JPH04112473A - Ic socket - Google Patents
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Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 45
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 6
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 claims description 5
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000005476 soldering Methods 0.000 abstract description 6
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 12
- 239000011295 pitch Substances 0.000 description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 5
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 4
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 3
- 229910000906 Bronze Inorganic materials 0.000 description 2
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000010974 bronze Substances 0.000 description 2
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 2
- KUNSUQLRTQLHQQ-UHFFFAOYSA-N copper tin Chemical compound [Cu].[Sn] KUNSUQLRTQLHQQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 229920006351 engineering plastic Polymers 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000012216 screening Methods 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- DMFGNRRURHSENX-UHFFFAOYSA-N beryllium copper Chemical compound [Be].[Cu] DMFGNRRURHSENX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- 239000003292 glue Substances 0.000 description 1
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000012536 packaging technology Methods 0.000 description 1
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 238000000275 quality assurance Methods 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 1
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- Connecting Device With Holders (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
半導体装置の検査工程とかプリント板などへの搭載の際
に用いられるICソケットに関し、半導体装置本来の電
気的特性を損なわないように、インピーダンスを低くし
て接触子に大電流が流せることを目的とし、
下蓋と、接触子を有し、前記下蓋は、半導体装置が挿着
されるものであって、上面中央部から外側壁方向に掘ら
れた複数本の案内溝と、案内溝の底面に下外壁まで貫通
する端子孔を有するものであり、かつ絶縁材料からなり
、前記接触子は、下蓋の上方に置かれた半導体装置のリ
ードと弾接するものであって、上下方向に幅の広い案内
部材と、案内部材の一端部からなる接続端子と、案内部
材の上面中間部からつの字形に突設されて上方に弾付勢
された接点と、案内部材の下面中間部から下方に突設さ
れた固着端子を有するものであり、かつばね材料からな
り、前記接触子は、案内部材が案内溝に嵌合されて固着
端子が端子孔を挿通するように圧入された際、接続端子
が下蓋の外側壁から突出しているものであるように構成
する。[Detailed Description of the Invention] [Summary] Regarding IC sockets used in the inspection process of semiconductor devices and when mounting them on printed circuit boards, etc., the impedance is low so as not to impair the original electrical characteristics of the semiconductor devices. The purpose is to allow a large current to flow through the contact, and it has a lower cover and a contact, and the lower cover is used to insert a semiconductor device, and is carved from the center of the upper surface toward the outer wall. It has a plurality of guide grooves and a terminal hole penetrating the bottom of the guide groove to the lower outer wall, and is made of an insulating material, and the contactor is connected to the leads of a semiconductor device placed above the lower cover. A guide member that is in contact with the guide member and has a wide width in the vertical direction; a connection terminal that is formed from one end of the guide member; and a contact that projects in a box shape from the middle part of the upper surface of the guide member and is elastically biased upward. , has a fixed terminal protruding downward from the middle part of the lower surface of the guide member, and is made of a spring material, and the contactor is arranged such that the guide member is fitted into the guide groove and the fixed terminal is inserted through the terminal hole. The connecting terminal is configured so that it protrudes from the outer wall of the lower cover when it is press-fitted.
本発明はICソケットに係わり、特に検査工程とかプリ
ント板などに搭載して使用される際に、電気的特性が損
なわれないように大電流が流せるICソケットに関する
。The present invention relates to an IC socket, and more particularly to an IC socket that allows a large current to flow therethrough without damaging electrical characteristics when used in an inspection process or mounted on a printed board.
近年、モノリシック型やハイブリッド型の集積回路(I
C)からなる半導体装置の集積度の増大とそれに伴う機
能の高度化は目ざましく、より高速に動作してしかも大
電流を扱える品種が開発されるようになってきている。In recent years, monolithic and hybrid integrated circuits (I
The degree of integration of semiconductor devices consisting of (C) has been increasing rapidly and the functions thereof have become more sophisticated, and products that operate at higher speeds and can handle large currents are being developed.
ところで、一般に半導体装置などの電子デバイスは、設
計が適切で、製造工程の管理が行き届いていても、若干
の不具合品が混入することは避けられない。By the way, in general, even if electronic devices such as semiconductor devices are appropriately designed and the manufacturing process is well controlled, it is inevitable that some defective products will be mixed in.
そこで、半導体装置の組立工程のあとに行われる製品検
査は、個々の製品の信頼性を確保する上で重要な工程で
ある。Therefore, product inspection performed after the assembly process of semiconductor devices is an important process to ensure the reliability of each product.
