JPH0383023A - 金属薄膜、金属酸化物薄膜及びこれらの製造方法並びにエレクトロクロミック表示素子 - Google Patents
金属薄膜、金属酸化物薄膜及びこれらの製造方法並びにエレクトロクロミック表示素子Info
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- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims abstract description 107
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 42
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 title claims abstract description 41
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 16
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 85
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 84
- 239000010408 film Substances 0.000 claims abstract description 73
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 claims abstract description 37
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 32
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims abstract description 27
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims abstract description 27
- 239000002253 acid Substances 0.000 claims abstract description 21
- 238000004040 coloring Methods 0.000 claims abstract description 11
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 claims description 12
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 9
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- 229910001507 metal halide Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 150000005309 metal halides Chemical group 0.000 claims description 8
- DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N barium atom Chemical compound [Ba] DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 7
- 150000007524 organic acids Chemical class 0.000 claims description 7
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 6
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 claims description 6
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 claims description 4
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 claims description 4
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 239000003792 electrolyte Substances 0.000 claims description 4
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 claims description 4
- OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N Calcium Chemical compound [Ca] OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052684 Cerium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052779 Neodymium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 claims description 3
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000011575 calcium Substances 0.000 claims description 3
- GWXLDORMOJMVQZ-UHFFFAOYSA-N cerium Chemical compound [Ce] GWXLDORMOJMVQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052746 lanthanum Inorganic materials 0.000 claims description 3
- FZLIPJUXYLNCLC-UHFFFAOYSA-N lanthanum atom Chemical compound [La] FZLIPJUXYLNCLC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- QEFYFXOXNSNQGX-UHFFFAOYSA-N neodymium atom Chemical group [Nd] QEFYFXOXNSNQGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052712 strontium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N strontium atom Chemical compound [Sr] CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 claims description 3
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N yttrium atom Chemical compound [Y] VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052720 vanadium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- LEONUFNNVUYDNQ-UHFFFAOYSA-N vanadium atom Chemical compound [V] LEONUFNNVUYDNQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 18
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 abstract description 14
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 8
- 239000002904 solvent Substances 0.000 abstract description 7
