JPH04105451U - Electron source filament life detection device - Google Patents
Electron source filament life detection deviceInfo
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- JPH04105451U JPH04105451U JP3479291U JP3479291U JPH04105451U JP H04105451 U JPH04105451 U JP H04105451U JP 3479291 U JP3479291 U JP 3479291U JP 3479291 U JP3479291 U JP 3479291U JP H04105451 U JPH04105451 U JP H04105451U
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- Japan
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- filament
- electrodes
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- electron source
- detection device
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Landscapes
- Electron Sources, Ion Sources (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 電子源のフィラメントの寿命を高精度で検出
することを目的とする。
【構成】 フィラメントの近傍に、表面に互いに向い合
う一対の電極を設けた絶縁板を配置する。フィラメント
を点灯させると、蒸発物が両電極間に付着して両電極間
の抵抗値が変化する。蒸発物はフィラメントの寿命に比
例するので、前記抵抗値を測定することによりフィラメ
ントの寿命を知ることができる。
(57) [Summary] [Purpose] The purpose is to detect the lifetime of the filament of an electron source with high accuracy. [Structure] An insulating plate having a pair of electrodes facing each other on its surface is arranged near the filament. When the filament is turned on, evaporated matter adheres between the two electrodes and the resistance value between the two electrodes changes. Since the amount of evaporated material is proportional to the life of the filament, the life of the filament can be determined by measuring the resistance value.
Description
【0001】0001
本考案は、電子線照射装置などに使用される電子源のフィラメント寿命を検出 する装置に関する。 This invention detects the filament life of electron sources used in electron beam irradiation equipment, etc. related to a device for
【0002】0002
この種フィラメントの寿命検出には、フィラメントに供給される電圧、電流を 管理することによって可能とされているが、実際には使用につれてフィラメント の抵抗が大きくなり、それでも放射される電子線量を一定とするためには、フィ ラメント電圧を高めていかなければならず、したがってフィラメント電圧、電流 の管理からその寿命を検出することは極めて困難である。 To detect the lifespan of this type of filament, the voltage and current supplied to the filament are This is said to be possible by managing the filament, but in reality the filament In order to keep the emitted electron dose constant even though the resistance of The filament voltage must be increased, so the filament voltage and current It is extremely difficult to detect its lifespan from its management.
【0003】 このため、従来では過去の実績と計算からフィラメントの規定寿命時間を割り 出し、フィラメントの点灯累計時間がこの規定寿命時間に達したときは、寿命と みなしてその交換を行うようにしている。0003 For this reason, in the past, the specified lifespan of the filament was calculated based on past results and calculations. When the cumulative lighting time of the filament reaches this specified life time, the life has expired. We are trying to do the exchange accordingly.
【0004】 しかし実際にはフィラメントの使用条件、たとえば真空度、電子流値などによ り、実際のフィラメント寿命時間と、前記のように割り出した規定寿命時間とに はかなりの差があり、そのため規定寿命時間に達する以前に寿命が来て断線して しまったり、まだ充分に使用できるものであっても、規定寿命時間に達したとし て交換してしまうことがある。0004 However, in reality, it depends on the usage conditions of the filament, such as degree of vacuum, electron flow value, etc. The actual filament life time and the specified life time determined as above. There is a considerable difference in the lifespan, and as a result, the life of the wire may come to an end and break before the specified life time is reached. Even if the product has been stored away or is still usable, it is assumed that it has reached its specified lifespan. You may end up replacing it.
【0005】[0005]
本考案は、フィラメントの寿命を予測する精度を高めることによって、フィラ メントの交換時期の適正化を図ることを目的とする。 This invention improves the accuracy of predicting filament lifespan. The purpose of this is to optimize the timing of replacing ment.
【0006】[0006]
本考案は、フィラメントの近傍に、互いに向い合う一対の電極を取り付けた絶 縁板を設置し、両電極間の抵抗値の変化から、フィラメントの残寿命を検出する ようにしたことを特徴とする。 The present invention uses a pair of electrodes facing each other near the filament. Install the edge plate and detect the remaining life of the filament from the change in resistance between both electrodes. It is characterized by the following.
【0007】[0007]
絶縁板の電極間の抵抗値は当初は一定であるが、フィラメントを点灯した場合 には、加熱されたフィラメントから熱電子が飛び出すとともに、蒸発したタング ステンなどの蒸気が絶縁板に付着する。そのため両電極間の抵抗値はその付着量 にしたがって変化していく。フィラメントからの蒸発物の量はフィラメントの寿 命に比例するものであり、その寿命に達するまでの蒸発物量は一定と考えられる から、したがつて前記抵抗値からフィラメントの残寿命を検出することができる ようになる。 The resistance value between the electrodes of the insulating plate is initially constant, but when the filament is lit Thermionic electrons are ejected from the heated filament, and the evaporated tungsten Steam from stainless steel, etc. adheres to the insulation board. Therefore, the resistance value between both electrodes is the amount of adhesion It changes accordingly. The amount of evaporation from the filament depends on the lifetime of the filament. It is proportional to life, and the amount of evaporated matter is considered to be constant until the end of life. Therefore, the remaining life of the filament can be detected from the resistance value. It becomes like this.
