JPH0390086U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0390086U JPH0390086U JP15236189U JP15236189U JPH0390086U JP H0390086 U JPH0390086 U JP H0390086U JP 15236189 U JP15236189 U JP 15236189U JP 15236189 U JP15236189 U JP 15236189U JP H0390086 U JPH0390086 U JP H0390086U
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- trigger
- under test
- power supply
- terminal
- tester
- Prior art date
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- Pending
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
第１図は本考案の実施例を示すブロツクダイア
グラム、第２図および第３図は第１図ＤＣテスタ
の動作を説明するための波形図、第４図は本考案
の前提となるＤＣテスタのブロツクダイアグラム
、第５図は第４図ＤＣテスタの動作を説明するた
めの波形図である。 １……被験素子、２……電源、４……Ａ／Ｄ変
換器、７……タイマ、８……デジタル測定部。
グラム、第２図および第３図は第１図ＤＣテスタ
の動作を説明するための波形図、第４図は本考案
の前提となるＤＣテスタのブロツクダイアグラム
、第５図は第４図ＤＣテスタの動作を説明するた
めの波形図である。 １……被験素子、２……電源、４……Ａ／Ｄ変
換器、７……タイマ、８……デジタル測定部。
Claims (1)
- 被験素子の１つの端子に電源を接続するととも
に他の端子の出力を、上記電源の印加により一定
時間後にトリガ信号を発生するタイマの出力によ
つて起動し、サンプルホールドしてデジタル変換
するＡ／Ｄ変換器を介してデジタル測定部に供給
し被験素子の直流特性を検査するＤＣテスタにお
いて、上記タイマは第１トリガ発生後に微小時間
後に第２のトリガを発生し、デジタル測定部に第
１、第２トリガによる入力信号より測定良否の判
別部を付加したことを特徴とするＤＣテスタ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15236189U JPH0390086U (ja) | 1989-12-27 | 1989-12-27 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15236189U JPH0390086U (ja) | 1989-12-27 | 1989-12-27 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0390086U true JPH0390086U (ja) | 1991-09-13 |
Family
ID=31698629
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15236189U Pending JPH0390086U (ja) | 1989-12-27 | 1989-12-27 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0390086U (ja) |
-
1989
- 1989-12-27 JP JP15236189U patent/JPH0390086U/ja active Pending
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