JPH0355553A - 露光装置 - Google Patents
露光装置Info
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- JPH0355553A JPH0355553A JP1192323A JP19232389A JPH0355553A JP H0355553 A JPH0355553 A JP H0355553A JP 1192323 A JP1192323 A JP 1192323A JP 19232389 A JP19232389 A JP 19232389A JP H0355553 A JPH0355553 A JP H0355553A
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Landscapes
- Overhead Projectors And Projection Screens (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Laser Beam Processing (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[a業上の利用分野コ
本発明はたとえば、画像投影スクリーン、回折格子など
の光学部品を製造するのに適した露光装置に関する。
の光学部品を製造するのに適した露光装置に関する。
[従来の技術]
従来、画像投影スクリーン、回折格子など、光の散乱ま
たは回折現象を利用する光学部品の製造はたとえば、精
密NC工作機を用いる機械切削法によって、光学部品の
微細な断面形状を加工する方法が一般に行われている(
第1先行技術).また、電子集積回路の製造工程におい
て広く用いられているフォトレジスト、電子ビームレジ
ストなどの感光性樹脂に、レーザビームまた龜電子ビー
ムを所望のパターンに応じて部分的に照射し、上記感光
性樹脂を所望の断面形状に加工する方法が試みられてい
る(第2先行技術).特に、第2先行技術としては、例
えば、電子通信学会技術研究報告、OQE135−11
8号(1985)には、フォトレジストが塗布された感
光体を回転させ、集束したレーザビームを上記感光体に
照射し、上記レーザビームの強度を変えながら、上記レ
ーザビームの集束位置を半径方向に移動させて露光する
方法を用いて、鋸歯状の断面形状を有する微小フレネル
レンズを作製する方法が報告されている,電子通信学会
技術研究報告、OQE86−1 22号(1986)に
は、電子ビームレジストが塗布された感光体に電子ビー
ムを集束照射し、電磁偏向器によって上記電子ビームを
回転走査させながら、集束位置を半径方向に移動させる
ことにより上記感光体を露光する方法を用いて、鋸歯状
の断面形状を有する楕円形微小フレネルレンズを作製す
る方法が報告されている。
たは回折現象を利用する光学部品の製造はたとえば、精
密NC工作機を用いる機械切削法によって、光学部品の
微細な断面形状を加工する方法が一般に行われている(
第1先行技術).また、電子集積回路の製造工程におい
て広く用いられているフォトレジスト、電子ビームレジ
ストなどの感光性樹脂に、レーザビームまた龜電子ビー
ムを所望のパターンに応じて部分的に照射し、上記感光
性樹脂を所望の断面形状に加工する方法が試みられてい
る(第2先行技術).特に、第2先行技術としては、例
えば、電子通信学会技術研究報告、OQE135−11
8号(1985)には、フォトレジストが塗布された感
光体を回転させ、集束したレーザビームを上記感光体に
照射し、上記レーザビームの強度を変えながら、上記レ
ーザビームの集束位置を半径方向に移動させて露光する
方法を用いて、鋸歯状の断面形状を有する微小フレネル
レンズを作製する方法が報告されている,電子通信学会
技術研究報告、OQE86−1 22号(1986)に
は、電子ビームレジストが塗布された感光体に電子ビー
ムを集束照射し、電磁偏向器によって上記電子ビームを
回転走査させながら、集束位置を半径方向に移動させる
ことにより上記感光体を露光する方法を用いて、鋸歯状
の断面形状を有する楕円形微小フレネルレンズを作製す
る方法が報告されている。
[発明が解決しようとする課題]
上記′s1先行技術の機械切削法によると、切削刃先の
形状によって、加工成形される形状が制約される点、加
工物と切削刃先との位置決め精度によって加工精度が決
まる点から、1μm以下の精度で加工することが困難で
ある。
