JPH0361377A - マイクロ波プラズマ膜堆積装置 - Google Patents

マイクロ波プラズマ膜堆積装置

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JPH0361377A
JPH0361377A JP19769189A JP19769189A JPH0361377A JP H0361377 A JPH0361377 A JP H0361377A JP 19769189 A JP19769189 A JP 19769189A JP 19769189 A JP19769189 A JP 19769189A JP H0361377 A JPH0361377 A JP H0361377A
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JP
Japan
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film
plasma
microwave
protective cylinder
generation chamber
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Pending
Application number
JP19769189A
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English (en)
Inventor
Naoki Suzuki
直樹 鈴木
Atsuo Hori
堀 厚生
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、半導体工業などにおいて薄膜を形成するマイ
クロ波プラズマ膜堆積装置に関するものである。
従来の技術 近年、マイクロ波プラズマ膜堆積装置は、低温で膜を堆
積することができるため、重要は技術となってきている
以下図面を参照しながら、上述したマイクロ波プラズマ
膜堆積装置の一例についてシリコン窒化膜(SiN膜)
を堆積する場合について説明する。
第3図は、従来のマイクロ波プラズマ膜堆積装置の断面
図を示すものである。第3図において、31は真空容器
で、その内部にはプラズマ発生室32とガス反応室33
′ とが設けられている。上記プラズマ発生室32には
放電ガス導入管34が接続され、またガス反応室33に
は反応ガス導入管35と真空排気管36とが接続されて
いる。上記真空容器31のプラズマ発生室32側には、
石英窓37を介してマイクロ波を伝送するための導波管
38が接続されており、プラズマ発生室32の外側には
、プラズマ発生室32内に軸方向の磁界を印加するため
のマグネットコイル39が配置されている。そして、上
記ガス反応室33内には、処理基板Aを支持するための
支持台39が設けられている。
次に、膜の堆積方法について説明する。
まず、真空容ai31内に、放電ガス導入管34から窒
素ガス(N2)を200sec+w流し1反応ガス導入
管35かモノシランガス(S i H4)を20sec
m流した状態で、約5 X 10−’Torrに保つ。
放電ガス導入管34から導入された窒素ガスは、石英窓
37から導入されたマイクロ波とマグネットコイル39
による軸方向の磁界(875ガウス)によって、電子サ
イクロトロン共鳴が満足され、放電する。このプラズマ
放電で生じた電子、イオンおよびラジカルは、磁界の作
用および拡散によって、ガス反応室33に到達し、反応
ガスとしてのシランを分解する0分解されたシランは、
プラズマ発生室32から輸送された窒素のイオンあるい
はラジカルと反応し、処理基板A上にシリコン窒化膜が
形成される。
発明が解決しようとする課題 しかしながら上記従来の構成によると、分解されたモノ
シランガスは、ガス反応室33の壁面にも到達し、壁面
上に膜を形成する。通常、ガス反応室33の壁面材料と
しては、スランレスが用いられており、そのため密着性
が弱く側壁に堆積した膜が剥がれて、処理基板A上に落
下し、ピンホールなどが生じるという問題点を有してい
た。
そこで、本発明は上記課題を解消し得るマイクロ波プラ
ズマ膜堆積装置を提供することを目的とする。
課題を解決するための手段 上記課題を解決するため、本発明の第1の手段は、真空
容器内に、プラズマ発生室と、このプラズマ発生室に連
通されたガス反応室とが形成され、かつ放電ガス導入管
および反応ガス導入管並びに真空排気管が設けられ、し
かも上記プラズマ発生室内に磁界を印加するための磁気
コイルおよび上記ガス反応室内で処理基板を支持する支
