JPH04115785A - Luminescent spot detector - Google Patents

Luminescent spot detector

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JPH04115785A
JPH04115785A JP2234597A JP23459790A JPH04115785A JP H04115785 A JPH04115785 A JP H04115785A JP 2234597 A JP2234597 A JP 2234597A JP 23459790 A JP23459790 A JP 23459790A JP H04115785 A JPH04115785 A JP H04115785A
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JP
Japan
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data
output signal
imaging
memory
picture element
Prior art date
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Pending
Application number
JP2234597A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takashi Kameyama
隆 亀山
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP2234597A priority Critical patent/JPH04115785A/en
Publication of JPH04115785A publication Critical patent/JPH04115785A/en
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Abstract

PURPOSE:To detect the position of a defecting picture element accurately by repeating increasing or decreasing the data of each picture element stored in a storage means for plural fields so as to increase only a data corresponding to a luminescent spot in the data of each picture element. CONSTITUTION:An image pickup output signal from a CCD image sensor 4 is compared with a reference signal at a comparator 10, an increment/decrement circuit 12 reads the data corresponding to each picture element of the CCD image sensor 4 stored in a memory 14 and increases or decreases the data in response to a differential output from the processing 10 and stores the result to the memory 14 and the operation above is repeated for plural fields. Thus, since only the data corresponding to a defect picture element from which an image pickup output signal of a specific level is outputted has a large level, the position of the defect picture element is accurately detected without being affected by random noise or the like superimposed on the image pickup output signal and the result is stored in the memory 14 as a defect picture element data being a luminescent spot data.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、例えばCOD (電荷結合素子)によりなる
CCDイメージセンサ等の欠陥画素による輝点を検出す
る輝点検出装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a bright spot detection device for detecting bright spots caused by defective pixels of a CCD image sensor or the like made of a COD (charge-coupled device), for example.

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

本発明は、記憶手段の画像の1フレーム分の各画素に対
応するアドレスにデータを記憶するとともに、比較手段
で入力映像信号と基準信号とのレベルを比較し、上記入
力映像信号により示される画像の各画素に対応する上記
記憶手段のアドレスに記憶されているデータを上記比較
手段からの比較出力に応じてインクリメント/デクリメ
ント手段によりインクリメント又はデクリメントし、上
記記憶手段に記憶されている各画素のデータをインクリ
メント又はデクリメントする動作を複数フィールド繰り
返し行い、上記記憶手段に輝点データを記憶することに
より、表示画像の輝点に対応する上記記憶手段のデータ
のみが大きな値となり該記憶手段に輝点データとして記
憶されるため、ランダムノイズ等に影響されることなく
、輝点の位置を検出することができるような輝点検出装
置である。
The present invention stores data in an address corresponding to each pixel of one frame of an image in a storage means, and compares the levels of an input video signal and a reference signal in a comparison means, so that the image represented by the input video signal is The data stored at the address of the storage means corresponding to each pixel of is incremented or decremented by the increment/decrement means according to the comparison output from the comparison means, and the data of each pixel stored in the storage means is By repeating the operation of incrementing or decrementing for multiple fields and storing the bright point data in the storage means, only the data in the storage means corresponding to the bright points in the display image becomes a large value, and the bright point data is stored in the storage means. This bright spot detection device is capable of detecting the position of a bright spot without being affected by random noise or the like.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

一般にCCD等の半導体にて形成した固体撮像素子では
、半導体の局部的な結晶欠陥等により、入射光量に応じ
た撮像出力信号に常に一定のバイアス電圧が加算されて
しまう欠陥画素を生じ、上記欠陥画素からの撮像出力信
号に起因する画質劣化が育ることか知られている。この
撮像出力信号に常に一定のバイアス電圧が加算されてし
まう画像欠陥は、この画像欠陥信号がそのまま処理され
るとモニタ画面上に高輝度のスポットとして現れるため
白傷欠陥と呼ばれている。
In general, in solid-state imaging devices formed from semiconductors such as CCDs, local crystal defects in the semiconductor cause defective pixels in which a constant bias voltage is always added to the imaging output signal depending on the amount of incident light. It is known that image quality deterioration occurs due to image pickup output signals from pixels. An image defect in which a constant bias voltage is always added to the image pickup output signal is called a white spot defect because it appears as a high-intensity spot on the monitor screen when the image defect signal is processed as is.

従来、このような欠陥画素による輝点を検出する際に、
撮像出力信号に重畳するランダムノイズを除去するため
のアベレージング手法として総和平均が用いられていた
Conventionally, when detecting bright spots caused by defective pixels,
Summation averaging has been used as an averaging method to remove random noise superimposed on imaging output signals.

第3図に、この総和平均を行う演算回路の機能的なブロ
ック図を示す。
FIG. 3 shows a functional block diagram of an arithmetic circuit that performs this total averaging.