また、特に信頼性を重視した半導体装置の場合には、品
質保証の上で特性を安定させたり不具合品を取り除くた
めに、製品検査のあとスクリーニングと呼ばれる品質検
査が欠かせない工程となっている。そして、このスクリ
ーニングの中で、バーンイン(Burn In)と呼ば
れる検査は、一般に製品の全数について行われる。In addition, in the case of semiconductor devices where reliability is particularly important, a quality inspection called screening is an essential process after product inspection in order to stabilize characteristics and remove defective products for quality assurance purposes. . During this screening, an inspection called burn-in is generally performed on all products.
このような半導体装置の検査には、一般に、容易に挿脱
が可能なICソケットが用いられる。また、必ずしも一
般的ではないが、半導体装置をプリント板に実装する際
にもICソケットが使用される。こうしたICソケット
には、半導体装置の機能の高度化に対応して電気的特性
を損なわない性能が要求される。For testing such semiconductor devices, IC sockets that can be easily inserted and removed are generally used. Although not necessarily common, IC sockets are also used when mounting semiconductor devices on printed circuit boards. Such IC sockets are required to have performance that does not impair electrical characteristics in response to the increasingly sophisticated functions of semiconductor devices.
半導体装置は、チップの保護、基板への搭載、取扱の容
易さなどの必要性から、一般にパッケージに封入されて
用いられる。2. Description of the Related Art Semiconductor devices are generally used while being enclosed in a package due to the need to protect the chip, mount it on a substrate, and facilitate handling.
半導体装置は、パッケージから引き出されるリードの本
数やプリント板への搭載の仕方などによって、種々のパ
ッケージに実装される。Semiconductor devices are mounted in various packages depending on the number of leads pulled out from the package, how they are mounted on a printed board, and so on.
パッケージから導出されるリードが少ないときには、S
IP (Single In−1ine Pack
age)やZ I P (Zigzag I P)など
がよく用いられ、中規模のときは、D I P (Du
al I P)とかSOJ(Small 0utl
ine J−1ead P)などが用いられる。さら
にリードが多くなると、パッケージの2辺からでは間に
合わず4辺から引き出され、PLCC(Plastic
Leadless Chip Carrier)と
かQF P (Quad F lat P)といったパ
ッケージが用いられる。When there are few leads derived from the package, S
IP (Single In-1ine Pack
(age) and Z I P (Zigzag I P) are often used, and for medium scale, D I P (Du
al I P) or SOJ (Small 0utl)
ine J-1ead P), etc. are used. Furthermore, as the number of leads increases, it is not enough to pull them out from two sides of the package, and they are pulled out from the four sides.
Packages such as Leadless Chip Carrier (Leadless Chip Carrier) and QF P (Quad F lat P) are used.
そして、パッケージも表面実装形パッケージが増える傾
向にあり、従来のDIPからPLCCとかQFPとかS
OP (Small 0utline P)の方向
への移行が進められている。There is also a trend toward more surface-mounted packages, from conventional DIP to PLCC, QFP, and S.
A shift towards OP (Small Outline P) is underway.
こうした多種多様のパッケージに対して、製品検査であ
れば検査装置に、バーンインの場合であればバーンイン
ボードに、実際に商品として用いられる場合にはプリン
ト板などに、それぞれのパッケーシに見合って作られた
専用のICソケットが用いられる。For such a wide variety of packages, each package is made to suit each package, such as inspection equipment for product inspection, burn-in boards for burn-in, and printed boards when actually used as a product. A dedicated IC socket is used.
第5図は従来のICソケットの一例の構成図、第6図は
第5図の要部の断面斜視図である。FIG. 5 is a configuration diagram of an example of a conventional IC socket, and FIG. 6 is a cross-sectional perspective view of the main part of FIG.
図中、1は下蓋、2は接触子、23は接点、25は端子
、3は上蓋、4は半導体装置、41はリード、5はプリ
ント板、51はスルホール、6はICソケットである。In the figure, 1 is a lower cover, 2 is a contact, 23 is a contact, 25 is a terminal, 3 is an upper cover, 4 is a semiconductor device, 41 is a lead, 5 is a printed board, 51 is a through hole, and 6 is an IC socket.
第5図において、半導体装置4には、例えば半導体素子
が形成されたチップをエポキシ系などの低圧成形樹脂な
どでトランスファモールドしたプラスチックパッケージ
がよく用いられる。また、放熱などを考慮して、セラミ
ックの基板にチップを実装したセラミックパッケージな
どもある。何れにしても、半導体装置のパッケージの外
壁からは、複数本のリード41が突き出ている。In FIG. 5, for the semiconductor device 4, a plastic package is often used, for example, in which a chip on which a semiconductor element is formed is transfer-molded with a low-pressure molding resin such as epoxy resin. There are also ceramic packages in which a chip is mounted on a ceramic substrate in consideration of heat dissipation. In any case, a plurality of leads 41 protrude from the outer wall of the package of the semiconductor device.