形状によって、加工成形される形状が制約される点、加
工物と切削刃先との位置決め精度によって加工精度が決
まる点から、1μm以下の精度で加工することが困難で
ある。
上記第2先行技術の感光性樹脂を用いた加工方法による
と、1μm以下の精度で加工することは比較的容易であ
るが、上記の報告に示されている方法によると同心円状
のパターンしか得られず、また大きな面積を加工するこ
とが困難である。
と、1μm以下の精度で加工することは比較的容易であ
るが、上記の報告に示されている方法によると同心円状
のパターンしか得られず、また大きな面積を加工するこ
とが困難である。
本発明は、上記従来の問題に鑑みてなされたもので、大
きな面積で任意の平面形状および断面゛形状を有するパ
ターンが高い加工精度で得られる露光装置を堤供するこ
とを目的とする。
きな面積で任意の平面形状および断面゛形状を有するパ
ターンが高い加工精度で得られる露光装置を堤供するこ
とを目的とする。
[課題を解決するための手段]
上記の目的を達成するため、請求項1の発明は、光源装
置と、光源装置が出射する光の強度を変調する素子と、
この変調素子からの出射光を収束するレンズと、このレ
ンズからの出射光が照射される感光体を支持するXYス
テージと、互いに直交する2方向に上記XYステージを
移動する装置と、互いに直交する2方向の上記XYステ
ージの位置を測定する測長計と、上記XYステージが移
動する基準位置および感光体に照射される光の強度を示
すデータが設定されるデータ設定手段、上記照射される
光の強度を示すデータが記憶されるメモリ手段、上記基
準位置を示すデータを出力する位置出力手段、読出信号
を受けて上記メそり手段から上記照射される光の強度を
示すデータを読出す読出手段、上記照射される光の強度
を示すデータを出力する手段を備える中央制御装置と、
この中央制御装置が出力する位置を示すデータに対応し
て、XYステージを移動する装置を制御する駆動系制御
手段、測長計による測定結果が入力される位置計数手段
およびこの測定結果を示す信号を中央制御装置に出力す
る読出信号発生手段を備えるXYステージ制御装置と、
上記中央制御装置が出力する該強度を示すデータに対応
して、上記の変調素子に出力する信号を調節する変調素
子駆動回路とを備えている.また、望しくは、請求項1
の露光装置における測長計による測定結果を上記の駆動
系制御手段に入力し、上記測定結果と基準位置を示すデ
ータとを比較することによって、上記駆動系制御手段が
XYステージを移動する装置に出力する信号を調節する
。
置と、光源装置が出射する光の強度を変調する素子と、
この変調素子からの出射光を収束するレンズと、このレ
ンズからの出射光が照射される感光体を支持するXYス
テージと、互いに直交する2方向に上記XYステージを
移動する装置と、互いに直交する2方向の上記XYステ
ージの位置を測定する測長計と、上記XYステージが移
動する基準位置および感光体に照射される光の強度を示
すデータが設定されるデータ設定手段、上記照射される
光の強度を示すデータが記憶されるメモリ手段、上記基
準位置を示すデータを出力する位置出力手段、読出信号
を受けて上記メそり手段から上記照射される光の強度を
示すデータを読出す読出手段、上記照射される光の強度
を示すデータを出力する手段を備える中央制御装置と、
この中央制御装置が出力する位置を示すデータに対応し
て、XYステージを移動する装置を制御する駆動系制御
手段、測長計による測定結果が入力される位置計数手段
およびこの測定結果を示す信号を中央制御装置に出力す
る読出信号発生手段を備えるXYステージ制御装置と、
上記中央制御装置が出力する該強度を示すデータに対応
して、上記の変調素子に出力する信号を調節する変調素
子駆動回路とを備えている.また、望しくは、請求項1
の露光装置における測長計による測定結果を上記の駆動
系制御手段に入力し、上記測定結果と基準位置を示すデ
ータとを比較することによって、上記駆動系制御手段が
XYステージを移動する装置に出力する信号を調節する
。
本発明の露光装置を用いて感光体を露光するに際し、1
つの移動装置の移動方向に、一定の速度でXYステージ
を移動させることが、感光体に照射される光の強度およ
びXYステージが移動する位置を容易に制御できる点で
好適である。
つの移動装置の移動方向に、一定の速度でXYステージ
を移動させることが、感光体に照射される光の強度およ
びXYステージが移動する位置を容易に制御できる点で
好適である。
