JPH0351935A - Test method for dual port memory - Google Patents
Test method for dual port memoryInfo
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明のデュアルポートメモリのテスト方法に関し、特
に2つのプロセッサがデュアルポートメモリを共有して
使用する装置のデュアルポートメモリのテスト方法に関
する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a method for testing a dual-port memory, and particularly to a method for testing a dual-port memory in a device in which two processors share the dual-port memory.
従来、この種のデュアルポートメモリのテスト方法は、
片方のプロセッサがデュアルポートメモリをアクセス中
にも、他方のプロセッサが非同期的にこのデュアルポー
トメモリをアクセスできる(資源を時分割して)構成と
なっているため、(1)デュアルポートメモリを主とし
て使用する片側のプロセッサにより検査する方法
(2)2つのプロセッサが互いに相手側プロセッサとの
プロセッサ間通信などにより、相手側の処理を停止した
後、テストする方法
がある。Traditionally, the testing method for this kind of dual-port memory is
Even when one processor is accessing the dual-port memory, the other processor can access the dual-port memory asynchronously (by time-sharing resources), so (1) dual-port memory is primarily used. Method of testing using one processor (2) There is a method in which two processors stop processing on the other side through inter-processor communication with the other processor, and then test.
上述した従来のデュアルポートメモリのテスト方法は、
方法(1)の場合、デュアルポートメモリのメモリ素子
自体の評価はできるが、テストを実行しない側のアドレ
スデコーダ,バス制御回路などの故障を発見することが
できないので、検査の網羅率が低いという欠点がある。The conventional dual-port memory testing method described above is
In the case of method (1), it is possible to evaluate the memory element itself of the dual-port memory, but it is not possible to discover failures in the address decoder, bus control circuit, etc. on the side where the test is not executed, so the coverage rate of the test is low. There are drawbacks.
また方法(2)の場合、方法(1)の欠点は解消される
が、ソフトウェア的に相手側のプロセッサを7イドリン
グさせるために両プロセッサの同期をとる機構、例えば
プロセッサ間通信,セマフォといった手段を導入する必
要があり、ソフトウェアの構造が複雑になるという欠点
がある。セマフォをデュアルポートメモリ上で実現して
いれば、そのテストについて制約が発生することが多い
。(メモリを分割してテストし、セマフォ領域を破壊し
ないように工夫するなど)
〔課題を解決するための手段〕
第1の発明のデュアルポートメモリのメモリテスト方法
は、二つのプロセッサがバス調停機能付きのデュアルポ
ートメモリを共有メモリ領域として使用する疎結合型の
マルチプロセッサ構成の装置の、一方の前記プロセッサ
が他方の前記プロセッサのメモリアクセスを禁止して前
記デュアルポートメモリのメモリ素子のリード/ライト
検査を行う回路及び手段を有している。In the case of method (2), the drawbacks of method (1) are resolved, but in order to keep the other processor idling, a mechanism for synchronizing both processors, such as interprocessor communication or semaphores, is required. The disadvantage is that the software structure needs to be introduced and the software structure becomes complicated. If semaphores are implemented on dual-port memory, there are often restrictions on testing them. (Divide the memory and test so as not to destroy the semaphore area, etc.) [Means for solving the problem] The memory test method for the dual-port memory of the first invention is based on the method in which two processors have a bus arbitration function. In a device with a loosely coupled multi-processor configuration that uses a dual-port memory with a dual-port memory as a shared memory area, one of the processors prohibits the other processor from accessing the memory and reads/writes the memory element of the dual-port memory. It has circuitry and means for performing the test.
第2の発明のデュアルポートメモリのメモリテスト方法
は、二つのプロセッサがバス調整機能付きのデュアルポ
ートメモリを共有メモリ領域として使用する疎結合型の
マルチプロセッサ構成の装置の、一方の前記プロセッサ
が他方の前記プロセッサのメモリアクセスを割込プログ
ラムを起動することによりに禁止して前記デュアルポー
トメモリのメモリ素子のリード/ライト検査を行う手段
を有している。A memory test method for a dual-port memory according to a second invention is a method for testing a memory of a dual-port memory in a device having a loosely coupled multiprocessor configuration in which two processors use a dual-port memory with a bus adjustment function as a shared memory area. The dual port memory has means for inhibiting memory access of the processor by activating an interrupt program and performing read/write inspection of the memory element of the dual port memory.
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
第1図は本発明の第1の実施例を説明するためのデュア
ルポートメモリとその周辺回路の一例を示す回路図であ
る。FIG. 1 is a circuit diagram showing an example of a dual port memory and its peripheral circuits for explaining a first embodiment of the present invention.