そして、同一のチップでも、顧客のいろいろな実装形態
に応えるために種々のパラケーン形態が採られ、それに
対応しているいろなリードピッチとロースペースとを組
合せた種々のICソケット6が用意されている。Even for the same chip, various paracane configurations are adopted in order to meet the various mounting configurations of customers, and various IC sockets 6 are available that combine various lead pitches and low spaces. There is.
半導体装置4が挿着されるICソケット6の基本的な構
成は、絶縁体からなる下蓋Iとばね性材料からなる接触
子2である。The basic structure of the IC socket 6 into which the semiconductor device 4 is inserted is a lower cover I made of an insulator and a contact 2 made of a spring material.
半導体装置4のパッケージがDIPのような固いリード
41の先端が下方向に突き出ている場合には、リード4
1を下蓋Iの接触子2に挿入するだけで半導体装置4は
支持される。If the package of the semiconductor device 4 has a hard lead 41 such as a DIP with its tip protruding downward, the lead 4
1 into the contact 2 of the lower cover I, the semiconductor device 4 is supported.
ところが、SOPとかQFPのようなリート41が水平
方向に突き出ているいわゆるフラットパッケージの場合
には、リード41を下蓋lの接触子2に挿入して支持す
る方法が採れない。つまり、下蓋1の接触子2と上蓋3
の押圧部31とでリード41を挟むようにして支持する
必要がある。そこで、接触子2は、湾曲した形状にして
上方に付勢させ、リード41と弾接する構造になってい
る。However, in the case of a so-called flat package, such as SOP or QFP, in which the leads 41 protrude in the horizontal direction, it is not possible to insert the leads 41 into the contacts 2 of the lower lid l and support them. In other words, the contact 2 of the lower lid 1 and the upper lid 3
It is necessary to support the lead 41 by sandwiching it between the pressing portion 31 and the pressing portion 31 . Therefore, the contactor 2 is configured to have a curved shape and to be biased upward so as to come into elastic contact with the lead 41.
ICソケット6が検査装置に取り付けられて用いられる
ような場合には、同図(A)に示したように上蓋分離型
で、例えばプリント板5のスルホール51に接触子2の
先端の端子25が挿入されてはんだ付けされ、そのプリ
ント板5が装置に組み込まれて用いられる。そして、上
蓋3が下蓋1に対向して上方向から上下動し、押圧部3
1がIJ−1”41を押下して接点23と弾接するよう
になっている。When the IC socket 6 is attached to an inspection device and used, the upper lid is separated as shown in FIG. It is inserted and soldered, and the printed board 5 is incorporated into a device and used. Then, the upper lid 3 moves up and down from above facing the lower lid 1, and the pressing part 3
1 presses down the IJ-1'' 41 so that it comes into elastic contact with the contact 23.
また、バーンインなどに用いられるICソケット6の場
合には、同図(B)に示したように上蓋一体型で、下蓋
1と上蓋3の一端部同士がばねなどによって常時開方向
に付勢されて枢支され、他端部同士は、上蓋3が閉じた
際に係止されるように構成されている。In addition, in the case of an IC socket 6 used for burn-in, etc., the upper lid is integrated as shown in FIG. The other ends are configured to be locked together when the top cover 3 is closed.
第6図において、下蓋1には、半導体装置のパッケージ
の外壁から引き出されたリードのピッチに合った間隔で
案内溝11が切られており、この案内溝11はリードが
背向したロースペースに合わせて、対向する2辺とか4
辺とかに並んで設けられている。In FIG. 6, guide grooves 11 are cut in the lower cover 1 at intervals matching the pitch of the leads pulled out from the outer wall of the package of the semiconductor device, and the guide grooves 11 are formed in low spaces where the leads are facing away from each other. According to the 2 opposing sides or 4
They are placed side by side.
この案内溝11の中には、例えばりん青銅とがベリリウ
ム銅などのばね材料にAuめっきを施した構成になる接
触子2が嵌まっている。A contact 2 is fitted into the guide groove 11 and is made of a spring material such as phosphor bronze and beryllium copper plated with Au.