上記の光源装置としては、ヘリウムカドミウムレーザな
とのレーザ光源または紫外線ランプを用いることができ
るが、特に、レーザ光源の出射光は平行光であることか
ら、露光装置に備えられるレンズ等の光学系を簡単にで
きる点、該出射光の強度は通常ガウス分布であり、この
場合感光体を露光して得られるパターンの深さ方向に段
差が生じ難いことから、感光体を加工する精度が高い点
などからレーザ光源の使用が好適である。また上記の変
調素子としては、音響光学変調素子、電気光学変調素子
、液晶光変調素子などを用いることができる。
とのレーザ光源または紫外線ランプを用いることができ
るが、特に、レーザ光源の出射光は平行光であることか
ら、露光装置に備えられるレンズ等の光学系を簡単にで
きる点、該出射光の強度は通常ガウス分布であり、この
場合感光体を露光して得られるパターンの深さ方向に段
差が生じ難いことから、感光体を加工する精度が高い点
などからレーザ光源の使用が好適である。また上記の変
調素子としては、音響光学変調素子、電気光学変調素子
、液晶光変調素子などを用いることができる。
[作用]
この発明によれば、感光体を備えたXYステージをXY
方向へ移動させながら、光の強度を制御して上記感光体
を露光しているので、感光体上の任意の位置において所
望の露光量にすることができる。一般に、感光体の露光
量定対応して、感光体を現像した後に得られる凹凸パタ
ーンの深さが決まるので、露光量を変えることによって
所望の断面形状の光学製品が得られる.また、測長計に
よる測定結果を駆動系制御装置に入力し、この測定結果
と位置を示すデータとを比較することによって、駆動系
制御装置がXYステージを移動する装置に出力する信号
を調節する場合には、XYステージの位置を高い精度で
制御できるので、より高い加工精度の光学製品が得られ
る。
方向へ移動させながら、光の強度を制御して上記感光体
を露光しているので、感光体上の任意の位置において所
望の露光量にすることができる。一般に、感光体の露光
量定対応して、感光体を現像した後に得られる凹凸パタ
ーンの深さが決まるので、露光量を変えることによって
所望の断面形状の光学製品が得られる.また、測長計に
よる測定結果を駆動系制御装置に入力し、この測定結果
と位置を示すデータとを比較することによって、駆動系
制御装置がXYステージを移動する装置に出力する信号
を調節する場合には、XYステージの位置を高い精度で
制御できるので、より高い加工精度の光学製品が得られ
る。
[実施例]
以下、この発明の一実施例を図面にしたがって説明する
。
。
第l図は本発明の露光装置の概略構成図である。光源装
置1は発振波長442nmを有するヘリウムカドくウム
レーザである.光源装置1を出射したレーザビームL1
は音響光学変調素子2に入射し、強度が変調されて音響
光学変調素子2から出射する.音響光学変調素子2の出
射光L2はレンズ3に入射し、そのビーム径が広げられ
てレンズ3を通過する。レンズ3の出射光L3は半透過
鏡4を透過し、集光レンズ5に入射する.集光レンズ5
を通過したレーザ光L4は集光レンズによって、感光体
6の表面に集束される。感光体6は光源装置1が出射す
る光によって感光される特性を有する感光性樹脂(例え
ばボジ型フォトレジスト)がガラス板上に塗布されてな
る。レーザ光L4の一部の光は感光体6で反射される.
この光L5は集光レンズ5に戻り、これを通過して半透
過鏡4に入射し、反射される。半透過ut4の反射光L
6はCCDti像装置7の撮像面上に集束する.CCD
tffi像装置7によって、感光体上に照射されるレー
ザ光L4のスポット径などを測定する.上記の感光体6
は、感光体6の平面内で互いに直交する2つの方向に感
光体6を移動するXYステージ7上に、真空吸着されて
固定されている。
置1は発振波長442nmを有するヘリウムカドくウム
レーザである.光源装置1を出射したレーザビームL1
は音響光学変調素子2に入射し、強度が変調されて音響
光学変調素子2から出射する.音響光学変調素子2の出
射光L2はレンズ3に入射し、そのビーム径が広げられ
てレンズ3を通過する。レンズ3の出射光L3は半透過
鏡4を透過し、集光レンズ5に入射する.集光レンズ5
を通過したレーザ光L4は集光レンズによって、感光体
6の表面に集束される。感光体6は光源装置1が出射す
る光によって感光される特性を有する感光性樹脂(例え
ばボジ型フォトレジスト)がガラス板上に塗布されてな
る。レーザ光L4の一部の光は感光体6で反射される.
