーヘ ッド51のレーザー光受光部51bで受光される。一方測定用レーザー光L3は 干渉計52から外方に出射され、測長側物体に取着されたターゲットプリズム5 3によって反射され、ビームスプリッタ54に戻り、さらにレーザーヘッド51 のレーザー光受光部51bで受光される。このようにして、それぞれ反射して戻 ってきた基準用レーザ光L2と測定用レーザ光L3とがビームスピリッタ2で再 び一緒になり、干渉波を含む干渉レーザ光L4になる。ここでターゲットプリズ ム53が移動すればビームスプリッタ54との相対距離が変化し、移動距離に対 応した干渉信号が干渉レーザ光L4に含まれることとなる。このように干渉レー ザ光L4に含まれた干渉信号をレーザヘッド51内のレーザ光受光部51bで検 出することによって、測長する。なおレーザ光受光部にはビームスプリッタ,偏 光板,受光センサ,1/4波長板等が含まれ、これにより検出するようになって いる。
【0003】 上記レーザー測長装置Sを用いた測長の例として、例えば被測長物体として標 尺61の目盛が正しく付されているか否かを測長する場合について図6に基づい て説明すると、レーザー測長装置Sは、レーザーヘッド51のレーザー光L1の 出射方向Xに干渉計52及びターゲットプリズム53を配設し、被測長物体であ る標尺61もレーザー光L1の出射方向Xに配置する。そして、ターゲットプリ ズム53は、X方向にスライドできるように配設する。即ち、図6中、符号62 はレール63上を走行するスライダーで、このスライダー62にはターゲットプ リズム53が一体化され、さらに顕微鏡64が載置されている。そして顕微鏡6 4からは標尺61の目盛が読み取れるように配設されている。なお、図6の符号 62aは送行ローラである。
【0004】 上記構成からなるレーザー測長装置Sによって測長するには、先ずスライダー 62を移動させて、ターゲットプリズム53を基準点0に位置させ、この位置を レーザーヘッド51側で零点としておく。次に、スライダー62をレール63に 沿って走行させて、顕微鏡64によって判読された標尺61の目盛りの表示と、 レーザーヘッド61の算出する表示とが所定の許容誤差範囲にあるか否かの測定 をするものである。
【0005】 上記測長においては、一般に、干渉計52を固定させて(本例の場合)、測長 側ターゲットプリズム53を移動させることによって行なう(或は測長側ターゲ ットプリズム53を固定させて、干渉計52を移動させて行なう)。従って、測 定するときに、レーザーヘッド51からのレーザー光L1,測定用レーザ光L3 ,干渉レーザ光L4、干渉計52、測長側ターゲットプリズム53は、共通の光 軸上に配置する必要がある。このため上記三者の光軸を合わせるために、補助タ ーゲット71(71a,71b,71c,71d)に取付けて使用されている。 補助ターゲット71(71a,71b,71c,71d)は、干渉計52やター ゲットプリズム53に取着して使用される矩形板体で、図7で示すように、表面 側にはレーザーヘッド51からのレーザー光受光部51aとレーザー光送光部5 1bとの間の間隙(以下「スパン」という)hと等しいスパンhで孔72と指標 73が表面に描かれている。裏側は磁性ゴム74が一体化されて、干渉計52や ターゲットプリズム53に装着できる。
【0006】 この補助ターゲット71(71a,71b,71c,71d)を使って干渉計 52やターゲットプリズム53を位置決めするには、先ず、レーザーヘッド51 の前方所定位置に干渉計52をおき、干渉計52の前面(レーザーヘッド51側 )に指標73が孔72より下となる状態(図7)で補助ターゲット71aを取着 し、指標73の中心にレーザー光が当たるように干渉計52を上下左右にずらし て位置調整する。次にターゲットプリズム53を基準点0位置におき、補助ター ゲット71aを外し、指標73が孔72より上方となる状態(図7の逆様)の補 助ターゲット71bを干渉計52の裏側に取着すると共に、ターゲットプリズム 53の表側に補助ターゲット(図7の状態で)71cを取着し、指標73の中心 にレーザー光の照射部がくるようにターゲットプリズム53との位置を調整する 。 次に補助ターゲット71cを外し、干渉計52の裏側の補助ターゲット71b の指標73に、ターゲットプリズム53からの反射光が当たるように干渉計52 の位置調整をする。 そして補助ターゲット71bを外し、ターゲットプリズム53からの反射光が 干渉計52を経て受光部に当たることを確認する。反射光がこの受光部に当たっ ていない場合には,レーザーヘッド51,干渉計52,ターゲットプリズム53 のいずれかが正しい位置にないため、再び前記した一連の動作を行ない、レーザ ー光送光部51aからのレーザー光が、ターゲットプリズム53で反射しレーザ ー光受光部51bに受光できるように位置調整する。 次にターゲットプリズム53を測定を行ないたい最長位置(図6鎖線)までず らし、ターゲットプリズム53の前面に補助ターゲット71dを取着し、指標7 3にレーザー光が当たるようにレール63の位置を調整する。そして補助ターゲ ット71dを外し、受光部51bでレーザー光が受光することを確認する。また 受光部51bにおいてレーザー光を受光しない場合には、受光するようになるま で位置調整する。
【0007】
【考案が解決しようとする課題】
