JPH0352831B2 - - Google Patents
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- JPH0352831B2 JPH0352831B2 JP14546483A JP14546483A JPH0352831B2 JP H0352831 B2 JPH0352831 B2 JP H0352831B2 JP 14546483 A JP14546483 A JP 14546483A JP 14546483 A JP14546483 A JP 14546483A JP H0352831 B2 JPH0352831 B2 JP H0352831B2
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- insulation resistance
- resistance
- measuring
- equation
- frequency
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- 238000009413 insulation Methods 0.000 claims description 27
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 15
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 10
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims description 9
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 4
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 3
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Emergency Protection Circuit Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は活線状態にて電路等の絶縁抵抗を測定
する方法、殊に対地浮遊容量大なる場合無視し得
なくなる接地抵抗を補償した絶縁抵抗測定方法に
関する。
する方法、殊に対地浮遊容量大なる場合無視し得
なくなる接地抵抗を補償した絶縁抵抗測定方法に
関する。
（従来技術）
従来、漏電等の早期発見の為には第１図に示す
如き電路の絶縁抵抗測定方法を用いるのが一般的
であつた。
如き電路の絶縁抵抗測定方法を用いるのが一般的
であつた。
即ち、Ｚなる負荷を有する変圧器Ｔの第２種接
線LEを介して発振器OSCから商用周波数と異な
つた周波数1なる測定用低周波信号電圧を電路L1
及びL2に印加し、前記接地線LEを貫通する変流
器ZCTによつて絶縁抵抗Ｒ及び浮遊容量Ｃを介
して帰還する漏洩電流を検出する。
線LEを介して発振器OSCから商用周波数と異な
つた周波数1なる測定用低周波信号電圧を電路L1
及びL2に印加し、前記接地線LEを貫通する変流
器ZCTによつて絶縁抵抗Ｒ及び浮遊容量Ｃを介
して帰還する漏洩電流を検出する。
この際前記変流器ZCTの出力に含まれる周波
数1の成分をフイルタFILTにて検出しその漏洩
電流中の有効分を例えば前記発振器OSCの出力
を用いて掛算器MULTで同期検波して電路の絶
縁抵抗を測定するものであつた。
数1の成分をフイルタFILTにて検出しその漏洩
電流中の有効分を例えば前記発振器OSCの出力
を用いて掛算器MULTで同期検波して電路の絶
縁抵抗を測定するものであつた。
その測定論理を第２図の等価回路を用いて更に
説明するならば前記接地線LEの接地点Ｅを介し
て前記発振器OSCに帰還する電流をＩとすると Ｉ＝Ｖ／Ｒ＋jω1CV（但しω1＝2π1） ……(1) であるから印加する交流電圧と同相の成分、即ち
上記(1)式右辺第１項に比した値を同期検波等の手
法を用いて検出すれば絶縁抵抗Ｒに逆比例した測
定値を得るものである。
説明するならば前記接地線LEの接地点Ｅを介し