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 abstract description 6
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 abstract description 3
- 239000013078 crystal Substances 0.000 abstract description 2
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 abstract description 2
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 45
- QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N Acetic acid Chemical compound CC(O)=O QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 24
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 18
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 description 13
- 239000000499 gel Substances 0.000 description 12
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 11
- FERIUCNNQQJTOY-UHFFFAOYSA-N Butyric acid Chemical compound CCCC(O)=O FERIUCNNQQJTOY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N Diethyl ether Chemical compound CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 8
- VZGDMQKNWNREIO-UHFFFAOYSA-N tetrachloromethane Chemical compound ClC(Cl)(Cl)Cl VZGDMQKNWNREIO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N Benzene Chemical compound C1=CC=CC=C1 UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 5
- HEDRZPFGACZZDS-UHFFFAOYSA-N Chloroform Chemical compound ClC(Cl)Cl HEDRZPFGACZZDS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- VSCWAEJMTAWNJL-UHFFFAOYSA-K aluminium trichloride Chemical compound Cl[Al](Cl)Cl VSCWAEJMTAWNJL-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 4
- ORTQZVOHEJQUHG-UHFFFAOYSA-L copper(II) chloride Chemical compound Cl[Cu]Cl ORTQZVOHEJQUHG-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 4
- XBDQKXXYIPTUBI-UHFFFAOYSA-N dimethylselenoniopropionate Natural products CCC(O)=O XBDQKXXYIPTUBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 4
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 4
- BDAGIHXWWSANSR-UHFFFAOYSA-N methanoic acid Natural products OC=O BDAGIHXWWSANSR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- QGLKJKCYBOYXKC-UHFFFAOYSA-N nonaoxidotritungsten Chemical compound O=[W]1(=O)O[W](=O)(=O)O[W](=O)(=O)O1 QGLKJKCYBOYXKC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910001930 tungsten oxide Inorganic materials 0.000 description 4
- QGJOPFRUJISHPQ-UHFFFAOYSA-N Carbon disulfide Chemical compound S=C=S QGJOPFRUJISHPQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N Methanol Chemical compound OC OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 3
- OOULUYZFLXDWDQ-UHFFFAOYSA-L barium perchlorate Chemical compound [Ba+2].[O-]Cl(=O)(=O)=O.[O-]Cl(=O)(=O)=O OOULUYZFLXDWDQ-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 3
- 239000008151 electrolyte solution Substances 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 229910001631 strontium chloride Inorganic materials 0.000 description 3
- AHBGXTDRMVNFER-UHFFFAOYSA-L strontium dichloride Chemical compound [Cl-].[Cl-].[Sr+2] AHBGXTDRMVNFER-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 3
- 239000002887 superconductor Substances 0.000 description 3
- OBOSXEWFRARQPU-UHFFFAOYSA-N 2-n,2-n-dimethylpyridine-2,5-diamine Chemical compound CN(C)C1=CC=C(N)C=N1 OBOSXEWFRARQPU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- OSWFIVFLDKOXQC-UHFFFAOYSA-N 4-(3-methoxyphenyl)aniline Chemical compound COC1=CC=CC(C=2C=CC(N)=CC=2)=C1 OSWFIVFLDKOXQC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- UXVMQQNJUSDDNG-UHFFFAOYSA-L Calcium chloride Chemical compound [Cl-].[Cl-].[Ca+2] UXVMQQNJUSDDNG-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- JUJWROOIHBZHMG-UHFFFAOYSA-N Pyridine Chemical compound C1=CC=NC=C1 JUJWROOIHBZHMG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XHCLAFWTIXFWPH-UHFFFAOYSA-N [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[V+5].[V+5] Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[V+5].[V+5] XHCLAFWTIXFWPH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 2
