JPH0357000Y2 - - Google Patents

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JPH0357000Y2
JPH0357000Y2 JP1985106796U JP10679685U JPH0357000Y2 JP H0357000 Y2 JPH0357000 Y2 JP H0357000Y2 JP 1985106796 U JP1985106796 U JP 1985106796U JP 10679685 U JP10679685 U JP 10679685U JP H0357000 Y2 JPH0357000 Y2 JP H0357000Y2
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【考案の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本考案は電子顕微鏡等における試料交換装置に
関し、特に、試料を予備室から取出す際に、試料
が破壊されることを防止することのできる装置に
関する。
[従来の技術] 電子顕微鏡等において、試料を光軸と直交する
方向から挿入するタイプの試料交換装置として
は、第4図に示すような構造のものが広く使用さ
れている。図中、1は電子顕微鏡の鏡体、2は該
鏡体の側壁に取付けられた筒状の予備室で、該予
備室はその軸心が電子線光軸Zと直交するように
配置されている。また、該予備室の一端(真空
側)は連通穴3を介して鏡体1内に連通され、ま
た、他端は大気中に開放される。4は前記連通穴
3を閉鎖するためのエアーロツク弁で、該エアー
ロツク弁は軸5a及び5bを介して前記予備室2
内に回転可能に取付けられており、また、該エア
ーロツク弁4の軸5a部分にはカサ歯車6が固定
してある。該カサ歯車には前記予備室2内に回転
可能に挿入された筒体7に固定されたカサ歯車8
が噛合つている。従つて、筒体7を回転すると、
その回転がカサ歯車8によりカサ歯車6に伝達さ
れるため、エアーロツク弁4が軸5a,5bを中
心にして回動し、それによつて鏡体1内と予備室
2内とが連通あるいは遮断される。9は前記筒体
7内にOリングパツキング10により気密を保つ
た状態で移動可能に挿入された試料ホルダで、先
端は板状に形成され、かつ試料11を保持してお
り、また、該試料ホルダには位置規制用ピン12
が固定してある。前記予備室2及び筒体7の大気
側の端部にはピン12を噛合させるための長溝1
3及び14が夫々軸心方向に沿つて形成されてい
る。また、該予備室2の長溝13の開放部分は、
第5図にその拡大平面図を示すようにL字状に形
成され、予備室2の円周方向に沿つた溝13aが
設けてある。
今、第4図の如きエアーロツク弁4が閉じてい
るときには、筒体7の長溝14は第5図中点線で
示すように予備室2の長溝13からある角度ずれ
ている。つまり、長溝14は予備室2の長溝13
の入口部分の溝13bと一致している。従つて、
この状態において試料ホルダ9を筒体7内に挿入
してピン12を長溝14及び溝13b内に嵌合し
た後、試料ホルダ9を矢印A方向に移動させ、ピ
ン12が溝13aの側壁に当接(第5図中点線a
の位置)するまで移動させる。しかる後、試料ホ
ルダ9を時計方向に回転させれば、ピン12が溝
13a内を移動するため、筒体7が直線状の長溝
14を介して同方向に回転する。これによりカサ
歯車8,6を介して軸5a,5bが回転し、エア
ーロツク弁4が開放する。しかして、ピン12が
長溝13の側壁に当接(第5図中点線bの位置)
するまで試料ホルダ9を回転させると、エアーロ
ツク弁4は完全に開放されるので、試料ホルダを
さらに矢印A方向に移動させれば、ピン12が長
溝13,14によりガイドされるため、試料11
を対物レンズの上磁極片15aおよび下磁極片1
5bとの間にセツトすることができる。
次に、試料の観察後、試料ホルダ9を前述とは
逆の方向に移動させることにより試料11を大気
中に取出し、新しい試料と交換することができ
る。
一方、かかる装置においては、試料ホルダ9を
予備室2内に嵌合させることにより、この予備室
内に形成される空間16(この空間はエアーロツ
ク弁4とOリングパツキング10とによつて気密
に保たれる)の粗引を、試料ホルダの挿入動作に
関連して自動的に行うために、第5図中点線aで
示す位置に真空ポンプ駆動用のマイクロスイツチ
17が設けてある。18は、このマイクロスイツ
チを作動させるための板状のドツグで、このドツ
グは新しい試料を鏡体内に装着する過程のときだ
け、つまりピン12が溝13bを経て第5図中点
線aの位置に置かれたとき、押されてマイクロス
イツチ17をオンにし、また、逆に試料交換のた
めにピン12がbの位置から溝13aを経てaの
位置に置かれたときには、時計方向に回転してマ
イクロスイツチを作動させないように構成されて
いる。
[考案が解決しようとする問題点] このような装置において、観察した試料を交換
するにはピン12を第5図中bの位置からaの位
置に移動させてエアーロツク弁4を閉じた状態
で、試料ホルダ9を予備室2から引抜かなければ
ならない。その結果、試料ホルダを引抜いた瞬
間、予備室2内の真空に保たれた空間16に大気
が急激に導入されるため、試料が破壊されたり、
試料を載置したメツシユが試料ホルダから脱落し
予備排気室に取り残されてしまうことがある。ま
た、粉状の試料の場合には試料が予備室内に散逸
し、散逸した粉体が試料交換時に鏡体内に侵入し
真空状態を悪くする恐れがある。
本考案は上述した問題点を考慮し、試料ホルダ
を予備室から引き抜く際の急激な大気の導入によ
り試料が破壊、散逸または脱落することを確実に
防止することのできる電子顕微鏡等における試料
交換装置を提供することを目的としている。
[問題点を解決するための手段] 上述した目的を達成するために本考案は、鏡体
の側壁に取付けられ、鏡体内に連通した穴を有す
る筒状の予備室と、前記穴を開閉するためのエア
ーロツク弁と、前記予備室内に挿入され、気密を
保つて移動及び回転可能に設けられた試料を保持
する試料ホルダと、該試料ホルダが挿入されるこ
とにより閉鎖されたエアーロツク弁と試料ホルダ
先端との間に形成される空間を排気及びリークす
るための手段と、前記試料ホルダに固定されたピ
ンが嵌合されることによりこの試料ホルダの挿脱
をガイドするために前記予備室に形成され、かつ
この予備室の軸心方向に沿つた長溝と、前記予備
室の試料ホルダが挿入される側の端部において、
この予備室の円周方向形成され、かつ前記長溝に
連絡された溝と、該溝部分の前記予備室外周に回
転可能に取付けられ、かつ前記ピンが嵌合される
回転軸心方向に沿つた切欠きを有するドツグとを
備え、前記試料ホルダを予備室に導入する過程に
おいて、試料ホルダのピンを円周方向用溝に位置
させて試料ホルダを回転させる動作に連動してド
ツグが回転したとき、該ドツグによる押圧または
解除により動作して真空ポンプを駆動または停止
させるスイツチにより前記空間を排気させ、逆に
試料ホルダを予備室から抜き取る過程において、
試料ホルダのピンを円周方向用溝に位置させて前
述とは逆の方向に回転させる動作に連動してドツ
グが回転したとき、ドツグによる押圧または解除
により動作してリーク弁を開閉するスイツチによ
り前記空間をリークするように構成したことを特
徴としている。
[実施例] 第1図は本考案の要部の一実施例を示す拡大平
面図で、第4図及び第5図と同一符号のものは同
一構成要素を示す。
即ち、同図で示すように予備室2に形成される
長溝13の開放部分、つまり溝13bに続けて、
さらにL字状の溝13c,13dを形成すると共
に、円周方向に沿つた溝13c部分にドツグ19
を、この溝13c方向に移動できるように配置し
たことを特徴とする。このドツグ19は第2図に
その断面図を示すようにリング状に形成されてい
て、予備室2の外周に回転可能に取付けられてお
り、また、内側には試料ホルダ9に固定されたピ
ン12が嵌合する切欠き20がこのドツグの回転
軸方向(予備室2の軸心方向)に沿つて形成され
ている。さらに、このドツグ19の外周にはマイ
クロスイツチ17のアクチエータ17aが嵌合す
る凹部21が設けてある。
以下、試料の交換動作を第1図に基づいて説明
する。今、試料ホルダ9を予備室2から抜出して
いるときには、ドツグ19はその切欠き20が同
図にその状態を示すように溝13dと一致する位
置にセツトされ、また、第2図にその状態を示す
ように凹部21内にマイクロスイツチ17のアク
チエータ17aが嵌合されている。しかして、試
料ホルダ9を筒体7内に挿入し、ピン12を長溝
14及び溝13d内に嵌合してからこの試料ホル
ダを矢印A方向に移動すれば、ピン12はドツグ
19の切欠き20に嵌合した状態で溝13cの側
壁に当接(点線cの位置)して停止する。この状
態において、試料ホルダ9を時計方向に回転させ
れば、ピン12が溝13cに沿つて移動するた
め、ドツグ19が同方向に回転する。このドツグ
の回転によりアクチエータ17aが凹部21から
外れるため、マイクロスイツチ17がオンされ、
図示外の真空ポンプが作動して気密に保たれた予
備室2内の空間16が粗引される。ここで、試料
ホルダ9の回転により筒体7も一緒に回転するわ
けであるが、このときの筒体の回転がエアーロツ
ク弁4を回転させる軸5a,5bに伝達されない
ようにカサ歯車8には、その回転角に応じた長さ
分だけの切欠部が形成されている。つまり、ピン
12が点線dの位置に移動したとき、カサ歯車6
と8とが噛合うようになしてある。しかして、試
料ホルダ9の回転によりピン12が点線dの位置
まで移動すると、溝13bの側壁に当接して試料
ホルダの回転が停止されるため、試料ホルダを再
度矢印A方向に移動してピンを点線aの位置まで
移動させる。この位置aにピンを停止している間
は、予備室内は真空に保持されるため、通常この
期間を利用して電子顕微鏡の光学条件設定や調整
が行なわれる。このとき、ピン12はドツグ19
の凹部20から外れ、このドツグは図示外のロツ
ク機構により動きがロツクされる。この状態で、
試料ホルダを再び時計方向に回転してピン12を
点線bの位置まで移動させれば、筒体7が回転し
てカサ歯車8,6を介してエアーロツク弁4が開
放されるため、試料11を鏡体内に装着すること
ができる。
次に、試料の観察後、試料ホルダ9を引いてピ
ン12を溝13に沿つて移動させ、点線bの位置
を経てaまで移動させると、試料11が予備室内
に収納されてエアーロツク弁4が閉じられる。こ
の状態からさらに試料ホルダを引いてピンをdの
位置まで移動させると、ピン12はドツグ19の
切欠き20内に嵌合するため、試料ホルダを半時
計方向に回転してピン12を点線cの位置まで移
動すれば、ドツグ19が同方向に回転し、ドツグ
の凹部20内にアクチエータ17aが嵌合してマ
イクロスイツチ17がオフとなる。このスイツチ
のオフにより図示外のリーク弁の駆動回路が作動
して、予備室2内の空間16が大気が導入され
る。しかる後、試料ホルダ9を移動させて、予備
室2から引抜くことにより新しい試料と交換する
ことができる。
尚、リーク弁の駆動回路にはタイマーが組込ま
れていて一定時間経過すると、リーク弁を閉鎖す
るようになしてあり、また、リークが終了したこ
とをランプ等で表示するようになしてある。
第3図は本考案の他の実施例を示す拡大平面図
であり、ピン12を予備室2に挿脱させるための
溝13d内にストツパ22を軸23を介して回転
可能に取付けたことを特徴とする。このストツパ
はバネ24により時計方向の回転力が加えられた
状態で予備室2の側壁B部分に当接され、常に溝
13dを塞いでいる。
これにより溝13d内におけるピン12の移動
が、試料ホルダ9を予備室2に挿入する方向に対
してはストツパ22が回転し、また、逆に試料ホ
ルダ9を予備室から引抜く方向に対してはストツ
パが回転しない。その結果、試料ホルダを引抜く
際には、ストツパ22をオペレータが半時計方向
に回転させない限りピン12を通過させることが
できないため、予備室の空間16に大気が充分に
導入されていないのに試料ホルダ9を引抜くこと
を防止することができる。
尚、前述の説明では、試料ホルダに取付けたピ
ンによつて筒体を回転させることにより、エアー
ロツク弁の開閉を行うようにしたが、エアーロツ
ク弁は独立した弁駆動機構によつて開放せしめ、
ピンは単に試料ホルダを鏡体内に挿入する際の直
線ガイドだけに使用するようになしても良い。こ
の場合には、筒体を予備室に嵌合させる必要はな
く、試料ホルダは予備室内に直接挿入される。
[考案の効果] 以上のような構成となせば、試料交換のために
は試料ホルダを予備室から引き抜く過程で、必ず
予備室内のリークが行なわれるようになるため、
急激な大気の導入により大切な試料が破壊された
り、散逸したり、または試料を載置したメツシユ
が試料ホルダから脱落し予備室排気室に取り残さ
れてしまうことなどを確実に防止することができ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例を示す拡大平面図、
第2図は本案に使用されるドツグの断面図、第3
図は本考案の他の実施例を示す拡大平面図、第4
図及び第5図は従来例を説明するための図であ
る。 1……鏡体、2……予備室、4……エアーロツ
ク弁、5a,5b……軸、6,8……カサ歯車、
7……筒体、9……試料ホルダ、10……Oリン
グパツキング、11……試料、12……ピン、1
3,14……長溝、13a,13b,13c,1
3d……溝、16……空間、17……マイクロス
イツチ、18,19……ドツグ、20……切欠
き、21……凹部、22……ストツパ、24……
バネ。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 鏡体の側壁に取付けられ、鏡体内に連通した穴
