JPH04114931A - ガラスセラミック焼結体の製法 - Google Patents

ガラスセラミック焼結体の製法

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JPH04114931A
JPH04114931A JP23162490A JP23162490A JPH04114931A JP H04114931 A JPH04114931 A JP H04114931A JP 23162490 A JP23162490 A JP 23162490A JP 23162490 A JP23162490 A JP 23162490A JP H04114931 A JPH04114931 A JP H04114931A
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JP
Japan
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sintered body
powder
glass
weight
glass composition
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Pending
Application number
JP23162490A
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English (en)
Inventor
Masahiro Nawa
正弘 名和
Masayuki Ishihara
政行 石原
Keizou Makio
槙尾 圭造
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Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Electric Works Ltd
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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C14/00Glass compositions containing a non-glass component, e.g. compositions containing fibres, filaments, whiskers, platelets, or the like, dispersed in a glass matrix

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
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  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Dispersion Chemistry (AREA)
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  • Geochemistry & Mineralogy (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Glass Compositions (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、例えば、各種半導体部品を搭載したり、電気
信号の入出力端子などを取りつける多層配線基板の製造
に用いられるガラスセラミンク焼結体の製法に関する。
[従来の技術] LSIなどの各種電子部品を多数搭載する多層配線基板
においては小型化や高信頼性の要求に対応するために、
基板材料としてセラミックを利用することが広まってき
ている。セラミック材料としては比較的に高い強度を有
するアルミナが割れや欠けの生しにくい、好ましい材料
として多く使用されている。しかしアルミナ基板は比誘
電率が高く、多層配線板における電気信号の伝播速度が
遅く、高速化を要求される機器ではアルミナ基板より比
誘電率の低い基板が求められている。またアルミナの熱
膨張係数は搭載されるLSIなどの材料であるシリコン
の熱膨張係数の約2倍と高いため、熱膨張係数の差に起
因する故障の発生の問題がある。
これらの問題を解決するために、発明者らは比誘電率お
よび、熱膨張係数の低い基板材料として焼結後の結晶構
造が主としてα−コージェライトとなるガラス組成物の
開発を行ってきたが、このガラス組成物を用いて得られ
る基板の性能は比誘電率および熱膨張係数については低
く、優れているが抗折強度は120〜170MPaと低