- JHXKRIRFYBPWGE-UHFFFAOYSA-K bismuth chloride Chemical compound Cl[Bi](Cl)Cl JHXKRIRFYBPWGE-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 2
- 229910001628 calcium chloride Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000001110 calcium chloride Substances 0.000 description 2
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 2
- VYLVYHXQOHJDJL-UHFFFAOYSA-K cerium trichloride Chemical compound Cl[Ce](Cl)Cl VYLVYHXQOHJDJL-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 2
- GVPFVAHMJGGAJG-UHFFFAOYSA-L cobalt dichloride Chemical compound [Cl-].[Cl-].[Co+2] GVPFVAHMJGGAJG-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 238000004090 dissolution Methods 0.000 description 2
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 description 2
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 2
- 235000019253 formic acid Nutrition 0.000 description 2
- 150000002431 hydrogen Chemical class 0.000 description 2
- ICAKDTKJOYSXGC-UHFFFAOYSA-K lanthanum(iii) chloride Chemical compound Cl[La](Cl)Cl ICAKDTKJOYSXGC-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 2
- MHCFAGZWMAWTNR-UHFFFAOYSA-M lithium perchlorate Chemical compound [Li+].[O-]Cl(=O)(=O)=O MHCFAGZWMAWTNR-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 229910001486 lithium perchlorate Inorganic materials 0.000 description 2
- ATINCSYRHURBSP-UHFFFAOYSA-K neodymium(iii) chloride Chemical compound Cl[Nd](Cl)Cl ATINCSYRHURBSP-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 2
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);tantalum(5+) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Ta+5].[Ta+5] BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 235000019260 propionic acid Nutrition 0.000 description 2
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 2
- IUVKMZGDUIUOCP-BTNSXGMBSA-N quinbolone Chemical compound O([C@H]1CC[C@H]2[C@H]3[C@@H]([C@]4(C=CC(=O)C=C4CC3)C)CC[C@@]21C)C1=CCCC1 IUVKMZGDUIUOCP-BTNSXGMBSA-N 0.000 description 2
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 2
- 229910001936 tantalum oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- OEIMLTQPLAGXMX-UHFFFAOYSA-I tantalum(v) chloride Chemical compound Cl[Ta](Cl)(Cl)(Cl)Cl OEIMLTQPLAGXMX-UHFFFAOYSA-I 0.000 description 2
- UYEGPKGLVUUIGD-UHFFFAOYSA-J tetrachloro(oxo)molybdenum Chemical compound Cl[Mo](Cl)(Cl)(Cl)=O UYEGPKGLVUUIGD-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 2
- 229910001935 vanadium oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- -1 @ thin films Inorganic materials 0.000 description 1
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M Chloride anion Chemical compound [Cl-] VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 229910021555 Chromium Chloride Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910002480 Cu-O Inorganic materials 0.000 description 1
- 241000218691 Cupressaceae Species 0.000 description 1
- 229910021578 Iron(III) chloride Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000002492 Rungia klossii Nutrition 0.000 description 1
- 244000117054 Rungia klossii Species 0.000 description 1
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004809 Teflon Substances 0.000 description 1
- 229920006362 Teflon® Polymers 0.000 description 1
- 229910021550 Vanadium Chloride Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000011054 acetic acid Nutrition 0.000 description 1
