JPH0368802A - 測長装置 - Google Patents

測長装置

Info

Publication number
JPH0368802A
JPH0368802A JP20440389A JP20440389A JPH0368802A JP H0368802 A JPH0368802 A JP H0368802A JP 20440389 A JP20440389 A JP 20440389A JP 20440389 A JP20440389 A JP 20440389A JP H0368802 A JPH0368802 A JP H0368802A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
probe
signal
length
comparative sample
comparing sample
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP20440389A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2783854B2 (ja
Inventor
Junichi Kishigami
順一 岸上
Toshibumi Okubo
俊文 大久保
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority to JP1204403A priority Critical patent/JP2783854B2/ja
Publication of JPH0368802A publication Critical patent/JPH0368802A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2783854B2 publication Critical patent/JP2783854B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は単結晶材料からなる比較試料の原子間距111
1(格子定数)を単位として測定対象の測長を行なうこ
とが可能な測長装置に関するものである。
(従来の技術) 従来、数ミクロン以下の長さを測定可能な装置として電
子顕微鏡が一般的に知られており、他に光走査式測長器
、光干渉測長器等がある。光走査式測長器はレーザ等を
光源して生成される細い光線で測長対象を平行に走査し
、この走査時にできる測長対象の影の部分に相当する時
間等に基づいて測長を行なうものであり、また光干渉測
長器はレーザ等の干渉性良好な光を異なる2つの経路を
通過させた後に重ね合わせ、この時の光の干渉現象によ
る明暗を電気信号に変換して数えることによりaPJ長
を行なうものである。
(発明が解決しようとする課題) しかしながら、先に述べた電子顕微鏡では真空中でap
j定対象を導電化しなければならないため破壊測定とな
り、測定上好ましくない。また、光走査式測長器、光干
渉測長器等のレーザを用いた測長では分解能が0.01
μm程度が理論的な限界であり、それ以上の分解能を期
待できないという欠点があった。
本発明は前記問題点にtみてなされたもので、その目的
とするところは、測長の分解能を大幅に改善し、数オン
グストロームの分解能を有する測長装置を提供すること
にある。
(課題を解決するための手段) 本発明は前記目的を達成するため、請求項(1)では、
導線性の探針と、単結晶材料からなる平板状の比較試料
と、探針と比較試料との間に流れるトンネル電流に基づ
いて比較試料に対する探針の垂直方向の間隔を一定に保
持する垂直方向駆動手段と、探針を比較試料に沿って相
対的に移動させた際の垂直方向の位置信号に基づいて比
較試料の原子像の起伏に対応した起伏信号を生成すると
共に、該起伏信号を所定のディジタル信号に変換する信
号変換手段とから測長装置を構成し、ディジタル信号か
ら比較試料の原子間距離を単位として測定対象のall
J長を行なうようにしている。
また、請求項(2)では、請求項(1)記載の測長装置
に、探針を比較試料に沿って水平方向に所定幅で往復動
させる水平方向駆動手段と、探針往復動時における垂直
方向の位置信号及び水平方向の位置信号に基づいて原子
像の山または谷のピーク値が現れる水平位置を検出する
と共に、該検出信号から探針往復動の中心位置を修正す
るための補正信号を生成し水平方向駆動手段に送出する
補正信号生成手段とを設けている。
(作 用) 請求項(1)記載の測長装置では、比較試料をAPI長
対象と同期して移動させるか、または比較試料の近傍に
配置した測長対象に沿って探針を移動させることによっ
て所望の測長が行なわれる。
JIIJ長に際し、探針が比較試料に沿って相対的に移
動する時の比較試料に対する探針の垂直方向の間隔は、
探針と比較試料との間に流れるトンネル電流に及づき垂
直方向駆動手段によって一定に保持される。またこの時
、探針の垂直方向の位置信号に基づき信号変換手段によ
って比較試料の原子像の起伏に対応した起伏信号が生成
されると共に該起伏信号が所定のディジタル信号に変換
される。
つまり、請求項(1)記載の測長装置では、信号変換手
段のディジタル信号から比較試料の原子間距離を単位と
してapl定対象の測長を行なうことが可能となる。
また、請求項(2)記載の測長装置では、探針が比較試
料に沿って相対的に移動する時、該探針は垂直方向駆動
手段によって比較試料に対する探針の垂直方向の間隔を
一定に保持されつつ、水平方向駆動手段によって比較試