この光L5は集光レンズ5に戻り、これを通過して半透
過鏡4に入射し、反射される。半透過ut4の反射光L
6はCCDti像装置7の撮像面上に集束する.CCD
tffi像装置7によって、感光体上に照射されるレー
ザ光L4のスポット径などを測定する.上記の感光体6
は、感光体6の平面内で互いに直交する2つの方向に感
光体6を移動するXYステージ7上に、真空吸着されて
固定されている。
XYステージ7は、感光体6にレーザ光L4が照射され
ている露光状態において、第1の方向(以下、これをX
方向と称し、第1図に図示する)に感光体6を移動させ
るX方向移動装置8と感光体6を第1の方向と直交する
第2の方向(以下、これをY方向と称し、第1図に図示
する〉に感光体6を移動させるY方向移動装置9とを備
えている。また、XYステージ7は、X方向レーザ干渉
測長計10およびY方向レーザ干渉測長計11とを備え
ており、それぞれX方内またはY方向におけるXYステ
ージ7の位置を測定する。
ている露光状態において、第1の方向(以下、これをX
方向と称し、第1図に図示する)に感光体6を移動させ
るX方向移動装置8と感光体6を第1の方向と直交する
第2の方向(以下、これをY方向と称し、第1図に図示
する〉に感光体6を移動させるY方向移動装置9とを備
えている。また、XYステージ7は、X方向レーザ干渉
測長計10およびY方向レーザ干渉測長計11とを備え
ており、それぞれX方内またはY方向におけるXYステ
ージ7の位置を測定する。
この露光装置は中央制御装置12を備えており、XYス
テージ7の位置と、感光体6に照射されるレーザ光L4
の強度とを制御する。
テージ7の位置と、感光体6に照射されるレーザ光L4
の強度とを制御する。
中央制御装置12にあるデータ設定千段13には、露光
に際して、xYステージ7が移動を開始する移動開始点
と、移動を停止する移動終了点と、露光中のXYステー
ジの移動速度(一定速度)とが設定されている。データ
設定手段13は、上記の移動開始点、移動終了点および
移動速度に対応する信号を位置出力手段14に対して出
力する.位置出力手段14は該信号を受けて、XYステ
ージ制御装置18にある駆動系制御手段19に位置移動
信号S1を出力する.駆動系制御手段19は位置移動信
号S1に応じて、X方向移動信号S2をX方向移動装置
8に、Y方向移動信号S3をY方向移動装置9にそれぞ
れ出力する.X゜′ステージ7はこれによって、移動開
始点から移動を開始し、移動速度が徐々に高くなって、
予め設定されている移動速度で定速移動される。
に際して、xYステージ7が移動を開始する移動開始点
と、移動を停止する移動終了点と、露光中のXYステー
ジの移動速度(一定速度)とが設定されている。データ
設定手段13は、上記の移動開始点、移動終了点および
移動速度に対応する信号を位置出力手段14に対して出
力する.位置出力手段14は該信号を受けて、XYステ
ージ制御装置18にある駆動系制御手段19に位置移動
信号S1を出力する.駆動系制御手段19は位置移動信
号S1に応じて、X方向移動信号S2をX方向移動装置
8に、Y方向移動信号S3をY方向移動装置9にそれぞ
れ出力する.X゜′ステージ7はこれによって、移動開
始点から移動を開始し、移動速度が徐々に高くなって、
予め設定されている移動速度で定速移動される。
XYステージ7に備えられたX方向レーザ干渉測長計1
0はレーザ干渉信号S4をX方向位置計数手段20に出
力する。X方向位置計数手段20は予め設定した時間(
以下、これを読出時間と称す)毎に、レーザ干渉信号S
4によってXYステージ7の位置を測定する.X方向位
置計数手段20は測定結果を駆動系制御手段19に出力
する。駆wJ系制御手段】9には、移動開始点、移動終
了点および移動速度が入力されていることから、上記の
読出時間毎におけるXYステージ7の所望の位置を求め
ることができ、駆動系制御千段19にこれが基準位置と
して設定される。駆動系制御千段19は上記の測定結果
と基準位置とを用いてPID制御(比例・積分・微分制
御)することによって、露光中のレーザ光L4の照射位
置が所望の位置になるようにX方向位置信号S2を設定
し、これを出力する。
0はレーザ干渉信号S4をX方向位置計数手段20に出
力する。X方向位置計数手段20は予め設定した時間(
以下、これを読出時間と称す)毎に、レーザ干渉信号S
4によってXYステージ7の位置を測定する.X方向位
置計数手段20は測定結果を駆動系制御手段19に出力
する。駆wJ系制御手段】9には、移動開始点、移動終
了点および移動速度が入力されていることから、上記の
読出時間毎におけるXYステージ7の所望の位置を求め
ることができ、駆動系制御千段19にこれが基準位置と
して設定される。駆動系制御千段19は上記の測定結果
と基準位置とを用いてPID制御(比例・積分・微分制
御)することによって、露光中のレーザ光L4の照射位
置が所望の位置になるようにX方向位置信号S2を設定
し、これを出力する。
同様にして、xYステージ7に備えられたY方向レーザ
干渉測長計!lはレーザ干渉信号S5をY方向位置計数
手段21に出力する。露光中のXYステージ7の移動方
向をX方向に設定した場合は、Y方向位置計数手段21
が出力するXYステージ7の位置の測定結果を駆動系制
御千段19に入力し、駆動系制御手段19は移動開妬点
のY方向における位置と測定結果との差に対応して、Y
方向位置信号S3を設定し、これを出力する。
干渉測長計!lはレーザ干渉信号S5をY方向位置計数
手段21に出力する。露光中のXYステージ7の移動方
向をX方向に設定した場合は、Y方向位置計数手段21
が出力するXYステージ7の位置の測定結果を駆動系制
御千段19に入力し、駆動系制御手段19は移動開妬点
のY方向における位置と測定結果との差に対応して、Y
方向位置信号S3を設定し、これを出力する。
中央制御装置12のデータ設定手段13には、感光体に
照射されるレーザ光L4の強度を示すデータが設定され
ている。該データが示す強度は所望のパターンに応じ決
定される2段階以上の値である。データ設定手段13は
メモリ千段15に該データを出力し、メモリ千段15は
これを記憶する。
照射されるレーザ光L4の強度を示すデータが設定され
ている。該データが示す強度は所望のパターンに応じ決
定される2段階以上の値である。データ設定手段13は
メモリ千段15に該データを出力し、メモリ千段15は
これを記憶する。
X方向位置計数手段20は上記の測定結果な読出信号発
生千段22に出力する。中央制御装置12にあるデータ
設定手段13には露光開始点が設定されており、データ
設定千段13は上記の露光開始点に対応する信号を位置
出力手段14に対して出力し、位置出力手段14はこの
信号を受けて、読出信号発生手段22に露光開始信号S
6を出力する。読出信号発生手段22は上記の測定結果
によってXYステージ7が露光開始点を通過したことを
検出して以後、XYステージ7が予め設定した一定の間
隔(以下、これを読出間隔と称する)移動する毎に、読
出侶号S7を中央制御装置12にある読出手段16に出
力する。
生千段22に出力する。中央制御装置12にあるデータ
設定手段13には露光開始点が設定されており、データ
設定千段13は上記の露光開始点に対応する信号を位置
出力手段14に対して出力し、位置出力手段14はこの
信号を受けて、読出信号発生手段22に露光開始信号S
6を出力する。読出信号発生手段22は上記の測定結果
によってXYステージ7が露光開始点を通過したことを
検出して以後、XYステージ7が予め設定した一定の間
隔(以下、これを読出間隔と称する)移動する毎に、読
出侶号S7を中央制御装置12にある読出手段16に出
力する。
読出侶号S7が読出手段16に入力されると、読出手段
16はメモリ手段15に記憶されているレーザ光L4の
強度を示すデータを順次読出す。
16はメモリ手段15に記憶されているレーザ光L4の
強度を示すデータを順次読出す。
該データは強度出力千段17に入力され、強度出力千段
17はDA変換回路23に光強度信号S8を出力する.
DA変換回路23はデジタル信号である光強度信号S8
をアナログ信号に変換し、アナログ信号である光強度変
調信号S9を変調素子駆動回路24に出力する。変調素
子駆動回路24は高周波の駆動信号S10を音響光学変
調素子2に出力する。音響光学変調素子2は、駆!!!
I信号S10に対応して、レーザ光源装置1の出射光L
1の強度を変調して、光L2を出射する。
17はDA変換回路23に光強度信号S8を出力する.