- 150000007513 acids Chemical class 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- QGJOPFRUJISHPQ-NJFSPNSNSA-N carbon disulfide-14c Chemical compound S=[14C]=S QGJOPFRUJISHPQ-NJFSPNSNSA-N 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- QSWDMMVNRMROPK-UHFFFAOYSA-K chromium(3+) trichloride Chemical compound [Cl-].[Cl-].[Cl-].[Cr+3] QSWDMMVNRMROPK-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 230000005518 electrochemistry Effects 0.000 description 1
- 238000000313 electron-beam-induced deposition Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000004744 fabric Substances 0.000 description 1
- 238000001879 gelation Methods 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- FBAFATDZDUQKNH-UHFFFAOYSA-M iron chloride Chemical compound [Cl-].[Fe] FBAFATDZDUQKNH-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- RBTARNINKXHZNM-UHFFFAOYSA-K iron trichloride Chemical compound Cl[Fe](Cl)Cl RBTARNINKXHZNM-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- 229910001510 metal chloride Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052976 metal sulfide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000476 molybdenum oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000005985 organic acids Nutrition 0.000 description 1
- AJCDFVKYMIUXCR-UHFFFAOYSA-N oxobarium;oxo(oxoferriooxy)iron Chemical compound [Ba]=O.O=[Fe]O[Fe]=O.O=[Fe]O[Fe]=O.O=[Fe]O[Fe]=O.O=[Fe]O[Fe]=O.O=[Fe]O[Fe]=O.O=[Fe]O[Fe]=O AJCDFVKYMIUXCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PQQKPALAQIIWST-UHFFFAOYSA-N oxomolybdenum Chemical compound [Mo]=O PQQKPALAQIIWST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YHBDIEWMOMLKOO-UHFFFAOYSA-I pentachloroniobium Chemical compound Cl[Nb](Cl)(Cl)(Cl)Cl YHBDIEWMOMLKOO-UHFFFAOYSA-I 0.000 description 1
- RPESBQCJGHJMTK-UHFFFAOYSA-I pentachlorovanadium Chemical compound [Cl-].[Cl-].[Cl-].[Cl-].[Cl-].[V+5] RPESBQCJGHJMTK-UHFFFAOYSA-I 0.000 description 1
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 description 1
- QQONPFPTGQHPMA-UHFFFAOYSA-N propylene Natural products CC=C QQONPFPTGQHPMA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RUOJZAUFBMNUDX-UHFFFAOYSA-N propylene carbonate Chemical compound CC1COC(=O)O1 RUOJZAUFBMNUDX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000004805 propylene group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([*:1])C([H])([H])[*:2] 0.000 description 1
- UMJSCPRVCHMLSP-UHFFFAOYSA-N pyridine Natural products COC1=CC=CN=C1 UMJSCPRVCHMLSP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 1
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- YXPHMGGSLJFAPL-UHFFFAOYSA-J tetrabromotungsten Chemical compound Br[W](Br)(Br)Br YXPHMGGSLJFAPL-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 1
- YOUIDGQAIILFBW-UHFFFAOYSA-J tetrachlorotungsten Chemical compound Cl[W](Cl)(Cl)Cl YOUIDGQAIILFBW-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 1
- 239000004408 titanium dioxide Substances 0.000 description 1
- XJDNKRIXUMDJCW-UHFFFAOYSA-J titanium tetrachloride Chemical compound Cl[Ti](Cl)(Cl)Cl XJDNKRIXUMDJCW-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 1
- 239000012463 white pigment Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Inorganic Compounds Of Heavy Metals (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
- Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
- Non-Insulated Conductors (AREA)
- Electrochromic Elements, Electrophoresis, Or Variable Reflection Or Absorption Elements (AREA)
- Oxygen, Ozone, And Oxides In General (AREA)
- Electrodes Of Semiconductors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
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Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、金属薄膜、金属酸化物薄膜及びそれらの製造
方法並びにエレクトロクロミック表示素子に関する。
方法並びにエレクトロクロミック表示素子に関する。
金属薄膜又は金属酸化物薄膜は、半導体素子中の金属配
線、誘電体材料、磁気記録媒体、エレクトロクロミック
表示素子(以下ECDと略記する)、超電導体等に用い
られている。これらの金、@薄膜又は金属酸化物薄膜の