    を有する筒状の予備室と、前記穴を開閉するため
    のエアーロツク弁と、前記予備室内に挿入され、
    気密を保つて移動及び回転可能に設けられた試料
    を保持する試料ホルダと、該試料ホルダが挿入さ
    れることにより閉鎖されたエアーロツク弁と試料
    ホルダ先端との間に形成される空間を排気及びリ
    ークするための手段と、前記試料ホルダに固定さ
    れたピンが嵌合されることによりこの試料ホルダ
    の挿脱をガイドするために前記予備室に形成さ
    れ、かつこの予備室の軸心方向に沿つた長溝と、
    前記予備室の試料ホルダが挿入される側の端部に
    おいて、この予備室の円周方向形成され、かつ前
    記長溝に連絡された溝と、該溝部分の前記予備室
    外周に回転可能に取付けられ、かつ前記ピンが嵌
    合される回転軸心方向に沿つた切欠きを有するド
    ツグとを備え、前記試料ホルダを予備室に導入す
    る過程において、試料ホルダのピンを円周方向用
    溝に位置させて試料ホルダを回転させる動作に連
    動してドツグが回転したとき、該ドツグによる押
    圧または解除により動作して真空ポンプを駆動ま
    たは停止させるスイツチにより前記空間を排気さ
    せ、逆に試料ホルダを予備室から抜き取る過程に
    おいて、試料ホルダのピンを円周方向用溝に位置
    させて前述とは逆の方向に回転させる動作に連動
    してドツグが回転したとき、ドツグによる押圧ま
    たは解除により動作してリーク弁を開閉するスイ
    ツチにより前記空間をリークするように構成した
    ことを特徴とする電子顕微鏡等における試料交換
    装置。
JP1985106796U 1985-07-12 1985-07-12 Expired JPH0357000Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1985106796U JPH0357000Y2 (ja) 1985-07-12 1985-07-12

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JP1985106796U JPH0357000Y2 (ja) 1985-07-12 1985-07-12

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Publication Number Publication Date
JPS6215763U JPS6215763U (ja) 1987-01-30
JPH0357000Y2 true JPH0357000Y2 (ja) 1991-12-25

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ID=30982486

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JP1985106796U Expired JPH0357000Y2 (ja) 1985-07-12 1985-07-12

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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5875500B2 (ja) * 2012-10-31 2016-03-02 株式会社日立ハイテクノロジーズ 電子ビーム顕微装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5324246B2 (ja) * 1973-07-20 1978-07-19

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS569234Y2 (ja) * 1971-08-27 1981-02-28
JPS5744599Y2 (ja) * 1976-08-09 1982-10-01

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS5324246B2 (ja) * 1973-07-20 1978-07-19

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JPS6215763U (ja) 1987-01-30

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