DA変換回路23はデジタル信号である光強度信号S8
をアナログ信号に変換し、アナログ信号である光強度変
調信号S9を変調素子駆動回路24に出力する。変調素
子駆動回路24は高周波の駆動信号S10を音響光学変
調素子2に出力する。音響光学変調素子2は、駆!!!
I信号S10に対応して、レーザ光源装置1の出射光L
1の強度を変調して、光L2を出射する。
上記のメモリ千段15が例えば2”X12ビットで構成
されていれば、XYステージ7の移動量を220分割し
て設定することができ、また、光強度を212分割して
指定することができるので、高い精度で所望のパターン
を得ることができる。所望のパターンを得るために必要
な光強度のデータは、データ設定手段13でこれを計算
し、求めたデータをメモリ手段15に記憶させるか、あ
るいは図示しない他の外部記憶装置にあらかじめ記録ざ
れているデータをデータ設定手段13に転送し、これを
メモリ千段15に記憶させればよい。
されていれば、XYステージ7の移動量を220分割し
て設定することができ、また、光強度を212分割して
指定することができるので、高い精度で所望のパターン
を得ることができる。所望のパターンを得るために必要
な光強度のデータは、データ設定手段13でこれを計算
し、求めたデータをメモリ手段15に記憶させるか、あ
るいは図示しない他の外部記憶装置にあらかじめ記録ざ
れているデータをデータ設定手段13に転送し、これを
メモリ千段15に記憶させればよい。
この露光装置を用いた露光手順を第2図を用いて説明す
る。
る。
(1)光L4の強度を示すデータをメモリ手段15に記
千息させる。
千息させる。
(2)中央制御装置12がXYステージ制御装置18に
位置移動信号Slを出力し、XYステージ7が移動を開
始する。
位置移動信号Slを出力し、XYステージ7が移動を開
始する。
(3)X方向の移動速度は光L4の照射位置が移動開始
点3lから定速開始点32までは徐々に加速され、定速
開拍点32から定速終了点35までは中央制御装置12
に設定されている定速の移動速度(例えば1 0 mm
/sec)で移動する。
点3lから定速開始点32までは徐々に加速され、定速
開拍点32から定速終了点35までは中央制御装置12
に設定されている定速の移動速度(例えば1 0 mm
/sec)で移動する。
(4)XYステージ7が読出開始点33を通過するに対
応して、中央制御装置12番よ光強度信号S8の出力を
開始する. (5)光強度信号S8は、XYステージ7が読出間隔(
例えば0.08μffi)を通過する毎に出力され、こ
れはメモリ手段15に記憶されている個数の読出しが終
了するまで繰り返される.読出しが終了する露光停止点
34を通過すると露光は終了する。
応して、中央制御装置12番よ光強度信号S8の出力を
開始する. (5)光強度信号S8は、XYステージ7が読出間隔(
例えば0.08μffi)を通過する毎に出力され、こ
れはメモリ手段15に記憶されている個数の読出しが終
了するまで繰り返される.読出しが終了する露光停止点
34を通過すると露光は終了する。
(6)i光終了後、光L4の照射位置は定速終了点35
を通過し、XYステージ7はその後徐々に減速されて、
移動終了点36で停止する。
を通過し、XYステージ7はその後徐々に減速されて、
移動終了点36で停止する。
(7)移動終了点36から第2の移動開始点37まで光
L4を照射しない状態でXYステージ7を移動する。以
下、同様にして2行目の露光を行う。
L4を照射しない状態でXYステージ7を移動する。以
下、同様にして2行目の露光を行う。
第3図はボジ型フォトレジストが塗布された感光体に照
射される光L4の強度と、上記の感光体を露光、現像し
た後に得られるパターンの断面形状との関係を示す図で
ある。図中、41は読出間隔を示し、この間隔ごとに光
L4の強度を変えている。第3図は続出間隔が光L4の
感光体表面におけるスポット径よりも小さい場合を示し
ており、この条件であればフォトレジストによって得ら
れるパターンが深さ方向に段差を有さなくなる。
射される光L4の強度と、上記の感光体を露光、現像し
た後に得られるパターンの断面形状との関係を示す図で
ある。図中、41は読出間隔を示し、この間隔ごとに光
L4の強度を変えている。第3図は続出間隔が光L4の
感光体表面におけるスポット径よりも小さい場合を示し
ており、この条件であればフォトレジストによって得ら
れるパターンが深さ方向に段差を有さなくなる。
[発明の効果]
以上、説明したように、本発明によれば、大きな面積で
任意の平面形状および断面形状を有するパターンが高い
加工精度で得られ、画像役肥スクリーン、回折格子など
の光学製品製造用として最適な露光装置が提供される。
任意の平面形状および断面形状を有するパターンが高い
加工精度で得られ、画像役肥スクリーン、回折格子など
の光学製品製造用として最適な露光装置が提供される。
