JPH04104494A - セラミックスヒータおよびその製造方法 - Google Patents

セラミックスヒータおよびその製造方法

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JPH04104494A
JPH04104494A JP21805290A JP21805290A JPH04104494A JP H04104494 A JPH04104494 A JP H04104494A JP 21805290 A JP21805290 A JP 21805290A JP 21805290 A JP21805290 A JP 21805290A JP H04104494 A JPH04104494 A JP H04104494A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、プラスマcvD、減圧CVD、プラズマエツ
チング、光エツチング装置等に好適に使用されるセラミ
ックスヒーター及びその製造方法に関するものである。
(従来の技術及びその問題点) スーパークリーン状態を必要とする半導体製造用装置で
は、デポジション用ガス、エンチング用ガス、クリーニ
ング用ガスとして塩素系ガス、弗素系ガス等の腐食性ガ
スが使用されている。このため、ウェハーをこれらの腐
食性ガスに接触させた状態で加熱するための加熱装置と
して、抵抗発熱体の表面をステンレススチール、インコ
ネル等の金属により被覆した従来のヒーターを使用する
と、これらのカスの曝露によって、塩化物、酸化物、弗
化物等の粒径数μmの、好ましくないパティクルが発生
する。
そこで、デポジション用カス等に曝露される容器の外側
に赤外線ランプを設置し、容器外壁に赤外線透過窓を設
け、グラファイト等の耐食性良好な材質からなる被加熱
体に赤外線を放射し、被加熱体の上面に置かれたウェハ
ーを加熱する、間接加熱方式のウェハー加熱装置が開発
されている。
ところがこの方式のものは、直接加熱式のものに比較し
て熱損失が大きいこと、温度上昇に時間がかかること、
赤外線透過窓へのCVD膜の付着により赤外線の透過か
次第に妨のられ、赤外線透過窓で熱吸収が生じて窓が加
熱すること等の問題があ っ ノこ。
(発明に至る経過) 手記の問題を解決するため、本発明者等は、新たに円盤
状の緻密質セラミンクス内に抵抗発熱体を埋設し、この
セラミックスヒーターをグラファイトのケースに保持し
た加熱装置について検旧した。その結果この加熱装置は
、」二連のような問題点を一掃した極めて優れた装置で
あることか判明した。
しかし、このセラミックスヒーターを実際の半導体装置
に使用すると、新たな問題か生ずることが解った。
即ち、従来のステンレスケース内への抵抗体埋め込の型
ヒーターでは、加熱部は高温でも、ヒーターの電極部は
温度の低い容器外に設けることか可能であった。しかし
ながら、セラミックスヒーターでは抵抗発熱体をセラミ
ックス基体因に入れてプレス成形するため、円盤状等の
単純形状としなければならず、焼成段階でもホラI・プ
レス焼成するので同様である。しかも、焼成後の焼成体
表面には黒皮といわれる焼成変質層かあり、加工により
この変質層を除去する必要がある。このとき、ダイヤモ
ンド砥石による研削加工が必要であり、複雑な形状であ
るとコストか上がる。このように、抵抗体を埋設したセ
ラミックスヒーターでは、製造上の困難さから円盤状等
の単純形状としなければならず、その構造から必然的に
ヒーターの端子は高温、腐食性カスに曝されることにな
る。
例えば、実公昭60−30611号等に開示されている
窒化珪素製のクロープラグ用ヒーター等では、電極部分
は500″C以下の大気中に配置されており、線状の抵
抗発熱体端子と電極ケーブルとを恨ろうによって接合し
、電気的に導通させている。
しかし、上記のような、今回開発した半導体ウェハー加
