JPH03818B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH03818B2 JPH03818B2 JP57026897A JP2689782A JPH03818B2 JP H03818 B2 JPH03818 B2 JP H03818B2 JP 57026897 A JP57026897 A JP 57026897A JP 2689782 A JP2689782 A JP 2689782A JP H03818 B2 JPH03818 B2 JP H03818B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- input terminal
- terminal
- resistor
- transistor
- amplifier
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 34
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 28
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 18
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 3
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 2
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 239000003365 glass fiber Substances 0.000 description 1
- 238000013101 initial test Methods 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03G—CONTROL OF AMPLIFICATION
- H03G1/00—Details of arrangements for controlling amplification
- H03G1/0005—Circuits characterised by the type of controlling devices operated by a controlling current or voltage signal
- H03G1/0017—Circuits characterised by the type of controlling devices operated by a controlling current or voltage signal the device being at least one of the amplifying solid state elements of the amplifier
- H03G1/0023—Circuits characterised by the type of controlling devices operated by a controlling current or voltage signal the device being at least one of the amplifying solid state elements of the amplifier in emitter-coupled or cascode amplifiers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/44—Electric circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
- H04B10/60—Receivers
- H04B10/66—Non-coherent receivers, e.g. using direct detection
- H04B10/69—Electrical arrangements in the receiver
- H04B10/691—Arrangements for optimizing the photodetector in the receiver
- H04B10/6911—Photodiode bias control, e.g. for compensating temperature variations
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Amplifiers (AREA)
- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
- Optical Communication System (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はバイアス回路に接続されたホトダイオ
ードを具えると共に該ホトダイオードと出力端子
との間に前置増幅器と制御増幅器と出力増幅器の
直列接続を具え、その出力増幅器の出力端子を他
方の入力端子に基準電圧が接続された差動増幅器
の一方の入力端子に検出器を介して接続し、該差
動増幅器の出力端子を前記制御増幅器の制御入力
端子に接続して成る光受信機に関するものであ
る。
ードを具えると共に該ホトダイオードと出力端子
との間に前置増幅器と制御増幅器と出力増幅器の
直列接続を具え、その出力増幅器の出力端子を他
方の入力端子に基準電圧が接続された差動増幅器
の一方の入力端子に検出器を介して接続し、該差
動増幅器の出力端子を前記制御増幅器の制御入力
端子に接続して成る光受信機に関するものであ
る。
斯る光受信機においては動作中に光入力レベル
を測定できるようにすることが極めて望ましい。
このようにすれば、光通信システムの初期試験処
理中に接続部（光フアイバケーブルの溶接接合部
及びオプチカルプラグ）の減衰を測定することが
可能になる。これは極めて重要な利点である。な
ぜなら、さもなければ光入力信号を試験する際に
ケーブルと光受信機との間の光学接続を遮断しな
ければならなくなるからである。また、上述のよ
うに動作中に光入力レベルの測定を可能にすれば
動作中に保守試験を行なつて光入力レベルの変化
を測定し、初期の段階において必要な処理を講じ
ることが可能になる。
を測定できるようにすることが極めて望ましい。
このようにすれば、光通信システムの初期試験処
理中に接続部（光フアイバケーブルの溶接接合部
及びオプチカルプラグ）の減衰を測定することが
可能になる。これは極めて重要な利点である。な
ぜなら、さもなければ光入力信号を試験する際に
ケーブルと光受信機との間の光学接続を遮断しな
ければならなくなるからである。また、上述のよ
うに動作中に光入力レベルの測定を可能にすれば
