JPH0387658A - バックグランド除去装置 - Google Patents

バックグランド除去装置

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JPH0387658A
JPH0387658A JP22493289A JP22493289A JPH0387658A JP H0387658 A JPH0387658 A JP H0387658A JP 22493289 A JP22493289 A JP 22493289A JP 22493289 A JP22493289 A JP 22493289A JP H0387658 A JPH0387658 A JP H0387658A
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Yoshinori Inoue
嘉則 井上
Mitsuhide Ueno
上野 満秀
Harumi Iizawa
飯沢 はるみ
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Yokogawa Electric Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は、被測定液中の陽イオンを分析する陽イオン分
析装置に装着され、分離カラムからの溶出液あるいは試
料溶液自身の導電率バックグランドを減少させるバック
グランド除去装置に関する。
〈従来の技術〉 一般に、被測定液中の陽イオンを分析するには、低交換
容量の陽イオン交換樹脂が充填された分離カラムに、希
薄な酸性溶液(例えば硝酸や硫酸等〉でなる移動相でも
って一定量の被測定液を搬送し該被測定液中の陽イオン
をクロマトグラフィツクに分離させて分析を行う。
また、被測凭′液中の陽イオンの検出は、分離カラムか
九の溶出液を1?1.接検jf1器(例えば導電率検出
器)で検:1にシ分析結果たるりt171・ダラムを得
ることによって行なうことができる。しかし、分離カラ
ムた検出器の間に0)(=型の険イ詞ン交換樹脂を充填
したサプレッサカラムを汝き、該サプレッサカラムに上
記移動相(カラムからの溶出液)を通ずこεによって移
動相(例えば硝酸や硫酸等)を導電率の低い液(例えば
水等〉にすると共に被測定液中の賜イオンの対イオンを
水酸化物イオンに変えてのちに検出器で検出し分析結果
たるクロマ1ヘゲラムを得ることによって#1行われる
。即ち、このようにすることにより、移動相の導電率を
低下させてS/N比を向上かぜながら被測定液中の陽イ
オンを測定す−ることが行われる。この場合、(II)
 ■″−撃の険イオン交換樹脂を充填1−たサプレッサ
カラムに代えて陰イオン交換膜を利用]7たイ、のが利
用できれば、該陰イオン交換膜を介して連続的に水に変
換できるため、陽イオン分析装置を利用する1できわめ
て好都合たなる。 然るに、陰イオン交換膜を利用した
→ノブレッナの従来例と1、ては、−7重管構造の険イ
オン夾換チ又−プでなるサプレッサが知られている。こ
れは、ステンレスあるいはテフ目ンチ久−ブの中にこれ
らのり−ユ、−・ブの内径より細い外径を詩っ中空の陰
イオン交換チユー・ブを入れたー:本管構造にな−)て
いる。カラムからの溶出液は中空のInnオン交換チー
ブの中を流れ、除去液はモの外llI今移動相の流れに
対して向流で流れるようにな−」ておつ1.連続的にバ
ックグランドを除去で詐るようになっている。
〈発明が解決しようとする問題点〉 黙しながら、k、記すグレヅサは中空の陰イオン交換チ
、2.−ブを利用しているためイオン交換効率はあまり
高くなく高い効率でバックグランドを減少させることは
難しい、そのため、十分なサブレスト効果を得るために
はかなりの長さが必要となり、結果として内容積が増加
し余剰の分析時間を費やし、分離カラムで分離した成分
の広がりを生じてしまうという問題点がある。これらの
問題点の改杵策として内径の小さいイオン交換ヂスーブ
を使用すゐことやイオン交換効率の高いイオン交換チュ
ーブを利用するこヒが考えられるが、このようなチコー
ブは入手が非常に困難である上に、製作・加−Lがあま
り容易ではないという問題もある。 また、上記の二重
管椙造のサプレッサの欠点を改良したシート状のイオン
交換膜を利用した例としては2枚のイオン交換膜と球状
充填物(例えばイオン交換樹脂)が充填された長い溝を
有するう枚のスベーナを積層したものや、中央部に長い
溝をイfする粘着性のゴム状物質でシールされたイオン