熱用ヒーター等においては、端子部が高温の反応性腐食
性カスに曝されるため、低融点のろう材は使用できず、
通例の接合方法は採用できなかった。
(発明か解決しようとする課題) 本発明の課題は、半導体製造装置等のような高温、腐食
性ガスを使用する装置において、装置内のlち染や熱効
率の低下を防止でき、しかも抵抗発熱体の端子と電極部
材との結合部分が耐久性、信頼性に優れたセラミックス
ヒーターを提供することである。
(課題を解決するための手段) 本発明は、セラミックス基体;このセラミックス基体の
内部に埋設された抵抗発熱体;及び前記セラミックス基
体の内部で前記抵抗発熱体と電気的に接続された塊状端
子を有するセラミックスヒーターであって、この塊状端
子の端面が前記セラミックス基体の表面に露出し、かつ
この塊状端子がセラミックス基体から脱落するのを防止
できるよう構成されたセラミックスヒーターに係るもの
である。
(実施例) まず、セラミックスヒーター全体の構成例について説明
する。
第7図はセラミックスヒーターを熱CVD装置へと取り
つけた状態を示す断面図である。
40は半導体製造用CVDに使用される容器、10はそ
の内部のケース50に取付げられたウェハー加熱用の円
盤状のセラミックスヒーターであり、ウェハー加熱面1
6の大きさは4〜8インチとしてつ、5 エバーを設置riJ能なザイスとしておく。
容器40の内部にはガス供給孔27から熱CVD用のガ
スか供給され、吸引孔28から真空ポンプにより内部の
空気が排出される。円盤状セラミックスヒーター10ば
、窒化珪素のよ・うな緻密でガスタイ1−な円盤状セラ
ミックス基体7の内部にタングステン系等の抵抗発熱体
8をスパイラル状に埋設したもので、その中央及び端部
の電極部材6を介して外部から電力が供給され、円盤状
セラミックスヒーター10を例えば1100°C程度に
加熱することができる。20はケース50の上面を覆う
水冷ジャケット19付きのフランジであり、Oリング2
6により容器40の側壁との間がシールされ、容器40
の天井面か構成されている。18ばこのような容器40
のフランジ20の壁面を貫通して容器40の内部へと挿
入された中空シースてあり、セラミックスヒーター10
に接合されている。中空シース18の内部に、ステレス
シース付きの熱電対17が挿入されている。中空シース
18と容器40のフランジ20との間にばOリングを設
け、人気の侵入を防止している。
抵抗発熱体8の末端には、後述する塊状端子1が接合さ
れ、この塊状端子1が電極部材6に結合されている。
次いで、塊状端子1の構成につき、第1図〜第6図を用
いて説明する。
本実施例は、塊状端子1と抵抗発熱体8とを、いわゆる
かしめ圧着によって接合するものである。
即ち、まず第3図、第4図に示すような塊状端子1を用
意する。この塊状端子は、好ましくはタングステン、モ
リブデン等の高融点金属から形成され、円柱状の本体1
aと円筒状の圧着部1bとからなる。
この圧着部1b内の空間2に抵抗発熱体8の端部8aを
挿入し、第3図に矢印Bで示すように、円筒状圧着部1
bに圧力を加え、圧着部1bを一点鎖線で示すように変
形させ、発熱体端部8bを固定する。
このかしめ工程においては、塊状端子1を800°C以
上の高温でガス還元雰囲気下に加熱することが好ましい
次いで、塊状端子1をセラミックス成形体中に埋設し、
このセラミックス成形体を焼成してセラミックス基体7
を製造し、この基体7の背面9側を研削加工して第5図
に示すように塊状端子1の端面5を露出させる。塊状端
子には雌ネジ3を設けるが、セラミック成形体中に埋設
する前に雌ネジ3を設りてもよい。
この状態で、第3図においてI−I線断面に沿ってみる
と第1図に示すよう圧着部1bがつぶれており、■−■
線断面に沿ってみると圧着部1bが拡がっている。抵抗
発熱体端部8aと圧着部1bとは、いわゆるかしめ圧着
構造によって接合される。雌ねじ3には、電極部材6の