プロセッサlは、プロセッサ2とともにデュアルポー}
RAM3を共有使用し、I/Oポート4を介して相互に
接続されている.
デュアルポー}RAM3は二つのプロセッサ1,2間の
バス調停機能を内蔵しアクセスの競合制御を行うためプ
ロセッサは互いに相手からのアクセスを意識することな
しに非同期でメモリの読み書きが行える.
よって各プロセッサ1,2が処理を実行中に一方のプロ
セッサが勝手にデュアルポー}RAM3の全ての空間を
メモリテストのために読み書きすれば、相手側のプロセ
ッサが実行中の環境を破壊するなどして暴走したり、メ
モリテスト中のメモリ素子への書き込みが相手プロセッ
サから発生し、書き込み障害に見えたりするなどの悪影
響が生ずる。Processor l and processor 2 are dual port}
They share RAM 3 and are interconnected via I/O port 4. The dual-port RAM 3 has a built-in bus arbitration function between the two processors 1 and 2 and controls access competition, allowing the processors to read and write memory asynchronously without each processor being aware of accesses from the other. Therefore, if one of the processors were to read and write all the space in the dual-port RAM 3 for a memory test while each processor 1 and 2 is executing processing, the other processor could destroy the execution environment. Negative effects may occur, such as a runaway, or a write to a memory element during a memory test occurring from the other processor, which may appear as a write failure.
そこで本実施例では、プロセッサlからデュアルボー}
RAM3のメモリテストを行う必要が生じたときには、
プロセッサに対しI/Oポート4の出力“HLT要求”
を発生し、プロセッサ2が一時停止状態に移行するのを
I/Oポート40入力をスキャンして待つ。Therefore, in this embodiment, dual baud}
When it becomes necessary to perform a memory test of RAM3,
Output “HLT request” from I/O port 4 to the processor
is generated, and the I/O port 40 input is scanned and waits for the processor 2 to enter the pause state.
プロセッサ2は“HLT要求”を受け付けられる状態で
あれば命令の実行を一時停止しアイドルステートに移行
するとともに、”HLTアクノリ,ジ”をI/Oポート
4に返す。If the processor 2 is in a state where it can accept an "HLT request", it temporarily stops executing instructions, shifts to an idle state, and returns an "HLT acknowledge" to the I/O port 4.
I/Oポート4でプロセッサlはそれを検出し、プロセ
ッサ2の一時停止を確認できる。大部分のマイクロプロ
セッサには、この“HLT要求/アクノリッジ”メカニ
ズムが内蔵されて用意されているので、それを利用する
ことが可能である。Processor l can detect this at I/O port 4 and confirm that processor 2 has been temporarily stopped. Since most microprocessors have this "HLT request/acknowledge" mechanism built-in, it is possible to utilize it.
プロセッサ2が停止したら、プロセッサlはデュアルポ
ー}RAM3の全ての空間を自由に試験できる。Once processor 2 has stopped, processor 1 is free to test all the space in dual-port RAM 3.
またプロセッサ2からのメモリテストが必要になった場
合にもこの逆である。The reverse is also true when a memory test from processor 2 is required.
どちらのブツセ,サからメモリテストを起動し?場合も
停止させられた側のプロセッサは実行環境が変化してい
るため継続して処理を実行するのは不可能であるため、
起動をかけた側のプロセッサはHLTを解除しないでオ
ペレータにテスト結果を通知し、システムの再立ち上げ
を要請するメッセージなどを同時に通知する。Which program/sa do you start the memory test from? In this case, it is impossible for the stopped processor to continue processing because its execution environment has changed.
The processor on the activation side notifies the operator of the test results without canceling HLT, and also notifies the operator of a message requesting restart of the system.
第2図は本発明の第2の実施例を示すブロック図である
。FIG. 2 is a block diagram showing a second embodiment of the invention.
プロセッサlは、プロセッサ2とともにデュアルポート
RAM3を共有使用し、I/Oボー}4Aを介して接続
され、I/Oボー}4Aからの信号の一部が割込コント
ローラ5によりデコードされて、プロセッサlに入力さ
れ、同様に割込コントローラ6でデコードされた信号が
プロセッサ2に入力されている。The processor l shares the dual port RAM 3 with the processor 2 and is connected via the I/O baud 4A, and a part of the signal from the I/O baud 4A is decoded by the interrupt controller 5 and sent to the processor 2. A signal is input to processor 2 and similarly decoded by interrupt controller 6 .