第1図は本発明の概略構成図、第2図は感光体に照射さ
れる光の軌跡を示す平面図、第3図は感光体に照射され
る光の強度と露光後に得られるパターンとの関係を示す
図である。 1・・・光源装置、2・・・変調素子、3・・・レンズ
、5・・・集光レンズ、6・・・感光体、7・・・XY
ステージ、8.9・・・移動装置、10.11・・・測
長計、12・・・中央制御装置、18・・・XYステー
ジ制御装置、24・・・変調素子駆動回路。 第1図
れる光の軌跡を示す平面図、第3図は感光体に照射され
る光の強度と露光後に得られるパターンとの関係を示す
図である。 1・・・光源装置、2・・・変調素子、3・・・レンズ
、5・・・集光レンズ、6・・・感光体、7・・・XY
ステージ、8.9・・・移動装置、10.11・・・測
長計、12・・・中央制御装置、18・・・XYステー
ジ制御装置、24・・・変調素子駆動回路。 第1図
Claims (2)
- (1)光源装置と、光源装置が出射する光の強度を変調
する変調素子と、この素子からの出射光を収束するレン
ズと、このレンズからの出射光が照射される感光体を支
持するXYステージと、互いに直交する2方向に上記X
Yステージを移動する装置と、互いに直交する2方向の
上記XYステージの位置を測定する測長計と、上記XY
ステージを移動させる基準位置および感光体に照射され
る光の強度を示すデータが設定されるデータ設定手段、
上記照射される光の強度を示すデータが記憶されるメモ
リ手段、上記基準位置を示すデータを出力する位置出力
手段、読出信号を受けて上記メモリ手段から上記照射さ
れる光の強度を示すデータを読出す読出手段、上記照射
される光の強度を示すデータを出力する強度出力手段を
備える中央制御装置と、この中央制御装置が出力する位
置を示すデータに対応して、XYステージを移動する装
置を制御する駆動系制御手段、測長計による測定結果が
入力される位置計数手段およびこの測定結果を示す信号
を中央制御装置に出力する読出信号発生手段を備えるX
Yステージ制御装置と、上記中央制御装置が出力する上
記照射される光の強度を示すデータに対応して、上記の
変調素子に出力する信号を調節する変調素子駆動回路と
を備えてなる露光装置。 - (2)上記駆動系制御手段は、測長計による測定結果を
上記の駆動系制御手段に入力し、上記測定結果と基準位
置を示すデータとを比較することによつて、XYステー
ジを移動する装置に出力する信号を調節するように構成
されている請求項1記載の露光装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1192323A JPH0355553A (ja) | 1989-07-24 | 1989-07-24 | 露光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1192323A JPH0355553A (ja) | 1989-07-24 | 1989-07-24 | 露光装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0355553A true JPH0355553A (ja) | 1991-03-11 |
Family
ID=16289371
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1192323A Pending JPH0355553A (ja) | 1989-07-24 | 1989-07-24 | 露光装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0355553A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0713337A (ja) * | 1993-06-21 | 1995-01-17 | Nec Corp | 厚膜配線パターンの露光装置 |
KR100383699B1 (ko) * | 2000-01-11 | 2003-05-14 | 캐논 가부시끼가이샤 | 스테이지 장치, 노광 장치, 및 디바이스 제조 방법 |
-
1989
- 1989-07-24 JP JP1192323A patent/JPH0355553A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0713337A (ja) * | 1993-06-21 | 1995-01-17 | Nec Corp | 厚膜配線パターンの露光装置 |
KR100383699B1 (ko) * | 2000-01-11 | 2003-05-14 | 캐논 가부시끼가이샤 | 스테이지 장치, 노광 장치, 및 디바이스 제조 방법 |
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