この第3図において、総和平均演算回路は、加算器52
.平均化回路53及び遅延回路54からなり、 “X′
を入力される現在のフレームの撮像出力信号、 “z−
”y”を前フレームの平均化された撮像出力信号、 “
Y′を出力される撮像出力信号として式(1)に示すよ
うな理論に基づき撮像出力信号の演算処理を行う。
In this FIG. 3, the total average calculation circuit includes an adder 52
.. Consisting of an averaging circuit 53 and a delay circuit 54, "X'
The imaging output signal of the current frame, “z−
“y” is the averaged imaging output signal of the previous frame, “
The image pickup output signal is subjected to arithmetic processing based on the theory shown in equation (1) using Y' as the output image pickup output signal.

すなわち、上記加算器52には上記遅延回路54からの
前フレームの平均化された撮像出力信号(Z−’Y)が
供給される。この前フレームの平均化された撮像出力信
号(Z−’Y)は入力端子51から供給される現在フレ
ームの撮像出力信号(X)と加算され、平均化回路53
に供給される。上記平均化回路53は、上記加算器53
から供給される撮像出力信号のレベルを1/2とする平
均化を行いこの平均化した撮像出力信号(Y)を出力端
子55から出力する。
That is, the adder 52 is supplied with the averaged image pickup output signal (Z-'Y) of the previous frame from the delay circuit 54. The averaged imaging output signal (Z-'Y) of the previous frame is added to the imaging output signal (X) of the current frame supplied from the input terminal 51, and the averaging circuit 53
is supplied to The averaging circuit 53 includes the adder 53
The level of the image pickup output signal supplied from the image pick-up output signal is averaged to 1/2, and the averaged image pickup output signal (Y) is outputted from the output terminal 55.

このように、前フレームの平均化された撮像出力信号と
現在フレームの撮像出力信号とを加算し、この加算した
撮像出力信号を平均化する動作を複数フレームに亘って
行うことにより、上記入力される撮像出力信号にランダ
ムノイズが重畳していても上記平均化の際にキャンセル
することができる。
In this way, by adding the averaged imaging output signal of the previous frame and the imaging output signal of the current frame, and performing the operation of averaging the added imaging output signal over multiple frames, the above-mentioned input Even if random noise is superimposed on the imaging output signal, it can be canceled during the above averaging.

このような、総和平均演算処理を実際に行わせる場合に
は、第6図に示すような構成をとる。
When such summation and average calculation processing is actually performed, a configuration as shown in FIG. 6 is adopted.

なお、この第6図において、加算器シフタ58は上記加
算器52及び上記平均化回路53にあたり、また、上記
遅延回路54において行われる1フレーム分の遅延は、
フレームメモリ59に記憶されている撮像出力データを
読み出すことによりなされる。
In FIG. 6, the adder shifter 58 corresponds to the adder 52 and the averaging circuit 53, and the delay for one frame performed in the delay circuit 54 is as follows:
This is done by reading out the imaging output data stored in the frame memory 59.

すなわち、入力端子56を介して供給される現在フレー
ムの撮像出力信号は、A/D変換回路57によりデジタ
ル化され、撮像出力データとじて加算器シフタ58に供
給される。上記加算器シフタ58は、上記現在フレーム
の撮像出力データが供給されると、上記フレームメモリ
59から前フレームの撮像出力データを読み出し、この
前フレームの撮像出力データと上記現在フレームの撮像
出力データとを加算し、レベルを1/2とする平均化を
行い、この平均化した撮像出力データを上記フレームメ
モリ59に供給する。この平均化された撮像出力データ
は、上記フレームメモリ59に輝点データとして記憶さ
れる。なお、上記フレームメモリ59からの撮像出力デ
ータの読み出し及び書き込みは、アドレスカウンタ60
により制御される。
That is, the imaging output signal of the current frame supplied via the input terminal 56 is digitized by the A/D conversion circuit 57 and supplied to the adder shifter 58 as imaging output data. When the adder shifter 58 is supplied with the imaging output data of the current frame, it reads the imaging output data of the previous frame from the frame memory 59, and combines the imaging output data of the previous frame with the imaging output data of the current frame. are added, averaged to reduce the level to 1/2, and this averaged imaging output data is supplied to the frame memory 59. This averaged imaging output data is stored in the frame memory 59 as bright point data. Note that reading and writing of imaging output data from the frame memory 59 is performed by the address counter 60.
controlled by