て前記発振器OSCに帰還する電流をＩとすると Ｉ＝Ｖ／Ｒ＋jω1CV（但しω1＝2π1） ……(1) であるから印加する交流電圧と同相の成分、即ち
上記(1)式右辺第１項に比した値を同期検波等の手
法を用いて検出すれば絶縁抵抗Ｒに逆比例した測
定値を得るものである。
しかしながら上記(1)式からも明らかな如くこの
測定法は接地線LEに大地を介して帰還する電流
を測定するにも拘らず接地抵抗を無視しているの
で対地浮遊容量Ｃが大きくなると接地抵抗の影響
が現われ測定値が現実の電路の絶縁抵抗とはなは
だしくかけ離れたものとなる、即ち正確な絶縁抵
抗の測定が不可能になるという欠陥があつた。
測定法は接地線LEに大地を介して帰還する電流
を測定するにも拘らず接地抵抗を無視しているの
で対地浮遊容量Ｃが大きくなると接地抵抗の影響
が現われ測定値が現実の電路の絶縁抵抗とはなは
だしくかけ離れたものとなる、即ち正確な絶縁抵
抗の測定が不可能になるという欠陥があつた。
（発明の目的）
本発明は上述した如き欠点に鑑みなされたもの
であつて、対地浮遊容量Ｃの影響を受けることな
く正確な絶縁抵抗測定を行なう絶縁抵抗測定方法
を提供することを目的とする。
であつて、対地浮遊容量Ｃの影響を受けることな
く正確な絶縁抵抗測定を行なう絶縁抵抗測定方法
を提供することを目的とする。
（発明の概要）
この目的を達成する為に本発明は電路に1及び
2なる低周波数の測定信号電圧を印加し、前記接
地線に帰還する前記両周波数の漏洩電流を個別に
検出した上でこれら両者の有効分を同期検波によ
つて抽出すると共に前記一の周波数1の有効分に
（1／2）2なる重み付けを与えた値と前記他の周
波数2の有効分との差をとることによつて活線状
態の電路の絶縁抵抗を測定する。
2なる低周波数の測定信号電圧を印加し、前記接
地線に帰還する前記両周波数の漏洩電流を個別に
検出した上でこれら両者の有効分を同期検波によ
つて抽出すると共に前記一の周波数1の有効分に
（1／2）2なる重み付けを与えた値と前記他の周
波数2の有効分との差をとることによつて活線状
態の電路の絶縁抵抗を測定する。
（実施例）
以下本発明を図面に示す実施例とに基づいて詳
細に説明する。
細に説明する。
先ず、本発明に係る絶縁抵抗測定方法を説明す
る前に、その理解を助ける為従来の手法を少しく
詳細に説明する。
る前に、その理解を助ける為従来の手法を少しく
詳細に説明する。
第３図は接地抵抗ｒを考慮した場合の等価回路
図である。
図である。
この場合接地点Ｅを介して発振器OSCに帰還
する電流をI1としこれを I1＝（Ａ＋jB）Ｖ ……(2) とする。このとき、 Ａ＝（Ｒ＋ｒ）＋（ω1CR）2・ｒ／（Ｒ＋ｒ）2＋（
ω1CRr）2 Ｂ＝ω1CR2／（Ｒ＋ｒ）2＋（ω1CRr）2 ……(3) であり(2)式で接地抵抗ｒを無視すれば前記(1)式と
同一になることはいうまでもない。
する電流をI1としこれを I1＝（Ａ＋jB）Ｖ ……(2) とする。このとき、 Ａ＝（Ｒ＋ｒ）＋（ω1CR）2・ｒ／（Ｒ＋ｒ）2＋（
ω1CRr）2 Ｂ＝ω1CR2／（Ｒ＋ｒ）2＋（ω1CRr）2 ……(3) であり(2)式で接地抵抗ｒを無視すれば前記(1)式と
同一になることはいうまでもない。
さて(3)式において、対地浮遊容量Ｃ＝０のとき
Ａは１／Ｒ＋ｒとなるが一般にＲ≫ｒであるからＡ は１／Ｒと考えてよく前記(2)式の同相分はＶ／Ｒ
となり、同相分を検出することにより絶縁抵抗を
測定することができる。しかし浮遊容量Ｃが大き
いときには同相分を検出しても(3)式で示される如
く正しい絶縁抵抗を測定していないことになる。
Ａは１／Ｒ＋ｒとなるが一般にＲ≫ｒであるからＡ は１／Ｒと考えてよく前記(2)式の同相分はＶ／Ｒ
となり、同相分を検出することにより絶縁抵抗を
測定することができる。しかし浮遊容量Ｃが大き
いときには同相分を検出しても(3)式で示される如
く正しい絶縁抵抗を測定していないことになる。
このような誤差が実際上どの程度になるかを以
下に示す。
下に示す。
一般にＲ≫ｒであるから(3)式においてＲ＋ｒ→
Ｒとすると ＡＲ＋（ω1CR）2r／R2＋（ω1CR）2 ＝１＋（ω1C）2Rr／Ｒ｛１＋（ω1Cr）2｝……(4) と表し得る。
Ｒとすると ＡＲ＋（ω1CR）2r／R2＋（ω1CR）2 ＝１＋（ω1C）2Rr／Ｒ｛１＋（ω1Cr）2｝……(4) と表し得る。