動作中に保守試験を行なつて光入力レベルの変化
を測定し、初期の段階において必要な処理を講じ
ることが可能になる。
この場合、ガラスフアイバケーブルの老化を検
出し、場合によつては警報装置を接続することも
可能になる。
出し、場合によつては警報装置を接続することも
可能になる。
本発明の目的は受信機の受入力のレベルを動作
中極めて簡単な手段で測定し得る光受信機を提供
せんとするにある。
中極めて簡単な手段で測定し得る光受信機を提供
せんとするにある。
本発明は上述した光受信機において、制御増幅
器は２個の出力端子を有する電流分配器と、その
両出力端子にそれぞれ結合した入力端子を有する
加算回路で構成し、該電流分配器の信号入力端子
を可調整直流電流源に接続すると共に第１コンデ
ンサを経て前置増幅器の出力端子にも接続し、前
記加算回路の出力端子を第２コンデンサを経て出
力増幅器の入力端子に接続すると共に抵抗を経て
試験端子にも接続し、該試験端子は減結合コンデ
ンサを経て定電位点に接続したことを特徴とす
る。
器は２個の出力端子を有する電流分配器と、その
両出力端子にそれぞれ結合した入力端子を有する
加算回路で構成し、該電流分配器の信号入力端子
を可調整直流電流源に接続すると共に第１コンデ
ンサを経て前置増幅器の出力端子にも接続し、前
記加算回路の出力端子を第２コンデンサを経て出
力増幅器の入力端子に接続すると共に抵抗を経て
試験端子にも接続し、該試験端子は減結合コンデ
ンサを経て定電位点に接続したことを特徴とす
る。
図面につき本発明を説明する。
第１図は本発明光受信機の一例を示し、第１図
においてはバイアス回路２でバイアスされたホト
ダイオードを示す。バイアス回路２は高オーム抵
抗２０を経てホトダイオード１に接続した温度依
存基準電圧源２１を具える。ホトダイオード１の
カソードは前置増幅器３の入力端子に接続し、そ
の出力端子はコンデンサ１２０を経て制御増幅器
４の信号入力端子１２に接続する。更に、信号入
力端子１２は可調整直流電流源４０に接続する。
制御増幅器４の出力端子１３はコンデンサ１３０
を経て出力増幅器５の入力端子に接続する。出力
増幅器５の出力端子は受信機の出力端子１４に接
続すると共に検出器６を経て差動増幅器９の一方
の入力端子に接続する。差動増幅器９の他方の入
力端子は基準電圧源７に接続する。差動増幅器９
の出力端子は制御増幅器４の制御入力端子１０に
接続する。制御増幅器４の出力端子１３を抵抗４
８を経て試験端子８１に接続する。試験端子８１
は減結合コンデンサ４９を経て定電位点（本例で
はアース）に接続する。電流計８は試験端子８１
と定電位点（＋）との間に接続することができ
る。制御増幅器４の信号入力端子１２は電流分配
器４００の入力端子に接続する。電流分配器４０
０の第１出力端子４０３は加算回路４０１に直結
し、第２出力端子４０４は回路網４０２を経て加
算回路４０１に接続する。加算回路４０１の出力
端子は制御増幅器４の出力端子１３に接続する。
分配器４００の制御入力端子を制御増幅器４の制
御入力端子に接続する。
においてはバイアス回路２でバイアスされたホト
ダイオードを示す。バイアス回路２は高オーム抵
抗２０を経てホトダイオード１に接続した温度依
存基準電圧源２１を具える。ホトダイオード１の
カソードは前置増幅器３の入力端子に接続し、そ
の出力端子はコンデンサ１２０を経て制御増幅器
４の信号入力端子１２に接続する。更に、信号入
力端子１２は可調整直流電流源４０に接続する。
制御増幅器４の出力端子１３はコンデンサ１３０
を経て出力増幅器５の入力端子に接続する。出力
増幅器５の出力端子は受信機の出力端子１４に接
続すると共に検出器６を経て差動増幅器９の一方
の入力端子に接続する。差動増幅器９の他方の入
力端子は基準電圧源７に接続する。差動増幅器９
の出力端子は制御増幅器４の制御入力端子１０に
接続する。制御増幅器４の出力端子１３を抵抗４
８を経て試験端子８１に接続する。試験端子８１
は減結合コンデンサ４９を経て定電位点（本例で
はアース）に接続する。電流計８は試験端子８１
と定電位点（＋）との間に接続することができ
る。制御増幅器４の信号入力端子１２は電流分配
器４００の入力端子に接続する。電流分配器４０
０の第１出力端子４０３は加算回路４０１に直結
し、第２出力端子４０４は回路網４０２を経て加
算回路４０１に接続する。加算回路４０１の出力
端子は制御増幅器４の出力端子１３に接続する。
分配器４００の制御入力端子を制御増幅器４の制
御入力端子に接続する。
第１図に示す光受信機は次のように動作する。
入射主光線Ｐはアバランシエホトダイオード１に
より電流に変換される。この電流は、前置増幅器
３の入力端子に供給される前に、ダイオード自体
内における電離衝突作用により多数倍に増幅され
る。最大の信号対雑音比を得るためには、ホトダ
イオード１の増幅率Ｍは主光線Ｐの値に応じた規
定の値を有する必要がある。種々の光入力レベル
に対し可能最大の信号対雑音比を維持するために
はホトダイオード１の増倍率Ｍを主光線Ｐの立方
根に略々逆比例させる必要がある。第１図のバイ
アス回路２においては、主光線Ｐが増大するとホ
トダイオード１を流れる電流も増大し、これに応
答して抵抗２０両端間の電圧降下が増大し、その
結果ホトダイオード１両端間の電圧降下が減少し
てホトダイオード１の増倍率Ｍが自動的に低減す
る。逆に、光線Ｐが減少すると抵抗２０両端間の
電圧降下が減少し、その結果ホトダイオード１両
端間の電圧降下が増大してホトダイオード１の増
倍率Ｍが自動的に増大する。予定の光入力レベル
に対しては種々の温度において一定の増倍率が必
要である。このためには温度依存基準電圧源２１
はホトダイオードの増倍率が一定に維持されるよ
うな温度係数を有する必要がある。この目的のた
めに、温度依存基準電圧源２１として例えば第２
のアバランシエホトダイオードを用いることがで
きる。
入射主光線Ｐはアバランシエホトダイオード１に
より電流に変換される。この電流は、前置増幅器
３の入力端子に供給される前に、ダイオード自体
内における電離衝突作用により多数倍に増幅され
る。最大の信号対雑音比を得るためには、ホトダ
イオード１の増幅率Ｍは主光線Ｐの値に応じた規
定の値を有する必要がある。種々の光入力レベル
に対し可能最大の信号対雑音比を維持するために
はホトダイオード１の増倍率Ｍを主光線Ｐの立方
根に略々逆比例させる必要がある。第１図のバイ
アス回路２においては、主光線Ｐが増大するとホ
トダイオード１を流れる電流も増大し、これに応
答して抵抗２０両端間の電圧降下が増大し、その
結果ホトダイオード１両端間の電圧降下が減少し
てホトダイオード１の増倍率Ｍが自動的に低減す
る。逆に、光線Ｐが減少すると抵抗２０両端間の
電圧降下が減少し、その結果ホトダイオード１両
端間の電圧降下が増大してホトダイオード１の増
倍率Ｍが自動的に増大する。予定の光入力レベル