製造には、従来スパッタ蒸着又は電子線蒸着、加熱蒸着
、化学気相成長法等の真空操作を用いた方法が用いられ
ていた。しかし、これらの技術はいずれも工程が煩雑で
高価な真空装置あるいは排気設備を必要とし、しかも大
面積の薄膜形成は困難である。
線、誘電体材料、磁気記録媒体、エレクトロクロミック
表示素子(以下ECDと略記する)、超電導体等に用い
られている。これらの金、@薄膜又は金属酸化物薄膜の
製造には、従来スパッタ蒸着又は電子線蒸着、加熱蒸着
、化学気相成長法等の真空操作を用いた方法が用いられ
ていた。しかし、これらの技術はいずれも工程が煩雑で
高価な真空装置あるいは排気設備を必要とし、しかも大
面積の薄膜形成は困難である。
一方、スピンコーティング(回転塗布)に代表される湿
式成膜法は装置や操作が簡単でメンテナンス費も少なく
、大面積素子を安価に作製できる利点がある。湿式成膜
法としては、電気化学及び工業物理化学51巻、第21
3頁(1983年)に記載のオキザラト錯鉢の析出反応
を利用する方法1日本化学会誌、黙6、第1050頁、
(1985年)に記載のコロイド溶液を塗布する方法あ
るいは時開11’161−273539号公報に記載の
過酸化縮合酸の水溶液を塗布する方法等が知られている
。
式成膜法は装置や操作が簡単でメンテナンス費も少なく
、大面積素子を安価に作製できる利点がある。湿式成膜
法としては、電気化学及び工業物理化学51巻、第21
3頁(1983年)に記載のオキザラト錯鉢の析出反応
を利用する方法1日本化学会誌、黙6、第1050頁、
(1985年)に記載のコロイド溶液を塗布する方法あ
るいは時開11’161−273539号公報に記載の
過酸化縮合酸の水溶液を塗布する方法等が知られている
。
上記従来の湿式成膜法は、塗布液の調製や成膜に長時間
を要し、また塗布液が不安定でゲルや沈澱を生成する問
題があるため、いずれの技術も工業的に実用化されるに
は至っていない。
を要し、また塗布液が不安定でゲルや沈澱を生成する問
題があるため、いずれの技術も工業的に実用化されるに
は至っていない。
本発明の目的は、簡単な方法で、安定に金属薄膜又は金
属酸化物薄膜を製造する方法、これらの方法で製造され
た金属薄膜又は金属酸化物薄膜並びに簡単な方法で安定
に形成された金属酸化物薄膜を有するECDを提出する
ことにある6〔課題を解決するための手段〕 上記目的は、(1)金属塩と酸を有機溶媒に溶解した溶
液を基板上に塗布し、塗膜とすることを特徴とする金属
酸化物薄膜の製造方法、(2)上記金属塩は金属ハロゲ
ン化物である上記1記載の金属酸化物薄膜の製造方法、
(3)上記酸は有機酸である上記1記載の金属酸化物N
膜の製造方法。
属酸化物薄膜を製造する方法、これらの方法で製造され
た金属薄膜又は金属酸化物薄膜並びに簡単な方法で安定
に形成された金属酸化物薄膜を有するECDを提出する
ことにある6〔課題を解決するための手段〕 上記目的は、(1)金属塩と酸を有機溶媒に溶解した溶
液を基板上に塗布し、塗膜とすることを特徴とする金属
酸化物薄膜の製造方法、(2)上記金属塩は金属ハロゲ
ン化物である上記1記載の金属酸化物薄膜の製造方法、
(3)上記酸は有機酸である上記1記載の金属酸化物N
膜の製造方法。
(4)金属塩と酸を有機溶媒に溶解した溶液を基板上に
塗布し、!32!膜とし、該塗膜を還元することを特徴
とする金属薄膜の製造方法、(5)上記金属塩は金属ハ
ロゲン化物である上記4記載の金属薄膜の製造方法、(
6)上記酸は有機酸である上記4記載の金属薄膜の製造
方法、(7)金属塩と酸を有機溶媒に溶解した溶液を基
板上に塗布し。
塗布し、!32!膜とし、該塗膜を還元することを特徴
とする金属薄膜の製造方法、(5)上記金属塩は金属ハ
ロゲン化物である上記4記載の金属薄膜の製造方法、(
6)上記酸は有機酸である上記4記載の金属薄膜の製造
方法、(7)金属塩と酸を有機溶媒に溶解した溶液を基
板上に塗布し。
塗膜とし、該塗膜を還元してなることを特徴とする金属
薄膜、(8)上記金属塩中の金属元素がアルミニウム、
モリブデン、タングステンからなる群より選ばれた少な
くとも一種の元素である上記7記載の金属薄膜、(9)
金属塩と酸を有機溶媒に溶解した溶液を基板上に塗布し
、塗膜としてなることを特徴とする金属酸化物薄膜、(
10)上記金属塩中の金属元素が鉄、バリウムからなる
群より選ばれた少なくとも一種の元素である上記9記載
の金属酸化物薄膜、(11)上記金属塩中の金属元素が
ランタン、ストロンチウム、銅、イットリウム、バリウ
ム、ビスマス、カルシウムからなる群より選ばれた少な
くとも一種の元素である上記9記載の金属酸化物薄膜、
(工2)上記金属塩中の金属元素がネオジム、セリウム
、銅からなる群より選ばれた少なくとも一種の元素であ
る上記9記載の金属酸化物Wl膜、(13)上記金属塩
中の金属元素がアルミニウム、タンタルからなる群より
選ばれた少なくとも一種の元素である上記9記載の金属
酸化物薄膜、(工4)上記金属塩中の金属元素がタング
ステン、バナジウムからなる群より選ばれた少なくとも
一種の元素である上記9記載の金属酸化物薄膜、(15
)導電膜が形成された基板上に、発色膜として設けられ
た上記14記載の金属酸化物薄膜と、該発色膜と対向し
て設けられた対向電極と1両者の間に保持された電解質
とを少なくとも有するエレクトロクロミック表示素子、
(16)金属塩と酸を有機溶媒に溶解した溶液を基板上
に塗布し、塗膜とし、該塗膜を一部分還元し、金属を部
分的に有する金属酸化物としてなることを特徴とする薄
膜、(17)上記金属塩中の金属元素が少なくともコバ
ルトである上記16記載の薄膜によって達成される。
薄膜、(8)上記金属塩中の金属元素がアルミニウム、
モリブデン、タングステンからなる群より選ばれた少な
くとも一種の元素である上記7記載の金属薄膜、(9)
金属塩と酸を有機溶媒に溶解した溶液を基板上に塗布し
、塗膜としてなることを特徴とする金属酸化物薄膜、(
10)上記金属塩中の金属元素が鉄、バリウムからなる
群より選ばれた少なくとも一種の元素である上記9記載
の金属酸化物薄膜、(11)上記金属塩中の金属元素が
ランタン、ストロンチウム、銅、イットリウム、バリウ
ム、ビスマス、カルシウムからなる群より選ばれた少な
くとも一種の元素である上記9記載の金属酸化物薄膜、
(工2)上記金属塩中の金属元素がネオジム、セリウム
、銅からなる群より選ばれた少なくとも一種の元素であ
る上記9記載の金属酸化物Wl膜、(13)上記金属塩
中の金属元素がアルミニウム、タンタルからなる群より
選ばれた少なくとも一種の元素である上記9記載の金属
酸化物薄膜、(工4)上記金属塩中の金属元素がタング
ステン、バナジウムからなる群より選ばれた少なくとも
一種の元素である上記9記載の金属酸化物薄膜、(15
)導電膜が形成された基板上に、発色膜として設けられ
た上記14記載の金属酸化物薄膜と、該発色膜と対向し
て設けられた対向電極と1両者の間に保持された電解質
とを少なくとも有するエレクトロクロミック表示素子、
(16)金属塩と酸を有機溶媒に溶解した溶液を基板上
に塗布し、塗膜とし、該塗膜を一部分還元し、金属を部
分的に有する金属酸化物としてなることを特徴とする薄
膜、(17)上記金属塩中の金属元素が少なくともコバ
ルトである上記16記載の薄膜によって達成される。
本発明に用いられる金属塩としては金属硫化物。
金属ハロゲン化物等があり、金属ハロゲン化物が好まし
い、金属ハロゲン化物の中でも金属塩化物を用いること
がより好ましい、このような金属塩として、例えば塩化
アルミニウム、塩化ビスマス、過塩素酸バリウム、塩化
カルシウム、塩化セリウム、塩化コバルト、塩化クロム
、塩化銅、塩化鉄、塩化ランタン、塩化酸化モリブデン
、塩化ニオブ、塩化ネオジム、塩化ストロンチウム、塩
化タンタル、塩化チタン、塩化イツトリウム等が挙げら
れる。
い、金属ハロゲン化物の中でも金属塩化物を用いること
がより好ましい、このような金属塩として、例えば塩化
アルミニウム、塩化ビスマス、過塩素酸バリウム、塩化
カルシウム、塩化セリウム、塩化コバルト、塩化クロム
、塩化銅、塩化鉄、塩化ランタン、塩化酸化モリブデン
、塩化ニオブ、塩化ネオジム、塩化ストロンチウム、塩
化タンタル、塩化チタン、塩化イツトリウム等が挙げら
れる。
酸としては有機酸を用いることが好ましい、このような
有機酸としては、ギ酸、酢酸、プロピオン酸、酪酸等の
カルポル酸が挙げられる。酸は金属塩に対してモル比で
5〜8倍の量を用いることが好ましい。
有機酸としては、ギ酸、酢酸、プロピオン酸、酪酸等の