ここで例えば 1＝20Hz，Ｃ＝5μF，ｒ＝100
Ωとすると （ω1Cr）2＝（2π×20×５×10-6×100）2 3.95×10-3 となり（ω1Cr）2≪１である。
Ωとすると （ω1Cr）2＝（2π×20×５×10-6×100）2 3.95×10-3 となり（ω1Cr）2≪１である。
したがつて(4)式は
Ａ１／Ｒ｛１＋（ω1C）2Rr｝ ……(5)
とみなしてよい。
従つて、例えば1＝20Hz，Ｃ＝5μF，Ｒ＝100K
Ω，ｒ＝100Ωの場合前記(5)式の｛ ｝内は １＋（ω1C）2Rr＝4.95 となり、同相分から検出されるべき絶縁抵抗値
100KΩは100KΩ／4.95＝20.2KΩとして測定され
てしまうことになる。
Ω，ｒ＝100Ωの場合前記(5)式の｛ ｝内は １＋（ω1C）2Rr＝4.95 となり、同相分から検出されるべき絶縁抵抗値
100KΩは100KΩ／4.95＝20.2KΩとして測定され
てしまうことになる。
斯くの如く、従来の接地抵抗を無視した絶縁抵
抗測定方法では対地浮遊容量が大きい場合極めて
測定誤差が大きくなる欠陥を有すること前述の通
りである。更に対地浮遊容量には一般電子機器の
電源回路に付加されるノイズフイルタのキヤパシ
タンスも含まれるので今後対地浮遊容量は大きく
なつていく傾向にあるから従来の方法ではますま
す正確な測定結果が得られないことになる。
抗測定方法では対地浮遊容量が大きい場合極めて
測定誤差が大きくなる欠陥を有すること前述の通
りである。更に対地浮遊容量には一般電子機器の
電源回路に付加されるノイズフイルタのキヤパシ
タンスも含まれるので今後対地浮遊容量は大きく
なつていく傾向にあるから従来の方法ではますま
す正確な測定結果が得られないことになる。
この問題を解決する為本発明に於いては以下の
如き手法をとる。
如き手法をとる。
即ち、周波数1の印加信号によつて得られる同
相分、即ち有効分をig1とすると前記(2)及び(5)式
から ig1＝Ｖ／Ｒ｛１＋（ω1C）2Rr｝ ……(6) となる。
相分、即ち有効分をig1とすると前記(2)及び(5)式
から ig1＝Ｖ／Ｒ｛１＋（ω1C）2Rr｝ ……(6) となる。
又、周波数2（1≠2）の印加信号によつて得
られる同相分をig2とすると ig2＝Ｖ／Ｒ｛１＋（ω2C）2Rr｝ ……(7) と近似できる。
られる同相分をig2とすると ig2＝Ｖ／Ｒ｛１＋（ω2C）2Rr｝ ……(7) と近似できる。
上記両式から
ig1−Ｖ／Ｒ／ig2−Ｖ／Ｒ＝（ω1／ω2）2 ……(8)
を得る。
（ω1／ω2）2＝（1／2）2＝a2とすると前記(8)
式は Ｖ／Ｒ＝１／a2−１｛a2jg2−ig1｝ ……(9) と表わすことができる。
式は Ｖ／Ｒ＝１／a2−１｛a2jg2−ig1｝ ……(9) と表わすことができる。
ここでa2は一定値に維持し得るからig1及びig2
を検出し(9)式の通りig2にa2を重み係数として掛
けその値とig1との挙を求めることにより接地抵
抗ｒの影響をキヤンセルして電路の絶縁抵抗Ｒに
逆比例したＶ／Ｒを測定することができる。
を検出し(9)式の通りig2にa2を重み係数として掛
けその値とig1との挙を求めることにより接地抵
抗ｒの影響をキヤンセルして電路の絶縁抵抗Ｒに
逆比例したＶ／Ｒを測定することができる。
このような測定法を実現する為には以下の如く
すればよい。
すればよい。
第４図は本発明に係る絶縁抵抗測定方法を実現
する為の回路の一実施例を示す図である。
する為の回路の一実施例を示す図である。
即ち、接地線LEに夫々1及び2なる低周波信号
発生用の発振器OSC1及びCSC2を直列に接続して
同一電圧Ｖなる信号を印加する。
発生用の発振器OSC1及びCSC2を直列に接続して
同一電圧Ｖなる信号を印加する。
一方、前記変流器ZCTの出力を分枝して中心
周波数が夫々1及び2のバンドパス・フイルタ
BFP1及びBFP2を介して同期検波回路MULT1及
びMULT2の一入力端に入力せしめると共に前記
両発振器OSC1及びOSC2の出力を夫々前記同期検
波回路MULT1及びMULT2の他の入力端に入力
せしめる。
周波数が夫々1及び2のバンドパス・フイルタ
BFP1及びBFP2を介して同期検波回路MULT1及
びMULT2の一入力端に入力せしめると共に前記