このように、輝点データが記憶された上記フレームメモ
リ59は、固体撮像素子を固体撮像装置の撮像部として
用いる場合に該固体撮像素子とともに設けられる。上記
固体撮像装置は、撮像時になると上記フレームメモリ5
9から輝点データを読み出し、例えばこの輝点データで
示される欠陥画素からの撮像出力信号は出力せず、この
欠陥画素からの撮像出力信号の代わりに、該欠陥画素の
前の画素からの撮像出力信号を出力することにより、画
素ムラの補正を行っていた。
In this way, the frame memory 59 in which the bright point data is stored is provided together with the solid-state image sensor when the solid-state image sensor is used as the image sensor of the solid-state image sensor. When the solid-state imaging device takes an image, the frame memory 5
For example, the bright spot data is read from 9, and the imaging output signal from the defective pixel indicated by this bright spot data is not output, and instead of the imaging output signal from this defective pixel, the imaging from the pixel before the defective pixel is performed. Pixel unevenness is corrected by outputting an output signal.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

しかし、ランダムノイズを除去するために上記第5図に
示すような理論で演算処理を行わせるためには、実際に
は第6図に示すような回路構成を要し、上記加算器シフ
タ58での加算処理やシフトダウン処理のための上記撮
像出力信号をデジタル化するA−D変換器57や上記加
算器シフタ58が必要になり、コスト高となってしまう
However, in order to perform arithmetic processing based on the theory shown in FIG. 5 to remove random noise, a circuit configuration as shown in FIG. 6 is actually required. The A-D converter 57 and the adder shifter 58 for digitizing the image pickup output signal for addition processing and shift down processing are required, resulting in high cost.

また、上記第6図に示す総和平均演算回路は、現在フレ
ームの搬像出力データが供給されたときに、上記フレー
ムメモリ59に記憶されている前フレームの撮像出力デ
ータを読み出し、この読み出した前フレームの撮像出力
データ及び現在フレームの撮像出力データを加算し、こ
の加算した撮像出力信号のレベルを1/2とする平均化
を行い、この平均化した撮像出力信号を輝点データとじ
て上記フレームメモリ59に記憶する等のように、■サ
イクルの信号処理にかかる処理過程も多い。
Furthermore, when the image carrier output data of the current frame is supplied, the total average calculation circuit shown in FIG. 6 reads out the imaging output data of the previous frame stored in the frame memory 59, and Add the imaging output data of the frame and the imaging output data of the current frame, average the level of the added imaging output signal to 1/2, and use this averaged imaging output signal as the bright point data for the above frame. There are many processing steps involved in the signal processing of the (2) cycle, such as storing in the memory 59.

本発明は上述の課題に鑑みてなされたものであり、簡単
な動作で、ランダムノイズ等に影響されることなく輝点
の位置を正確に検出することができるような輝点検出装
置の提供を目的とする。
The present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and it is an object of the present invention to provide a bright spot detection device that can accurately detect the position of a bright spot with simple operation and without being affected by random noise. purpose.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本発明は、画像の1フレーム分の各画素に対応するアド
レスにデータが記憶される記憶手段と、入力映像信号と
基準信号とのレベルを比較する比較手段と、上記入力映
像信号により示される画像の各画素に対応する上記記憶
手段のアドレスに記憶されているデータを上記比較手段
からの比較出力に応じてインクリメント又はデクリメン
トするインクリメント/デクリメント手段とを有し、上
記記憶手段に記憶されている各画素のデータをインクリ
メント又はデクリメントする動作を複数フィールド繰り
返し行うことにより、上記記憶手段に輝点データを記憶
することを特徴として上述の課題を解決する。
The present invention provides storage means for storing data at addresses corresponding to each pixel of one frame of an image, comparison means for comparing the levels of an input video signal and a reference signal, and an image represented by the input video signal. an increment/decrement means for incrementing or decrementing the data stored at the address of the storage means corresponding to each pixel of the storage means in accordance with the comparison output from the comparison means; The above-mentioned problem is solved by storing bright spot data in the storage means by repeatedly incrementing or decrementing pixel data over a plurality of fields.

〔作用〕[Effect]

本発明に係る輝点検出装置は、上記記憶手段に記憶され
ている各画素のデータをインクリメント又はデクリメン
トする動作を複数フィールド繰り返し行うことにより、
上記記憶手段に記憶されている各画素のデータのうち、
輝点に対応するデータのみがインクリメントされていく
ため、ランダムノイズ等に影響されることなく該欠陥画
素の位置を正確に検出することができる。
The bright spot detection device according to the present invention repeatedly performs the operation of incrementing or decrementing the data of each pixel stored in the storage means for a plurality of fields.
Among the data of each pixel stored in the storage means,
Since only the data corresponding to the bright spot is incremented, the position of the defective pixel can be accurately detected without being affected by random noise or the like.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明に係る輝点検出装置の実施例について図面
を参照しながら説明する。
Embodiments of the bright spot detection device according to the present invention will be described below with reference to the drawings.

本発明に係る輝点検出装置は、例えば第1図に示すよう
な固体撮像装置に設けることができる。
The bright spot detection device according to the present invention can be provided, for example, in a solid-state imaging device as shown in FIG.