この案内溝11に嵌まっている接触子2の上方の一端部
は接点23になっており、上方に付勢されて上下動自在
に嵌まっている。One upper end of the contactor 2 fitted in the guide groove 11 is a contact point 23, which is urged upward and fitted so as to be vertically movable.
また、中間部は湾曲した形状をなして、接点23に上方
向の付勢を与えている。Further, the intermediate portion has a curved shape and applies an upward bias to the contact point 23.
さらに、他端部は垂直に下方を向いて案内溝11の底に
設けられた端子孔12に圧入されて貫通しており、先端
が端子25となって例えばバーンインボードなどのプリ
ント板のスルホールに例えばはんだ付けされている。Furthermore, the other end faces vertically downward and is press-fitted into a terminal hole 12 provided at the bottom of the guide groove 11 and passes through it, and the tip becomes a terminal 25 and is inserted into a through hole of a printed board such as a burn-in board. For example, it is soldered.
このようなICソケットの使用形態は、パッケージの形
態がいろいろ異なっても、基本的には変わらない。The manner in which such IC sockets are used remains basically the same, even if the package formats vary.
このように、半導体装置の検査工程とがプリント板搭載
の際などに用いられるICソケットは、パッケージの形
態つまりリードピッチやロースペースの寸法に合わせて
作られている。In this way, IC sockets used in the testing process of semiconductor devices and when mounting printed circuit boards are made to match the form of the package, that is, the dimensions of the lead pitch and low space.
ところが、半導体装置の機能の高度化によってリードの
本数が増え、パッケージの小型化の要請に応えるために
リードが細くなって、ピッチも狭くなる傾向にある。そ
れに伴って、ICソケットの接触子も肉厚が薄(なって
きており、特にプリント板などと外部接続する端子が細
くなってしまうことが避けられない。However, as the functionality of semiconductor devices becomes more sophisticated, the number of leads increases, and in order to meet the demand for smaller packages, the leads tend to become thinner and the pitch narrower. Along with this, the contactors of IC sockets are also becoming thinner, and it is inevitable that the terminals that connect externally to printed circuit boards, in particular, will become thinner.
そのため、電源線や接地線(GND)のような大電流を
扱う端子に対応する接触子のインピーダンスが増大し、
信号伝達速度の遅延とかGNDノイズの発生とかが起こ
り易くなる。Therefore, the impedance of contacts corresponding to terminals that handle large currents such as power lines and ground lines (GND) increases,
Delays in signal transmission speed and generation of GND noise are likely to occur.
その結果、半導体装置本来の電気的特性を損なってしま
う問題があった。As a result, there was a problem in that the original electrical characteristics of the semiconductor device were impaired.
そこで本発明は、半導体装置のパッケージのリードピッ
チが狭(なっても、半導体装置本来の電気的特性を損な
わないように、インピーダンスを低くして大電流を流す
ことができる接触子を有してなるICソケットを提供す
ることを目的としている。Therefore, the present invention has a contactor that can lower the impedance and allow a large current to flow, so as not to impair the original electrical characteristics of the semiconductor device even if the lead pitch of the package of the semiconductor device becomes narrow. The purpose is to provide an IC socket with the following characteristics.
上で述べた課題は、
前記下蓋は、半導体装置が挿着されるものであって、上
面中央部から外側壁方向に掘られた複数本の案内溝と、
案内溝の底面に下外壁まで貫通する端子孔を有するもの
であり、かつ絶縁材料からなり、
前記接触子は、下蓋の上方に置かれた半導体装置のリー
ドと弾接するものであって、上下方向に幅の広い案内部
材と、案内部材の一端部から下方に突設された接続端子
と、案内部材の上面中間部からつの字形に突設されて上
方に弾付勢された接点と、案内部材の下面中間部から下
方に突設された固着端子を有するものであり、かつばね
材料からなり、
前記接触子は、案内部材が案内溝に嵌合されて固着端子
が端子孔を挿通するように圧入された際、接続端子が下
蓋の外側壁から突出しているものである
ように構成されたICソケットによって解決される。The above-mentioned problem is that the lower cover, into which a semiconductor device is inserted, has a plurality of guide grooves dug from the center of the upper surface toward the outer wall;
The bottom surface of the guide groove has a terminal hole penetrating to the lower outer wall, and is made of an insulating material. a guide member having a wide width in the direction, a connection terminal protruding downward from one end of the guide member, a contact point protruding in a box shape from the middle part of the upper surface of the guide member and biased upward; The contact has a fixed terminal projecting downward from the middle part of the lower surface of the member, and is made of a spring material, and the contact is configured so that the guide member is fitted into the guide groove and the fixed terminal is inserted into the terminal hole. The solution is provided by an IC socket configured such that the connection terminals protrude from the outer wall of the lower cover when pressed into the IC socket.