両発振器OSC1及びOSC2の出力を夫々前記同期検
波回路MULT1及びMULT2の他の入力端に入力
せしめる。
これら両同期検波回路の出力は歩々前述(6)式及
び(7)式のig1及びig2に相当する信号となるのでこ
れらを引算器SUBに入力せしめた上で予じめ与
えられている（1／2）2に相当する値をig2に掛
け、その値とig1との差を出力OUTに出力するよ
う構成したものである。
び(7)式のig1及びig2に相当する信号となるのでこ
れらを引算器SUBに入力せしめた上で予じめ与
えられている（1／2）2に相当する値をig2に掛
け、その値とig1との差を出力OUTに出力するよ
う構成したものである。
上述の実施例は第５図に示す如く変形してもよ
い。
い。
即ち、前記接地線LEに接続する発振器を1なる
周波数を発振する単一の矩形波発振器OSに置換
すると共に該発振器OSの出力を分枝して1以外
の高調波、例えば31を中心周波数とするバンド
パス・フイルタBFP3を介して前記同期検波回路
MULT2の他の入力端に入力せしめるようにして
もよい。この際前記零相変流器ZCTの分枝出力
も同様のバンドパス・フイルタBFP3を介して同
期検波回路MULT2に入力せしめるべきことはい
うまでもない。
周波数を発振する単一の矩形波発振器OSに置換
すると共に該発振器OSの出力を分枝して1以外
の高調波、例えば31を中心周波数とするバンド
パス・フイルタBFP3を介して前記同期検波回路
MULT2の他の入力端に入力せしめるようにして
もよい。この際前記零相変流器ZCTの分枝出力
も同様のバンドパス・フイルタBFP3を介して同
期検波回路MULT2に入力せしめるべきことはい
うまでもない。
斯くすることによつて単一の発振器OSが発振
する測定用信号周波数1及び同時に発振される1
の高調波成分 例えば31を他の信号周波数2と
して利用することができるので発振器を節約する
ことが可能である。
する測定用信号周波数1及び同時に発振される1
の高調波成分 例えば31を他の信号周波数2と
して利用することができるので発振器を節約する
ことが可能である。
もつともこのような手段によれば1及び2の信
号電圧が夫々相違することになるのでその相違分
だけ一方の信号を増幅或は減衰させる必要があ
る。
号電圧が夫々相違することになるのでその相違分
だけ一方の信号を増幅或は減衰させる必要があ
る。
例えば 2＝31とした場合にはa2＝（1／2）2
＝（1／31）2＝１／９となる。(7)式に於けるＶは
(6)式のそれの1/3となつているので（基本周波数
1に対し31の成分は1/3となるため）前記引算器
SUBに於いてig2を1/9×３＝1/3に減衰せしめれ
ばよい。
＝（1／31）2＝１／９となる。(7)式に於けるＶは
(6)式のそれの1/3となつているので（基本周波数
1に対し31の成分は1/3となるため）前記引算器
SUBに於いてig2を1/9×３＝1/3に減衰せしめれ
ばよい。
本発明に係る絶縁抵抗測定方法を実現するにつ
いては上述の実施例に限定する必要性は全くな
く、例えば第１図の回路に於いて前記発振器
OSCの発振周波数とバンドパス・フイルタFILT
の選択特性を切り換え得るようにしておき1につ
いて先ず測定しその出力を一時記憶し然る後に2
について測定しこれらの差を(9)式に従つて引算器
SUBで演算する如き時分割処理を行つてもよい。
いては上述の実施例に限定する必要性は全くな
く、例えば第１図の回路に於いて前記発振器
OSCの発振周波数とバンドパス・フイルタFILT
の選択特性を切り換え得るようにしておき1につ
いて先ず測定しその出力を一時記憶し然る後に2
について測定しこれらの差を(9)式に従つて引算器
SUBで演算する如き時分割処理を行つてもよい。
更に実施例からも明らかな如く本発明の測定方
法を実現する測定用回路は極めて簡単、従つて安
価に供給可能であるから工場、各家庭等の電路の
絶縁状態自動監視システムに適用する際殊に効果
的である。
法を実現する測定用回路は極めて簡単、従つて安
価に供給可能であるから工場、各家庭等の電路の
絶縁状態自動監視システムに適用する際殊に効果
的である。
尚、実施例に於いては説明簡単の為単相２線の
場合を示したが本発明はこれに限定する必然性は