この第1図に示す固体撮像装置は、撮像レンズlやアイ
リス機構2等の撮像光学系3を介して入射される撮像光
により撮像面に被写体像が結像される固体撮像素子であ
るCCDイメージセンサ4を撮像部に備えている。
The solid-state imaging device shown in FIG. 1 is a CCD image sensor that is a solid-state imaging device in which a subject image is formed on an imaging surface by imaging light incident through an imaging optical system 3 such as an imaging lens l and an iris mechanism 2. A sensor 4 is provided in the imaging section.

上記撮像光学系3のアイリス機構2は、上記CCDイメ
ージセンサ4の撮像面に照射する撮像光の光量制御を行
うものであり、システムコントローラ5から供給される
アイリス制御信号にすして動作するアイリス駆動部6に
より開閉駆動される。
The iris mechanism 2 of the imaging optical system 3 controls the amount of imaging light irradiated onto the imaging surface of the CCD image sensor 4, and is an iris drive that operates in response to an iris control signal supplied from the system controller 5. It is driven to open and close by section 6.

また、上記CCDイメージセンサ4は、上記システムコ
ントローラ5から供給されるCCD制御信号に応じて垂
直駆動クロック(V)及び水平駆動クロック(H)を出
力するCCD駆動部7により駆動され、上記システムコ
ントローラ5により指定される動作モードで撮像動作を
行う。
The CCD image sensor 4 is driven by a CCD drive section 7 that outputs a vertical drive clock (V) and a horizontal drive clock (H) in response to a CCD control signal supplied from the system controller 5. The imaging operation is performed in the operation mode specified by 5.

上記CCDイメージセンサ4としては、例えば第2図に
示すようなマトリクス状に配設された各画素に対応する
多数の受光部Sの一側に縦方向に沿って設けられた垂直
転送レジスタVRと、これら各垂直転送レジスタHRか
らなり、受光量に応じて上記各受光部Sにより得られる
信号電荷をそれぞれ垂直ライン毎に対応する各垂直転送
レジスタVRに例えば1フイ一ルド期間あるいは1フレ
ーム期間毎に転送し、上記各垂直レジスタVRを通じて
上記信号電荷を水平レジスタHRに転送して、この水平
レジスタHRから一水平ライン毎の信号電荷を撮像出力
として取り出すようにしたインターライントランスファ
型のCCDイメージセンサが用いられる。
The CCD image sensor 4 includes, for example, a vertical transfer register VR provided along the vertical direction on one side of a large number of light receiving sections S corresponding to each pixel arranged in a matrix as shown in FIG. , each of these vertical transfer registers HR, and transmits the signal charge obtained by each of the light receiving sections S according to the amount of received light to each vertical transfer register VR corresponding to each vertical line, for example, every one field period or one frame period. The signal charge is transferred to the horizontal register HR through each of the vertical registers VR, and the signal charge for each horizontal line is extracted from the horizontal register HR as an imaging output. is used.

ここで、例えばスイッチ15かオンされ上記動作モード
が欠陥画素位置検出モードとなると、上記システムコン
トローラ5は、上記CCDイメージセンサ4の撮像面に
照射する撮像光の光量制御を行う上記アイリス機構2を
閉成させるアイリス制御信号を上記アイリス駆動部6に
供給し、上記CCDイメージセンサ4のフレームの読み
出しを指定するCCD制御信号を上記CCD駆動部7に
供給するとともに、サンプルホールド回路(CDS)8
に第1のサンプリングパルスSHP及び第2のサンプリ
ングパルスSHDを供給する。
Here, for example, when the switch 15 is turned on and the operation mode becomes the defective pixel position detection mode, the system controller 5 controls the iris mechanism 2 that controls the amount of imaging light irradiated onto the imaging surface of the CCD image sensor 4. A sample and hold circuit (CDS) 8 supplies an iris control signal for closing the iris to the iris drive section 6, supplies a CCD control signal for specifying frame readout of the CCD image sensor 4 to the CCD drive section 7,
A first sampling pulse SHP and a second sampling pulse SHD are supplied to the first sampling pulse SHP and the second sampling pulse SHD.

これにより、上記CCDイメージセンサ4には上記CC
D駆動回路7から垂直駆動クロック(V)及び水平駆動
クロック(H)が供給される。なお、上記垂直駆動クロ
ック及び水平駆動クロックは、アドレスカウンタ16に
も供給される。
As a result, the CCD image sensor 4 has the CC
A vertical drive clock (V) and a horizontal drive clock (H) are supplied from the D drive circuit 7. Note that the vertical drive clock and horizontal drive clock are also supplied to the address counter 16.

上記CCDイメージセンサ4は、供給される上記垂直駆
動クロック及び水平駆動クロックにより駆動し、撮像出
力信号を上記サンプルホールド回路8に供給する。
The CCD image sensor 4 is driven by the supplied vertical drive clock and horizontal drive clock, and supplies an imaging output signal to the sample hold circuit 8.