料に沿って水平方向に所定幅で往復動される。また、こ
の時の垂直方向の位置信号及び水平方向の位置信号に基
づき補正信号生成手段によって原子像の山または谷のピ
ークが現れる水平位置が検出されると共に、該検出信号
から探針往復動の中心位置を修正するための補正信号が
生成され水平方向駆動手段に送出される。
つまり、請求項(2)記載の測長装置では、探針の往復
動の中心位置を随時修正して、比較試料の原子像を正確
に捕えることが可能となる。
(実施例) 第1図乃至第3図は本発明の一実施例を示すもので、第
1図はnJ長装置の構成図、第2図は探針駆動機構の拡
大斜視図、第3図は1lllJ長時における探針及び比
較試料の動作を示す図である。
図において、1は探針、2は探針1を垂直方向に駆動す
る第1アクチユエータ、3は探針1を水平方向に駆動す
るm2アクチユエータである。
探針1はタングステン(W)、鉄(Fe)等の導電性の
金属材料にて先鋭形状に形成されており、第1アクチエ
ータ2の下端にその先鋭端を下向きにして垂設されてい
る。
第1アクチユエータ2は基台4上に立設された略り字形
の支柱上部5にその上端を固定されている。この第1ア
クチユエータ2はピエゾ素子等を内蔵し、圧電効果によ
って探針1を垂直方向に駆動できるようになっている。
第2アクチユエータ3は第1アクチユエータ2の下部と
支柱5の側面との間に介装されている。
この第2アクチユエータ3も第1アクチユエータ2と同
様にピエゾ索子等を内蔵しており、圧電効果によって探
針1を水平方向に駆動できるようになっている。
6は基台4上に配設されたステージ用ベースであり、該
ベース6には第2アクチユエータ3の駆動方向と直交す
る水平方向に移動可能なステージ7がベアリング等を介
して摺動自在に配置されている。また、このステージ7
の一端には測長時において測長対象(図示省略)に当接
される針状の測定端7aが設けられている。
8はステージ7の上面に固着された平板状の比較試料で
ある。この比較試料8は空気中でも容易に格子像(原子
像)を捕えることが可能なグラファイト等の小結晶材料
からなる。また、この比較試料8はステージ7の移動方
向に伸びる長方形状をなしていて、ステージ7の上面に
、探針1と対向し且つステージ7の移動方向と格子面の
(10ci)方向が一致するように固着されている。
9は第1アクチユエータ駆動用の第1駆動部である。こ
の第1駆動部9は、探針1と比較試料2との間に流れる
トンネル電流に基づいて第1アクチユエータ2に送出さ
れる駆動信号の電圧レベルを変化し、比較試料8に対す
る探針1の垂直方向の間隔を一定に保持する。
10は起伏信号生成部で、第1駆動部9から送出される
駆動信号、即ち探針1の垂直方向の位置信号に基づいて
、比較試料8の原子像の起伏に対応した起伏信号を生成
する。後に詳述するが本実施例では第3図に示すように
、探針1は測長時において比較試料8の移動方向と直交
する水平方向に往復動することから、この起伏信号生成
部10では、往動時と複動時の夫々で得られる垂直方向
の位置信号のピーク値をもとに原子の存在する位置Aを
山または谷としたアナログ信号を生成している。
尚、先に述べた探針1.第1アクチユエータ2゜第1駆
動部9及び起伏信号生成部10の構成は、周知の走査型
トンネル顕微tft (Scanning Tunne
llng Microscope )のそれと大差ない
11はディジタル信号生成部で、起伏信号生成部10で
生成された起伏信号を所定のディジタル信号に変換する
。詳しくは、原子像の起伏に対応した起伏信号(アナロ
グ信号)を、原子間距離(格子定数)を表現するに適当
なしきい値でその信号の立ち上がり或いは立ち下がりを
検出してディジタル化している。
12はディジタル信号計数用のカウンタで、ディジタル
信号生成部11から送出されたディジタル信号を計数し
、図示省略の表示部に表示する。
13は第2アクチユエータ駆動用の第2駆動部である。
この第2駆動部13は、探針1が比較試料8の移動方向
と直交する水平方向に所定幅で往復動するに必要な駆動
信号を第2アクチユエータ3に送出する。
14はピーク位置検出部で、探針往復動時において第1
駆動部9から送出される駆動信号と第2駆動部13から
送出される駆動信号に基づいて、即ち探針1の垂直方向
の位置信号及び水平方向の位置信号に基づいて、垂直方
向の位置信号のピーク値、つまり原子像の山または谷の
ピークが現れる水平位置を検出する。
15は補正信号生成部で、ピーク位置検出部14で検出
された水平位置と往復動の中心位置との差に基づいて、
探針往復動の中心位置を修正するための補正信舎を生成
し第2駆動部13に送出する。
次に、前述の測長装置によって動的な測長対象に対して
測長を行なう場合について説明する。
測長に際し、ステージ7の11pj定端7aを測長対象
に接触させ、比較試料8が測長対象と同期して移動する
ようにする。
比較試料8が水平方向に移動する時、比較試料8に対す
る探針1の垂直方向の間隔は、探針1と比較試料8との
間に流れるトンネル電流に基づき第1駆動部9によって
一定に保持される。また、これと同時に、探針1は第2
駆動部13によって駆動され、比較試料8に対する探針
1の垂直方向の間隔を一定に保持されつつ、比較試料8
の移動方向と直交する水平方向に往復動される。つまり
、探針1は比較試料移動時において第3図に示すような
走査軌跡Kを形成する。
また、この比較試料移動時には、探針1の水平方向の往
動時と複動時の夫々で得られる垂直方向の位置信号のピ