く、そのために配線板とした場合、配線板に電気信号の
入出力用ピンをろう付は等で取りつける際に、ろう材と
基板との熱膨張差で生しる熱応力で割れが生しる問題や
、ろう付は後に負荷応力が加わった時、ろう付は部で基
板の剥離などが生じ、そのため導通不良などの故障が発
生ずる問題があった。
[発明が解決しようとする課題] 本発明の課題は比誘電率および熱膨張係数が低く、かつ
強度の高い焼結体が得られるガラスセラミンク焼結体の
製法を提供することにある。
[課題を解決するための手段1 本発明は、組成が、 5iOz   :48〜63重量% A重量O,1,O〜25重量% MgO:10〜25重景% B重量3   :  4〜10重景% 重量分を有し、かつMgO成分全体に対して0〜20重
量%のMgOがCaO1BaO,SrOの中から選ばれ
た一種類以上の成分で置換さているガラス組成物粉末に
、ウィスカーと、前記ガラス組成物粉末の焼結体の熱膨
張係数より低い熱膨張係数の無機粉末とを添加して得ら
れる混合物を焼結してガラスセラミック焼結体とするガ
ラスセラミック焼結体の製法である。
本発明の原料として用いるガラス組成物粉末は焼結後の
結晶構造が主としてα−コージェライトとなるS iO
z  Alz 03  MgOを主成分きするガラス組
成物の一種であり、3102  Alz Ch −Mg
Oを主成分とするガラス組成物粉末の焼結体は比誘電率
が低く、熱膨張係数がシリコンに近い値となることが知
られている。
通常、ガラス組成物粉末の焼結法により製造される多層
配線基板は、導体をガラス組成物粉末およびを機バイン
ダーなどよりなるグリーンシート上に形成したものを焼
結して製造される。このグリーンシート上に形成する導
体としてはAu、Ag、Ag−Pd、Cuなどの低い電
気抵抗の金属であることがが好ましい。これらの低い電
気抵抗の金属の融点は1000°C付近にあるため、導
体の金属を溶融させずに多層配線基板を得るためには、
グリーンシートの焼結温度は1000°C以下であるこ
とが望ましい。従って、本発明では焼結を1000°C
以下の温度で行った場合でも、緻密な焼結体となるSi
O□−Al103−MgOを主成分とするガラス組成物
粉末を原料に用いるものである。このようなガラス組成
物粉末の組成としては 5iOz   :48〜63重量% A重量03 :10〜25重量% MgO:i、o〜25重景% 重量Oi   :  4〜10重量% の成分を有し、かつMgO成分全体の0〜20重量%の
MgOがCab、Bad、SrOの中から選ばれた成分
の少なくとも一種類以上の成分で置換されてなる組成で
あることが必要であり、その理由を以下に各成分毎に説
明する。
SiO□の組成割合が63重量%を越えるとガラス熔融
温度が上昇するとともに、焼結時にガラス粒子表面が象
、激に結晶化するため焼結を助けるガラス相が不足し、
緻密な焼結体が得難くなる。
48重量%未満であるとガラス粉末の結晶化温度が上昇
し、緻密な焼結体が得られる焼結温度が高くなり、10
00°C以下で焼結した場合、未焼結の状態の焼結体し
か得られない問題が生じる。
A1.O,の組成割合については、25重蓋%を越える
と緻密な焼結体が得られる焼結温度が高くなり、I 0
00 ’C以下で焼結した場合、未焼結の状態の焼結体
しか得られない問題が生じる610重量%未満であると
α−コージェライト結晶が少なくなり、Sin、−Mg
O系の結晶が多く析出し、比誘電率が高くなる問題を生
じる。
MgOの組成割合については25重量%を越えると、ケ
イ酸マグネシウムが析出するためと推定されるが、焼結
時の変形が大きくなり、実用性に乏しくなる。10重量
%未満であると緻密な焼結体を得られないという問題を
生じる。
BzOsの組成割合については、10重量%を越えると
、焼結時に発泡しやすくなり、焼結可能な温度範囲が狭
くなると共に、焼結体の強度が低下する問題が生じる。
4重量%未満であると、ガラス粒子表面層の結晶化が急
激に進み、1000゛C以下の焼結では緻密な焼結体が
得られない問題が生じる。
MgOを置換するアルカリ土類金属酸化物に関しては、
緻密な焼結体が得られるように、必要に応し適宜用いう
るが、アルカリ土類金属酸化物がMgOの20重量%を
越えると、MgO成分が少なくなり、α−コージェライ
ト結晶の析出が悪くなり比誘電率が高くなる問題が生し
る。
本発明は、前記のガラス組成物粉末にウィスカーと、前
記ガラス組成物粉末の焼結体の熱膨張係数より低い熱膨
張係数の無機粉末とを添加して得られる混合物を焼結し
てガラスセラミック焼結体とするものであり、このよう
にして得られる焼結体は、ウィスカー及び無機粉末を添
加していないガラス組成物粉末の焼結体に比べ、強度が
大幅に改善される特徴を有する。これはウィスカー及び