雄ネジ6aを螺合する。
本実施例のセラミックスヒーターによれば、従来の金属
ヒーターの場合のような汚染や、間接加熱方式の場合の
ような熱効率の悪化の問題を解決できる。
そして、ケース50は例えばグラファイト等からなり、
ヒーター背面9側へと腐食性ガスが不可避的に混入する
。また、セラミックス基体7は円盤状であるので、抵抗
発熱体8の塊状端子1と電極部材6との結合部分は、高
温への加熱と冷却とに繰り返し曝される。しかし、この
点、本実施例では塊状端子1と電極部材6との間をネジ
により結合しであるので、腐食性ガスや熱による結合部
分の劣化を防止でき、ヒーターの耐久性、信頼性を向上
させることができる。
しかも、ここで従来の例えばグロープラグ用ヒーターの
場合のような線状の端子ではな(、塊状の端子を用いた
ことが重要であって、これにより露出面5の形状を円形
とし、またその面積を大きくし、端子に雌ネジを設ける
ことが可能となったのである。例えば本実施例のように
ネジ切り法を採用する場合、露出面5の大きさは例えば
径5mmとし、本体1aの長さは例えば10mmとする
。また、圧着部1bは、例えば外径3nnn、内径2M
、長さ3mmの薄肉円筒状とし、例えば径0.4mmの
タングステン製抵抗体ワイヤを接合する。このような塊
状の端子を用いることで、耐熱、耐腐食性の電極結合を
形成することが可能となったのである。
更に、本実施例では、塊状端子1の脱落防止の効果を奏
しうる。
即ち、本発明者は、露出部を面状とし、その面積を大き
くするため、例えば第6図に示すように、円柱状の塊状
端子51を使用することを検討した。
しかし、実際に検劇を進めてみると、新たな問題が生じ
た。
即ち、基体を5iJ4とし塊状端子をタングステンとし
た場合、塊状端子51をセラミックス成形体内部に埋設
し、この成形体を焼成すると、焼成後のセラミックス基
体7と塊状端子51との熱収縮差(熱膨張率Si:aN
4<W)により、これらの間に間隙30が生じ、このた
めにセラミックス基体7から塊状端子51が脱落したり
、また塊状端子51が揺動するためにセラミックス基体
7中で脆い抵抗発熱休日が断線することがあった。更に
は、この間隙30からCVD装置内の腐食性ガスが進入
して抵抗発熱体8を直接腐食し、塊状端子51と抵抗発
熱体8との導電性が悪化することがあった。
これに対し、本実施例では、圧着部1bが脱落防止手段
として働くため、塊状端子1が脱落することはない。
しかも、第2図に示すように、圧着部1bと本体1aと
の間の領域で塊状端子1とセラミックス基体7との間に
、後述する焼成法めによる圧着面12を形成した点が重
要である。
即ち、セラミックス成形体に塊状端子1を埋設する段階
で、本体1aと圧着部1bとの間にも成形材料が進入す
る。そしてこの成形体を焼成すると、焼成後の冷却段階
において、耐熱金属製の塊状端子1の熱収縮の方がセラ
ミックス基体7の熱収縮よりも大きいので、矢印Aに示
すような圧縮応力が働き、圧着面12が形成される。本
発明者は、ここでこの固定法を焼成法めと呼ぶ。このよ
うに、焼成法めによる圧着面12を形成することで、塊
状端子1が揺動することがなくなる。
また、圧着部lb内の空間2にもセラミックス成形材料
が進入するため、上記と同様に焼成法めによる圧着面が
形成され、この圧着面によりセラミックス基体7との間
が気密にシールされる。従って、塊状端子1と抵抗発熱
体8の接触部33が腐食性ガスに曝されないので、この
接触部33での導通性の悪化・不良を防止できる。
従って、熱膨張率が“′基体〈塊状端子”であれば、焼
成温度以下でヒーターとして使用される熱サイクルでは
常に前記焼成法めによる圧着面が形成されており、冷熱
サイクルに対して安定である。
上記セラミックス成形体を焼成するには、常圧焼成も可
能であるが、塊状端子と成形材料との隙間をなくすため
、ホットプレス法、ホットアイソスタティックプレス法
によるのが好ましい。また、ポンl□プレス焼成を行っ
て第1図〜第13図に示すような円盤状セラミックス基
体7を製造する際にば、基体7の厚さをもとしたとき、
塊状端子の長さをt/2以下とすることが好ましく、露
出面5の直径はt/4以下とすることが好ましい。また
、露出面5の直径は、ネジ切り等の機械的結合や、後述
するような拡散接合等の各種の耐熱耐蝕性の結合を形成
するために、4 mm以上とすることが好ましい。
第1図の例では、塊状端子1と電極部材6との結合をネ
ジ切り法によって行ったが、この結合方法はこれには限
られず、室温とヒーター使用温度との間の冷熱サイクル
及び腐食性ガスに対して安定な、他の接合、結合方法を
採用できる。これには下記の接合及び結合方法がある(
これらの方法は第7図〜第13図の例にも適用できる。
)。
高融点接合層を介した接合には、次のものがある。
(1)端子と電極部材との間に、Mo、 W等の高融点
金属の粉末を介在させ、拡散接合すること。
(2)ろう材で接合すること。
(3)箔を介在させて拡散接合するごと。
(4)端子の端面又は電極部材の端面に、めっき、CV
D、溶射等によって被覆層を形成し、次いで拡散接合又
は摩擦圧接すること。
(5)溶接すること。
機械的結合法としては、圧入法、かしめ、埋め込み、差
し込み、スプリング、弾性ボードによる機械的圧接があ
る。
円盤状セラミックス基体7の材質としては、窒化珪素、
ザイアロン、窒化アルミニウム等が好ましく、窒化珪素
やザイアロンが耐熱衝撃性の点で更に好ましい。
抵抗発熱体8としては、高融点であり、しかも窒化珪素
等との密着性に優れたタングステン、モリブデン、白金
等を使用することが適当である。
ウェハー加熱面16は平滑面とすることが好ましく、特
にウェハー加熱面16にウェハーが直接セットされる場
合には、平面度を500 am以下としてウェハーの裏
面へのデポジション用ガスの侵入を防止する必要がある
第8図は他の塊状端子11を示す斜視図、第9図は塊状
端子11をセラミックス基体7内に埋設した状態を示す
要部断面図である。
この例では、円盤状部11aとllcとを円柱状部11
bで連結した形状の塊状端子11を用いる。そして、こ
の塊状端子11をセラミックス成形体内へと埋設すると
、円柱状部11bの外周面へと成形材料が進入する。そ
してこの成形体を焼成すると、円盤状部11aと110
との間で上記したような焼成域め効果が働き、圧着面1
2が形成される。この結果、第1図の例と同様に、塊状
端子11の揺動による抵抗発熱体8の断線の防止、接触
部分33の気密シールによる保護という結果を奏しうる
第10図、第11図の例においては、基本的に円柱状の
塊状端子21を用い、この塊状端子21の底部に溝22
を形成する。従って、この塊状端子21をセラミックス
成形体内部へと埋設してこの成形体を焼成すると、溝2
2内にも成形材料が進入することから、塊状端子21の
一対の脚部21a間に矢印Aの方向に圧縮応力が働き、
焼成域めによる圧着面12が形成される。これにより、
接触部33を腐食性ガスに対して保護することを除き、
前述の効果をすべて奏しうる。
第12図、第13図は、それぞれ更に他の塊状端子を基
体7に埋設した状態を示す要部断面図である。
第12図の例においては、円柱状の塊状端子31の側周
面に、リング状突出部31aを形成し、これによって塊
状端子31の基体7からの脱落を防止している。第13
図の例においては、断面が台形状の塊状端子41を基体
7に埋設しであるので、テーパー面41aか基体7によ
って押えられるため、塊状端子41の脱落を防止できる
上記各側において、セラミックスヒーターの形状は、円
形ウェハーを均等に加熱するためには円盤状とするのが
好ましいが、他の形状、例えば四角盤状、六角盤状等と
してもよい。
本発明は、プラスマエッチング装置、光エツチング装置
等におけるセラミックスヒーターに対しても適用可能で