ーク値をもとに原子位置Aを山または谷とした起伏信号
(アナログ信号)が起伏信号生成部10によって生成さ
れ、このアナログ信号はディジタル信号生成部11で原
子間距離(格子定数)を表現する適当なディジタル信号
に変換される。そして、このディジタル信号がカウンタ
6によって計数され表示される。
つまり、比較試料8が測長対象の動きに同期して水平方
向に移動した際に、該比較試料2の移動量を原子間距離
(格子定数)を単位としてカウンタ12で計数させるこ
とができるので、この計数値に比較試料2の原子間距離
(格子定数)を乗することで所望の副長を行なうことが
可能となる。
ちなみに、比較試料2としてグラファイトを用い、(1
00)方向に比較試料8を移動させた場合では、格子定
数である1、42オングストローム毎にディジタル信号
が生成され、これがカウンタ12で計数されるので、こ
の計数値に基づき格子定数の整数倍を長さとしてl1P
I長を行なうことができる。グラファイト以外の単結晶
材料を比較試料として用いた場合にはこれらの格子定数
が測長の単位となることは言うまでもない。
また、前述の副長装置では、探針1が往復動する際に、
探針1の垂直方向の位置信号及び水平方向の位置信号に
基づいて、原子像の山または谷のピークが現れる水平位
置がピーク位置検出部14で検出され、このピーク位置
検出部14で検出された水平位置と往復動の中心位置と
の差に基づいて、探針往復動の中心位置を修正するため
の補正信号が補正信号生成部15で生成されて第2駆動
部13に送出され、探針1の往復動の中心位置が格子面
方向に対応するように随時修正される。
つまり、ステージ7にガタがあり比較試料8が直線的に
移動しない場合や、比較試料8の格子面方向がステージ
7の移動方向と一致しない場合でも、比較試料8の原子
の存在する位置を正確に捕えることができるので、原子
間距離(格子定数)をディジタル信号によって的確に表
わすことができ、測長の精度を高めることができる。
尚、前記実施例ではディジタル信号生成部から出力され
たディジタル信号をカウンタによって計数するようにし
たものを示したが、ディジタル信号をCRT等に表示し
直接読取るようにしても同様の測長を行なうことができ
る。また、比較試料の所定の格子面方向がステージの移
動方向とほぼ一致する場合には、第2アクチユエータ、
第2駆動部、ピーク位置検出部及び補正信号生成部を除
外して測長装置を構成するようにしてもよい。更に、第
4図に示すように、比較資料8が固着されたステージ7
をベース6に固定する一方、支柱5を第2アクチユエー
タ3の駆動方向を直交する水平方向に移動可能に構成し
、比較試料8の近傍に測長対象を配置して該測長対象に
沿って探針1を移動させることによって測長を行なうよ
うにしてもよい。
(発明の効果) 以上詳述したように、請求項(1)記載の測長装置によ
れば、信号変換手段のディジタル信号から比較試料の原
子間距離(格子定数)を単位として測長対象の測長を行
なうことができるので、従来の測長装置では得ることが
できなかった数オングストロームの分解能で測長を行な
うことが可能となり、加工1組立て、観察等の種々分野
において高精度な製造及び解析が実現できる。
また、請求項(2〉記載の測長装置によれば、探針また
は比較試料の移動にガタがあるい場合や、探針の相対的
な移動方向と比較試料の格子面方向が一致しない場合で
も、比較試料の原子位置を正確に捕えることができるの
で、原子間距離(格子定数)をディジタル信号によって
的確に表わすことができ、測長の精度を高めることがで
きる。
【図面の簡単な説明】
第1図乃至第3図は本発明の一実施例を示すもので、第
1図は測長装置の構成図、第2図は探針駆動機構の拡大
斜視図、第3図は探針及び比較試料の動作を示す図、第
4図は本発明の他の実施例を示す探針駆動機構の拡大斜
視図である。 1・・・探針、2・・・第1アクチユエータ、3・・・
第2アクチユエータ、8・・・比較試料、9・・・第1
駆動部、10・・・起伏信号生成部、11・・・ディジ
タル信号生成部、13・・・第2駆動部、14・・・ピ
ーク位置検出部、15・・・補正信号生成部。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)導電性の探針と、 単結晶材料からなる平板状の比較試料と、 探針と比較試料との間に流れるトンネル電流に基づいて
    比較試料に対する探針の垂直方向の間隔を一定に保持す
    る垂直方向駆動手段と、 探針を比較試料に沿って相対的に移動させた際の垂直方
    向の位置信号に基づいて比較試料の原子像の起伏に対応
    した起伏信号を生成すると共に、該起伏信号を所定のデ
    ィジタル信号に変換する信号変換手段とを具備し、 ディジタル信号から比較試料の原子間距離を単位として
    測定対象の測長を行なうようにしたことを特徴とする測
    長装置。
  2. (2)探針を比較試料に沿って水平方向に所定幅で往復
    動させる水平方向駆動手段と、 探針往復動時における垂直方向の位置信号及び水平方向
    の位置信号に基づいて原子像の山または谷のピークが現
    れる水平位置を検出すると共に、該検出信号から探針往
    復動の中心位置を修正するための補正信号を生成し水平
    方向駆動手段に送出する補正信号生成手段と、 を設けた請求項(1)記載の測長装置。
