JPH029881U - - Google Patents

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JPH029881U
JPH029881U JP8779488U JP8779488U JPH029881U JP H029881 U JPH029881 U JP H029881U JP 8779488 U JP8779488 U JP 8779488U JP 8779488 U JP8779488 U JP 8779488U JP H029881 U JPH029881 U JP H029881U
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  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本考案によるAPC電力試験装置の一
実施例を示すブロツク構成図、第2図は従来のA
PC電力試験装置を示すブロツク図である。 1…自動バイアス設定部、2…自動電圧読取部
(Iop電流、受光電圧)、3…試料取付部、4
…受光部、5…APC―ACC切換器(APC回
路とACC回路の切り換え)、6…Iop―SB
切換器(Iop電流と受光電圧の切り換え)、7
…増幅器、8…トランジスタ、9…抵抗、10…
制御部。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 電力試験装置のAPC(Auto Power
    ControI)電力試験において、バイアス
    (設定電圧)を印加する時に初期時にACC(A
    uto Current Control)回路
    を構成し、設定電流(Iop)の印加時の受光出
    力(SB)電圧を測定し、次にAPC回路を構成
    して前記ACC回路で測定したSB電圧と同じ電
    圧を印加してAPC電力試験ができるようにした
    装置であつて、前記APC回路とACC回路を自
    動的に切り換えることが出来ることを特徴とする
    電力試験装置。
JP8779488U 1988-06-30 1988-06-30 Pending JPH029881U (ja)

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