持台が設けられたマイクロ波プラズマ膜堆積装置であっ
て、上記支持台の周囲に、処理基板に堆積させる膜と同
一物質で構成された保護筒体を、プラズマ発生室からの
プラズマ流を遮ぎらないように配置したマイクロ波プラ
ズマ膜堆積装置である。
また、第2の手段は、上記第1の手段において、保護筒
体を加熱する加熱装置を設けたマイクロ波プラズマ膜堆
積装置である。
作用 上記第1の手段の構成によると、反応ガス導入管から導
入された反応ガスは、プラズマ発生室でマイクロ波導入
口から導入されたマイクロ波と磁気コイルによる磁界に
よって放電し、プラズマ状態となる。反応ガスのイオン
、電子、ラジカルは、磁界の作用および拡散によってガ
ス反応室に輸送され、処理基板上に到達して膜が形成さ
れる。さらに、分解された反応ガス特にラジカルは、処
理基板上だけでなく拡散によりガス反応室側壁にも移動
する。しかし、処理基板のまわりは保護筒体で覆われて
いるため、ガス反応室壁面に移動する前に保護筒体の内
壁面に到達して膜が形成される。
そして、保護筒体は処理基板上に堆積する膜と同一の物
質からできているため、付着性が良い。したがって、処
理基板上の膜堆積中に保護筒体から膜が剥がれ落ちるこ
ともほとんど無く、膜堆積中に生じるピンホールの数も
少なくなる。
さらに、上記第2の手段のように、保護筒体を加熱装置
により加熱した場合、保護筒体における膜の密着性が増
加して膜が剥がれ落ちることも無く、シたがって膜堆積
中に生じるピンホールの数も非常に少なくなる。
実施例 以下、本発明の一実施例を第1図に基づき説明する。
1は真空容器で、その内部には、マイクロ波導入口2が
形成されるとともに放電ガス導入管3が接続されたプラ
ズマ発生室4と、このプラズマ発生室4に連通されると
ともに反応ガス導入管5および真空排気管6が接続され
たガス反応室7とが形成されている。マイクロ波導入口
2には石英窓8を介してマイクロ波を導く導波管9が接
続されている。また、真空容器]−のプラズマ発生室4
の周囲には、軸方向の磁界を印加するためのマグネット
コイル(磁界コイル)10が設けられ、ガス反応室7内
には、処理基板Aを支持するための支持台11が設けら
れている。そして、さらにガス反応室7内の支持台11
の周囲には、処理基板Aに堆積させる膜と同一の物質で
構成された円筒状の保護筒体12が、プラズマ発生室4
からのプラズマ流が遮ざられないように配置されている
。なお、反応ガス導入管5の先端部は、上記保護筒体1
2内に位置されている。
次に、上記構成において、シリコン窒化膜(SiN膜)
を堆積する場合について説明する。
まず、プラズマ発生室4内に放電ガス導入管3から窒素
ガスを101005e導入するとともにガス反応室7内
に反応ガス導入管5からモノシランガスを10105e
導入した状態で、真空容器l内を5×10−’Torr
の圧力に維持する。そして、放電ガス導入管3から導入
された窒素ガスは、マイクロ波導入口8から導入された
マイクロ波と、マグネットコイルIOによる軸方向の磁
界(875ガウス)によって電子サイクロトロン共鳴条
件が満足され、放電する。この放電によって生じた窒素
のイオン。
ラジカル、電子は磁界の作用あるいは拡散によって支持
台11の方向に移動し、反応ガス導入管5から導入され
たモノシランガスを分解し、窒素のイオンあるいはラジ
カルと反応し、処理基板A」二にシリコン窒化膜が堆積
される。また、処理基板A上だけでなく、保護筒体12
にも分解したモノシラン、窒素のイオンあるいはラジカ
ルが到達し、シリコン窒化膜が形成される。この保護筒
体12の材質は、シリコン窒化膜であり、すなわち堆積
する膜と同一物質であるため、膜の密着性が良く、はと
んど剥がれ落ちることがない。したがって、シリコン窒
化膜を連続して堆積しても、ピンホールの少ない良質の
膜を処理基板A上に形成することができる。
以上のように本実施例によれば、支持台11の周囲に、
処理基板Aに堆積する膜と同一物質からなる保護筒体1
2を設けることにより、側壁から堆積したシリコン窒化
膜が剥がれ落ちることが無くなり、結果としてピンホー
ルの少ない良質な膜を得ることができる。
次に、本発明の他の実施例を第2図に基づいて説明する
本実施例のものは、上記実施例において保護筒体12の
周囲に加熱用ヒータ(加熱装置) 13を取付けたもの
である。
この構成によると、保護筒体I2はたとえば150℃程
度(150℃に限定するものでは無い)に加熱されるた
め、保護筒体12に付着する膜の密着性がより良好とな
り、処理基板A上への剥がれ落ちが無くなる。したがっ
て、シリコン窒化膜を連続して堆積しても、ピンホール
の極めて少ない良質の膜を処理基板A上に形成すること