上記サンプルホールド回路8は、上記CCDイメージセ
ンサ4による撮像出力信号CCD 、、Tのランダムノ
イズ成分を相関二重サンプルホールド法により低減する
相関二重サンプルホールド回路であって、第3図に示す
ように上記撮像出力信号CCD、、アについて黒レベル
L、を第1のサンプリングパルスSHPによりサンプル
ホールドし、この第1のサンプリングパルスSHPによ
りサンプルホールドされた黒レベル信号S LIIPを
さらに第2のサンプリングパルスSHDによりサンプル
ホールドするとともに、上記撮像出力信号CCD。ul
の映像レベルL、を上記第2のサンプリングパルスSH
Dによりサンプルホールドし、上記第2のサンプリング
パルスSHDによりサンプルホールドされた黒レベル信
号S LBDと映像レベル信号S L8゜どの差分を映
像信号S。Uアとして取り出す。この取り出された映像
信号S。Uアは、増幅器9を介して図示しない映像信号
処理系に供給されるとともに、比較器10に供給される
The sample-and-hold circuit 8 is a correlated double sample-and-hold circuit that reduces the random noise component of the imaging output signal CCD, , T from the CCD image sensor 4 by a correlated double sample-and-hold method, as shown in FIG. The black level L of the imaging output signal CCD, A, is sampled and held by a first sampling pulse SHP, and the black level signal S LIIP sampled and held by this first sampling pulse SHP is further processed by a second sampling pulse. Sample and hold is performed by SHD, and the above-mentioned imaging output signal CCD. ul
The video level L of the above second sampling pulse SH
The difference between the black level signal S LBD sampled and held by the second sampling pulse SHD and the video level signal S L8 is determined as the video signal S. Take it out as Ua. This extracted video signal S. Ua is supplied to a video signal processing system (not shown) via an amplifier 9, and is also supplied to a comparator 10.

上記比較器lOには、上記映像信号S QLITとは別
に、基準信号出力回路11からの基準信1s、、。
The comparator IO receives a reference signal 1s from the reference signal output circuit 11 in addition to the video signal SQLIT.

が供給されている。この基準信号S2.、のレベルは、
例えば上記アイリス機構2を閉成させた状態(欠陥画素
検出モード時)で得られる正常な画素からの映像信号よ
りやや高めのレベルとする。上記比較器lOは、上記映
像信号S QLIT及び基準信号S r a Iのレベ
ル比較を行い、その差分をインクリメント/デクリメン
ト手段であるインクリメント/デクリメント回路12に
供給する。
is supplied. This reference signal S2. , the level of
For example, the level is set to be slightly higher than the video signal from a normal pixel obtained when the iris mechanism 2 is closed (during defective pixel detection mode). The comparator IO compares the levels of the video signal S QLIT and the reference signal S r a I, and supplies the difference to an increment/decrement circuit 12 which is an increment/decrement means.

すなわち、欠陥画素からの映像信号のレベルは、正常な
画素からの映像信号のレベルより高いレベルの信号とな
るため、該欠陥画素からの映像信号が上記比較器10に
供給されると、上記基準信号S r * Iと比較され
ることにより正の差分が生しることとなる。
That is, since the level of the video signal from the defective pixel is higher than the level of the video signal from the normal pixel, when the video signal from the defective pixel is supplied to the comparator 10, the reference A positive difference is generated by comparison with the signal S r *I.

ここで、メモリ14は、第4図(a)に示す上記CCD
イメージセンサ4の各画素G、、、G、、、C;、、。
Here, the memory 14 is the CCD shown in FIG. 4(a).
Each pixel G, , , G, , , C of the image sensor 4;

G a4+ Gas・・・・・・に対応する同図(b)
に示すメモリ領域M、、、M、、、M、、、M、、、M
、、・・・・・・を有している。なお、このメモリ14
の各メモリ領域Ma l + M a @ + M *
 3+ M a 4 + M a %・・・・・・には
、予めレベルが均一のデータが記憶されている。
The same figure (b) corresponding to G a4+ Gas...
Memory areas M, , , M, , , M, , , M, , , M shown in
,,······have. Note that this memory 14
Each memory area Ma l + Ma @ + M *
3+M a 4 + M a % . . . stores data with a uniform level in advance.

