JPH0369012A - 磁気記録媒体及びその製造方法 - Google Patents

磁気記録媒体及びその製造方法

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JPH0369012A
JPH0369012A JP20311789A JP20311789A JPH0369012A JP H0369012 A JPH0369012 A JP H0369012A JP 20311789 A JP20311789 A JP 20311789A JP 20311789 A JP20311789 A JP 20311789A JP H0369012 A JPH0369012 A JP H0369012A
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JP
Japan
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magnetic recording
film
carbon
medium layer
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JP20311789A
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English (en)
Inventor
Tomoji Morita
森田 知二
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、例えば、磁気ディスク装置に使用される磁
気記録媒体及びその製造方法に関するものである。
[従来の技術] 近年、コンピュータシステムにおける磁気ディスク装置
などの外部記憶装置の重要性が増大し、高記録密度に対
する要求が高まっている。磁気ディスク装置は記録再生
ヘッド及び磁気ディスクのt構成部から構成されている
。iB気ディスクは高速で回転し、記録再生ヘッド、即
ち磁気ヘッドは磁気ディスクより微小間隔で浮ヒしてい
る。磁気ディスクの高記録密度化、及び高性能化を図る
ためには、磁気記録媒体の薄層化、均一−−様化、保磁
力や角形比の向上などの磁気特性の改良、磁気ヘッドの
低浮上化などが挙げられる。
これまで、磁気ディスクは塗布形といい、バインダーな
どの高分子材料とγ−Fe*Os磁気記録媒体粒子を混
合して塗布して製作していた。しかしこの方法では、磁
気記録媒体のi11層化、均一−−一様化に限界がある
。このため最近では、磁気記録媒体をスパッタリングな
どの方法により連続薄膜として基材に設けるようになっ
てきた。
現在、磁気ディスク装置では、起動及び停止時に磁気デ
ィスクと磁気ヘッドが接触するコンタクト・スタート・
ストップ(CSS)方式を採用しており、起動及び停止
時には磁気ヘッドと磁気ディスク表面が接触したまま回
転する。この接触摩擦状態における磁気ヘッドと磁気デ
ィスクの間に生じる摩擦力は、磁気ヘッドと磁気ディス
ク表面を厚比させ、ついには磁気ヘッド及び磁気記録媒
体層に傷を作ることがある。磁気記録媒体に連続薄膜を
用いた場合、わずかな傷であっても記録媒体の欠如とな
り、記録信号の消失につながる。このことは、磁気ディ
スク装置の外部記憶装置としての信頼性に関わる重大な
問題である。
そこで、磁気ヘッドと磁気記録媒体との接触摩擦及び接
触破壊から磁気記録媒体を保護するために、磁気ディス
クの表面にSift膜、カーボン膜、Altos膜のよ
うな保護膜を設けることが提案されている1例えば、第
8回日本応用磁気学会学術講演概要集(1984年11
月)、第222頁、「磁気ディスク用カーボン保護膜」
(田子章男他):昭和61年度電子通信学会総合全国大
会予稿集(1986年)、第1−166頁、「磁気ディ
スク用酸化物保護膜の検討」 (本町良弘他)二日本潤
滑学会第30期存期研究発表会予稿’J(+91’!6