無機粉末が焼結体において不均一相として分散している
ことにより、破壊エネルギーの散逸源として作用し、破
壊に必要なエネルギーを増大させるため焼結体の強度が
向上するものと考えられる。
また、本発明の特徴である、ガラス組成物粉末にウィス
カーと無機粉末の両者を共に添加した場合、ウィスカー
または無機粉末を単独で添加した場合より強度が向上す
るのは、いわゆるマルチタフニング効果と呼ばれる相乗
作用によるものと考えられる。
本発明の添加するウィスカーは、焼結体において破壊エ
ネルギーの散逸源として作用するには、焼結後の焼結体
中にウィスカーとして分散していることが望ましく、ガ
ラス組成物粉末の焼結温度では溶融し難い窒化珪素、ホ
ウ酸アルミまたは炭化珪素のウィスカーが好適である。
また、本発明の添加する無機粉末としては、ガラスセラ
ミック焼結体の強度向上に有効であると共に、ガラスセ
ラミック焼結体の比誘電率を高くすることがないという
性質を有するコージェライト、石英ガラス、チタン酸ア
ルミニウム、β−スポジュメン、β−ユークリプタイト
の中から選ばれた少なくとも1種以上の粉末であること
が好ましい。
本発明における、ウィスカーと無機粉末の合計の添加割
合はガラス組成物粉末にウィスカー及び無機粉末を添加
して得られる混合物全体に対し密度換算で50体積%以
下であることが有効である(以下の体積%はすべで密度
換算により求めた値である) この理由は添加割合が50体積%を越えると、焼結性が
阻害され、緻密な焼結体が得られず、焼結体の強度が低
くなる問題が生じるためである。
また、ウィスカーと無機粉末の合計の添加割合が少なす
ぎると、焼結体の強度を向上させる効果が乏しくなるた
め、ウィスカーと無機粉末の合計の添加割合はガラス組
成物粉末にウィスカー及び無機粉末を添加して得られる
混合物全体に対し2体積%以上であることが望ましい。
本発明の混合物を焼結してガラスセラミック焼結体とす
る場合の焼結温度は、前記したようにAu、Ag、、A
g−Pd、Cuなとの低抵抗の金属からなる導体層を形
成したグリーンシートを焼結する場合は、1000℃以
下が望ましいが、導体=10 層を形成しない場合や、導体材料の融点によっては10
00°Cより高い温度で焼結しても問題を生じない。
本発明の製法によって得られたガラスセラミック焼結体
は、そのまま、多層配線基板などとして使用出来るが、
焼結した後、焼結温度以下の温度で加熱処理することに
より、さらに高強度のガラスセラミンク焼結体を得るこ
ともできる。この焼結後の加熱で強度が向上する理由は
、加熱処理により焼結時に生じたひずみが取り除かれた
り、焼結体の表面または内部に存在する微細欠陥が鈍化
させられたりするためと考えられる。
本発明の製法によるガラスセラミンク焼結体の用途は前
記した多層配線基板が好適であるが、これに限定される
ものではなく、高強度、低い比誘電率、低い熱膨張係数
を必要とする各種分野に適用可能である。
[作用] 本発明で用いるガラス組成物粉末は、焼結後の焼結体が
低い比誘電率、低い熱膨張係数となる作用をする。また
、このガラス組成物粉末と複合するウィスカー及び無機
粉末は焼結体中に分散させられていることにより、破壊
エネルギーの散逸源として作用し、焼結体の破壊に必要
なエネルギーを増大させる作用をする。
[実施例] 本発明の実施例および比較例について、焼結体の製法お
よび得られた焼結体の性能試験の結果について説明する
各実施例および比較例についての混合物の製法および焼
結体の製法は次のようにして行った。
各配合成分(SiOz、AI。03 、MgO1B20
3など)を第1表に示す割合で配合し、それぞれをアル
ミナ質ルツボに入れ、約1500〜1550 ’Cで加
熱し溶解した。得られた溶融液を水中に投下し、ガラス
組成物とした後、アルミナ質ボールミル中で湿式粉砕ま
たは乾式粉砕をし、平均粒径2〜4μmのガラス組成物
粉末を得た。
第1表のG−1〜G−10のガラス組成物粉末は本発明
の組成範囲内の組成のガラス組成物粉末であり、G−1
1〜G−14のガラス組成物粉末は本発明の組成範囲を
外れた組成のガラス組成物粉末である。
こうして得られたガラス組成物粉末に対して、各種のウ
ィスカーおよび無機粉末を第2表および第3表に示す体
積分率(混合物全体に対する体積%)で添加し、ナイロ
ン質ボールミル中でエヂルアルコールを添加して24時
時間式混合した後、乾燥し、ウィスカーおよび無機粉末
を添加した混合物を得た。なお、各種のウィスカーはい
ずれも市販の、平均直径05〜1.0μm、平均長さ1
0〜100μm前後のものであり、ガラス組成物粉末に
添加する前に、純水中で超音波を照射した後、開口径5
0μm(#325メツシュ)のフィルターを通過させた
ものを用いた。
こうして得られた混合物を黒鉛製モールドを用いて、ア
ルゴン雰囲気中、昇温スピード10°C/分、焼結温度
1000 ’C1保持時間1時間、プレス圧力35MP
aの条件下でボンドプレス焼結し、50mmφの円盤状
のガラスセラミック焼結体を得た。得られた50mmφ
の円盤状のガラスセラミンク焼結体について、周波数I
MHzにおける比誘電率を測定した。またこの焼結体か
ら切断および研削加工により、4X3X35mmの寸法
の試験片を作成し、熱膨張係数およびJIS−R160
1の3点曲げによる抗折強度の測定を行った。その結果
を第2表、第3表に示す。
第2表に示す実施例1〜11は本発明の組成範囲内の組
成のガラス組成物粉末を用いて実施したものであり、何
れの場合も得られた抗折強度は220〜451.MPa
と高い値を示しており、また比誘電率および熱膨張係数
も実用上、充分な値が得られた。この結果から本発明の
実施例の焼結体は、比誘電率が低く、熱膨張係数が低く
、かつ強度が強いことが実証された。
これに対し、第3表の比較例1〜4ではウィスカーと無
機粉末の合計の添加割合が60〜70体積%と50体積
%より多いため、緻密な焼結体が得られず、抗折強度は
52〜164MPaと低い値であった。また、第3表の
比較例5〜8ではガラス組成物粉末の各成分の配合割合
が本発明の組成範囲を外れたものであり、この場合ウィ
スカー及び無機粉末を添加することにより、さらに焼結
性が悪くなり、ウィスカーと無機粉末の合計の添加割合
が10体積%であるにもかかわらず1000°Cの焼結
では緻密な焼結体が得られず、抗折強度は86〜167
MPaと低い値であった。
次に、前記の実施例1〜5で得られたガラスセラミンク
焼結体を、アルゴン雰囲気中、昇温スピード10°C/
分、800 ’C1保持時間5時間の条件で加熱処理し
た後で、各特性を測定した。その結果を、第4表の実施
例12〜16として示す。
第4表から、加熱処理した場合、加熱処理をしない場合
に比べ、約10%程度の強度向上効果があることが実証
された。
11493H9) U発明の効果] 本発明の製法によるガラスセラミック焼結体は、比誘電
率が低く、熱膨張係数が低く、かつ強度が強い焼結体と
なるため、多層配線基板とするに好適なガラスセラミッ
ク焼結体の提供が可能となった。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)組成が、 SiO_2:48〜63重量% Al_2O_3:10〜25重量% MgO:10〜25重量% B_2O_3:4〜10重量% の成分を有し、かつMgO成分全体に対して0〜20重
    量%のMgOがCaO、BaO、SrOの中から選ばれ
    た一種類以上の成分で置換さているガラス組成物粉末に
    、ウィスカーと、前記ガラス組成物粉末の焼結体の熱膨
    張係数より低い熱膨張係数の無機粉末とを添加して得ら
    れる混合物を焼結してガラスセラミック焼結体とするガ
    ラスセラミック焼結体の製法。
  2. (2)添加するウィスカーと無機粉末の合計の添加割合
    がガラス組成物粉末にウィスカー及び無機粉末を添加し
    て得られる混合物全体に対し密度換算で50体積%以下
    である請求項1記載のガラスセラミック焼結体の製法。
  3. (3)ウィスカーが、窒化珪素、ホウ酸アルミ、炭化珪
    素の中から選ばれた少なくとも1種以上のウィスカーで
    ある請求項1または2記載のガラスセラック焼結体の製
    法。
  4. (4)無機粉末が、コージェライト、石英ガラス、チタ
    ン酸アルミニウム、β−スポジュメン、β−ユークリプ
    タイトの中から選ばれた少なくとも1種以上の粉末であ
    る、請求項1ないし3のいずれか記載のガラスセラミッ
    ク焼結体の製法。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1443029A1 (en) * 2001-11-05 2004-08-04 Asahi Glass Company Ltd. Glass ceramic composition
WO2014156457A1 (ja) * 2013-03-26 2014-10-02 日本碍子株式会社 ガラス-セラミックス複合材料
CN108503230A (zh) * 2018-04-24 2018-09-07 佛山市奥耶克思机械设备有限公司 一种封装基板复合材料及其制备方法
CN108558215A (zh) * 2018-05-24 2018-09-21 电子科技大学 一种高强度低热膨胀系数微晶玻璃及其制备方法

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