上記インクリメント/デクリメント回路12は、上記比
較器lOから供給される差分出力が供給されると、該供
給された差分出力の画素に対応するデータを上記メモリ
14のメモリ領域から耽み出す。そして、上記差分出力
が“正”の差分出力であった場合、上記読み出したデー
タをインクリメントし、また、上記差分出力が“正”以
外の差分出力であった場合、上記読み出したデータをデ
クリメントする。このインクリメント、又は、デクリメ
ントされたデータは、再び上記メモリ14に供給され所
定のメモリ領域に記憶される。なお、上記メモリ14の
メモリ領域のデータの読み出し及び書き込み制御は、上
記CCDイメージセンサの水平駆動クロック及び垂直駆
動クロックが供給される上記アドレスカウンタ16によ
り行われる。
When the increment/decrement circuit 12 is supplied with the differential output from the comparator IO, it reads data corresponding to the pixel of the supplied differential output from the memory area of the memory 14. Then, if the difference output is a "positive" difference output, the read data is incremented, and if the difference output is other than "positive", the read data is decremented. . This incremented or decremented data is again supplied to the memory 14 and stored in a predetermined memory area. Note that read and write control of data in the memory area of the memory 14 is performed by the address counter 16 to which the horizontal drive clock and vertical drive clock of the CCD image sensor are supplied.

上記システムコントローラ5は、このような、上記比較
器10からの差分出力に応じて上記メモリ14のメモリ
領域M、、、M、、、M−・・・・に記憶されているデ
ータをインクリメント又はデクリメントする動作を全メ
モリ領域に記憶されているデータについて数フィールド
分繰り返すように制御する。これにより、ランダムノイ
ズ等の影響で上記映像信号が基準レベルを上回ったり、
下回ったりする画素に対応するメモリ領域のデータは、
インクリメントされたりデクリメントされたりするため
次第に元のレベルとなり、上記映像信号が常に基準レベ
ルを上回る欠陥画素に対応するメモリ領域のデータは毎
回インクリメントされるため、該データのレベルが大き
なものとなる。このメモリ14上の大きなレベルのメモ
リ領域に対応する画素が特異レベルの撮像出力信号(輝
点)全出力する欠陥画素であり、該メモリ14はこれら
のデータを輝点データである欠陥画素データとして記憶
する。
The system controller 5 increments or increments the data stored in the memory areas M, . Control is performed so that the decrementing operation is repeated for several fields of data stored in all memory areas. As a result, the video signal may exceed the reference level due to random noise, etc.
The data in the memory area corresponding to the pixel that falls below is
Since the data is incremented and decremented, it gradually returns to the original level, and the data in the memory area corresponding to the defective pixel whose video signal always exceeds the reference level is incremented every time, so the level of the data becomes large. A pixel corresponding to a large-level memory area on this memory 14 is a defective pixel that outputs all the imaging output signals (bright spots) at a singular level, and the memory 14 stores these data as defective pixel data that is bright spot data. Remember.

このように、上記メモリ14に記憶された欠陥画素デー
タは撮像モード時に読み出される。
In this way, the defective pixel data stored in the memory 14 is read out during the imaging mode.

すなわち、撮像モード時になると上記システムコントロ
ーラ5は、上記アイリス機構2を開成させるアイリス制
御信号を上記アイリス駆動部6に供給し、上記CCDイ
メージセンサ4のフレーム読み出しを指定するCOD制
御信号を上記CCD駆動部7に供給するとともに、上記
サンプルホールド回路8に第1のサンプリングパルスS
HP及び第1のサンプリングパルスSHDを供給する。
That is, in the imaging mode, the system controller 5 supplies an iris control signal for opening the iris mechanism 2 to the iris drive section 6, and a COD control signal for designating frame readout of the CCD image sensor 4 to the CCD drive section. 7, and also supplies the first sampling pulse S to the sample hold circuit 8.
HP and the first sampling pulse SHD are supplied.

また、上記システムコントローラ5は、上記CCD駆動
部7から発信される水平同期クロックに同期させて上記
メモリ14から欠陥画素データが読み出されるように該
メモリ14を制御する。
Further, the system controller 5 controls the memory 14 so that defective pixel data is read out from the memory 14 in synchronization with the horizontal synchronization clock transmitted from the CCD drive unit 7.

これにより、上記CCDイメージセンサ4には、CCD
駆動回路7から垂直駆動クロック及び水平駆動クロック
が供給される。上記CCDイメージセンサ4は、上記ア
イリス機構2を介して照射される結像光を上記垂直駆動
クロック及び水平駆動クロックにより撮像出力信号とし
、これを上記サンプルホールド回路8に供給する。
As a result, the CCD image sensor 4 has a CCD
A vertical drive clock and a horizontal drive clock are supplied from the drive circuit 7. The CCD image sensor 4 converts the imaging light irradiated via the iris mechanism 2 into an imaging output signal using the vertical drive clock and the horizontal drive clock, and supplies this to the sample hold circuit 8 .