交換膜を積層したものなどがあるが多数のシー■・を積
層したり、イオン交換膜を加」二するために液が漏れ易
くなったり、製作が容易でなかったり、イオン交換膜、
が破損し易(なったりするヒいう問題がある。
本発明は、かかる従来例の欠点に鑑みてなされたもので
あり、その0的は、入手が容易なシー1−状の陰イオン
交換膜、陽イオン交換樹脂ポリマービーズ等でなる球状
充填物、及びナイロン等でなる織り網状のシートを用い
た簡単な構成のバックグランド除去装置を提供すゐこ辷
にある。
く問題点を解決するための手段〉 上述のような問題点を解決する本発明の特徴は、被測定
液中の陽イオンを分析する陽イオン分析装置に装着され
被測定液の導電率バックグランドを減少させるバックグ
ランド除去装置において、陰イオン交換膜でなる第1シ
ーl−ε、球状物質が充填された長い溝を有する第2シ
ートと、陰イオン交換膜でなる第3シーhを81層して
その上1・を陰イオン交換膜と接する面に長い溝を有す
る第1及び第2の基板で挟着し、前記第1及び第3のシ
ートに挟まれた第2シートの間隙流路に移動相を流すと
共に前記第1及び第3シートの外側に形成される第1及
び第3シートと第1基板及び第2基板に挟まれた間隙流
路に前記移動相と向流方向に餘去液を流すようにしたこ
とにある。
く作m〉 本発明は次のように作用する。即ち、第1図は本発明の
詳細な説明するため本発明に係わる導電率バックグラン
ド除去の原理を詳しく示す概念図であり、2枚の険Aオ
ン交換膜M″C゛仕切られた・3一つの部屋C,1、C
2、C3には…Iえば陰イオン交換樹脂のよ)な球状充
填物1℃が充填されており、無駄体積は少なくなってい
る。また、部屋c2には被測定試料(例えばHa+イオ
ン・〉を含む分解カラムから溶出された溶M液や被測定
溶液(例えばNaNO3ヲ含ムHNO3)が流れ、部u
c1.C34,:は該溶i1fε向流方向に除去液(倒
えばNa0i1)が流れている。この状態で、部屋C2
内の分離カソムからの)8超液や被測定溶液(例えばN
aNO3を含むhNo:t )に含まれているNo3−
4オンは、部屋C1、C3内の除去液(例えばNaO旧
に含・まれ(いる0;1−イオンε陰イオン交換v:M
を介してイオン交換する。この時分解カラムからの溶#
湯や被測定溶液中の被測窓成分く例えばN〜イオン)は
各部屋を仕切るイオン交換膜Mと同一の電荷を持つため
イオン交換されずに部屋C2中に残る。このため、部屋
C2から溶出する液体は、イオン交換されて対4Aンが
叶−型さなった被測定成分(例えばNa011)を含む
導電率のバックグランドの除去された液体(例えばH2
O) lなり、部747 C1、C3から溶出馨゛る液
体は、溶離液や被測51!、溶液中の陰イオンと、4オ
ン交換して例えばNo:!’η!になった除去液(例え
ばNaN03)ε余剰の除去液(例えばNa011)を
含む導電率の高い液体となる。
ぐ、実施例〉 以ト、本発明に一ノいて図を用いて詳細に説明す゛る。
第2同は本発明実施例の分解槽底斜視図である。この図
にお%1’i:′、1は例えばアクリル板でなる第1基
板、1aは中央に設けられた酒、1.a1〜1alH;
L第1基板に設げt)れた貫通穴、ibiは貫通穴1a
lに挿入されるボルト、ieは溶離液用ν)導入1j、
1dは除去液相の第1導入11.■虹は溶離法用の導帛
III]、Ifは除人液用θ〕第1導出III、 2は
シート状の陰イオン交換膜でなる第1ジーI・・、3は
中央部に゛涜3aが設番)られた例えば二l′ム製の第
2シート、4はシー=1〜状の陰イオン交換膜でなる第
゛3シート、5は例えばアクリル板でなる第2基板、5
a唸中央に設atられた溝、5a1〜5 a iOは第
2基板に設番すられた貫通穴、5cは除去液相の第2導
入1」、5dは除去液用の第2導出11.6 a 1は
ワッシャ、6b1はポル1−1h1のネジ部と合うナツ
トである。尚、第1基板の湧1a、第2シートの講2a
、及び第2基板の溝5aには、いずれも球状充填物ある
いは織り網状a)シート例えば陰イオン交換樹脂が充填
されでいる。
上述のような分解構成からなる本発明の実施例は、第1
へ一第3のシート2〜4が補層されてのち該シート2・
〜4が第1及び第2の基板1及び5で挟まれ、その後ポ
ルl−1bi  (及び図示しなも1ボルトi b2〜
i、 b、io)が貫通穴1a1 (及び1a2〜1a
10)と貫通穴5a1 (及び5a2 X5a10)の
貫通されてのちワッシャ6a1 (及び図ホしないワッ
シャ6a、2〜6alO)が入れられ、最teニ、i?