年)、第141頁(刈本博保他)などに記載されている
。また、磁気記録媒体が金属の場合、この保護膜は金属
膜の腐食を防ぐ保護も兼ねる役目がある。
[発明が解決しようとする課題] 従来のスパッタリングなどによって成膜される酸化膜や
カーボン膜は、強度的には優れたものができる(例えば
、昭和61年度電子通信学会総合全国大会予稿集(19
86年)、第[−166頁、「磁気ディスク用酸化物保
護膜の検討」 (本町良弘他)参照)、シかし、多くの
学会発表例にみられるようなSift膜、Altos膜
などの保護膜では、硬いが脆く潤滑性能をほとんど有し
ないという問題点があった。即ち、保、JPA単独では
摩擦力が非常に大きく磁気ディスクの耐久性を満足でき
ないため、液体潤滑剤をさらに保護膜」、に塗布して使
用せざるを得す、この液体潤滑剤によるヘッド吸着が生
じるという問題点があった。また、カーボン膜ではこれ
ら酸化膜に比べて潤滑性が若干高いが、硬いヘッドスラ
イダに対しては削れてしまい、潤滑剤を使用している例
が多い。
この発明は上記のような問題点を解決するためのなされ
たもので、磁気ヘッドによる磁気ディスクへの損傷を防
ぎ、保護膜の剥離を防止でき、かつ潤滑性を有する保護
膜を形成して、信頼性の高い磁気記録媒体及びその製造
方法を得ることを目的とする。
[課題を解決するための手段] この発明に係る磁気記録媒体は、基Hに設けた磁気記録
媒体層、及び磁気記録媒体層に100〜1000人の厚
さで設けた。#2素を含有するAl−Si合金保護潤滑
膜を備えたことものである。
また、この発明の別の発明に係る磁気記録媒体の製造方
法は、炭化水素系ガス雰囲気あるいはフッ素化炭素ガス
雰囲気で、磁気記録媒体層が設けられた基Hにクラスタ
ーイオンビーム法を弛し、磁気記録媒体層に100〜1
000人の厚さで炭素を含有するAI −Si合金保護
潤滑膜を形成したものである。
また、この発明のさらに別の発明に係る磁気記録媒体の
製造方法は、炭化水素ガスイオン源あるいはフッ素化炭
素ガスイオン源によって励起、解離及びイオン化した雰
囲気で、磁気記録媒体層が設けられた基材にクラスター
イオンビーム法を施し、磁気記録媒体層に100〜10
00Åの厚さで炭素を含有するAl−Si合金保護潤滑
膜を形成したものである。
[作用] この発明に係る磁気記録媒体は、表面に硬度と潤滑性に
富む炭素を含むAl−Si合金保護潤滑膜を設けること
により、磁気ディスク表面の保護膜の耐久性が従来の酸
化アルミニウムなど酸化物膜やカーボン膜に比べ格段に
強化され、信頼性が増加する。
[実施例] 以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図はこの発明の・一実施例による磁気記録媒体としての
磁気ディスクを示す断面図である。
図において、(1)はAl−Mg合金基材、(2)は磁
気記録媒体層の下地層、(3)は磁気記録媒体層、(4
)は炭素を含有したAl−Si合金保護潤滑膜である。
Al−Mg合金基材(1)の表面にN1−PあるいはN
1−Cu−Pメツキ膜を下地層(2)として成膜し鏡面
加工する。この基Hに対して、テープ研磨機を用い、ラ
ッピングテープW A # 6000、押し圧IKg、
基板回転数200rpm、テープ送り速度20mm/w
inの条件でテクスチャ加工を行った。この加J二によ
りRmax 500 A程度の基材(1)が得られる。
実施例1 上記に示した基材(+)に磁気記録媒体層(3)として
、γ−Fetusをスパッタリング法により成膜した。
さらに、この磁気記録媒体層(3)の上に保護潤滑膜(
4)を以下のような方法で形成した。 Al−Si合金
のターゲットと炭素のターゲットの2 fllをスパッ
タ装置内に配置し、スパッタリング法により磁気記録媒
体層(3)上にAl−Si合金と炭素を文′I′Lにシ
ャッタを開閉して積層した。この侍、磁気デ、fスク基
板を回転して積層させて成膜してちまい。Al−Si合