JP1204403A 1989-08-07 1989-08-07 測長装置 Expired - Fee Related JP2783854B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1204403A JP2783854B2 (ja) 1989-08-07 1989-08-07 測長装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1204403A JP2783854B2 (ja) 1989-08-07 1989-08-07 測長装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0368802A true JPH0368802A (ja) 1991-03-25
JP2783854B2 JP2783854B2 (ja) 1998-08-06

Family

ID=16489968

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1204403A Expired - Fee Related JP2783854B2 (ja) 1989-08-07 1989-08-07 測長装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2783854B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2006011185A1 (ja) * 2004-07-23 2008-05-01 富士通株式会社 半導体装置の検査方法、その検査装置及びその検査に適した半導体装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01150813A (ja) * 1987-12-09 1989-06-13 Canon Inc 相対変位量測定装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01150813A (ja) * 1987-12-09 1989-06-13 Canon Inc 相対変位量測定装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2006011185A1 (ja) * 2004-07-23 2008-05-01 富士通株式会社 半導体装置の検査方法、その検査装置及びその検査に適した半導体装置
JP4567684B2 (ja) * 2004-07-23 2010-10-20 富士通セミコンダクター株式会社 測定方法及び測定装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2783854B2 (ja) 1998-08-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8732861B2 (en) Control system for a scanning probe microscope
JP4464857B2 (ja) 荷電粒子線装置
US5406832A (en) Synchronous sampling scanning force microscope
DE69734413T2 (de) Instrument mit Doppeltisch zum Abtasten eines Probenkörpers
US5253516A (en) Atomic force microscope for small samples having dual-mode operating capability
KR20050043885A (ko) 주사 탐침 현미경
US7288763B2 (en) Method of measurement accuracy improvement by control of pattern shrinkage
US9134340B2 (en) Method of investigating a sample surface
CN102680741B (zh) 一种计量型扫描电子显微镜成像控制系统及扫描成像方法
KR20010086014A (ko) 복합면의 선-기반 특성화 방법 및 측정 장치
JPH0368802A (ja) 測長装置
US5567872A (en) Scanning atomic force microscope
JP3264735B2 (ja) 電位分布測定機能を備える走査型トンネル顕微鏡
JP2869508B2 (ja) 磁場制御による走査プローブ顕微鏡
JP3892184B2 (ja) 走査型プローブ顕微鏡
JPH085643A (ja) 複合顕微鏡
JP5228500B2 (ja) 電磁界分布計測方法、走査型電磁界センサユニット、および走査型電磁界計測装置
TWI811462B (zh) 將掃描探針顯微鏡之探針對準尖銳樣本的尖端的方法及裝置
JPH09264897A (ja) 走査型プローブ顕微鏡
JP4448508B2 (ja) 走査型プローブ顕微鏡
JP2002014025A (ja) プローブの走査制御装置、該走査制御装置による走査型プローブ顕微鏡、及びプローブの走査制御方法、該走査制御方法による測定方法
JPH06180227A (ja) 走査型プローブ顕微鏡装置
JPH0771913A (ja) 微動装置及び走査型プローブ顕微鏡
JPH0526612A (ja) 走査型トンネル顕微鏡
JPH08122340A (ja) 表面形状測定方法及び表面形状測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees