JPH04114140A - ランプ位置検出機構 - Google Patents

ランプ位置検出機構

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Publication number
JPH04114140A
JPH04114140A JP2233413A JP23341390A JPH04114140A JP H04114140 A JPH04114140 A JP H04114140A JP 2233413 A JP2233413 A JP 2233413A JP 23341390 A JP23341390 A JP 23341390A JP H04114140 A JPH04114140 A JP H04114140A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lamp
xenon lamp
small holes
reticle
xenon
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2233413A
Other languages
English (en)
Inventor
Akihito Tanimoto
谷本 晃仁
Hironori Uchida
内田 弘則
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Avionics Co Ltd
Original Assignee
Nippon Avionics Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Avionics Co Ltd filed Critical Nippon Avionics Co Ltd
Priority to JP2233413A priority Critical patent/JPH04114140A/ja
Publication of JPH04114140A publication Critical patent/JPH04114140A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、ランプ位置検出機構に係り、特にフィルム、
写真フィルム、油膜ライトバルブ、液晶ライトバルブ等
(以下これらを総称して担体と云う)に画像等の情報を
形成すると共に、この情報を拡大投射するディスプレイ
装置並びにオーバーヘッドプロジェクタ装置に使用され
る高輝度光源体に適用して好適なランプ位置検出機構に
関するものである。
[従来の技術] ディスプレイ装置並びにオーバーへラドプロジェクタ装
置は、画像等の情報が形成された担体を高輝度光源体と
してのキセノンランプによって照射し、その透過光また
は反射光をスクリーン上に拡大投射するもので、高輝度
、高解像度が得られ、明るい室内での投射が可能、リア
ルタイム表示が可能等の優れた特徴を有することから、
テレビ会議での文字情報、グラフィックス表示、指令、
制御室での状況表示、デシジョン・ルーム施設等に使用
されている。キセノンランプは、太陽光に類似した連続
スペクトルを有しており、光源体として非常に優れてい
る。しかし、その性能も種々の条件が整わなければ十分
に発揮することができない、その条件の一つにキセノン
ランプと反射鏡との位WrIR係がある。すなわち、キ
セノンランプを反射鏡の適切な位置に設置することで、
キセノンランプから放射された光・を有効使用すること
ができる。つまり、反射鏡の鏡面は、通常楕円反射面を
形成し、その第1の焦点位置から出た光が第二の焦点位
置に集光されるようになっている。しかし、第1の焦点
位置からずれてキセノンランプを設置した場合は、第2
の焦点位置に正しく集光せず、その結果として輝度ムラ
、輝度低下となってスクリーン上に現れる。
そこで、キセノンランプの位置検出が重要となり、従来
は実際にスクリーン上に光を投射して映し出された光を
見ながらキセノンランプを前後、左右方向に移動させて
調整を行っていた。
[発明が解決しようとする課題] しかしながら、上記したような従来のランプ位置検出方
法にあっては、キセノンランプを交換する度に同様な調
整作業を行わなければならず、その作業が非常に面倒で
時間がかかると云う問題があった。
したがって、本発明は上記したような従来の問題点に鑑
みてなされたもので、その目的とするところは、比較的
簡単にランプの位置を検出することができるようにした
ランプ位置検出機構を提供することにある。
[課題を解決するための手段] 本発明は上記目的を達成するため、担体上に形成された
情報をキセノンランプによって照射し、スクリーン上に
拡大投射するディスプレイ装置のランプ位置検出機構で
あって、前記キセノンランプの周囲を取り囲む反射鏡の
反射面で前記ランプの中心を通り光軸と直交するXおよ
びY方向上の2点位置に小孔を設け、これら小孔の延長
線上のランプハウスに孔を設け、この孔にレティクルを
配設したものである。
[作用] 本発明において、キセノンランプから放射された光の一
部は反射鏡の小孔を透過することで細いビームとなりレ
ティクルを照射する。そのビームスポットの位置は、キ
セノンランプが最適位置にあるか否かを示す。
[実施例1 以下、本発明を図面に示す実施例に基づいて詳細に説明
する。
第1図は本発明に係るランプ位置検出機構を備えたディ
スプレイ装置の光源部の正面図、第2図は同光源部の平
面図、第3図はレティクルの正面図である。これらの図
において、1は光軸り方向に長い直方体状のランプハウ
スで、このランプハウス1の内部には送風ファン2、キ
セノンランプ3、コールドミラー4および該ミラー4を
透過した赤外線を吸収するヒートシンク5が光軸り上に
並設されると共に、前記キセノンランプ3の周囲を取り
囲む楕円反射!6が配設されている。前記キセノンラン
プ3は、その中心Oが楕円反射鏡6の第1の焦点P1と
一致するように配置されている。コールドミラー4は光
軸りと垂直、水平方向に対して適宜角度、例えば45°
傾斜するように配置されている。また、前記楕円反射鏡
6は、その中心線が前記光軸りと一致するように配設さ
れる。したがって、キセノンランプ3から出射して楕円
反射Ia6により反射した反射光は、コールドミラー4
によって反射され、楕円反射鏡6の曲率によって定まる
第2の焦点位WP2に集光し、不図示の収束レンズを介
してやはり不図示の担体を照射してスクリーン上に拡大
投影される。
前記楕円反射M6の反射面で、前記光軸りと直交し、第
1の焦点位WP0を通る水平方向(X方向)および垂直