【0008】[0008]
図1に本考案の実施例の断面図を示す。同図において、1はカソードフランジ 、2はフィラメント、3はフィラメント2を支持している支持棒で、これはカソ ードフランジ1を気密に貫通している。4はカソードカップ、5はフォーカスカ ップである。これらの構成は通常の電子源と特に相違するものではない。 FIG. 1 shows a sectional view of an embodiment of the present invention. In the same figure, 1 is the cathode flange , 2 is a filament, 3 is a support rod that supports filament 2, and this is a cassette It passes through the field flange 1 in an airtight manner. 4 is the cathode cup, 5 is the focus cup. It is a top. These configurations are not particularly different from ordinary electron sources.
【0009】 本考案にしたがい、フィラメント2の近傍に、互いに向い合う一対の電極(図 の例では導線のような導体)6,7を表面に取り付けた絶縁板8を設置する。9 は各電極6,7の端部に接続されてある測定用のリードで、これもカソードフラ ンジ1を気密に貫通している。[0009] According to the present invention, a pair of electrodes facing each other (Fig. In this example, an insulating plate 8 having conductors (6, 7 such as conductive wires) attached to its surface is installed. 9 is a measurement lead connected to the end of each electrode 6, 7, which is also connected to the cathode flare. It passes through the cable 1 in an airtight manner.
【0010】 フィラメント2および絶縁板8はカソードカップ4で覆われており、電子取出 口に対向する側にフォーカスカップ5を配置してある。両電極6,7の対向面積 を広くするために、図のように屈曲して形成しておくとよい。0010 The filament 2 and the insulating plate 8 are covered with a cathode cup 4, and the electron extraction A focus cup 5 is placed on the side facing the mouth. Opposing area of both electrodes 6 and 7 In order to make it wider, it is best to bend it as shown in the figure.
【0011】 フィラメント2を点灯すると、フィラメント2からの蒸発物が両電極6,7間 に付着することにより、その点灯時間に比例して両電極6,7間の抵抗値が変化 する。この蒸発物の量がフィラメント2の寿命期間内で一定であるとすれば、前 記抵抗値からそのフィラメント2の残寿命を知ることができるようになる。10 はその抵抗値を測定する測定回路である。[0011] When filament 2 is turned on, evaporated matter from filament 2 flows between both electrodes 6 and 7. By adhering to the electrodes, the resistance value between both electrodes 6 and 7 changes in proportion to the lighting time. do. If the amount of evaporated matter is constant during the life of filament 2, then The remaining life of the filament 2 can be determined from the resistance value. 10 is a measurement circuit that measures the resistance value.
【0012】0012
以上説明したように本考案によれば、フィラメントからの蒸発物の量に基づい てフィラメントの寿命を検出するようにしたので、高精度でその寿命の検出が可 能となるといった効果を奏する。 As explained above, according to the present invention, based on the amount of evaporated matter from the filament, Since the lifespan of the filament is detected using It has the effect of becoming a Noh play.
【図1】本考案の実施例を示す断面図である。FIG. 1 is a sectional view showing an embodiment of the present invention.
【図2】絶縁板の平面図である。FIG. 2 is a plan view of an insulating plate.
2 フィラメント 3 支持棒 6 電極 7 電極 8 絶縁板 10 測定回路 2 filament 3 Support rod 6 Electrode 7 Electrode 8 Insulating board 10 Measurement circuit
Claims (1)
向い合う一対の電極を取り付けた絶縁板を設置し、前記
両電極間の抵抗値から、前記フィラメントの寿命を検出
するようにしてなる電子源フィラメント寿命検出装置。1. An electron source in which an insulating plate having a pair of electrodes facing each other is installed near a filament of the electron source, and the life of the filament is detected from the resistance value between the two electrodes. Filament life detection device.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3479291U JPH04105451U (en) | 1991-02-21 | 1991-02-21 | Electron source filament life detection device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3479291U JPH04105451U (en) | 1991-02-21 | 1991-02-21 | Electron source filament life detection device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04105451U true JPH04105451U (en) | 1992-09-10 |
Family
ID=31917131
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3479291U Pending JPH04105451U (en) | 1991-02-21 | 1991-02-21 | Electron source filament life detection device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04105451U (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014048184A (en) * | 2012-08-31 | 2014-03-17 | Shibuya Kogyo Co Ltd | Electron beam detector |
-
1991
- 1991-02-21 JP JP3479291U patent/JPH04105451U/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014048184A (en) * | 2012-08-31 | 2014-03-17 | Shibuya Kogyo Co Ltd | Electron beam detector |
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