半導体装置のパッケージの形態の変遷に伴ってICソケ
ットの接触子も肉厚が薄くなり、外部接続する端子のイ
ンピーダンスが高(なって十分な大電流が流せなくなっ
てきている従来のICソケットに対して、本発明におい
ては、リードピッチの細かさなどに関係なく大電流が流
せるようにしている。With changes in the form of semiconductor device packages, the thickness of IC socket contacts has also become thinner, and the impedance of externally connected terminals has become high (as opposed to conventional IC sockets, which are no longer able to flow a sufficiently large current). Therefore, in the present invention, a large current can be passed regardless of the fineness of the lead pitch.
すなわち、従来のICソケットにおいては、1本の端子
によってソケット自体の固定と電気的な接続の両方を行
っているのに対して、本発明では、ICソケットをプリ
ント板などへ固定する端子と電気的に外部接続する端子
を分離するようにしている。In other words, in conventional IC sockets, one terminal is used to both fix the socket itself and make electrical connection, whereas in the present invention, one terminal is used to fix the IC socket to a printed board, etc., and the other is used for electrical connection. Therefore, the terminals for external connection are separated.
プリント板などに固定する固着端子は、プリント板のス
ルホールなどにはんだ付けされるので、従来どおり下蓋
から下方に突き出させるようにしている。The fixed terminals that are fixed to a printed board or the like are soldered to through-holes in the printed board, so they are made to protrude downward from the bottom cover as before.
それに対して、電気的に外部接続する接続端子は、IC
ソケットの外側壁から横方向に突き出させるようにして
いる。そして、接続端子の肉厚(板厚)はリードピッチ
で規制されるが、上下方向の厚みに制約がないようにし
ている。On the other hand, the connection terminal that connects electrically to the outside is the IC
It is made to protrude laterally from the outer wall of the socket. Although the wall thickness (plate thickness) of the connection terminal is regulated by the lead pitch, there is no restriction on the vertical thickness.
こうすると、ICソケットをプリント板などへ搭載する
に際して、プリント板との固着は従来どおりスルホール
に固着端子を挿入してはんだ付けして行い、電気的な接
続は大電流が流せる接続端子を用いて行う。そして、流
したい電流値に応じて接続端子の厚みを適宜法めれば、
電気的特性を損なうことなく半導体装置を挿着できるI
Cソケットを得ることができる。In this way, when mounting the IC socket on a printed board, etc., the fixing to the printed board is done by inserting a fixed terminal into the through hole and soldering as before, and the electrical connection is made using a connecting terminal that can flow a large current. conduct. Then, if you adjust the thickness of the connection terminal appropriately according to the current value you want to flow,
Semiconductor devices can be inserted without damaging electrical characteristics.
You can get a C socket.
第1図は本発明の第一の実施例の斜視図、第2図は第1
図の要部の拡大断面斜視図、第3図は本発明の第二の実
施例の斜視図、第4図は本発明の第三の実施例の断面図
である。FIG. 1 is a perspective view of the first embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a perspective view of the first embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a perspective view of a second embodiment of the present invention, and FIG. 4 is a cross-sectional view of a third embodiment of the present invention.
図中、■は下蓋、11は案内溝、I2は端子孔、2は接
触子、21は案内部材、22は接続端子、23は接哉、
24は固着端子、3は上蓋、31は押圧部、4は半導体
装置、41はリード、5はプリント板、6はICソケッ
トである。In the figure, ■ is the lower cover, 11 is the guide groove, I2 is the terminal hole, 2 is the contact, 21 is the guide member, 22 is the connection terminal, 23 is the contact,
24 is a fixed terminal, 3 is a top cover, 31 is a pressing part, 4 is a semiconductor device, 41 is a lead, 5 is a printed board, and 6 is an IC socket.
実施例:l
第1図〜第2図において、下蓋lはPBTなとの絶縁性
のエンジニアリングプラスチックをモールド成形して作
られる。Embodiment: l In FIGS. 1 and 2, the lower cover l is made by molding an insulating engineering plastic such as PBT.
下蓋1は上面中央部から外側壁方向に向かって複数本の
案内溝11が設けられている。The lower lid 1 is provided with a plurality of guide grooves 11 extending from the center of the upper surface toward the outer wall.
