JPH0378657B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は故障診断辞書圧縮方法、特にデイジタ
ル電子回路の故障を検出する入力パタン系列か
ら、故障点に対応する出力パタン系列を求めて、
この出力パタン系列を圧縮して診断辞書を作成す
るための故障診断辞書圧縮方法に関する。

（従来の技術） 従来、プリント基板上等に組立てられたデイジ
タル電子回路の故障診断の一つの方法として、計
算機を使用してデイジタル回路の故障点を検出す
る入力パタン系列と、この故障点に対応する出力
パタン系列を求めて、出力パタン系列を圧縮し、
故障点と圧縮したデータとを対応づける表を作成
しておいて、故障診断試験機に接続された被試験
回路である故障電子回路に、上記と同じ入力パタ
ン系列を入力して得られる正常パタンと異なる出
力パタン系列を圧縮し、これを上記の対応づけし
た表から検索して故障点を指適する手法がとられ
ている。こゝで入力パタン系列とは、デイジタル
電子回路の複数の入力端子に同時に加える信号の
パタンを入力パタンと呼び、この入力パタンを時
系列に並べたものをいう。また出力パタン系列と
は、入力パタンに対応して複数の出力端子に同時
に現れる信号のパタンを出力パタンと呼び、出力
パタンを入力パタン系列と同じ時系列に並べたも
のをいう。

次に前記の故障点と圧縮したデータとを対応づ
ける表、すなわち圧縮した故障診断辞書の作成法
について更に詳細に説明する。

まず計算機に従来から使用されているデイジタ
ル回路の自動テストパタン発生プログラムと、設
計情報として作られた被試験デイジタル回路の接
続情報等とが与えられる。その結果、全ての回路
素子の入出力ポイントが論理値“０”か“１”に
固定される故障に対象にした故障点（論理値
“０”と“１”とで２点となる）のロケーシヨン
に故障番号を付した対応リスト（故障ロケーシヨ
ンリストという）と、それぞれの入力パタンにパ
タン番号を付した入力パタン系列とが得られる。
次に、この被試験デイジタル回路の接続情報等が
与えられた計算機に、入力パタン系列を与えて動
作シユミレーシヨンを行なう。この結果、１つの
入力パタンに対して、まず正常時の出力パタンを
出力し、パタン番号と対にして記憶すると共に、
次に故障を与えた故障点を故障番号順に遂次変え
て出力パタンを出力させ、正常時の出力パタンと
異なるもののみ抽出する。このとき一般にはデー
タの厖大化を避けるため、パタン番号と故障番号
と出力パタンの異なつたビツト位置（観測点とい
う）のみとが記憶される。以上の手順を入力パタ
ン系列の総てについて実施することにより、全故
障情報のリストを入手することができる。

次いで、この全故障情報リストから診断辞書を
作成するには、まず１つの故障点について出力を
みた観測点を、先に得た正常時の出力パタンを用
いて、パタン番号順に故障時の出力パタンに戻し
て、出力パタン系列を作成する。次にこの出力パ
タン系列を、例えばCCITT勧告の16ビツト巡回
符号生成多項式により巡回符号演算を行なつて、
その結果16ビツト長の剰余を得て、これを圧縮デ
ータとしている。更にこの手順を故障点の総てに
ついて行ない、総ての故障点に対応する圧縮デー
タを得ると共に、故障ロケーシヨンリスト対比し
て、故障ロケーシヨンと故障圧縮データとの対応
した診断辞書を完成している。

（発明が解決しようとする問題点） しかしながら、上記に述べた従来の圧縮データ
の作成においては、全故障情報リストから１つの
故障点ごとに、その故障点に対応する観測点とそ
のパタン番号を集めて、出力パタン系列を求めて
いる。従つて故障点ごとに全故障情報リストのソ
ーテングを行なう必要があり、更に得られた長大
な出力パタン系列に巡回符号演算を行なうことに
なり、多大の計算機設備と多くの処理時間とを必
要とする欠点を有している。本発明の目的は上記
の欠点を除去し、出力パタンごとに巡回符号演算
を施し、剰余ビツトを故障点対応に一時記憶する
メモリエリアを設けることにより、小間切れ演算
で圧縮データを作成するものである。