に対しては種々の温度において一定の増倍率が必
要である。このためには温度依存基準電圧源２１
はホトダイオードの増倍率が一定に維持されるよ
うな温度係数を有する必要がある。この目的のた
めに、温度依存基準電圧源２１として例えば第２
のアバランシエホトダイオードを用いることがで
きる。
以上から明らかなように、主光線ＰのydBの変
化に対し増倍率Ｍは−1/3ydBだけ変化する。こ
れにより前置増幅器の入力端子におけるレベル変
化は2/3ydBに低減する。制御増幅器４は出力端
子１４の出力信号U(p)が一定に維持されるように
機能するため、制御増幅器４の利得は−2/3ydB
だけ変化するはずである。ホトダイオード１の最
適増倍率Ｍは光線Ｐの各値に依存するため、制御
増幅器４の利得もこれに応じて所定の規定値にな
つて出力U(p)を所要値に維持する。従つて、制御
増幅器４の利得を知ることができれば、これから
主光線Ｐの値を導出することができる。
化に対し増倍率Ｍは−1/3ydBだけ変化する。こ
れにより前置増幅器の入力端子におけるレベル変
化は2/3ydBに低減する。制御増幅器４は出力端
子１４の出力信号U(p)が一定に維持されるように
機能するため、制御増幅器４の利得は−2/3ydB
だけ変化するはずである。ホトダイオード１の最
適増倍率Ｍは光線Ｐの各値に依存するため、制御
増幅器４の利得もこれに応じて所定の規定値にな
つて出力U(p)を所要値に維持する。従つて、制御
増幅器４の利得を知ることができれば、これから
主光線Ｐの値を導出することができる。
電流分配器４００の入力電流は電流源４０によ
り発生される直流Ｉと制御増幅器４の信号入力端
子１２における入力信号u(i)から得られる情報電
流ｉとの和から成る。この入力電流（Ｉ＋ｉ）は
電流分配器４００の２個の出力端子４０３及び４
０４に、差動増幅器９により発生される制御電圧
に応じて分配される。電流分配器４００の２個の
出力端子４０３及び４０４のそれぞれの電流は、 Ｉ（403）＝α・（Ｉ＋ｉ） Ｉ（404）＝（１−α）・（Ｉ＋ｉ） (1) ここで０＜α＜１ になる。
り発生される直流Ｉと制御増幅器４の信号入力端
子１２における入力信号u(i)から得られる情報電
流ｉとの和から成る。この入力電流（Ｉ＋ｉ）は
電流分配器４００の２個の出力端子４０３及び４
０４に、差動増幅器９により発生される制御電圧
に応じて分配される。電流分配器４００の２個の
出力端子４０３及び４０４のそれぞれの電流は、 Ｉ（403）＝α・（Ｉ＋ｉ） Ｉ（404）＝（１−α）・（Ｉ＋ｉ） (1) ここで０＜α＜１ になる。
制御増幅器４の出力端子１３の電圧は
U(p)＝（Ｉ＋ｉ）・Ｒ(13)・〔１＋（１−α）・Ｈ〕(2
) ここで、Ｒ（13）は制御増幅器４の出力抵抗値、
Ｈは例えば２個の抵抗の比で決まるような無え係
数、 になり、出力端子１３における出力交流電圧は u(p)＝ｉ・Ｒ（13）〔１＋（１−α）・Ｈ〕 (3) になる。
) ここで、Ｒ（13）は制御増幅器４の出力抵抗値、
Ｈは例えば２個の抵抗の比で決まるような無え係
数、 になり、出力端子１３における出力交流電圧は u(p)＝ｉ・Ｒ（13）〔１＋（１−α）・Ｈ〕 (3) になる。
制御増幅器４の入力端子１２における入力交流
電流は ｉ＝u(i)／Ｒ（12） (4) ここでＲ（12）は制御増幅器４の入力抵抗値、 u(i)は制御増幅器４の信号入力端子における入
力交流電圧、 で与えられる。
電流は ｉ＝u(i)／Ｒ（12） (4) ここでＲ（12）は制御増幅器４の入力抵抗値、 u(i)は制御増幅器４の信号入力端子における入
力交流電圧、 で与えられる。
式(3)及び(4)から、制御増幅器の利得は
u(p)／u(i)＝Ｒ（13）／Ｒ（12）・〔１＋（１−α）
Ｈ〕(5) になる。
Ｈ〕(5) になる。
電流計８を流れる直流電流は
Ｉ(8)＝Ｉ・Ｒ（13）／Ｒ（48）＋Ｒ(8)・〔１＋（１−
α）・Ｈ） (6) ここで、Ｒ（13）＜＜Ｒ（48）＋Ｒ(8)、 Ｒ（48）は抵抗４８の抵抗値、 Ｒ(8)は電流計８の抵抗値、 になる。
α）・Ｈ） (6) ここで、Ｒ（13）＜＜Ｒ（48）＋Ｒ(8)、 Ｒ（48）は抵抗４８の抵抗値、 Ｒ(8)は電流計８の抵抗値、 になる。
式(5)と式(6)を比較すると、電流計８の読みは制
御増幅器４の利得u(p)／u(i)に比例することがわか
る。従つて、電流計８に適当な目盛をつければ制
御増幅器４の利得及び従つて光受信機の主光線Ｐ
も読み取ることができる。即ち、交流に対しても
同一に信号処理するタイプの制御増幅器を選択使
用すれば受信機の光入力レベルを簡単な電流計に
より連続的に測定することができる。
御増幅器４の利得u(p)／u(i)に比例することがわか
る。従つて、電流計８に適当な目盛をつければ制
御増幅器４の利得及び従つて光受信機の主光線Ｐ
も読み取ることができる。即ち、交流に対しても
同一に信号処理するタイプの制御増幅器を選択使
用すれば受信機の光入力レベルを簡単な電流計に
より連続的に測定することができる。
第２図は第１図の制御増幅器４の第１の実施例
を示す。本例の制御増幅器４においては、制御入
力端子１０を第１トランジスタ４１のベース−エ
ミツタ通路及び第２トランジスタ４２のエミツタ
−ベース通路を経て基準電圧源１１０に接続す
る。トランジスタ４１及び４２のエミツタの共通
接続点を第３トランジスタ４０のコレクタ−エミ
ツタ通路及びエミツタ抵抗の直列接続を経て第１
供給電圧点０に接続する。第３トランジスタ４０
のベースを制御増幅器４の信号入力端子１２に接
続すると共に、第１供給電圧点（０）と第２供給
電圧点（＋）との間に直列に接続された２個の抵
抗４４及び４５の共通接続点にも接続する。第２
トランジスタ４２のコレクタを２個の抵抗４７及
び４６の直列接続を経て第２供給電圧点（＋）に
接続し、両抵抗４６及び４７の共通接続点を第１
トランジスタ４１のコレクタに接続する。
を示す。本例の制御増幅器４においては、制御入
力端子１０を第１トランジスタ４１のベース−エ
ミツタ通路及び第２トランジスタ４２のエミツタ
−ベース通路を経て基準電圧源１１０に接続す
る。トランジスタ４１及び４２のエミツタの共通
接続点を第３トランジスタ４０のコレクタ−エミ
ツタ通路及びエミツタ抵抗の直列接続を経て第１
供給電圧点０に接続する。第３トランジスタ４０
のベースを制御増幅器４の信号入力端子１２に接
続すると共に、第１供給電圧点（０）と第２供給
電圧点（＋）との間に直列に接続された２個の抵
抗４４及び４５の共通接続点にも接続する。第２
トランジスタ４２のコレクタを２個の抵抗４７及
び４６の直列接続を経て第２供給電圧点（＋）に
接続し、両抵抗４６及び４７の共通接続点を第１
トランジスタ４１のコレクタに接続する。
トランジスタ４０のコレクタ電流は直流電流Ｉ
と、制御増幅器４の信号入力端子１２における入