金ターゲ・ノドのSi含有量は11.7原子%である。
炭素ターゲットはグラフフィトの焼結体を用いた。スパ
ッタ条件はRFパワーを300W/8インチ、A「圧力
3 mTorrで基板加熱は150℃にした。Al−S
iの膜厚は50(+入であった。炭素の含イイ率は20
原子%であった。
実施例2 1、記に示した基材(1)に磁気記録媒体層(3)とし
て、C0−Ni−Crをスパッタリング法により成膜し
た。さらに、この磁気記録媒体層(3)のEに保護潤滑
膜(4)を以下のような方法で形成した。 Al−Si
合金のターゲットと炭素のターゲットを用いて、2充電
子ビーム蒸着により同時に成膜した。
Al−Si合金ターゲットのSi含有量は11.7原子
%である。炭素ターゲットはグラファイトの焼結体を用
いた。蒸着条件は加速電圧10kV、電流100mA 
基板温度150℃、Ar圧力1 mTorrにした。A
l−Si合金の膜厚は600Åであった。炭素の含有率
の制御は炭素ターゲットのシャッタの開閉によって行っ
た。供試ディスクのAI −Si!IQの炭素の含有率
は40原子%であった。
実施例3 L記に示した基材(+1に磁気記録媒体層(3) とし
て、Co−Ni−Crをスパッタリング法により成膜し
た。さらに、この磁気記録媒体層(3)の上に保護潤滑
膜(4)をCVD装置により形成した。 AI供給源と
してトリメチルアルミニウム(AI (C113) s
)、Si供給源としてシランガス(SiH4)、炭素供
給源としてメタンを用いた。基板な250℃に加熱し、
真空槽内を1.OX In−’Torr以下の真空度に
なるまで排気した後、反応性ガスとしてAI (C1(
,1,、シラン(SiH< )ガス、メタン(C1,)
ガスを導入した。
ガス流に比は、(AI) : (Si)  : (C)
 =6 : 3:lにし、全圧力を5X 10−’To
rrにした。さらにIFパワーをIW/c−にした。以
上のような条件で基板(11上に炭素を含有するAI 
−Si合金保護潤滑膜(4)を300人の膜厚で成膜し
た。この場合の酎−Si合金保護潤滑膜(4)中のSi
含グイ1績12原子%、炭素含有量は15原子%であっ
た。
実施例4 第2図は磁気記録媒体層(3)上に炭素を含有するAI
 −Si合金保護潤滑膜(4)を形成するために用いる
イオンビーム蒸着装置の一実施例の概要を示す構成内で
ある0図において、(5)はクラスターイオンビーム発
生源であり、蒸気発生a(51)、イオン化手段(52
) 、及びイオンビーム加速手段(53)等を備えてい
る。蒸気発生源(5I)は、ルツボ(51a) 、この
ルツボ(51a)に収容されたAI −Si合金等の蒸
着物質(51b)をイイしている。
(6) はガスイオンビーム発生源であり、例えばメタ
ン(CH,) 、エチレン(CtlL) 、CF4等を
含むガスなどの反応性ガスを噴射するガス噴射ノズル(
61) 、この噴射ノズル(61)から噴射した反応性
ガスを励起、解離及びイオン化するイオン化手G (6
2) 、このイオン化手段(62)によって生成したガ
スイオンを、磁気記録媒体層(3)が形成されたディス
ク基板(7)の方向に加速するイオンビーム加速量4 
(63) 、及びガスイオン源の内部をその回りの空間
よりも高いガス圧に保つシールド板(64)等を備えて
いる。また、イオン化手段(62)は電子ビーム引出し
電子4 (62a)と電子ビーム放出フィラメント(6
2b)を何している。このクラスターイオンビーム発生
源(5)、ガスイオンビーム発生源(6)及びディスク
基板(7)は、所定の真空度に保持された真空槽(図示
せず)内に納められている。
次に上記のように構成されたイオンビーム蒸着装置によ
り、炭素を含有するAl−Si合金保護潤滑膜(4)を
形成する場合について説明する。Al−Si合金は例え
ばSi含有1911.7原子%としている。
図示されていない真空排気系によって真空槽内が 1.