（問題点を解決するための手段） 本来、巡回符号演算により剰余ビツトを求める
には、論理値“０”および“１”で表わされたＫ
ビツトの原情報データを、ｋ−１次のｘを変数と
する多項式Ｍ（ｘ）と考え、xn・Ｍ（ｘ）をｎ次
の生成多項式Ｇ（ｘ）で割算を行ない（ｎ−１）
次のｎビツトの剰余を得るものである。このとき
特定の２モード加算則が定義されているが、一般
の四則算と同じように割算が行なわれる。即ち、
まず多項式xn・Ｍ（ｘ）のｋ−１次以上について
Ｇ（ｘ）で割算を行ない、その剰余とxn・Ｍ（ｘ）
のｋ−２次項との１次結合を作り、再びＧ（ｘ）
で割るという計算を、１次結合の最高次がｎ次に
なるまで行なつて、剰余を求めている。本発明で
はこの計算法を有効に利用するもので、１故障点
に対応する出力パタンが、全故障情報リストから
パタン番号順に従つて見い出されると、巡回符号
演算を施し、その剰余を一時保留しておいて、そ
の剰余と次に見出された同一故障点の出力パタン
との一次結合をとり再び巡回符号演算を行ない、
得られた剰余を再度一時保留して、この様な計算
を最終に見出した出力パタンまで実施し、最終の
剰余、即ち圧縮データを得るもので、各故障点に
対応する剰余を一時保留するメモリを予め準備す
ることにより、全圧縮データを並列に得ることが
できる。即ち本発明は、計算機を構成するメモリ
上に故障点ごとに対応した巡回符号演算の剰余ビ
ツト長からなる剰余格納エリアを設け、入力パタ
ン系列の入力パタン順に得られる故障点に対応し
た出力パタンに巡回符号演算を施し、その剰余ビ
ツトを前記剰余格納エリアの故障点に対応するエ
リアに記憶し、次に同じ故障点に対応して得られ
る出力パタンと前記剰余格納エリアに記憶された
剰余ビツトとの一次結合をとり、この剰余ビツト
を前の剰余ビツトに代えて前記剰余格納エリアに
記憶させることを出力パタン系列の最終出力パタ
ンまで繰返して得られた剰余ビツトを圧縮データ
とすることにより構成される。

（実施例） 以下、本発明の実施例について図面を参照して
詳細に説明する。第１図は本発明の処理を行なう
計算機の一例を示すブロツク図で、中央処理装置
１がメモリ２、磁気テープ３および印字装置４と
バス５を介して接続されていて、通常の計算処理
が行なえるようになつている。第２図はメモリ２
に予め巡回符号演算の剰余を記憶する剰余格納エ
リアを割当てた一実施例を示すメモリ割当図であ
る。この剰余格納エリアは後述の全故障番号と、
この故障番号と対に上記の剰余とを記憶するよう
に構成されている。第３図は第１図の計算機を用
いて故障診断辞書を生成する本発明の一実施例の
フローチヤートである。第４図ａ，ｂおよびｃの
各リストは被試験デイジタル回路の動作シユミレ
ーシヨンにおいて得られるもので、ａの故障ロケ
ーシヨンリストには被試験回路の全ての回路素子
の入出力ポイントの故障を対象にした故障点に付
した番号（故障番号１〜Ｍ）とそのロケーシヨン
が示されている。またｂの正常被試験回路の出力
パタン系列には、入力パタン系列の各入力パタン
の番号（パタン番号１〜Ｎ）と正常被試験回路に
入力パタンを加えたときの出力パタンとが組にし
て示されている。なおまた、ｃの故障情報リスト
は故障シユミレーシヨンにより得られたもので、
パタン番号と、その入力パタンで得た観測点と、
その時の故障番号とが組として示されている。処
理上パタン番号を第１配列とし、故障番号が第２
配列として並べられている。なお各リスト図の内
容欄に示した番号は一例として記したものであ
り、ａ，ｂおよびｃは共に第１図の磁気テープ３
を介して計算機内に読込まれる。第４図ｄは第１
図の印字装置４から出力される故障診断辞書の一
形式を示す。