上記サンプルホールド回路8は、上述のように上記撮像
出力信号CCD outについて黒レベルLBを第1の
サンプリングパルスSHPによりサンプルホールドし、
この第1のサンプリングパルスSHPによりサンプルホ
ールドし、この第1のサンプリングパルスSHPにより
サンプルホールドされた黒レベル信号S LIPをさら
に第2のサンプリングパルスSHDによりサンプルホー
ルドするとともに、上記撮像出力信号CCD、、アの映
像レベルL、を上記第2のサンプリングパルスSHDに
よりサンプルホールドし、上記第2のサンプリングパル
スSHDによりサンプルホールドされた黒レベル信号S
 LBDと映像レベル信号SL、Dとの差分を映像信号
S。Uアとして取り出す。しかし、上記システムコント
ローラ5は、上記メモリ14から読み出される欠陥画素
データにより示される位置の特異レベルの撮像出力信号
を出力する欠陥画素からの撮像出力信号の信号処理を上
記サンプルホールド回路8が行うときには、上記第1の
サンプリングパルスSHP及び第2のサンプリングパル
スSHDの供給を止める。これにより、上記サンプルホ
ールド回路8では、いわゆる0次ホールドが行われ、上
記欠陥画素からの特異レベルの撮像出力信号はサンプル
ホールドされず、該欠陥画素の前の正常な画素からの撮
像出力信号をサンプルホールドした映像信号が出力され
ることになる。
The sample and hold circuit 8 samples and holds the black level LB of the imaging output signal CCD out using the first sampling pulse SHP, as described above,
The black level signal S LIP sampled and held by this first sampling pulse SHP is sampled and held by this first sampling pulse SHP, and the black level signal S LIP sampled and held by this first sampling pulse SHP is further sampled and held by a second sampling pulse SHD. The video level L of A is sampled and held by the second sampling pulse SHD, and the black level signal S sampled and held by the second sampling pulse SHD.
The difference between LBD and video level signals SL and D is the video signal S. Take it out as Ua. However, when the system controller 5 performs signal processing of an imaging output signal from a defective pixel that outputs an imaging output signal of a specific level at a position indicated by the defective pixel data read from the memory 14, , the supply of the first sampling pulse SHP and the second sampling pulse SHD is stopped. As a result, so-called zero-order hold is performed in the sample and hold circuit 8, and the imaging output signal of a peculiar level from the defective pixel is not sampled and held, but the imaging output signal from the normal pixel before the defective pixel is sampled and held. A sampled and held video signal will be output.

このため、上記特異レベルの撮像出力信号をサンプルホ
ールドした映像信号を出力することがない。
Therefore, a video signal obtained by sample-holding the imaging output signal at the above-described specific level is not output.

上記特異レベルの撮像出力信号の補正が行われた映像信
号は、上記増幅器9により増幅され図示しない映像信号
処理系を介して、例えばモニタ装置等に供給される。こ
のモニタ装置に表示される画像は、上述のように欠陥画
素からの撮像出力信号の補正を行っているため、画素ム
ラのない明瞭なものとなる。
The video signal after the correction of the imaging output signal of the unusual level is amplified by the amplifier 9 and supplied to, for example, a monitor device or the like via a video signal processing system (not shown). Since the image output signal from the defective pixel is corrected as described above, the image displayed on this monitor device becomes clear without pixel unevenness.

以上の説明から明らかなように、本発明にかかる輝点検
出装置は、上記CCDイメージセンサ4からの撮像出力
信号を比較器10で基準信号と比較し、上記インクリメ
ント/デクリメント回路が上記メモリ14に記憶されて
いる該CCDイメージセンサ4の各画素に対応するデー
タを読み出し上記比較器10からの差分出力に応じて該
データをインクリメント、又は、デクリメントしメモリ
14に記憶し、このような、動作を複数フィールド繰り
返し行うことにより、上記メモリ14に記憶されるデー
タのうち、特異レベルの撮像出力信号を出力する欠陥画
素に対応するデータのみが大きな値となるため、撮像出
力信号に重畳するランダムノイズ等の影響を受けること
なく特異レベルの撮像出力信号を出力する欠陥画素の位
置を正確に検出し、これを輝点データである欠陥画素デ
ータとして上記メモリ14に記憶することができる。
As is clear from the above description, the bright spot detection device according to the present invention compares the imaging output signal from the CCD image sensor 4 with a reference signal in the comparator 10, and the increment/decrement circuit stores the image in the memory 14. The stored data corresponding to each pixel of the CCD image sensor 4 is read out, the data is incremented or decremented according to the differential output from the comparator 10, and stored in the memory 14, and such operations are performed. By repeating the process for multiple fields, among the data stored in the memory 14, only the data corresponding to the defective pixel that outputs the imaging output signal of a singular level becomes a large value, so that random noise etc. superimposed on the imaging output signal becomes large. It is possible to accurately detect the position of a defective pixel that outputs an imaging output signal of a singular level without being influenced by the above, and to store this in the memory 14 as defective pixel data that is bright spot data.