 OX 10−’Torr以下の真空度になるまで排気
した後、反応性ガスとしてのメタンガスをガス噴射ノズ
ル(61)より導入し、電子ビーム放出フィラメント(
62a)からガス噴射ノズル(61)の下°流に配置さ
れている電子ビーム引出し電W4(グリッド)  (6
2b)に電子を放出して、メタン(CH,)ガスを励起
、解離及びイオン化して非常に活性化された状態とする
。イオン化手段(62)とイオンビーム加速手段(63
)の間にバイアス電圧を印加して、イオンを引出しさら
に加速して、励起及び解離したメタン(CH,)ガスと
共に、ディスク基板(7)に照射する。一方、ルツボ(
51a)に充填された蒸着物質であるAl−Si合ft
(51b)を、蒸気発生1ll(51)内に設けられた
フィラメントにより加熱して、蒸気及びクラスターとし
て噴出させる。この蒸気及びクラスターは、イオン化手
段(52)で一部イオン化された後、イオンビーム加速
「0段(53)によって加速され、イオン化されていな
い中性の蒸気及びクラスターと共にディスク基板(7)
に運ばれ、ディスク基板(7)近傍に仔在する励起、解
離及びイオン化したメタンガスと化学反応を起こし、デ
ィスク基板(1)上に炭素を含有するAl−Si合金保
護潤滑膜(4)が形成される。
この実施例の場合、Al−Si合金保護潤滑膜(4)の
含有炭素量はzoRP%であり、膜厚は400八であっ
た。
比較例1 上記に示した基材(1)に磁気記録媒体層(3)として
、γ−Fearsをスパッタリング法により成膜した。
この磁気記録媒体層(3)の土に酸化アルミニウム膜を
スパッタリング法により成膜した。スパッタリング法の
条件はほぼ実施例1と同様である。酸化アルミニウムの
膜厚は500八にした。
比較例2 上記に示した基材(1)に磁気記録媒体層(3)として
、Co−Ni−Crをスパッタリング法により成膜した
。この磁気記録媒体層(3)の土にカーボン膜をスパッ
タリング法により成膜した。スパッタリングの条件はR
Fパワー3110 W75.26インチ、 Ar圧力5
 mTorrで基板加熱は行わなかった。
これらの比較例を含めた磁気ディスクの初期特性を表に
示す、実施例1.2.3.4による磁気ディスクと比較
例1.2による磁気ディスクの表面に、3370形フエ
ライトヘツトを接触させ静摩擦係数を測定した。実施例
1による磁気ディスクでは0.I8、実施例2による磁
気ディスクでは0.20、実施例3による磁気ディスク
では0.22、実施例4による磁気ディスクでは0.2
0、比較例1による磁気ディスクでは0.58、比較例
2による磁気ディスクでは019であった。比較例1を
除いて良好な特性を示した。
表 また、磁気ディスクの耐久試験であるC3S試験を行っ
た。ヘッドとしてはスライダ材料がサファイアである3
370形ヘツドを使用した。第3図はC5S試験を行っ
た結果を示しており、縦軸は初期再生出力を1とした規
格化再生出力、横軸はC8S回数(XIO’)をとっで
ある。図中○印を結ぶ線はこの発明の実施例I、2,3
.4によるディスクの場合、×印を結ぶ線は比較例1に
よるディスクの場合、Δ印を結ぶ線は比較例2によるデ
ィスクの場合を示している。
この発明の実施例【、2,3.4によるディスクの場合
には、C3S 20000回においても再生出力の低下
は認められなかった。これに対し、比較例1.2では当
初再生出力の低下は認められないものの、比較例1では
CS S 1500回前後から次第に再生出力が低トし
始め、C3S  10000回前後でヘッドクラッシュ
を起こした。比較例2ではヘッドクラッシュを起こさな
かったが、再生出力の低下が太きくC3812000回
では初期の50%になった、 以上のように、従来の保護膜では実現できなかった硬度
と潤滑性を備えた保護膜がこの実施例における炭素を含
有するAI  Si合金保護潤滑膜(4)によって達成
できた。
なお、Al−Si合金保護潤滑膜の膜厚は100人以f
fは均一・な膜にはなっておらず、1000人以−ヒで
は磁気ヘッドと磁気ディスクの磁気記録媒体までの距離
が広がりif¥生出力出力下するという悪影響が出てく
る。このため、Al−Si合金保護潤滑膜の膜厚は【0
0〜1000人が適している。特に成膜のしやすさ、均
一性、再生出力からは300〜800人が望ましい。
上記実施例ではAI −Si合金保護潤滑膜のSi含有
率は目〜12原子%の場合について説明したが、5〜3
0原子%の範囲であればよく上記実施例と同様の効果を
奏する。
また、上記実施例では炭素含有率が15原子%、20原
子%、40原子%の場合について説明したが、5〜50