従来のレーザーヘッド51のレーザー光送光部51aとレーザー光受光部51 bの間隔(スパン)hは、メーカーの製品毎に異なっており、例えばあるメーカ ーにおいては図8で示すようにh=10mm、また他のメーカーでは図9で示す ようにh=11mmである、このため従来の補助ターゲット71は、各メーカー の製品ごとに、スパンhが同一となった補助ターゲットを必要とし、異なるスパ ンを有するレーザー測長装置の位置決めには使用できないという問題があった。 また従来の補助ターゲット71ではレーザー光の透過できる孔72は1個である ため、位置決めのためには何度も補助ターゲット71の着脱作業を行なわねばず 、作業性において問題があった。
【0008】 本考案の目的は、レーザー光の送光部とレーザー光の受光部間のスパンが異な っても使用可能で、汎用性があると共に作業性を向上させたレーザー測長装置用 補助ターゲットを提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】
本考案に係るレーザー測長装置用補助ターゲットは、レーザー光の送光部と受 光部とを内蔵するレーザーヘッドと、レーザー光の一部を受光部に反射すると共 に一部を透過させる干渉計と、レーザ光を反射するターゲットプリズムとを備え たレーザー測長装置に用いられ、前記レーザーヘッドから出射されたレーザー光 軸のセッティングのための指標及びレーザー光透過部が形成され、前記干渉計, 前記ターゲットプリズムに装着して使用される補助ターゲットにおいて、この補 助ターゲットは前記レーザーヘッドの送光部と受光部とを含む大きさを備え、補 助ターゲットのレーザー透過部は、レーザー光を透過すると共にレーザー光の透 過を視認できる薄いシート材で形成され、このシート材には前記出射レーザー光 の照射基準である指標となる目盛の付された十字線が表示されたことを特徴とす るものである。
【0010】
【作用】
本考案のレーザー測長装置用補助ターゲットによれば、レーザーヘッドの送光 部(即ちレーザー光送光部)と受光部(即ちレーザー光受光部)とを含む大きさ を備え、補助ターゲットのレーザー透過部は、レーザー光を透過すると共にレー ザー光の透過を視認できる薄いシート材で形成されているので、レーザーヘッド のレーザー光送光部とレーザー光受光部間のスパンが異なっても使用可能となり 、機種(製品)ごとに補助ターゲットを用いる必要がない。また、上記薄いシー ト材には出射したレーザー光の照射基準である指標となる目盛の付された十字線 が表示されたシート体からなるので、十字線の目盛から指標相当位置を特定でき 、レーザー光送光部とレーザー光受光部のスパンが異なっていても使用できる。 またレーザーヘッドの送光部と受光部とを含む大きさを備えているので、レーザ ーヘッド側でレーザー光の径が計測状態の大きさと位置出しときの大きさを切替 した場合でも使用できる。それゆえ、取付けたまま、計測時のレーザー光の状態 を確認しながら作業を行なうことができ、作業性の向上を図ることができる。
【0011】
【実施例】
以下、本考案の一実施例を図面に基づいて説明する。なお、以下に説明する部 材,配置等は本考案を限定するものでなく、本考案の趣旨の範囲内で種々改変す ることができるものである。なお本実施例におけるレーザ測長装置は、前記5図 及び図6で示すレーザー測長装置と、その構成において同様であり、上記図5及 び図6も参照して説明する。
【0012】 本例の補助ターゲット10は、図1乃至図3で示すように、矩形体をしており 、この矩形体の中央に、大きな円形の開口部12が形成された金属製の補助板1 1と、同一形状の磁性ゴムプレート13とによって、薄いシート材としての半透 過フィルム14が挟まれて一体化して構成されている。上記開口部12の大きさ は、レーザーヘッド51のレーザー光送光部51aとレーザー光受光部51bと を含む大きさを有している。また補助板11と磁性ゴムプレート13の開口部1 2に露出している半透過フィルム14には、目盛15の付された十字線16が印 刷されている。この目盛15の付された十字線16は、レーザーヘッド51から 出射されるレーザー光の照射基準として、指標となるものである。本例の半透過 フィルム14は、レーザー光を透過させることができ、かつ透過レーザー光の大 きさ、即ちレーザー光の透過が視認できる素材から形成されていればよく、丈夫 な紙製であってもよい。なお本実施例においては、上記補助ターゲット10の開 口部12は円形としているが、これに限るものではないことはいうまでもなく、 従って開口部12に関しては、上記円形の他に矩形その他の領域形状を用いるこ とができる。
【0013】 次に上記構成からなる補助ターゲット10の使用例について、図4乃至図6を 参照しつつ説明する。 図6で示すように、レーザーヘッド51の前方所定位置に干渉計52,ターゲ ットプリズム53を配置し、先ず干渉計52の前面(レーザーヘッド51側)に 補助ターゲット10を配設する。このとき磁性ゴムプレート13によって干渉計 52と補助ターゲット10は容易に装着することができる。そして前記図6で説 明したのと同様に、順次補助プリズム10を配設する。このとき本例の補助ター ゲット10は、開口部12がレーザーヘッド51のレーザー光送光部51aとレ ーザー光受光部51bとを含む大きさを有しているので、例えば、光学系のアラ イメント中レーザー光送光部51aとレーザー光受光部51bの出入範囲と、干 渉計52の入出径,ターゲットプリズム53のプリズム径が一致しない場合、例 えばレーザー光が補助ターゲットの開口部12を逸脱して、上下左右の位置ずれ を生じている状態が、直ちに判明するので、干渉計52,ターゲットプリズム5 3の補正が極めて容易となる。