また、このように記憶された欠陥画素の正確な位置を示
す欠陥画素データに基づいて特異レベルの撮像出力信号
の補正を行うことにより、画素ムラのない明瞭な画像を
得ることができる。
Further, by correcting the imaging output signal at a unique level based on the defective pixel data that indicates the accurate position of the defective pixel stored in this way, a clear image without pixel unevenness can be obtained.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明に係る輝点検出装置は、記憶手段の画像の1フレ
ーム分の各画素に対応するアドレスにデータを記憶する
とともに、比較手段で入力映像信号と基準信号とのレベ
ルを比較し、上記入力映像信号により示される画像の各
画素に対応する上記記憶手段のアドレスに記憶されてい
るデータを上記比較手段からの比較出力に応じてインク
リメント/デクリメント手段によりインクリメント又は
デクリメントし、上記記憶手段に記憶されている各画素
のデータをインクリメント又はデクリメントする動作を
複数フィールド繰り返し行い、上記記憶手段に輝点デー
タを記憶することにより、表示画像の輝点に対応する上
記記憶手段のデータのみが大きな値となり該記憶手段に
輝点データとして記憶されるため、ランダムノイズ等に
影響されることなく、輝点の位置を検出することが憤き
る。
The bright spot detection device according to the present invention stores data in an address corresponding to each pixel of one frame of an image in a storage means, and compares the levels of an input video signal and a reference signal in a comparison means, and The data stored in the address of the storage means corresponding to each pixel of the image indicated by the video signal is incremented or decremented by the increment/decrement means according to the comparison output from the comparison means, and the data is stored in the storage means. By repeating the operation of incrementing or decrementing the data of each pixel in multiple fields and storing the bright point data in the storage means, only the data in the storage means corresponding to the bright points in the display image becomes a large value and the corresponding data is stored. Since the bright spot data is stored in the storage means, it is difficult to detect the position of the bright spot without being affected by random noise or the like.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明に係る輝点検出装置を固体撮像装置に設
けた場合のブロック図、第2図は上記固体撮像装置に設
けられているCCDイメージセンサの構造を示す概略図
、第3図は上記固体撮像装置ニ設けられているサンプル
ホールド回路の動作を説明するためのタイムチャート、
第4図はCCDイメージセンサ及びメモリの内部構造を
説明するための概略図である。 第5図は総和平均系演算回路の信号処理過程を説明する
ための機能ブロック図、第6図は総和平均系演算回路の
ブロック図である。 1・・・・・・・・・・撮像レンズ 2・・・・・・・・・・アイリス機構 3・・・・・・・・・・撮像光学系 4・・・・・・・・・・CCDイメージセンサ5・・・
・慟・・・・・システムコントローラ6・・・・・・・
・・・アイリス駆動部7・・・・・・・・・・CCD駆
動部 8・・・・・・・・・・サンプルホールド回路9・・・
・・・・・・・増幅器 10・・・・・・・・・・比較器 11・・・・・・・・・・基準信号出力回路12・・・
・・・・・・・インクリメント/デクリメント回路14
・・・・・・・・・・メモリ
FIG. 1 is a block diagram when a bright spot detection device according to the present invention is provided in a solid-state imaging device, FIG. 2 is a schematic diagram showing the structure of a CCD image sensor provided in the solid-state imaging device, and FIG. 3 is a time chart for explaining the operation of the sample and hold circuit provided in the solid-state imaging device,
FIG. 4 is a schematic diagram for explaining the internal structure of the CCD image sensor and memory. FIG. 5 is a functional block diagram for explaining the signal processing process of the summation-average system arithmetic circuit, and FIG. 6 is a block diagram of the summation-average system arithmetic circuit. 1...Imaging lens 2...Iris mechanism 3...Imaging optical system 4...・CCD image sensor 5...
・Water...System controller 6...
...Iris drive section 7 ....... CCD drive section 8 ...... Sample hold circuit 9 ...
......Amplifier 10...Comparator 11...Reference signal output circuit 12...
...Increment/decrement circuit 14
··········memory

Claims (1)

【特許請求の範囲】 画像の1フレーム分の各画素に対応するアドレスにデー
タが記憶される記憶手段と、 入力映像信号と基準信号とのレベルを比較する比較手段
と、 上記入力映像信号により示される画像の各画素に対応す
る上記記憶手段のアドレスに記憶されているデータを上
記比較手段からの比較出力に応じてインクリメント又は
デクリメントするインクリメント/デクリメント手段と
を有し、 上記記憶手段に記憶されている各画素のデータをインク
リメント又はデクリメントする動作を複数フィールド繰
り返し行うことにより、上記記憶手段に輝点データを記
憶することを特徴とする輝点検出装置。
[Scope of Claims] Storage means for storing data at addresses corresponding to each pixel of one frame of an image; comparison means for comparing the levels of an input video signal and a reference signal; an increment/decrement means for incrementing or decrementing data stored at an address of the storage means corresponding to each pixel of the image to be stored in the storage means in accordance with a comparison output from the comparison means; A bright spot detection device characterized in that bright spot data is stored in the storage means by repeatedly performing an operation of incrementing or decrementing data of each pixel in a plurality of fields.
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