カルポル酸が挙げられる。酸は金属塩に対してモル比で
5〜8倍の量を用いることが好ましい。
有機溶媒は、金属塩を溶解するものであればよく、例え
ば、ベンゼン、ピリジン、四塩化炭素、二硫化炭素、エ
ーテル、アセトン、エタノール、メタノール等が用いら
れる。
ば、ベンゼン、ピリジン、四塩化炭素、二硫化炭素、エ
ーテル、アセトン、エタノール、メタノール等が用いら
れる。
金属酸化物の塗布薄膜は、上記金属塩を有機溶媒に溶解
し、これに酸を添加し、通常はこの溶液を加熱処理し、
基板に塗布することにより得られる。塗布直後の膜は、
非晶質状態であり、加熱処理により結晶構造の生成が容
易に進行する。また上記塗布薄膜を還元雰囲気中で加熱
処理することにより金属薄膜が得られる。
し、これに酸を添加し、通常はこの溶液を加熱処理し、
基板に塗布することにより得られる。塗布直後の膜は、
非晶質状態であり、加熱処理により結晶構造の生成が容
易に進行する。また上記塗布薄膜を還元雰囲気中で加熱
処理することにより金属薄膜が得られる。
本発明の金属薄膜は金属配線等に、また金属酸化物薄膜
は、磁性体、誘電体、超電導膜、ECD発色材用薄膜等
に用いられる。
は、磁性体、誘電体、超電導膜、ECD発色材用薄膜等
に用いられる。
すなわち、上記(8)項に記載したアルミニウム、モリ
ブデン、タングステンの少なくとも一種を有する金属塩
から得られた金属薄膜、従ってこのような金属を有する
金属薄膜は、例えば配線材料として用いることができる
。
ブデン、タングステンの少なくとも一種を有する金属塩
から得られた金属薄膜、従ってこのような金属を有する
金属薄膜は、例えば配線材料として用いることができる
。
同様に、上記(10)項に記載した鉄、バリウムの少な
くとも一種を有する金属酸化物薄膜は、例えば磁性体薄
膜として用いられる。
くとも一種を有する金属酸化物薄膜は、例えば磁性体薄
膜として用いられる。
また、上記(11)項に記載したランタン、ストロンチ
ウム、銅、イツトリウム、バリウム、ビスマス、カルシ
ウムの少なくとも一種を有する金属酸化物薄膜は、例え
ば超電導体薄膜として用いられる。
ウム、銅、イツトリウム、バリウム、ビスマス、カルシ
ウムの少なくとも一種を有する金属酸化物薄膜は、例え
ば超電導体薄膜として用いられる。
また、上記(12)項に記載したネオジム、セリウム、
銅の少なくとも一種を有する金属酸化物薄膜は、例えば
n型超電導体薄膜として用いられる。
銅の少なくとも一種を有する金属酸化物薄膜は、例えば
n型超電導体薄膜として用いられる。
また、上記(工3)項に記載したアルミニウム。
タンタルの少なくとも一種を有する金属酸化物薄膜は、
例えば誘電体薄膜として用いられる。
例えば誘電体薄膜として用いられる。
また、上記(17)項に記載したコバルトを含む薄膜は
、例えば磁性体薄膜として用いられる。
、例えば磁性体薄膜として用いられる。
本発明における。金属又は金属酸化物薄膜の形成方法で
は、塗布溶媒に水を用いないため、塗布溶液が安定化し
ゲル化や沈殿の生成を抑えることができる。また塗布溶
液も短時間で容易に調製することが可能である。
は、塗布溶媒に水を用いないため、塗布溶液が安定化し
ゲル化や沈殿の生成を抑えることができる。また塗布溶
液も短時間で容易に調製することが可能である。
以下、本発明を実施例により詳細に説明する。
実施例 1
塩化アルミニウム1.3g (0,01モル)を四塩化
炭素10mQに溶解した。この溶液に酢酸4g (0,
07モル)を加え、80℃で還流した。
炭素10mQに溶解した。この溶液に酢酸4g (0,
07モル)を加え、80℃で還流した。
この溶液は極めて安定であり、沈殿やゲルの生成は認め
られなかった。この溶液をシリコン基板上にスピン揄布
し、膜厚0.5μmの酸化アルミニウムの薄膜を形成し
た。この膜を水素中700℃で加熱処理した結果、電気
抵抗100Ω/dの金属アルミニウム薄膜が得られた。
られなかった。この溶液をシリコン基板上にスピン揄布
し、膜厚0.5μmの酸化アルミニウムの薄膜を形成し
た。この膜を水素中700℃で加熱処理した結果、電気
抵抗100Ω/dの金属アルミニウム薄膜が得られた。
この薄膜は金属配線薄膜として用いることができた。
また、上記酸化アルミニウム薄膜を空気中400℃で加
熱してアニールした結果、比誘電率9の薄膜が得られた
。この薄膜な半導体中に設け、絶縁膜として用いること
ができた。上記塗布膜は有機酸としてギ酸を使用しても
同様に作成することができた。
熱してアニールした結果、比誘電率9の薄膜が得られた
。この薄膜な半導体中に設け、絶縁膜として用いること
ができた。上記塗布膜は有機酸としてギ酸を使用しても
同様に作成することができた。
実施例 2
塩化酸化モリブデン1.5gを四塩化炭素10mAに溶
解した。この溶液に酪酸6gを加え、80℃で還流した
。この溶液は極めて安定であり、沈殿やゲルの生成は認
められなかった。この溶液をシリコン基板上にスピン塗
布し、膜厚0.5μmの酸化モリブデンの薄膜を形成し
た。この膜を水素中700”Cで加熱処理した結果、電
気抵抗100Ω/−の金属モリブデン薄膜が得られた。
解した。この溶液に酪酸6gを加え、80℃で還流した
。この溶液は極めて安定であり、沈殿やゲルの生成は認
められなかった。この溶液をシリコン基板上にスピン塗
布し、膜厚0.5μmの酸化モリブデンの薄膜を形成し
た。この膜を水素中700”Cで加熱処理した結果、電
気抵抗100Ω/−の金属モリブデン薄膜が得られた。
この薄膜は金属配線薄膜として用いることができた。
実施例 3
臭化タングステン5.8gをクロロホルム10mmに溶
解した。この溶液は極めて安定であり、沈殿やゲルの生
成は認められなかった。この溶液に酢酸6gを加え、8
0℃で還流した。この溶液をシリコン基板上にスピン塗
布し、アニールのため空気中150℃で加熱処理し、膜
厚0.5μmの酸化タングステンの薄膜を形成した。
解した。この溶液は極めて安定であり、沈殿やゲルの生
成は認められなかった。この溶液に酢酸6gを加え、8
0℃で還流した。この溶液をシリコン基板上にスピン塗
布し、アニールのため空気中150℃で加熱処理し、膜
厚0.5μmの酸化タングステンの薄膜を形成した。
つぎにこの膜をECDの発色膜とした例を示す。
透明導電膜を有するガラス基板に、上記と同様にして酸
化タングステンの薄膜を形成した。この膜の一部をアル
カリ性水溶液で溶解して発色電極の集電部を形成し、た
。ついで第1図に示すECDを作成した。上記ガラス基
板を表示極側のガラス基板1とし、透明導電膜2の上に
、上記酸化タングステン薄膜よりなる発色膜3が設けら
れている。
化タングステンの薄膜を形成した。この膜の一部をアル
カリ性水溶液で溶解して発色電極の集電部を形成し、た
。ついで第1図に示すECDを作成した。上記ガラス基
板を表示極側のガラス基板1とし、透明導電膜2の上に
、上記酸化タングステン薄膜よりなる発色膜3が設けら
れている。
透明導電膜2の保護膜4として二酸化ケイ素層を設けた
。このガラス基板1とスペーサー8を介して対向電極6
を設けた。対向@極6は、基板7上に透明電極6′を設
け、その上に繊維状カーボン6′を接着しである。電解
液として過塩素酸リチウムを含むプロピレンカーボネー
トを用い、背景材9には白色顔料である二酸化チタンを
含む多孔性テフロンシートを用いた。
。このガラス基板1とスペーサー8を介して対向電極6
を設けた。対向@極6は、基板7上に透明電極6′を設
け、その上に繊維状カーボン6′を接着しである。電解
液として過塩素酸リチウムを含むプロピレンカーボネー
トを用い、背景材9には白色顔料である二酸化チタンを
含む多孔性テフロンシートを用いた。
このECDにおいて電流0 、03 mA/cn、電気
量10 m C/ cdで発色膜を還元した結果、無色
の酸化タングステン薄膜が濃い青色に変化した。
量10 m C/ cdで発色膜を還元した結果、無色
の酸化タングステン薄膜が濃い青色に変化した。
また、逆の電圧を印加して膜を酸化すると元の無色に変
化することが確認された。上記酸化還元処理を繰り返し
ても発色膜の電解液中への溶解は認められず、良好な可
逆性を示すECD材料として用いることができた。
化することが確認された。上記酸化還元処理を繰り返し
ても発色膜の電解液中への溶解は認められず、良好な可
逆性を示すECD材料として用いることができた。
また、上記檜布膜を水素中700℃で加熱処理した結果
、@気抵抗100Ω/dの金属タングステン薄膜が得ら