ルト1 bl  (及び1b2〜1b1o)のネジ部に
ナツト6b1 (及び図示しなり1ナツト6b2〜6b
  10)がねじ込まれることによって、本発明実施例
たるバックグランド除去装置の組立が完成する。
このようにして組み立てられたバックグランド除去装置
は第3図に示すような陽イオン分析装置に装着されて使
用される。即ち、第3図は本発明実施例の使用pA橘成
説明図であり、図中、分解カラム12、サプレッサ13
、及び検出器14は恒温槽15内に収容されて一定温度
(例えば45℃)に保たれている。また、ポンプ1.0
 aが駆動すると槽9a内の溶解液が、例えば1彊1/
湛1oダ)流量で、ガング10a→切り換え弁11の第
1及び第2の接lit [111a、llb→分龍カ分
水カラム12叫バツクグランド除去製置1313bの導
入[−11C→バックグランド除大装W 1.3の内室
13b−バックグランド除去装置13の内室13bの導
出11”4 e行検出器14を経て廃液槽9cへと流れ
1.」ζフグ10bが駆動すると槽9b内の除去液が、
飼えば1nl/l1inの流量で、ポンプ]、 Ob→
バックグランド除去装″r1.13.の外室1.、3 
cの第1導入[11d−→バックグランド除去装置13
の外室1.3 c −バックグランド除去装置13の外
室13 cの第1導出[11,f−バックグランド除去
装置13の外室ff3eの第2導入[’、”、、] 7
 c−=バックグランド除去装置135外案1.3 C
−”バツクグシ・ン1ζ除夫装置13の外室13cの第
2導出1]7dを経で廃液槽9dヘヒ流れる。このため
、バツクグンンV除去メ:闇13の内室13h(第1図
の溝4a)的を流れる液体に含ま第1ている険可オンは
険・イ引ン交換膜13a(第1図の第2シート3及び第
4シー・= h 5 )を介17てバックグランド除去
装置13の外室13C(第1図の満2a及び溝6a)内
を流れる液体に含まれでいる64オンと交換1.究極的
に導電冷のバ・yクグラニ・・ドを低下さ・せるこεが
できる主うになる。
〈発明の効果、′− Vll−詳しく説明し、たような本発明の実施例によれ
ば、人手が界易なシート状の険イオン交換1摸と球状充
填物(例えば、陰イオン交換樹ね、ポリマービーズ、ガ
ラス球、金属球等)及び織り網状のシート(例えば、ふ
るい等に利用するスクリーンメツシスで材貿はステンレ
ス、ナイnン、ポリ叉ナレン5.fリプτ7ビレン、フ
ッ素樹脂等)を用い、りnマドグラムCごおけるビーク
形状を拐ねることのないデッドボリウムの小さな簡単な
構成のバックグランド除去装置が実現する。まプこ、陰
イ寸ン交換膜ε第1〜・第3のシート2・へ4(Lmh
ゆるスベーザ)で形成きれている空間(具体的には長溝
1a、3a、5a)に例えば陰イオご〆交換樹脂のよう
な充填物が充填さ九ているため、該陰イオン交換樹脂が
陰イオン交検膜をバックアップしマ溶#液が流れる流通
系のilEを高めてもするとり1う利点もある。更に、
陰イオン交fiMとスベー・ザで形成さ九る空間(具体
的には長溝1a、3a1、「lは)に充填される充填物
が、ポリマービー・ズ、ガ・〉゛ス球、金属球若しくは
織り網状シートであっても同様の効果が現れて有効であ
る9
【図面の簡単な説明】
第1図は導電率バックグランド除去の原理を詳しく示す
概念図、第2図は本発明実施例の分解構成斜視図、第3
閃は本発明実施例の使用例構成説明図である。 1.5・・・・・・・・・基板、、2〜4・・・・・・
・・・シート、1a3a、5a・・・・・・・・・溝、
9a〜9(1・・・・・・・・・槽、10a、+ 10
 b・・・・・・・・・ボνプ、11・・・・・・・・
・切り換え弁、。 12・・・・・・・・・分離カラム、13・・・・・・
・・・サアレツリ”、14・・・・・・・・・袂出器、
15・・・・・・・・・惇温栖′マ 図 第 2 図 策 図

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)被測定液中の陽イオンを分析する陽イオン分析装
    置に装着され被測定液体の導電率バックグランドを減少
    させるバックグランド除去装置において、陰イオン交換
    膜でなる第1シートと、球状物質が充填された長い溝を
    有する第2シートと、陰イオン交換膜でなる第3シート
    を積層してその上下を陰イオン交換膜でなる第1シート
    と接する面に長い溝を有する第1基板と陰イオン交換膜
    でなる第3シートと接する面に長い溝を有する第2の基
    板で挟着し、前記第1及び第3のシートに挟まれた第2
    シートの間隙流路に移動相を流すと共に前記第1及び第
    3シートの外側に形成される第1及び第3シートと第1
    基板及び第2基板に挟まれた間隙流路に除去液を流すこ
    とを特徴とするバックグランド除去装置。
  2. (2)前記第1基板及び第2基板の長い溝に充填される
    ものが陰イオン交換樹脂、ポリマービーズ、ガラス球、
    金属球、若しくは織り網状のシートでなる請求項(1)
    記載のバックグランド除去装置。
  3. (3)前記第2シートに充填されるものが陰イオン交換
    樹脂、ポリマービーズ、ガラス球、若しくは金属球でな
    る請求項(1)記載のバックグランド除去装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004508550A (ja) * 2000-09-08 2004-03-18 ダウ グローバル テクノロジーズ インコーポレーテッド 逐次検知イオンクロマトグラフィー
JP2006514279A (ja) * 2003-01-30 2006-04-27 ダイオネックス コーポレイション 改善された容量を持つ化学的サプレッサーおよび使用法

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