この案内溝11は、挿着される半導体装置4のリード4
1の本数とピッチに合わせて、例えばSOPならば対向
する2辺に、こ\で示したQFPならば4辺に、それぞ
れ掘られている。また、案内溝11の底部には下蓋Iを
貫通して端子孔12が穿設されている。This guide groove 11 is formed into a lead 4 of a semiconductor device 4 to be inserted.
According to the number and pitch of 1, for example, if it is an SOP, it is dug on two opposing sides, and if it is a QFP shown here, it is dug on four sides. Further, a terminal hole 12 is bored through the lower cover I at the bottom of the guide groove 11.
接触子2はりん青銅などのばね材料を例えばプレス加工
して作られ、板厚は半導体装置4のり一ド41の太さや
ピッチなどによって決められる。そして、上下方向に幅
の大きな案内部材21と、その案内部材21の一端部か
らなる接続端子22が突き出ている。また、案内部材2
1の上面中間部からは、つの字形に湾曲しながら突き出
た接点23が設けられ、この接点23が半導体装置4の
リード41と弾接するように上方に弾付勢されているっ
さらに、案内部材2Iの下面中間部には固着端子24が
突き出た構成になっている。っ
案内部材21を下蓋1の案内溝117:嵌め込んで固着
端子24を端子孔12に圧入すると、接触子2か下蓋l
に固定される。この固着端子24は下蓋1の下壁から突
き呂るようになっている。また、接続端子22が下蓋I
の外側壁から突き出るようになっている。そして、接続
端子22の下面は丁度下蓋1の下面と面一になっている
。The contact 2 is made by pressing a spring material such as phosphor bronze, and its thickness is determined by the thickness and pitch of the glue 41 of the semiconductor device 4. A guide member 21 having a large width in the vertical direction and a connecting terminal 22 formed from one end of the guide member 21 protrude. In addition, the guide member 2
A contact point 23 protrudes from the middle part of the top surface of the semiconductor device 4 while being curved in a box shape. A fixed terminal 24 is configured to protrude from the middle part of the lower surface of 2I. When the guide member 21 is fitted into the guide groove 117 of the lower cover 1 and the fixed terminal 24 is press-fitted into the terminal hole 12, the contact 2 or the lower cover l
Fixed. This fixed terminal 24 is designed to protrude from the lower wall of the lower cover 1. In addition, the connection terminal 22 is connected to the lower cover I.
It protrudes from the outer wall of the The lower surface of the connection terminal 22 is exactly flush with the lower surface of the lower lid 1.
こうして、本発明になるICソケット6ができあがる。In this way, the IC socket 6 according to the present invention is completed.
一方、このICソケット6を例えば半導体装置4の試験
装置なとに取り付けて用いる場合を例に採ると、ICソ
ケット6を取り付けるためのプリント板5には、スルホ
ール5Iとパッド52が設けられている。On the other hand, taking as an example the case where this IC socket 6 is attached to, for example, a testing device for semiconductor devices 4, the printed board 5 for attaching the IC socket 6 is provided with a through hole 5I and a pad 52. .
スルホール51はICソケット6を固定するためのもの
であり、このスルホール51に固着端子24を挿入する
と、接続端子22がパッド52の真上に位置するように
なっている。そして、固着端子24をスルホール51に
はんだ付けすれば、ICソケット6がプリント板5に固
定される。また、接続端子22を接続板53を介してパ
ッド52にはんだ付けすれば接触子2がプリント板5と
外部接続される。The through hole 51 is for fixing the IC socket 6, and when the fixing terminal 24 is inserted into the through hole 51, the connecting terminal 22 is positioned directly above the pad 52. Then, by soldering the fixed terminal 24 to the through hole 51, the IC socket 6 is fixed to the printed board 5. Further, by soldering the connecting terminal 22 to the pad 52 via the connecting plate 53, the contactor 2 is externally connected to the printed board 5.
実施例 2
第3図において、案内部材21の一端部からなり下蓋l
の外側壁から突き出た接続端子22が、下方に曲がった
形状になっており、接続端子22の下面が下蓋1の下壁
面と面一になっている。Embodiment 2 In FIG. 3, the lower lid l is made up of one end of the guide member 21.
A connecting terminal 22 protruding from the outer wall of the housing is curved downward, and the lower surface of the connecting terminal 22 is flush with the lower wall surface of the lower lid 1.
こうすると、このICソケット6をプリント板5に搭載
したとき、パッド52の上に接続端子22が直に載つか
るので、はんだ付けなとの接続が容易に行える。In this way, when the IC socket 6 is mounted on the printed circuit board 5, the connection terminals 22 are placed directly on the pads 52, making it easy to connect without soldering.