れたにの8膜は金属配線薄膜として用いることができた
。このような薄膜は塗布液の溶媒としてエタノールある
いはエーテルを用いることによっても同様に作成するこ
とができた。
、@気抵抗100Ω/dの金属タングステン薄膜が得ら
れたにの8膜は金属配線薄膜として用いることができた
。このような薄膜は塗布液の溶媒としてエタノールある
いはエーテルを用いることによっても同様に作成するこ
とができた。
また金属ハロゲン化物として塩化タングステンを用い、
塗布液の溶媒としてエタノール、エーテル、ベンゼン、
四塩化炭素又は二硫化炭素を用いることによっても同様
に作成することができた。
塗布液の溶媒としてエタノール、エーテル、ベンゼン、
四塩化炭素又は二硫化炭素を用いることによっても同様
に作成することができた。
実施例 4
過塩素酸バリウム3.4g、塩化第二鉄19gをアセト
ン150mQに溶解した。この溶液に酢酸50gを加え
、60℃で還流した。この溶液は極めて安定であり、沈
殿やゲルの生成は認められなかった。この溶液をアルミ
ニウム基板上にスピン塗布し、150℃で加熱処理して
膜厚0.5膜mのバリウムフェライト(B a O−6
F e20.)薄膜を形成した。この膜の保磁力、磁束
密度はそれぞれ、10000 e、5 Q e m u
/ gであり磁気記録膜として用いることができた。
ン150mQに溶解した。この溶液に酢酸50gを加え
、60℃で還流した。この溶液は極めて安定であり、沈
殿やゲルの生成は認められなかった。この溶液をアルミ
ニウム基板上にスピン塗布し、150℃で加熱処理して
膜厚0.5膜mのバリウムフェライト(B a O−6
F e20.)薄膜を形成した。この膜の保磁力、磁束
密度はそれぞれ、10000 e、5 Q e m u
/ gであり磁気記録膜として用いることができた。
実施例 5
塩化コバルト2.4gをエタノール10 m Qに溶解
した。この溶液に酢酸4gを加え、80℃で還流した。
した。この溶液に酢酸4gを加え、80℃で還流した。
この溶液は極めて安定であり、沈殿やゲルの生成は認め
られなかった。この溶液をアルミニウム基板上にスピン
塗布し、水素中700℃で加熱処理して膜厚0.5μm
のコバルト部分酸化物薄膜を形成した。この膜の保磁力
、磁束密度はそれぞれ+ 1ooooe、70 e m
u / gであり磁気記録膜として用いることができ
た。
られなかった。この溶液をアルミニウム基板上にスピン
塗布し、水素中700℃で加熱処理して膜厚0.5μm
のコバルト部分酸化物薄膜を形成した。この膜の保磁力
、磁束密度はそれぞれ+ 1ooooe、70 e m
u / gであり磁気記録膜として用いることができ
た。
実施例 6
塩化ランタン4.5g、塩化ストロンチウム0.2g、
塩化銅1.3gをエタノール30m12に溶解した。こ
の溶液に醋酸18gを加え、80℃で還流した。この溶
液は極めて安定であり、沈殿やゲルの生成は認められな
かった。この溶液をシリコン基板上にスピン塗布し、膜
厚0.5μmのL a −S r −Cu −0系酸化
物薄膜を形成した。
塩化銅1.3gをエタノール30m12に溶解した。こ
の溶液に醋酸18gを加え、80℃で還流した。この溶
液は極めて安定であり、沈殿やゲルの生成は認められな
かった。この溶液をシリコン基板上にスピン塗布し、膜
厚0.5μmのL a −S r −Cu −0系酸化
物薄膜を形成した。
この膜を空気中900℃で加熱処理した結果、超電導臨
界温度40にの超電導薄膜が得られた。
界温度40にの超電導薄膜が得られた。
実施例 7
塩化イツトリウム2g、過塩素酸バリウム6.8g、塩
化銅4gをエタノール60mQに溶解した。この溶液に
酪酸37gを加え、80℃で還流した。この溶液は極め
て安定であり、沈殿やゲルの生成は認められなかった。
化銅4gをエタノール60mQに溶解した。この溶液に
酪酸37gを加え、80℃で還流した。この溶液は極め
て安定であり、沈殿やゲルの生成は認められなかった。
この溶液をシリコン基板上にスピン塗布し、膜厚0.5
μmのY−Ba−Cu−0系酸化物薄膜を形成した。こ
の膜を空気中900℃で加熱処理した結果、超電導臨界
温度90にの超電導薄膜が得られた。
μmのY−Ba−Cu−0系酸化物薄膜を形成した。こ
の膜を空気中900℃で加熱処理した結果、超電導臨界
温度90にの超電導薄膜が得られた。
実施例 8
塩化ビスマス2.2g、塩化ストロンチウム3.2g、
塩化カルシウム2.2g、塩化銅4gをアセトン90m
Nに溶解した。この溶液に酪酸55gを加え、60℃で
還流した。この溶液は極めて安定であり、沈殿やゲルの
生成は認められなかった。この溶液をシリコン基板上に
スピン塗布し、膜厚0.5μmのB i −S r −
Ca −Cu −O系酸化物薄膜を形成した。この膜を
空気中800℃で加熱処理した結果、超電導臨界温度1
10にの超電導薄膜が得られた。
塩化カルシウム2.2g、塩化銅4gをアセトン90m
Nに溶解した。この溶液に酪酸55gを加え、60℃で
還流した。この溶液は極めて安定であり、沈殿やゲルの
生成は認められなかった。この溶液をシリコン基板上に
スピン塗布し、膜厚0.5μmのB i −S r −
Ca −Cu −O系酸化物薄膜を形成した。この膜を
空気中800℃で加熱処理した結果、超電導臨界温度1
10にの超電導薄膜が得られた。
実施例 9
塩化ネオジム4.6g、塩化セリウム0.2g、塩化鋼
1.3gをエタノール30mQに溶解した。
1.3gをエタノール30mQに溶解した。
この溶液にプロピオン酸15gを加え、80℃で還流し
た。この溶液は極めて安定であり、沈殿やゲルの生成は
認められなかった。この溶液をシリコン基板上にスピン
塗布し、膜厚0.5μmのN d −Ce −Cu −
0系酸化物薄膜を形成した。
た。この溶液は極めて安定であり、沈殿やゲルの生成は
認められなかった。この溶液をシリコン基板上にスピン
塗布し、膜厚0.5μmのN d −Ce −Cu −
0系酸化物薄膜を形成した。
この膜を空気中1150℃及びアルゴン中1000℃で
加熱処理した結果、超電導臨界温度24にのn型超電導
薄膜が得られた。
加熱処理した結果、超電導臨界温度24にのn型超電導
薄膜が得られた。
実施例 10
塩化タンタル3.6gi、i水エタノール10mQに溶
解した。この溶液に酢酸4gを加え、80℃で還流した
。この溶液は極めて安定であり。
解した。この溶液に酢酸4gを加え、80℃で還流した
。この溶液は極めて安定であり。
沈殿やゲルの生成は認められなかった。この溶液をシリ
コン基板上にスピン塗布し、膜厚0.5μmの酸化タン
タルの薄膜を形成した。この膜を空気中700℃で加熱
処理した結果、比誘電率10の酸化タンタル薄膜が得ら
れた。この薄膜は半導体中の絶縁膜として用いることが
できた。
コン基板上にスピン塗布し、膜厚0.5μmの酸化タン
タルの薄膜を形成した。この膜を空気中700℃で加熱
処理した結果、比誘電率10の酸化タンタル薄膜が得ら
れた。この薄膜は半導体中の絶縁膜として用いることが
できた。
実施例 11
塩化バナジウム1.9gをクロロホルム10mQに溶解
した。この溶液に酢酸4gを加え、70℃で還流した。
した。この溶液に酢酸4gを加え、70℃で還流した。
この溶液は極めて安定であり、沈殿やゲルの生成は認め
られなかった。この溶液を、導電膜をコートしたガラス
上にスピン塗布し、膜厚0.4μmの酸化バナジウム薄
膜を形成した。
られなかった。この溶液を、導電膜をコートしたガラス
上にスピン塗布し、膜厚0.4μmの酸化バナジウム薄
膜を形成した。
さらにこの膜を空気中60℃で加熱処理した。膜の一部
をアルカリ性水溶液で溶解して発色電極の集電部を形成
した。これを用いて実施例3と同様にして第1図に示し
たECDを作成した。電解液として過塩素酸リチウムを
含むプロピレンカーボネニトを用い、電流0.2mA/
a#、電気量10m C/ aiで酸化バナジウム薄膜
を還元した。その結果、膜が黄色から濃い緑色に、さら
に灰黒色に変化した。また、逆の電圧を印加して酸化す
ると、元の黄色に変化することが確認できた。上記酸化
還元処理を繰り返しても発色膜の電解液中への溶解は認
められず、良好な可逆性を示すECD材料として用いる
ことができた。このようなECD材料は塗布液の溶媒と
してエタノールあるいはエーテルを用いることによって
も同様に作成することができた。
をアルカリ性水溶液で溶解して発色電極の集電部を形成
した。これを用いて実施例3と同様にして第1図に示し