ある。
(発明の効果) 本発明に係るセラミックスヒーター及びその製造方法に
よれば、セラミックス基体の内部に抵抗発熱体を埋設し
であるので、高温で腐食性ガスを使用する装置、特に半
導体製造装置等において、従来の金属ヒーターの場合の
ような汚染や、間接加熱方式の場合のような熱効率の悪
化は生じない。
そして、抵抗発熱体に電気的に接続される端子を塊状端
子としたので、この塊状端子の露出面と電極部材との間
の結合強度を高め、耐熱性、耐腐食性の結合を形成する
ことが可能である。
しかも、こうした塊状端子がセラミックス基体から脱落
するのを防止できるように構成したので、上記の効果と
相まってセラミックスヒーターの耐久性、信頼性を高め
ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図はそれぞれ塊状端子をセラミックス基体
に埋設した状態を示す断面図、第3図は塊状端子をかし
め圧着する前の底面図、第4図は塊状端子をかしめ圧着
する前の断面図、第5図は塊状端子をセラミックス基体
に埋設した状態を示す破断斜視図、 第6図は参考例の円柱状塊状端子をセラミックス基体に
埋設した状態を示す要部断面図、第7図は円盤状セラミ
ックスヒーターを熱CvD装置に取り付けた状態を示す
概略断面図、第8図は他の塊状端子を示す斜視図、 第9図は第8図の塊状端子をセラミックス基体に埋設し
た状態を示す要部断面図、 第10図は更に他の塊状端子を示す斜視閲、第11図は
第10図の塊状端子をセラミックス基体に埋設した状態
を示す要部断面図、 第12図、第13図はそれぞれ更に他の塊状端子をセラ
ミックス基体に埋設した状態を示す要部断面図である。 1 11、2L 3L 41・・・塊状端子1a・・・
円柱状の本体    1b・・・円筒状の圧着部2・・
・空間        3・・・雌ネジ5・・・露出面
       6・・・電極部材7・・・セラミックス
基体  8・・・抵抗発熱体10・・・円盤状セラミッ
クスヒーター11a、 llc・・・円盤状部   1
1.b・・・円柱状連結部12・・・焼成嵌めによる圧
着面 16・・・ウェハー加熱面   20・・・フランジ2
1a・・・一対の脚部    22・・・溝31a・・
・リング状突出部 33・・・塊状端子と抵抗発熱体との接触部41a・・
・テーパー面 A・・・焼成嵌めによる圧縮応力の方向B・・・かしめ
圧着のための応力の方向第3図 第4図 第6図 正  書 平成3年9月27日

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.セラミックス基体; このセラミックス基体の内部に埋設された 抵抗発熱体;及び 前記セラミックス基体の内部で前記抵抗発 熱体と電気的に接続された塊状端子を有するセラミック
    スヒーターであって、 この塊状端子の端面が前記セラミックス基 体の表面に露出し、かつこの塊状端子がセラミックス基
    体から脱落するのを防止できるよう構成されたセラミッ
    クスヒーター。
  2. 2.前記塊状端子が埋設されたセラミックス成形体を焼
    成した後の前記塊状端子の熱収縮により、この塊状端子
    を前記セラミックス基体へ焼成嵌めさせている請求項1
    記載のセラミックスヒーター。
  3. 3.前記塊状端子と前記セラミックス基体とを前記焼成
    嵌めにより圧着させ、この圧着面により、前記塊状端子
    と前記抵抗発熱体との接点を前記セラミックス基体外部
    の雰囲気に対して気密にシールする、請求項2記載のセ
    ラミックスヒーター。
  4. 4.前記塊状端子と前記抵抗発熱体との接合部分を、か
    しめ圧着構造とした、請求項1又は2記載のセラミック
    スヒーター。
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