ができる。
なお、JZ記他の実施例においては、加熱用ヒータ13
を保護筒体12の外側を覆うように説明したが、加熱用
ヒータ13を保護筒体12内に埋め込むようにしてもよ
い。
ところで、上記各実施例においては、放電ガス導入管と
反応ガス導入管とを別個に設けたが、たとえば反応ガス
導入管から両者を混合ガスとして導入するようにしても
よい。
また、上記各実施例においては、堆積する膜をシリコン
窒化膜として説明したが、他の膜たとえばシリコン酸化
膜などの絶縁膜、またはアルミニウム、タングステンな
どの金属膜に適用した場合でも同じ効果がある。
発明の効果 以上のように本発明の構成によると、処理基板を支持す
る支持台の周囲に、処理基板に堆積させる膜と同一の物
質で構成された保護筒体を、プラズマ発生室からのプラ
ズマ流を遮ぎらないように配置したので、保護筒体の壁
面に付着した膜が剥がれて処理基板側に落下するのを防
止でき、ピンホールなどの欠陥の少ない膜を処理基板上
に形成することができる。また、保護筒体を加熱する加
熱装置を設けることにより、上記の効果をより一層高め
ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1−図は本発明の一実施例におけるマイクロ波プラズ
マ膜堆積装置の断面図、第2図は他の実施例におけるマ
イクロ波プラズマ膜堆積装置の断面図、第3図は従来例
におけるマイクロ波プラズマ膜堆積装置の断面図である
。 1・・・真空容器、2・・・マイクロ波導入口、3・・
・放電ガス導入管、4・・・プラズマ発生室、5・・・
反応ガス導入管、6・・・真空排気管、7・・・ガス反
応室、9・・・導波管、10・・・マグネットコイル、
11・・・支持台、12・・・保護筒体、13・・・加
熱用ヒータ。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.真空容器内に、プラズマ発生室と、このプラズマ発
    生室に連通されたガス反応室とが形成され、かつ放電ガ
    ス導入管および反応ガス導入管並びに真空排気管が設け
    られ、しかも上記プラズマ発生室内に磁界を印加するた
    めの磁気コイルおよび上記ガス反応室内で処理基板を支
    持する支持台が設けられたマイクロ波プラズマ膜堆積装
    置であって、上記支持台の周囲に、処理基板に堆積させ
    る膜と同一物質で構成された保護筒体を、プラズマ発生
    室からのプラズマ流を遮ぎらないように配置したマイク
    ロ波プラズマ膜堆積装置。
  2. 2.上記請求項1に記載のマイクロ波プラズマ膜堆積装
    置において、保護筒体を加熱する加熱装置を設けたマイ
    クロ波プラズマ膜堆積装置。
JP19769189A 1989-07-28 1989-07-28 マイクロ波プラズマ膜堆積装置 Pending JPH0361377A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04123257U (ja) * 1991-04-16 1992-11-06 ソニー株式会社 バイアスecrプラズマcvd装置
US5389197A (en) * 1992-01-29 1995-02-14 Fujitsu Limited Method of and apparatus for plasma processing of wafer
KR100349426B1 (ko) * 1994-10-25 2003-01-06 도쿄 엘렉트론 가부시키가이샤 전도성재료의스퍼터링성질을갖는유도결합된플라즈마스퍼터챔버
JP2007244727A (ja) * 2006-03-17 2007-09-27 Ishiguro Seisakusho:Kk 多段可調高さ型家具足

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04123257U (ja) * 1991-04-16 1992-11-06 ソニー株式会社 バイアスecrプラズマcvd装置
US5389197A (en) * 1992-01-29 1995-02-14 Fujitsu Limited Method of and apparatus for plasma processing of wafer
KR100349426B1 (ko) * 1994-10-25 2003-01-06 도쿄 엘렉트론 가부시키가이샤 전도성재료의스퍼터링성질을갖는유도결합된플라즈마스퍼터챔버
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