力信号u(i)から得られ直流電流Ｉ上に重畳される
情報電流ｉから成る。この電流（Ｉ＋ｉ）はトラ
ンジスタ４１及び４２に、差動増幅器９により発
生される制御電圧に応じて分配される。トランジ
スタ４１及び４２のそれぞれのコレクタ電流は Ｉ（41）＝α・（Ｉ＋ｉ） Ｉ（42）＝（１−α）・（Ｉ＋ｉ） (1) ここで０＜α＜１ になる。
と、制御増幅器４の信号入力端子１２における入
力信号u(i)から得られ直流電流Ｉ上に重畳される
情報電流ｉから成る。この電流（Ｉ＋ｉ）はトラ
ンジスタ４１及び４２に、差動増幅器９により発
生される制御電圧に応じて分配される。トランジ
スタ４１及び４２のそれぞれのコレクタ電流は Ｉ（41）＝α・（Ｉ＋ｉ） Ｉ（42）＝（１−α）・（Ｉ＋ｉ） (1) ここで０＜α＜１ になる。
直列抵抗４６及び４７の両端間の電圧は
U(p)＝（Ｉ＋ｉ）・〔Ｒ（46）＋（１−α）・Ｒ（47
）〕 ＝Ｒ（46）・（Ｉ＋ｉ）・〔１＋（１−α）・Ｈ〕
(2) ここで、Ｈ＝Ｒ（46）／Ｒ（47）、 Ｒ（46）は抵抗４６の抵抗値、 Ｒ（47）は抵抗４７の抵抗値、 になるから、出力端子１３における出力交流電圧
は u(p)＝ｉ・Ｒ（46）・〔１＋（１−α）・Ｈ〕 (3) になる。
）〕 ＝Ｒ（46）・（Ｉ＋ｉ）・〔１＋（１−α）・Ｈ〕
(2) ここで、Ｈ＝Ｒ（46）／Ｒ（47）、 Ｒ（46）は抵抗４６の抵抗値、 Ｒ（47）は抵抗４７の抵抗値、 になるから、出力端子１３における出力交流電圧
は u(p)＝ｉ・Ｒ（46）・〔１＋（１−α）・Ｈ〕 (3) になる。
入力交流電流ｉは
ｉ＝u(i)／Ｒ（43） (4)
ここで、Ｒ（43）は抵抗４３の抵抗値、
u(i)は制御増幅器４の信号入力端子の入力交流
電圧、 で与えられる。
電圧、 で与えられる。
従つて、式(3)及び式(4)から下式の所望の関係：
u(p)／u(i)＝Ｒ（46）／Ｒ（43）
・〔１＋（１−α）・Ｈ〕 (5)
が得られる。また、電流計８を流れる直流電流は
Ｉ(8)＝Ｉ・Ｒ（46）／Ｒ（48）＋Ｒ(8)・〔１＋（１
−α）・ Ｈ〕 (6) ここで、Ｒ（48）＞＞Ｒ（46）＋Ｒ（47） Ｒ（48）は抵抗４８の抵抗値、 Ｒ(8)は電流計８の抵抗値、 になる。
−α）・ Ｈ〕 (6) ここで、Ｒ（48）＞＞Ｒ（46）＋Ｒ（47） Ｒ（48）は抵抗４８の抵抗値、 Ｒ(8)は電流計８の抵抗値、 になる。
式(5)及び(6)を比較すると、電流計の読みは制御
増幅器４の利得u(p)／u(i)に比列することがわかる。
増幅器４の利得u(p)／u(i)に比列することがわかる。
第３図は第１図の制御増幅器４の第２の実施例
を示し、本例では補償手段を講じて測定精度も高
めるようにしたものである。測定誤差は増幅器３
の入力端子に現われる雑音により発生し、この雑
音はホトダイオード１から発生して増幅器３の入
力段に現われる。最大の信号対雑音比を得るため
には、アバランシエホトダイオード１の増幅率Ｍ
が光入力レベルに応じた規定値を有する必要があ
る。この規定値はバイアス回路２により近似的に
実現できるのみである。
を示し、本例では補償手段を講じて測定精度も高
めるようにしたものである。測定誤差は増幅器３
の入力端子に現われる雑音により発生し、この雑
音はホトダイオード１から発生して増幅器３の入
力段に現われる。最大の信号対雑音比を得るため
には、アバランシエホトダイオード１の増幅率Ｍ
が光入力レベルに応じた規定値を有する必要があ
る。この規定値はバイアス回路２により近似的に
実現できるのみである。
本例では、第１トランジスタ４１のベースをス
トツパ抵抗５６を経て制御増幅器４の制御入力端
子１０に接続する。第２トランジスタ４２のベー
スをストツパ抵抗５５及び抵抗Ｒ１１０を経て基
準電圧源１１０に接続する。トランジスタ４１及
び４２のエミツタを相互接続して第３トランジス
タ４０のコレクタ−エミツタ通路及びエミツタ抵
抗４３を経て第１供給電圧点（０）に接続する。
第３トランジスタ４０のベースは信号入力端子１
２に接続すると共に、抵抗４４を経て第１供給電
圧点（０）に接続する。第２トランジスタ４２の
コレクタ回路には４個の直列接続抵抗４７，５
１，４６及び５２を設け、その最后の抵抗５２を
第２供給電圧点（＋）に接続する。第１トランジ
スタ４１のコレクタを抵抗５０を経て抵抗５１及
び４６の共通接続点に接続すると共にコンデンサ
５７を経て抵抗Ｒ１１０にも接続する。制御入力
端子１０をコンデンサ５８を経て抵抗５１及び４
７の共通接続点に接続する。第２トランジスタ４
２のコレクタと抵抗４６及び５２の共通接続点と
の間に、抵抗４８と電流計８接続用の試験端子８
１及び８０を直列に設ける。試験端子８１はコン
デンサ４９を経て第１供給電圧点に接続する。試
験端子８０は抵抗６６を経て差動増幅器１００の
第１入力端子９１に接続する。差動増幅器１００
の第２入力端子９０は抵抗６５及び基準電圧源１
０１を経て第２供給電圧点（＋）に接続する。差
動増幅器１００の入力端子９０は２個の直列接続
抵抗６８及び７０を経て第２トランジスタ４２の
コレクタに接続する。差動増幅器１００の出力端
子は抵抗７１を経て第３トランジスタ４０のベー
スに接続する。
トツパ抵抗５６を経て制御増幅器４の制御入力端
子１０に接続する。第２トランジスタ４２のベー
スをストツパ抵抗５５及び抵抗Ｒ１１０を経て基
準電圧源１１０に接続する。トランジスタ４１及
び４２のエミツタを相互接続して第３トランジス
タ４０のコレクタ−エミツタ通路及びエミツタ抵
抗４３を経て第１供給電圧点（０）に接続する。
第３トランジスタ４０のベースは信号入力端子１
２に接続すると共に、抵抗４４を経て第１供給電
圧点（０）に接続する。第２トランジスタ４２の
コレクタ回路には４個の直列接続抵抗４７，５
１，４６及び５２を設け、その最后の抵抗５２を
第２供給電圧点（＋）に接続する。第１トランジ
スタ４１のコレクタを抵抗５０を経て抵抗５１及
び４６の共通接続点に接続すると共にコンデンサ
５７を経て抵抗Ｒ１１０にも接続する。制御入力
端子１０をコンデンサ５８を経て抵抗５１及び４
７の共通接続点に接続する。第２トランジスタ４
２のコレクタと抵抗４６及び５２の共通接続点と
の間に、抵抗４８と電流計８接続用の試験端子８
１及び８０を直列に設ける。試験端子８１はコン
デンサ４９を経て第１供給電圧点に接続する。試
験端子８０は抵抗６６を経て差動増幅器１００の
第１入力端子９１に接続する。差動増幅器１００
の第２入力端子９０は抵抗６５及び基準電圧源１
０１を経て第２供給電圧点（＋）に接続する。差
動増幅器１００の入力端子９０は２個の直列接続
抵抗６８及び７０を経て第２トランジスタ４２の
コレクタに接続する。差動増幅器１００の出力端
子は抵抗７１を経て第３トランジスタ４０のベー
スに接続する。
抵抗６８及び７０の共通接続点をコンデンサ７
２を経て第１供給電圧点（０）に接続する。抵抗
５２及び４６の接続点をコンデンサ５３を経て第
１供給電圧点（０）に接続する。
２を経て第１供給電圧点（０）に接続する。抵抗
５２及び４６の接続点をコンデンサ５３を経て第
１供給電圧点（０）に接続する。
第３図に示す制御増幅器４は英国特許出願第
206424Aに開示されているタイプのものである。
２個の抵抗５０及び５１両端間の電圧降下によつ
て、２個のトランジスタ４１及び４２のバルク抵
抗によるものと一般に言われている影響が除去さ
れる。これらのバルク抵抗は両トランジスタ４１
及び４２のベース回路及びエミツタ回路に現われ
る。両抵抗の和は上記英国特許出願に詳述されて
いるようにトランジスタ４１及び４２のエミツタ
回路に集中しているものとみなすことができる。
このバルク抵抗のために電流計の電流は制御増幅
器４の利得に完全に比例して変化しなくなる。こ
のバルク抵抗の影響を除去することにより電流計
の読みは制御増幅器４の利得に十分に比例するも
のとなる。これは、両トランジスタ４１及び４２
のバルク抵抗両端間の電圧降下に等しい電圧ΔV
を両抵抗５０及び５１間に発生することにより達
成される。この場合、両トランジスタ４１及び４
２のエミツタリードのインダクタンスが両抵抗５
０及び５１のインダクタンスにより補償されると
いう二次的な効果により上記制御増幅器４の二次
歪みの改善も得られる。両トランジスタのベース
リード内の抵抗５５及び５６は高周波発振の発生
を抑えるために設けたものである。第２図に示す
制御増幅器は極めて高い周波数特性を有し、
500MHzはまでの周波数で使用するのに好適であ
る。差動増幅器１００、基準電圧源１０１及び関
連する抵抗及びコンデンサは電流計８の測定精度
を高めるために設けたものである。この場合、電
流αIと（１−α）Ｉの和を一定に維持する必要が
ある。この目的のために、抵抗５２の両端間の電
圧を第２供給電圧点（＋）と差動増幅器１００の
入力端子９０との間の電圧に等しくする。従つ
て、差動増幅器１００の入力端子９０の電圧が電
流Ｉの大きさを決定する。この電圧は基準電圧源
１０１の電圧と抵抗６５の電圧降下の和に等し
い。抵抗６５の電圧降下は制御増幅器の分配比α
に依存し、トランジスタ４０のコレクタ電流が全
てトランジスタ４２を経て流れるときに最大にな
る。抵抗６８を差動増幅器１００の入力端子９０
に接続する代りに該増幅器の入力端子９１に接続
することもできる。この場合には反対極性の補正
が行なわれる。
206424Aに開示されているタイプのものである。
２個の抵抗５０及び５１両端間の電圧降下によつ
て、２個のトランジスタ４１及び４２のバルク抵
抗によるものと一般に言われている影響が除去さ
れる。これらのバルク抵抗は両トランジスタ４１
及び４２のベース回路及びエミツタ回路に現われ
る。両抵抗の和は上記英国特許出願に詳述されて
いるようにトランジスタ４１及び４２のエミツタ
回路に集中しているものとみなすことができる。
このバルク抵抗のために電流計の電流は制御増幅
器４の利得に完全に比例して変化しなくなる。こ
のバルク抵抗の影響を除去することにより電流計
の読みは制御増幅器４の利得に十分に比例するも
のとなる。これは、両トランジスタ４１及び４２
のバルク抵抗両端間の電圧降下に等しい電圧ΔV
を両抵抗５０及び５１間に発生することにより達
成される。この場合、両トランジスタ４１及び４
２のエミツタリードのインダクタンスが両抵抗５
０及び５１のインダクタンスにより補償されると
いう二次的な効果により上記制御増幅器４の二次
歪みの改善も得られる。両トランジスタのベース
リード内の抵抗５５及び５６は高周波発振の発生
を抑えるために設けたものである。第２図に示す
制御増幅器は極めて高い周波数特性を有し、
500MHzはまでの周波数で使用するのに好適であ
る。差動増幅器１００、基準電圧源１０１及び関
連する抵抗及びコンデンサは電流計８の測定精度
を高めるために設けたものである。この場合、電
流αIと（１−α）Ｉの和を一定に維持する必要が
ある。この目的のために、抵抗５２の両端間の電
圧を第２供給電圧点（＋）と差動増幅器１００の
入力端子９０との間の電圧に等しくする。従つ
て、差動増幅器１００の入力端子９０の電圧が電
流Ｉの大きさを決定する。この電圧は基準電圧源
１０１の電圧と抵抗６５の電圧降下の和に等し
い。抵抗６５の電圧降下は制御増幅器の分配比α
に依存し、トランジスタ４０のコレクタ電流が全
てトランジスタ４２を経て流れるときに最大にな
る。抵抗６８を差動増幅器１００の入力端子９０
に接続する代りに該増幅器の入力端子９１に接続
することもできる。この場合には反対極性の補正
が行なわれる。
第４図に示す実施例では、測定精度を更に高め
ることができる。本例は第３図の例と次の３点が
相違する。試験端子８１と出力端子１３との間の
抵抗４８は可変抵抗である。差動増幅器１００の
入力端子９０と抵抗７０との間の抵抗６８も可変
抵抗である。抵抗６１と可変抵抗６０の直列接続
を第２供給電圧点（＋）と抵抗５０及び５１の共
通接続点との間に設ける。抵抗６０は第１供給電
圧点（０）に接続して反対極性の補正を生ずるよ
うにすることもできる。抵抗６０及び６１の接続
点をコンデンサ６３を経て第１供給電圧点（０）
に接続する。上記３個の可変抵抗４８，６０及び
６８を用いて電流計８の読みの偏差を第５図に示
すように制御増幅器の制御レンジ内の３点におい
て零にすることができる。例えば、電流計の偏差
を第５図に示すようにこの制御レンジの始点、終
点及び中心点で零にすることができる。尚、第５
図においては制御増幅器４の利得Ｖを水平軸上に
dB単位でプロツトし、計器補正値Ａを垂直軸上
にdB単位でブロツトしてある。
ることができる。本例は第３図の例と次の３点が
相違する。試験端子８１と出力端子１３との間の
抵抗４８は可変抵抗である。差動増幅器１００の
入力端子９０と抵抗７０との間の抵抗６８も可変
抵抗である。抵抗６１と可変抵抗６０の直列接続
を第２供給電圧点（＋）と抵抗５０及び５１の共
通接続点との間に設ける。抵抗６０は第１供給電
圧点（０）に接続して反対極性の補正を生ずるよ
うにすることもできる。抵抗６０及び６１の接続
点をコンデンサ６３を経て第１供給電圧点（０）
に接続する。上記３個の可変抵抗４８，６０及び
６８を用いて電流計８の読みの偏差を第５図に示
すように制御増幅器の制御レンジ内の３点におい
て零にすることができる。例えば、電流計の偏差
を第５図に示すようにこの制御レンジの始点、終
点及び中心点で零にすることができる。尚、第５
図においては制御増幅器４の利得Ｖを水平軸上に
dB単位でプロツトし、計器補正値Ａを垂直軸上
にdB単位でブロツトしてある。
第１図は本発明光受信機の基本回路図、第２図
は本発明光受信機の第１の実施例の回路図、第３
図は本発明光受信機の第２の実施例の回路図、第
４図は本発明光受信機の第３の実施例の回路図、
第５図は第４図の回路で実現される測定特性図を
示すグラフである。 １……ホトダイオード、２……バイアス回路、
３……前置増幅器、４……制御増幅器、５……出
力増幅器、６……検出器、７……基準電圧源、８
……電流計、９……差動増幅器、１０，１２，１
３……制御増幅器４の制御入力端子、信号入力端
子、出力端子、１４……光受信機出力端子、４０
……可調整直流電流源、４００……電流分配器、
４０１……加算回路、１２０，１３０……第１、
第２コンデンサ、４８……第１抵抗、４９……減
結合コンデンサ、８１……試験端子、４１，４
２，４０……第１、第２、第３トランジスタ、４
７，４６……第２、第３抵抗、１１０……基準電
圧源、５６，５５……第１、第２ストツパ抵抗、
５７，５８……第３、第４コンデンサ、４７，５
１，４６，５２……第２、第３、第４、第５抵
抗、５０……第６抵抗、４８……第７抵抗、８
０，８１……第１、第２試験端子、５３，４９…
…第６、第７コンデンサ、６６……第８抵抗、６
５……第９抵抗、１００……差動増幅器、１０１
……基準電圧源、６８，７０……第10，第11抵
抗、６０，６１……第12、第13抵抗、６３……第
８コンデンサ。
は本発明光受信機の第１の実施例の回路図、第３
図は本発明光受信機の第２の実施例の回路図、第
４図は本発明光受信機の第３の実施例の回路図、
第５図は第４図の回路で実現される測定特性図を
示すグラフである。 １……ホトダイオード、２……バイアス回路、
３……前置増幅器、４……制御増幅器、５……出
力増幅器、６……検出器、７……基準電圧源、８
……電流計、９……差動増幅器、１０，１２，１
３……制御増幅器４の制御入力端子、信号入力端
子、出力端子、１４……光受信機出力端子、４０
……可調整直流電流源、４００……電流分配器、
４０１……加算回路、１２０，１３０……第１、
第２コンデンサ、４８……第１抵抗、４９……減
結合コンデンサ、８１……試験端子、４１，４
２，４０……第１、第２、第３トランジスタ、４
７，４６……第２、第３抵抗、１１０……基準電
圧源、５６，５５……第１、第２ストツパ抵抗、
５７，５８……第３、第４コンデンサ、４７，５
１，４６，５２……第２、第３、第４、第５抵
抗、５０……第６抵抗、４８……第７抵抗、８
０，８１……第１、第２試験端子、５３，４９…
…第６、第７コンデンサ、６６……第８抵抗、６
５……第９抵抗、１００……差動増幅器、１０１
……基準電圧源、６８，７０……第10，第11抵
抗、６０，６１……第12、第13抵抗、６３……第
８コンデンサ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ バイアス回路に接続されたホトダイオードを
具えると共に該ホトダイオードと出力端子との間
に前置増幅器と制御増幅器と出力増幅器の直列接
続を具え、その出力増幅器の出力端子を検出器を
経て、基準電圧源に他方の入力端子が接続された
差動増幅器の一方の入力端子に接続し、該差動増
幅器の出力端子を前記制御増幅器の制御入力端子
に接続して成る光受信機において、 前記制御増幅器は２つの出力端子と１つの信号
入力端子と１つの制御入力端子を有する可制御電
流分配器と、２つの入力端子と１つの出力端子を
有する加算回路とを具え、前記電流分配器の第１
出力端子の電流を第１信号路を経て前記加算回路
の第１入力端子に、前記電流分配器の第２出力端
子の電流を第２信号路を経て前記加算回路の第２
入力端子にそれぞれ結合すると共に、前記第１信
号路と前記第２信号路の電流伝達係数を互に所定
値だけ相違させ、前記電流分配器の信号入力端子
を可調整電流源に接続すると共に第１コンデンサ
を経て前記前置増幅器の出力端子にも接続し、前
記電流分配器の制御入力端子を前記差動増幅器の
出力端子に結合して該差動増幅器の出力信号が前
記電流分配器の第１及び第２出力端子の電流間の
比を制御するようにし、前記加算回路の出力端子
を第２コンデンサを経て前記出力増幅器の入力端
子に接続し、更に第１抵抗を経て前記加算回路の
出力端子に接続され且つ減結合コンデンサを経て
定電位点に接続された試験端子を設け、この試験
端子に前記フオトダイオードの受信信号の入力レ
ベルを測定する手段を結合し得るように構成して
あることを特徴とする光受信機。 ２ 特許請求の範囲１記載の光受信機において、
前記電流分配器はエミツタを相互接続した第１及
び第２トランジスタで構成し、その相互接続エミ
ツタを第３トランジスタのコレクタ−エミツタ通
路を経て第１供給電圧点に接続し、該第３トラン
ジスタのベースをもつて前記制御増幅器の信号入
力端子を構成し、前記第１トランジスタのベース
をもつて前記制御増幅器の制御入力端子を構成
し、前記第２トランジスタのコレクタ回路内に第
２及び第３の２個の抵抗から成る分圧器を設ける
と共に前記第１トランジスタのコレクタを該分圧
器の一点に接続して前記加算回路を構成し、前記
第２トランジスタのコレクタをもつて前記加算回
路の出力端子を構成したことを特徴とする光受信
機。 ３ 特許請求の範囲２記載の光受信機において、
前記分圧器は第２、第３、第４および第５の抵抗
の直列接続回路で構成し、前記第１トランジスタ
のベースを第１ストツパ抵抗を経て前記制御入力
端子に接続し、前記第２トランジスタのベースを
第２ストツパ抵抗を経て基準電圧源に接続し、前
記第１トランジスタのコレクタを第４コンデンサ
を経て該基準電圧源に接続すると共に第６抵抗を
経て前記分圧器の第３及び第４抵抗の共通接続点
にも接続し、且つ前記制御入力端子を第５コンデ
ンサを経て前記分圧器の第２及び第３抵抗の共通
接続点に接続したことを特徴とする光受信機。 ４ 特許請求の範囲２または３記載の光受信機に
おいて、前記第２トランジスタのコレクタと前記
分圧器との間に第７抵抗と第１及び第２試験端子
を直列に設け、該第１及び第２試験端子は第６及
び第７コンデンサを経て第１供給電圧点に接続
し、該第１試験端子は更に第８抵抗を経て差動増
幅器の第１入力端子に接続し、該差動増幅器の第
２入力端子は第９抵抗及び基準電圧源を経て第２
供給電圧点に接続し、該差動増幅器の第２入力端
子と前記第２トランジスタのコレクタとの間に第
10及び第11抵抗の直列接続を設け、且つ該差動増
幅器の出力端子を前記第３トランジスタのベース
に結合したことを特徴とする光受信機。 ５ 特許請求の範囲４記載の光受信機において、
前記差動増幅器の第２入力端子に接続された第10
抵抗及び第２試験端子に接続された第７抵抗を可
変抵抗とし、前記第１トランジスタのコレクタ回
路内の第６抵抗を第12抵抗及び第13可変抵抗を経
て第２供給電圧点に接続し、該第12及び第13抵抗
の共通接続点を第８コンデンサを経て第１供給電
圧点に接続したことを特徴とする光受信機。
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| NL8100929A NL8100929A (nl) | 1981-02-26 | 1981-02-26 | Optische ontvanger. |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57157646A JPS57157646A (en) | 1982-09-29 |
| JPH03818B2 true JPH03818B2 (ja) | 1991-01-09 |
Family
ID=19837073
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57026897A Granted JPS57157646A (en) | 1981-02-26 | 1982-02-23 | Light reciever |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4467192A (ja) |
| JP (1) | JPS57157646A (ja) |
| CA (1) | CA1180080A (ja) |
| DE (1) | DE3205777A1 (ja) |
| FR (1) | FR2500696A1 (ja) |
| GB (1) | GB2094087B (ja) |
| NL (1) | NL8100929A (ja) |
Families Citing this family (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2122447B (en) * | 1982-06-17 | 1985-11-13 | Standard Telephones Cables Ltd | Optical receiver |
| DE3224425A1 (de) * | 1982-06-30 | 1984-01-05 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Bussystem mit lichtwellenleitern |
| GB8318633D0 (en) * | 1983-07-09 | 1983-08-10 | Lucas Ind Plc | Automatic multiplex system |
| US4797556A (en) * | 1986-03-21 | 1989-01-10 | Amp Incorporated | Optical continuity testing apparatus with pulsating transmitter |
| GB2194111A (en) * | 1986-07-18 | 1988-02-24 | Gen Electric Plc | Optical signal receiver circuits |
| NL8602409A (nl) * | 1986-09-24 | 1988-04-18 | Philips Nv | Regelbare versterker. |
| JPH02209029A (ja) * | 1989-02-09 | 1990-08-20 | Toshiba Corp | 自動利得制御装置 |
| DE4041203A1 (de) * | 1990-12-21 | 1992-06-25 | Licentia Gmbh | Schaltungsanordnung |
| JP3207240B2 (ja) * | 1992-04-10 | 2001-09-10 | キヤノン株式会社 | フォトダイオードのバイアス回路 |
| US5270533A (en) * | 1992-06-23 | 1993-12-14 | Smiths Industries | Stabilization biasing circuit for avalanche photodiodes |
| JPH10200342A (ja) * | 1997-01-07 | 1998-07-31 | Nec Corp | バイアス電圧供給回路 |
| US20030011425A1 (en) * | 2001-07-12 | 2003-01-16 | Em Microelectronics - Us Inc. | Injection current test circuit |
| JP3857099B2 (ja) * | 2001-10-09 | 2006-12-13 | 株式会社アドバンテスト | データ伝送装置、光電変換回路、及び試験装置 |
| JP4908223B2 (ja) * | 2004-09-28 | 2012-04-04 | ローム株式会社 | 受信装置およびそれを用いた電子機器 |
| US9912302B2 (en) * | 2015-01-20 | 2018-03-06 | Sensors Unlimited, Inc. | Pulse detection amplifier |
| USD1018228S1 (en) * | 2023-10-24 | 2024-03-19 | Ruihong Lin | Connector for a pole saw |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE1283714B (de) * | 1966-11-16 | 1968-11-21 | Grundig Emv | Vorrichtung zur Umwandlung modulierten Lichts durch fotoelektrische Bauelemente bei gleichzeitiger Stoerlichteinwirkung |
| DE2529479C3 (de) * | 1975-07-02 | 1979-12-06 | Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt | Schaltungsanordnung zur Stabilisierung, insbesondere Temperaturstabilisierung, eines optischen Empfängers |
| JPS5245242A (en) * | 1975-10-08 | 1977-04-09 | Hitachi Ltd | Automatic gain control circuit |
| US4019048A (en) * | 1976-03-22 | 1977-04-19 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Regenerator for an optical transmission system |
| US4051363A (en) * | 1976-03-24 | 1977-09-27 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Split-path receiver for fiber optics application |
| DE2811726C2 (de) * | 1978-03-17 | 1980-03-20 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen | Empfänger für Lichtimpulse |
| US4234253A (en) * | 1979-04-26 | 1980-11-18 | Mcdonnell Douglas Corporation | Attenuation measuring system |
-
1981
- 1981-02-26 NL NL8100929A patent/NL8100929A/nl not_active Application Discontinuation
-
1982
- 1982-02-08 US US06/346,704 patent/US4467192A/en not_active Expired - Fee Related
- 1982-02-18 DE DE19823205777 patent/DE3205777A1/de not_active Ceased
- 1982-02-22 GB GB8205161A patent/GB2094087B/en not_active Expired
- 1982-02-22 FR FR8202862A patent/FR2500696A1/fr active Granted
- 1982-02-23 JP JP57026897A patent/JPS57157646A/ja active Granted
- 1982-02-25 CA CA000397120A patent/CA1180080A/en not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| GB2094087B (en) | 1984-10-31 |
| JPS57157646A (en) | 1982-09-29 |
| FR2500696A1 (fr) | 1982-08-27 |
| CA1180080A (en) | 1984-12-27 |
| GB2094087A (en) | 1982-09-08 |
| FR2500696B1 (ja) | 1985-03-08 |
| NL8100929A (nl) | 1982-09-16 |
| US4467192A (en) | 1984-08-21 |
| DE3205777A1 (de) | 1982-10-28 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH03818B2 (ja) | ||
| US6856126B2 (en) | Differential voltage probe | |
| US4070572A (en) | Linear signal isolator and calibration circuit for electronic current transformer | |
| US3772514A (en) | Isolation amplifier | |
| US3530395A (en) | Differential amplifier system | |
| US5521555A (en) | Ultra low noise optical receiver | |
| JPH06188657A (ja) | 自動利得制御回路に指数関数段を接続する回路，自動利得制御回路及び温度補償回路 | |
| US6603110B2 (en) | Temperature compensating circuit, temperature compensating logarithm conversion circuit and light receiver | |
| GB2242984A (en) | Temperature compensated power detector circuit | |
| EP0609018B1 (en) | Apparatus for measuring optical power in an optical receiver or the like | |
| US4626678A (en) | Light detecting circuit | |
| US7436165B2 (en) | Device for measuring very short current pulses | |
| US4126825A (en) | Electronic current transducer for high voltage transmission lines | |
| US4565935A (en) | Logarithmic converter circuit arrangements | |
| CA1310368C (en) | Circuit element measuring apparatus | |
| US4528499A (en) | Modified bridge circuit for measurement purposes | |
| US4559507A (en) | Controlled hybrid microcircuit oscillator | |
| US20030025485A1 (en) | Two path wide-band probe using pole-zero cancellation | |
| JPS63146505A (ja) | バイアス増幅器 | |
| US3273060A (en) | Expanded scale ammeter including a bridge biased transistor differential amplifier | |
| US4733173A (en) | Electronic component measurement apparatus | |
| US3408570A (en) | Wide scale indicator for weak current amplitudes within a predetermined range above a minimum amplitude | |
| CN113804959B (zh) | 基于跨阻放大的高精度高速微弱电流测量电路及测量方法 | |
| JP3190429B2 (ja) | 平衡電圧測定装置および平衡電圧測定方法 | |
| US3536996A (en) | Bridge circuit for measuring audio line impedance |