次に第３図のフローチヤートに従つて第２図お
よび第３図を参照して処理の説明を進めると、処
理は第４図ｂに示されるパタン番号順に行なわ
れ、第１パタンであれば（ステツプ）、同図ｂ
の正常時の出力パタンが取出され（ステツプ）、
この第１パタンに対して未処理の故障番号の有無
判断を行なう（ステツプ）。最初であれば必ず
有る筈で、次に未処理の故障番号と観測点を取出
す（ステツプ）。次に、ステツプで取出した
正常出力パタンと観測点から故障回路の出力パタ
ンを生成する（ステツプ）。次に、剰余格納エ
リアの処理中の故障番号のエリアの剰余を取出
し、出力パタンの先頭に付し一次結合を作成する
（ステツプ）。この時初回であれば剰余は０であ
る。次に、この一次結合されたデータを予め定め
られた生成多項式、例えばCCITT観告16ビツト
巡回符号生成多項式のコードを用いて巡回符号演
算を行なう（ステツプ）。次に、ステツプで
得られた剰余（16ビツト）を剰余格納エリアの先
に取出したエリアに前に記憶された剰余に代えて
格納する（ステツプ）。次に再びステツプに
戻り次の故障番号と観測点の組について、ステツ
プまでの処理を行なう。この処理を繰返し、ス
テツプにおいて処理中のパタン番号に対する故
障番号と観測点の組がなくなると、ステツプに
戻り、改めて次のパタン番号の処理に移る（ステ
ツプ〜）。以上の処理が繰返されて次に行な
うパタン番号がなくなつた時点では剰余格納エリ
アの総ての故障番号１〜Ｍに対応して剰余が格納
されている。次にこの剰余格納エリアと第４図ａ
故障ロケーシヨンリストから、剰余即ち圧縮され
た診断データとロケーシヨンとの対応である第４
図ｄの故障診断辞書が生成される（ステツプ）。

（発明の効果） 以上詳細に説明したとおり、本発明によればデ
イジタル電子回路の故障点に対応する出力パタン
系列から圧縮された故障診断辞書を作成する場合
に、計算機のメモリにワークエリアとして、全故
障番号と巡回符号演算の剰余ビツトとの組を格納
する剰余格納エリアを設けることにより、複数な
ソーテング等を行なうことなく、正常被試験回路
の出力パタン、故障情報リストを遂次読込んで演
算、格納処理を繰返して行なうことで圧縮データ
が得られ、次いで故障ロケーシヨンリストを遂次
読込んで対応を取るだけで、故障診断辞書を作成
することができると云う効果がある。因みに100
ゲート相当の集積回路素子を50個搭載した中規模
電子回路の故障点は、少なくとも5000、入力パタ
ン数が1000、１つの故障点に対応する出力パタン
系列のデータが10000にも及び、扱う総データ量
は10⁸ビツト程度にもなるので、遂次処理のみで
済むことは処理上極めて有理である。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の処理を行なう計算機の一例を
示すブロツク図、第２図は第１図の計算機のメモ
リ上に割当てる剰余格納エリアの割当図、第３図
は本発明の一実施例を示すフローチヤート、第４
図ａ，ｂ，ｃおよびｄはそれぞれ故障ロケーシヨ
ンリスト、正常被試験回路の出力パタン系列、故
障情報リストおよび故障診断辞書の一例を示す構
成図である。 １……中央処理装置（CPU）、２……メモリ
（MEM）、３……磁気テープ（MT）、４……印字
装置（PT）。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ デイジタル電子回路の故障を検出する入力パ
   タン系列から故障点に対応する出力パタン系列を
   求めて、この出力パタン系列に巡回符号演算を施
   すことにより圧縮した診断辞書を作成する圧縮方
   法において、計算機を構成するメモリ上に故障点
   ごとに対応する巡回符号演算の剰余ビツト長から
   なる剰余格納エリアを設け、入力パタン系列の入
   力パタン順に得られる故障点に対応した出力パタ
   ンに巡回符号演算を施し、その剰余ビツトを前記
   剰余格納エリアの故障点に対応するエリアに記憶
   し、次に同じ故障点に対応して得られる出力パタ
   ンと前記剰余格納エリアに記憶された剰余ビツト
   との一次結合をとり、この一次結合に巡回符号演
   算を施し、この剰余ビツトを前の剰余ビツトに代
   えて前記剰余格納エリアに記憶させることを出力
   パタン系列の最終出力パタンまで繰返して得られ
   た剰余ビツトを圧縮データとすることを特徴とす
   る故障診断辞書圧縮方法。