【0014】 また図4のイで示すように、半透過フィルム14(例えばフィルム上に薄い乳 白の色の小円を設けたもの)はレーザー光を透過させることができるので、レー ザー光送光部51aから出射されたレーザー光L1と、干渉計52(あるいはタ ーゲットプリズム53)によって反射されたレーザー光L2(L3)とが開口部 12(即ち半透過フィルム14)内にあることとなり、さらに開口部12には、 レーザーヘッド51から出射されるレーザー光の照射基準として、指標となる目 盛15が付された十字線16があるので、図4のハのような状態の場合には、干 渉計52(あるいはターゲットプリズム53)を上下左右に適宜移動し、位置出 しを同一面側から判別できると共に指標に合わせて容易に補正することができる 。なお半透過フィルム14は、射出側及び反射側のレーザ光を視認することがで きるので、容易に確認してターゲットプリズム53を調整することができる。
【0015】 また図4のイ,ロで示すように、レーザーヘッド51から出射されるレーザー 光について、位置出しのときには、レーザー光L1(L2,L3)の径を図4の イのように大きくして、位置出しを容易にし、計測のときには、図4のロのよう にレーザー光L1(L2,L3)の径を小さくして測定するように、レーザーヘ ッド側で計測状態の大きさと位置出しときの大きさを切替た場合でも、開口部1 2において対応することができる大きさにしてある。
【0016】 上述のように、補助ターゲット10は、従来の補助ターゲット71と同様に使 用されるが、従来のように上下逆様にして使用しなくてもよいため、さらに干渉 計52やターゲットプリズム53に取着した状態のまま使用できるため、非常に 便利で、位置決め作業が飛躍的に向上する。また従来のように送光部と受光部間 のスパンが一致しないため使用できないということがない。
【0017】
【考案の効果】
以上のように、本考案に係る補助ターゲットによれば、送光部と受光部間のス パンが異なっても使用可能となり、汎用性があると共に作業性を向上させること ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案に係るレーザー測長装置用補助ターゲッ
トの斜視図である。
【図2】本考案に係るレーザー測長装置用補助ターゲッ
トの正面図である。
【図3】図1のA−A線断面図である。
【図4】本考案に係るレーザー測長装置用補助ターゲッ
トの使用説明図である。
【図5】レーザー測長装置の光学系配置図である。
【図6】レーザー測長装置で被測長物体として標尺の目
盛を測長する例を示す概略構成図である。
【図7】従来のレーザー測長装置用補助ターゲットの斜
視図である。
【図8】レーザー測長装置のレーザー送光部とレーザー
受光部とのスパンを示す説明図である。
【図9】他のレーザー測長装置レーサー送光部とレーザ
ー受光部とのスパンを示す説明図である。
【符号の説明】
10 補助ターゲット 12 開口部(レーザー光透過部) 15 指標(目盛) 16 指標(十字線) 51 レーザーヘッド 51a 送光部(レーザー光送光部) 51b 受光部(レーザー光受光部) 52 干渉計 53 ターゲットプリズム L1,L2,L3,L4 レーザー光 S レーザー測長装置

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 レーザー光の送光部と受光部とを内蔵す
    るレーザーヘッドと、レーザー光の一部を前記受光部に
    反射すると共に一部を透過させる干渉計と、レーザー光
    を反射するターゲットプリズムとを備えたレーザー測長
    装置に用いられ、前記レーザーヘッドから出射されたレ
    ーザー光軸のセッティングのための指標及びレーザー光
    透過部が形成され、前記干渉計,前記ターゲットプリズ
    ムに装着して使用される補助ターゲットにおいて、該補
    助ターゲットは前記レーザーヘッドの送光部と受光部と
    を含む大きさを備え、該補助ターゲットのレーザー透過
    部はレーザー光を透過すると共にレーザー光の透過を視
    認できる薄いシート材で形成され、該薄いシート材には
    前記出射レーザー光の照射基準である指標となる目盛の
    付された十字線が表示されたことを特徴とするレーザー
    測長装置用補助ターゲット。
JP4009191U 1991-05-02 1991-05-02 レーザー測長装置用補助ターゲット Expired - Lifetime JP2523340Y2 (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH095060A (ja) * 1995-06-16 1997-01-10 Sokkia Co Ltd 真直度干渉計

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