実施例:3
第4図において、上蓋3は下蓋1と同様に、エンジニア
リングプラスチックをモールド成形して作られる。そし
て、上蓋3の、一端部が下蓋1の一端部に開閉可能に枢
支されており、他端部が下蓋1の他端部に係止されるよ
うになっている。そして−船釣には、上蓋3か常に開状
態に付勢されている。Embodiment 3 In FIG. 4, the upper lid 3, like the lower lid 1, is made by molding engineering plastic. One end of the upper lid 3 is pivotally supported to one end of the lower lid 1 so as to be openable and closable, and the other end is locked to the other end of the lower lid 1. - When fishing from a boat, the upper lid 3 is always biased to the open state.
この上蓋3の下面には抑圧部31が設けられており、上
蓋3を閉しると半導体装置4のリード41が押し下げら
れて、リード41が接触子2の接点23と弾接するよう
になっている。A suppressing portion 31 is provided on the lower surface of the upper lid 3, and when the upper lid 3 is closed, the leads 41 of the semiconductor device 4 are pushed down, so that the leads 41 come into elastic contact with the contacts 23 of the contacts 2. There is.
この上蓋3付きの構成になるICソケット6は、実施例
1て述べたプリント板5と同様の構成になるバーンイン
ホードなどに取り付けられてバーンインテストを行う際
なとに有用である。The IC socket 6 having the structure with the upper cover 3 is useful when being attached to a burn-in hoard or the like having the same structure as the printed board 5 described in the first embodiment and performing a burn-in test.
こ\ては、接触子2の固着端子24はICソケット6の
固定のみに用いたが、ICソケット6を取り付けるプリ
ント板5の導体パターンを固着端子24にも電気的接続
ができるように配線しても構わない。In this case, the fixed terminal 24 of the contactor 2 was used only for fixing the IC socket 6, but the conductor pattern of the printed board 5 to which the IC socket 6 is attached was wired so that it could also be electrically connected to the fixed terminal 24. I don't mind.
また、接触子2の案内部材21や接続端子22の上下方
向の幅は、半導体装置4が必要とする電流値によって、
種々の変形か可能である。Further, the vertical width of the guide member 21 of the contactor 2 and the connection terminal 22 depends on the current value required by the semiconductor device 4.
Various variations are possible.
半導体装置の機能の高度化や実装技術の進展によって、
リードが細(なりリードピッチが狭くなる一方で、大電
流を流すことも必要になってきており、それに伴って半
導体装置を挿着するICソケットにおいても、接触子に
大電流が流せることが要請されてきている。With the advancement of semiconductor device functions and advances in packaging technology,
As leads become thinner (and the lead pitch becomes narrower), it becomes necessary to pass large currents, and with this, it is also required that large currents be able to pass through the contacts of IC sockets in which semiconductor devices are inserted. It has been done.
本発明においては、従来のICソケットの端子はソケッ
ト自体を固定するために用い、それとは別に接続端子を
設けて大電流が流せるようにしている。In the present invention, the terminals of a conventional IC socket are used to fix the socket itself, and a connecting terminal is provided separately to allow a large current to flow.
その結果、半導体装置の検査工程で行われる製品検査と
かバーンインなどの信頼性検査、あるいはプリント板に
搭載して使用する際にも、本発明になるICソケットは
半導体装置の電気的特性を損なうことなく用いることが
できる。従って、本発明は半導体装置の性能向上に寄与
するところが大である。As a result, the IC socket of the present invention does not impair the electrical characteristics of the semiconductor device during product inspections performed in the semiconductor device inspection process, reliability inspections such as burn-in, or when used mounted on a printed board. It can be used without Therefore, the present invention greatly contributes to improving the performance of semiconductor devices.
第1図は本発明の第一の実施例の斜視図、第2図は第1
図の要部の拡大断面斜視図、第3図は本発明の第二の実
施例の斜視図、第4図は本発明の第三の実施例の断面図
、図において、
1は下蓋、
11は案内溝、
2は接触子、
21は案内部材、
23は接点、
3は上蓋、
4は半導体装置、
である。
12は端子孔、
22は接続端子、
24は固着端子、
41はリード、
本発明の第一の笑施例の料視辺
第 1 閃
第1凶の要部の↑駄岨面軒悦囚
第 7 囚
本発明の第三の大施例吸譬見曜
¥iJ 3 茜
糀明の第三の実施例の断面図
第
fA)
11分短髪
(B)1蓋
体型
従末のICソケットの一例の祷J&図FIG. 1 is a perspective view of the first embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a perspective view of the first embodiment of the present invention.