方向(Y方向)の2点位置には小孔7.8がそれぞれ形
成されており、また前記小孔7.8の延長線上でランプ
ハウス1の壁面には穴9.10が開設されると共にレテ
ィクル11.12がそれぞれ取付けられており、これら
によってキセノンランプ3の位置検出機構を形成してい
る。
前記小孔7.8の穴径としては0.6龍φ程度とされる
。レティクル11.12は、摺ガラスからなり、その表
面にはメツシュ13が等間隔でシルク印刷されている。
このような構成からなるディスプレイ装置において、キ
セノンランプ3の位置決め調整に際しては、キセノンラ
ンプ3をその中心Oが第1の焦点Plと一致するように
配置した後、該ランプ3を電源に接続して点灯させる。
すると、キセノンランプ3から放射され、楕円反射鏡6
によって反射した光は第2の焦点位WP2に集光してコ
ールドミラー4により反射され、不図示の担体を照射し
てスクリーン上に拡大投影される。また、キセノンラン
プ3から出た光の一部は楕円反射鏡6の各小孔7.8を
透過することにより、細いビームとなってレティクル1
1.12を照射し、そのビームスポットBSの位置によ
りキセノンラン13の位置を検出することができる。こ
の時、キセノンランプ3の中心Oが第1の焦点位IEP
tからずれていると、スクリーン上に輝度ムラ、輝度低
下を生じる。そこで、ずれている場合はスクリーン上の
輝度ムラがなくなるように、また輝度が最大になるよう
に、キセノンランプ3をX、Y方向に移動調整する。そ
して、キセノンランプ3を正しく位置決め固定すること
ができたら、この時のビームスポットBSの位置をレテ
ィクル11.12にインク等でマーキングしておく。こ
のマーク位置は、楕円反射鏡6の精度、楕円反射鏡6の
取付精度等により最初に設定できないため、−変速正位
置を検出し、その位置にマーキングする必要がある。最
初の位置検出は、上述した通り左右、前後方向にキセノ
ンランプ3を動かしてスクリーン上の輝度を計測し、鰻
適位置を見付ける必要があるため、長時間を要する作業
であるが、マーキング後はランプ交換の度に位置検出す
る必要がなく、マーキング位置にビームスポットが一致
するようにキセノンランプ3を調整するだけでよく、交
換作業を容易かつ迅速に行うことができる。
[発明の効果] 以上説明したように本発明に係るランプ位置検出機構は
、反射鏡の反射面でその光軸と直交し、かつ焦点位置を
通るX=Y方向の2点位置に小孔をそれぞれ設けると共
に、この小孔の延長線上のランプハウスにレティクルを
設け、キセノンランプから出た光の一部を前記小孔を経
てレティクルに導くように構成したので、レティクル上
のビームスポット位置によってキセノンランプの位置を
検出することができ、また適正位置に位置決め固定した
後は、その時のスポット位置をレティクルにマーキング
することで、以後のランプ交換を容易にかつ迅速に行う
ことができ、作業性を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係るランプ位置検出機構を備えたディ
スプレイ装置の光源部の正面図、第2図は同光源部の平
面図、第3図はレティクルの正面図である。 1・−・ランプハウス、2−・・送風ファン、3・・−
キャノンランプ、4・・・コールドミラ、5・・・ヒー
トシンク、6・・・楕円反射鏡、7.8・・・小孔、9
.10・・・穴、11.12・・・レティクル。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  担体上に形成された情報をキセノンランプによって照
    射し、スクリーン上に拡大投射するディスプレイ装置の
    ランプ位置検出機構であって、前記キセノンランプの周
    囲を取り囲む反射鏡の反射面で前記ランプの中心を通り
    光軸と直交するXおよびY方向上の2点位置に小孔を設
    け、これら小孔の延長線上のランプハウスに孔を設け、
    この孔にレティクルを配設したことを特徴とするランプ
    位置検出機構。
JP2233413A 1990-09-05 1990-09-05 ランプ位置検出機構 Pending JPH04114140A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2233413A JPH04114140A (ja) 1990-09-05 1990-09-05 ランプ位置検出機構

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JP2233413A JPH04114140A (ja) 1990-09-05 1990-09-05 ランプ位置検出機構

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04114140A true JPH04114140A (ja) 1992-04-15

Family

ID=16954674

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2233413A Pending JPH04114140A (ja) 1990-09-05 1990-09-05 ランプ位置検出機構

Country Status (1)

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JP (1) JPH04114140A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6860776B2 (en) 2001-09-11 2005-03-01 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Method for producing high pressure discharge lamp unit and apparatus for producing the same

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6860776B2 (en) 2001-09-11 2005-03-01 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Method for producing high pressure discharge lamp unit and apparatus for producing the same

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