全くなく単相３線或は３相３線の場合であつても
同一の原理に基づいて実施可能なことは明らかで
あろう。
場合を示したが本発明はこれに限定する必然性は
全くなく単相３線或は３相３線の場合であつても
同一の原理に基づいて実施可能なことは明らかで
あろう。
（発明の効果）
本発明は以上説明した如き手法によつて電路の
絶縁抵抗を測定するものであるから接地抵抗の影
響を完全にキヤンセルすることが可能となるのみ
ならず発振器等の出力抵抗の影響をも接地抵抗に
加味して補償するので対地浮遊容量増大の傾向に
ある電子回路を含んだ電路等の絶縁抵抗を正確に
測定する上で著しい効果を発揮する。
絶縁抵抗を測定するものであるから接地抵抗の影
響を完全にキヤンセルすることが可能となるのみ
ならず発振器等の出力抵抗の影響をも接地抵抗に
加味して補償するので対地浮遊容量増大の傾向に
ある電子回路を含んだ電路等の絶縁抵抗を正確に
測定する上で著しい効果を発揮する。
第１図は従来の絶縁抵抗測定方法を説明するブ
ロツク図、第２図はその等価回路図、第３図は接
地抵抗を考慮した場合の等価回路図、第４図は本
発明に係る絶縁抵抗測定方法を実現する為の一実
施例を示すブロツク図、第５図は他の実施例を示
すブロツク図である。 Ｔ……変圧器、L1及びL2……電路、LE……接
地線、OSC及びOS……発振器、MULT……同期
検波回路、SUB……引算回路。
ロツク図、第２図はその等価回路図、第３図は接
地抵抗を考慮した場合の等価回路図、第４図は本
発明に係る絶縁抵抗測定方法を実現する為の一実
施例を示すブロツク図、第５図は他の実施例を示
すブロツク図である。 Ｔ……変圧器、L1及びL2……電路、LE……接
地線、OSC及びOS……発振器、MULT……同期
検波回路、SUB……引算回路。
Claims (1)
- １ 電路に相異なる２周波数1及び2なる低周波
の測定信号電圧を印加し、接地線に帰還する周波
数1及び2の漏洩電流を個別に検出してこれら両
者の有効分を夫々同期検波によつて抽出すると共
に前記両周波数比の自乗の重みを付した前記一の
周波数信号の有効分と前記他の周波数信号の有効
分との差を求めることによつて接地抵抗を補償し
て電路の絶縁抵抗を測定するようにしたことを特
徴とする絶縁抵抗測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14546483A JPS6036970A (ja) | 1983-08-08 | 1983-08-08 | 絶縁抵抗測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14546483A JPS6036970A (ja) | 1983-08-08 | 1983-08-08 | 絶縁抵抗測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6036970A JPS6036970A (ja) | 1985-02-26 |
| JPH0352831B2 true JPH0352831B2 (ja) | 1991-08-13 |
Family
ID=15385840
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14546483A Granted JPS6036970A (ja) | 1983-08-08 | 1983-08-08 | 絶縁抵抗測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6036970A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0690245B2 (ja) * | 1987-05-14 | 1994-11-14 | 四国電力株式会社 | 絶縁劣化関係量測定装置 |
-
1983
- 1983-08-08 JP JP14546483A patent/JPS6036970A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6036970A (ja) | 1985-02-26 |
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