たECDを作成した。電解液として過塩素酸リチウムを
含むプロピレンカーボネニトを用い、電流0.2mA/
a#、電気量10m C/ aiで酸化バナジウム薄膜
を還元した。その結果、膜が黄色から濃い緑色に、さら
に灰黒色に変化した。また、逆の電圧を印加して酸化す
ると、元の黄色に変化することが確認できた。上記酸化
還元処理を繰り返しても発色膜の電解液中への溶解は認
められず、良好な可逆性を示すECD材料として用いる
ことができた。このようなECD材料は塗布液の溶媒と
してエタノールあるいはエーテルを用いることによって
も同様に作成することができた。
以上詳述した如く、本発明の金属又は金属酸化物薄膜の
製造方法によれば、安定な塗布溶液を調製し、これを用
いて成膜を容易に行なうことができる。また、安定に簡
単な方法で金属又は金属酸化物薄膜が得られるので、特
に大面積の薄膜を得る場合、安価に作製できる。
製造方法によれば、安定な塗布溶液を調製し、これを用
いて成膜を容易に行なうことができる。また、安定に簡
単な方法で金属又は金属酸化物薄膜が得られるので、特
に大面積の薄膜を得る場合、安価に作製できる。
また薄膜中に複数の金属元素を有するとき、各元素の組
成を正確に制御できる効果がある。
成を正確に制御できる効果がある。
第1図は本発明のECDの一実施例の模式的構造を示す
断面図である。 ・・・基板 ・・・発色膜 ・・・電解液 ′・・・透明導電膜 ・・基板 ・・・背景材 ・・・透明導電膜 ・・・保護膜 ・・対向電極 ′・・・繊維状カーボン ・・・スペーサー
断面図である。 ・・・基板 ・・・発色膜 ・・・電解液 ′・・・透明導電膜 ・・基板 ・・・背景材 ・・・透明導電膜 ・・・保護膜 ・・対向電極 ′・・・繊維状カーボン ・・・スペーサー
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、金属塩と酸を有機溶媒に溶解した溶液を基板上に塗
布し、塗膜とすることを特徴とする金属酸化物薄膜の製
造方法。 2、上記金属塩は金属ハロゲン化物である請求項1記載
の金属酸化物薄膜の製造方法。 3、上記酸は有機酸である請求項1記載の金属酸化物薄
膜の製造方法。 4、金属塩と酸を有機溶媒に溶解した溶液を基板上に塗
布し、塗膜とし、該塗膜を還元することを特徴とする金
属薄膜の製造方法。 5、上記金属塩は金属ハロゲン化物である請求項4記載
の金属薄膜の製造方法。 6、上記酸は有機酸である請求項4記載の金属薄膜の製
造方法。 7、金属塩と酸を有機溶媒に溶解した溶液を基板上に塗
布し、塗膜とし、該塗膜を還元してなることを特徴とす
る金属薄膜。 8、上記金属塩中の金属元素がアルミニウム、モリブデ
ン、タングステンからなる群より選ばれた少なくとも一
種の元素である請求項7記載の金属薄膜。 9、金属塩と酸を有機溶媒に溶解した溶液を基板上に塗
布し、塗膜としてなることを特徴とする金属酸化物薄膜
。 10、上記金属塩中の金属元素が鉄、バリウムからなる
群より選ばれた少なくとも一種の元素である請求項9記
載の金属酸化物薄膜。 11、上記金属塩中の金属元素がランタン、ストロンチ
ウム、銅、イットリウム、バリウム、ビスマス、カルシ
ウムからなる群より選ばれた少なくとも一種の元素であ
る請求項9記載の金属酸化物薄膜。 12、上記金属塩中の金属元素がネオジム、セリウム、
銅からなる群より選ばれた少なくとも一種の元素である
請求項9記載の金属酸化物薄膜。 13、上記金属塩中の金属元素がアルミニウム、タンタ
ルからなる群より選ばれた少なくとも一種の元素である
請求項9記載の金属酸化物薄膜。 14、上記金属塩中の金属元素がタングステン、バナジ
ウムからなる群より選ばれた少なくとも一種の元素であ
る請求項9記載の金属酸化物薄膜。 15、導電膜が形成された基板上に、発色膜として設け
られた請求項14記載の金属酸化物薄膜と、該発色膜と
対向して設けられた対向電極と、両者の間に保持された
電解質とを少なくとも有するエレクトロクロミック表示
素子。 16、金属塩と酸を有機溶媒に溶解した溶液を基板上に
塗布し、塗膜とし、該塗膜を一部分還元し、金属を部分
的に有する金属酸化物としてなることを特徴とする薄膜
。 17、上記金属塩中の金属元素が少なくともコバルトで
ある請求項16記載の薄膜。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1218664A JPH0383023A (ja) | 1989-08-28 | 1989-08-28 | 金属薄膜、金属酸化物薄膜及びこれらの製造方法並びにエレクトロクロミック表示素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1218664A JPH0383023A (ja) | 1989-08-28 | 1989-08-28 | 金属薄膜、金属酸化物薄膜及びこれらの製造方法並びにエレクトロクロミック表示素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0383023A true JPH0383023A (ja) | 1991-04-09 |
Family
ID=16723489
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1218664A Pending JPH0383023A (ja) | 1989-08-28 | 1989-08-28 | 金属薄膜、金属酸化物薄膜及びこれらの製造方法並びにエレクトロクロミック表示素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0383023A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6294467B1 (en) | 1998-03-18 | 2001-09-25 | Nec Corporation | Process for forming fine wiring |
WO2009157244A1 (ja) * | 2008-06-24 | 2009-12-30 | コニカミノルタホールディングス株式会社 | 透明導電性基板、透明導電性基板の製造方法、及び電気化学表示素子 |
US8986854B2 (en) | 2005-03-23 | 2015-03-24 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Composite material, material for light-emitting element, light-emitting element, light-emitting device and electronic device |
-
1989
- 1989-08-28 JP JP1218664A patent/JPH0383023A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6294467B1 (en) | 1998-03-18 | 2001-09-25 | Nec Corporation | Process for forming fine wiring |
US8986854B2 (en) | 2005-03-23 | 2015-03-24 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Composite material, material for light-emitting element, light-emitting element, light-emitting device and electronic device |
WO2009157244A1 (ja) * | 2008-06-24 | 2009-12-30 | コニカミノルタホールディングス株式会社 | 透明導電性基板、透明導電性基板の製造方法、及び電気化学表示素子 |
JP4539786B2 (ja) * | 2008-06-24 | 2010-09-08 | コニカミノルタホールディングス株式会社 | 透明導電性基板の製造方法 |
JPWO2009157244A1 (ja) * | 2008-06-24 | 2011-12-08 | コニカミノルタホールディングス株式会社 | 透明導電性基板の製造方法 |
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