原子%の範囲であればよく上記実施例と同様の効果を奏
する。
上記実施例では反応ガスとしてメタンの場合について説
明したが、他のエタン、エチレン、アセチレンなどの炭
化水素系ガス、CF4、ClIF5なとのフッ素化炭素
系ガス、ベンゼン、トルエンなどのス化しやすい炭化水
素系液体などであってもよく上記実施例と同様の効果を
奏する。
また、上記実施例では反応ガスとしてシランくSiHn
)ガスの場合に−)いて説明したが、他のテトラメチル
シラン(Si(CHa)4)−テトラエチルシランなど
の気体状、あるいは減圧状態で気体化するシリコン化合
物であってもよく、上記実施例と同様の効果を奏する。
上記実施例では磁気記録媒体がγ−Fe、O,の場合に
ついて説明したが、他のCr0tのような金属酸化物媒
体であってもよ< 、1−記実施例と同様の効果を奏す
る。
また、上記実施例では磁気記録媒体がCo−Ni−Cr
の場合について説明したが、他のCo−Ni、Go−C
r、 Co−P 、 Co−N1−P 、 Fe−N 
、 Fcなどの合金媒体、金属媒体であってもよ<−h
記実施例と同様の効果を奏する。
また、上記実施例ではN1−Pメツキ膜、N1−Cu−
Pメツキ膜の場合について説明したが、他のアルマイト
膜などであってもよく上記実施例と同様の効果を奏する
[′9S明の効果] 以にのように、この発明によれば、基Hに設けた磁気記
録媒体層、及び磁気記8媒体層に100〜1000入の
厚さで設けた、炭素を含有する酎−Si合金保護潤滑膜
を備えたことにより、磁気記録媒体を保護し、磁気ディ
スクと磁気へラドスライダ間の摩擦力を低く抑えること
ができ、十分に耐久性および信頼性の高い磁気記録媒体
が得られる効果がある。
また、この発明の別の発明によれば、炭化水素系ガス雰
囲気あるいはフッ素化炭素ガス雰聞気中で、磁気記録媒
体層が設けられた基材にクラスターイオンビーム法を施
し、磁気記録媒体層に100〜100DAの厚さで炭素
を含有するAl−Si合金保護潤滑膜金属合金を形成し
たことにより、十分に61久性および信頼性の高い磁気
記録媒体が得られる製造方法が提供できる効果がある。
また、この発明のさらに別の発明によれば、炭化水素ガ
スイオン源あるいはフッ素化炭素ガスイオン源によって
励起、解離及びイオン化した雰囲スで、fa rA記録
媒体層が設けられた基材にクラスターイオンビーム法を
施し、磁気記録媒体層に1no−111[10人の厚さ
で炭素を含44するAl−Si合金保護潤滑膜金属合金
を形成したことにより、十分に耐久性および信頼性の高
い磁気記録媒体が得られる製造方法が提供できる効果が
ある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例による磁気記録媒体を示す
断面図、第2図はその製造装置の一実施例を示す構成図
、第3図はこの発明により得られた磁気ディスクと、従
来の磁気ディスクそれぞれに加速試験を行った結果を示
し、C8S回数と再生出力の関係を示す特性図である。 (1)・・・Al−Mg合金基材、(3)・・・磁気記
録媒体層、(4)・・・炭素を含有するAl−Si合金
保護潤滑膜金属合金、(5)・・・クラスターイオンビ
ーム発生源、(6)・・・ガスイオンビーム発生源。 第2図 第 図 1:基材 2:磁気記録媒体層 3:炭素を含有したA/−Si合金 保護潤滑膜

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)基材に設けた磁気記録媒体層、及び上記磁気記録
    媒体層に100〜1000Åの厚さで設けた、炭素を含
    有するAl−Si合金保護潤滑膜を備えたことを特徴と
    する磁気記録媒体。
  2. (2)炭化水素系ガス雰囲気あるいはフッ素化炭素ガス
    雰囲気で、磁気記録媒体層が設けられた基材にクラスタ
    ーイオンビーム法を施し、上記磁気記録媒体層に100
    〜1000Åの厚さで炭素を含有するAl−Si合金保
    護潤滑膜を形成したことを特徴とする磁気記録媒体の製
    造方法。
  3. (3)炭化水素ガスイオン源あるいはフッ素化炭素ガス
    イオン源によって励起、解離及びイオン化した雰囲気で
    、磁気記録媒体層が設けられた基材にクラスターイオン
    ビーム法を施し、上記磁気記録媒体層に100〜100
    0Åの厚さで炭素を含有するAl−Si合金保護潤滑膜
    を形成したことを特徴とする磁気記録媒体の製造方法。
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