3 is a perspective view of the second embodiment of the present invention, and FIG. 4 is a sectional view of the third embodiment of the present invention. In the figures, 1 is a lower lid; 11 is a guide groove, 2 is a contact, 21 is a guide member, 23 is a contact, 3 is an upper cover, and 4 is a semiconductor device. 12 is a terminal hole, 22 is a connecting terminal, 24 is a fixing terminal, 41 is a lead, and the main part of the first embodiment of the present invention is 7 Third embodiment of the present invention Suction view ¥iJ 3 Cross-sectional view of the third embodiment of Kouaki Akane No. fA) 11 minutes short hair (B) 1 Example of an IC socket with a lid-shaped secondary end Prayer J & Diagram
Claims (1)
であって、上面中央部から外側壁方向に掘られた複数本
の案内溝(11)と、該案内溝(11)の底面に下外壁
まで貫通する端子孔(12)を有するものであり、かつ
絶縁材料からなり、 前記接触子(2)は、前記下蓋(1)の上方に置かれた
前記半導体装置(4)のリード(41)と弾接するもの
であって、上下方向に幅の広い案内部材(21)と、該
案内部材(21)の一端部からなる接続端子(22)と
、該案内部材(21)の上面中間部からつの字形に突設
されて上方に弾付勢された接点(23)と、該案内部材
(21)の下面中間部から下方に突設された固着端子(
24)を有するものであり、かつばね材料からなり、 前記接触子(2)は、案内部材(21)が前記案内溝(
11)に嵌合されて固着端子(24)が前記端子孔(1
2)を挿通するように圧入された際、接続端子(22)
が前記下蓋(1)の外側壁から突出しているものである ことを特徴とするICソケット。 2)前記接触子(2)は、接続端子(22)が前記下蓋
(1)の外側壁から突出し、かつ該接続端子(22)の
下面が該下蓋(1)の下壁面と面一になっているもので
ある 請求項1記載のICソケット。 3)上蓋(3)を有し、 前記上蓋(3)は、半導体装置(4)のリード(41)
を押下するものであって、一端部が前記下蓋(1)の一
端部に開閉可能に枢支され、他端部が該下蓋(1)の他
端部に係止されるものであり、かつ絶縁材料からなる 請求項1記載のICソケット。[Scope of Claims] 1) It has a lower lid (1) and a contactor (2), and the lower lid (1) has a semiconductor device (4) inserted therein, and the lower lid (1) has a central portion on its upper surface. It has a plurality of guide grooves (11) dug in the direction of the outer wall from the bottom, and a terminal hole (12) penetrating the bottom of the guide groove (11) to the lower outer wall, and is made of an insulating material, and is made of an insulating material. The contactor (2) comes into elastic contact with the lead (41) of the semiconductor device (4) placed above the lower lid (1), and has a vertically wide guide member (21). , a connection terminal (22) formed from one end of the guide member (21), and a contact (23) projecting in a box shape from the middle part of the upper surface of the guide member (21) and biased upward; A fixed terminal (
24), and is made of a spring material, and the contactor (2) has a guide member (21) in the guide groove (
11) and the fixed terminal (24) is fitted into the terminal hole (1).
When the connection terminal (22) is press-fitted through the
An IC socket, characterized in that: protrudes from an outer wall of the lower cover (1). 2) The contactor (2) has a connecting terminal (22) protruding from the outer wall of the lower lid (1), and a lower surface of the connecting terminal (22) flush with the lower wall surface of the lower lid (1). 2. The IC socket according to claim 1, wherein the IC socket has the following characteristics. 3) It has an upper lid (3), and the upper lid (3) has a lead (41) of the semiconductor device (4).
, one end is pivotally supported to one end of the lower lid (1) so as to be openable and closable, and the other end is locked to the other end of the lower lid (1). 2. The IC socket according to claim 1, which is made of an insulating material.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23152990A JPH04112473A (en) | 1990-08-31 | 1990-08-31 | Ic socket |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23152990A JPH04112473A (en) | 1990-08-31 | 1990-08-31 | Ic socket |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04112473A true JPH04112473A (en) | 1992-04-14 |
Family
ID=16924920
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP23152990A Pending JPH04112473A (en) | 1990-08-31 | 1990-08-31 | Ic socket |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04112473A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0982436A (en) * | 1995-08-29 | 1997-03-28 | United Microelectron Corp | Pin receptacle with juncture |
-
1990
- 1990-08-31 JP JP23152990A patent/JPH04112473A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0982436A (en) * | 1995-08-29 | 1997-03-28 | United Microelectron Corp | Pin receptacle with juncture |
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