プ■セッサlでメモリテストの必要が生じると、“マス
タメモリテスト”プログラムが起動され、I/Oボート
4Aに対し、“メモリテスト要求”を発行し、I/Oポ
ート4Aから割り込みコントローラ6ヘメモリテスト割
込をかける。When a need arises for a memory test in the processor L, the "master memory test" program is activated, issues a "memory test request" to the I/O port 4A, and sends a request from the I/O port 4A to the interrupt controller 6. Generates a memory test interrupt.
?モリテスト割込コントローラ6によってデコードされ
、割込プログラム“スレーブメモリテスト”をプロセッ
サ2上に起動する。? It is decoded by the memory test interrupt controller 6 and starts the interrupt program "slave memory test" on the processor 2.
割込プ■グラム“スレーブメモリテスト”は全てのデュ
アルポートRAM3のメモリ空間のテストを実行しI/
Oボート4Aを使用して結果を返すとともにHLT (
停止)する。The interrupt program “Slave Memory Test” tests the memory space of all dual port RAM3 and
O-Boat 4A is used to return results and HLT (
Stop.
プロセッサ1はプロセッサ2のテスト結果を取り込み、
レジスタに格納した後、デュアルポートRAM3の全メ
モリ空間のテストを行い、プロセッサ2による結果とと
もにオペレータに表示あるいは通知する。Processor 1 takes in the test results of processor 2,
After storing it in the register, the entire memory space of the dual port RAM 3 is tested and the result by the processor 2 is displayed or notified to the operator.
テスト終了後、プロセッサ1はI/Oボー}4Aにシス
テム初期化割込を発行して“マスタメモリテスト”プロ
グラムが終了する。After the test is completed, processor 1 issues a system initialization interrupt to I/O board 4A, and the "master memory test" program ends.
I/Oポー}4Aにはいったシステム初期化割込は、割
込コントローラ5,6により割込サービスとしてプロセ
ッサ1,2上に“システム初期化プログラム”を起動す
る。The system initialization interrupt that has entered the I/O port 4A activates a "system initialization program" on the processors 1 and 2 as an interrupt service by the interrupt controllers 5 and 6.
以上説明したように本発明は、第1の実施例のようにハ
ードウェア的に相手方プロセッサの動作を停止させ、あ
るいは第2の実施例のように簡単な割込プログラムによ
る制御ができるようにハードウェアを構戊することによ
り、複雑なプロセッサ間通信を行わずにメモリテスト時
の相手プロセッサからのアクセスを停止させることがで
き、しかも、相手方のアプリケーションプログラムには
そのための考慮がほとんどすることなく(割込可/不可
の設定程度)、メモリテストを実行することができる効
果がある。また第2の実施例によれば、テスト終了後、
初期化されて自動的にシステムが再スタートすることが
できる。As explained above, the present invention is capable of halting the operation of the other processor using hardware as in the first embodiment, or controlling it using a simple interrupt program as in the second embodiment. By configuring the hardware, it is possible to stop access from the other processor during a memory test without performing complex inter-processor communication, and with almost no consideration given to the other party's application program ( This has the effect of being able to perform memory tests (about setting interrupts enabled/disabled). Further, according to the second embodiment, after the test is completed,
The system can be initialized and restarted automatically.
第1図は本発明の第1の実施例を示すブロック図、第2
図は本発明の第2の実施例を示すブロック図である。
1・・・・・・プロセッサ、2・・・・・・プロセッサ
、3・・・・・・デュアルポー}RAM、4,4A・・
・・・・I/Oポ−ト、
5・・・・・・割込コントローラ、
6・・・・・・割込コント
ローラ。FIG. 1 is a block diagram showing a first embodiment of the present invention;
The figure is a block diagram showing a second embodiment of the present invention. 1...Processor, 2...Processor, 3...Dual port RAM, 4,4A...
...I/O port, 5...Interrupt controller, 6...Interrupt controller.
Claims (1)
ートメモリを共有メモリ領域として使用する疎結合型の
マルチプロセッサ構成の装置の、一方の前記プロセッサ
が他方の前記プロセッサのメモリアクセスを禁止して前
記デュアルポートメモリのメモリ素子のリード/ライト
検査を行う回路及び手段を有することを特徴とするデュ
アルポートメモリのテスト方法。 2、二つのプロセッサがバス調整機能付きのデュアルポ
ートメモリを共有メモリ領域として使用する疎結合型の
マルチプロセッサ構成の装置の、一方の前記プロセッサ
が他方の前記プロセッサのメモリアクセスを割込プログ
ラムを起動することによりに禁止して前記デュアルポー
トメモリのメモリ素子のリード/ライト検査を行う手段
を有することを特徴とするデュアルポートメモリのテス
ト方法。[Claims] 1. In a device with a loosely coupled multiprocessor configuration in which two processors use dual port memory with a bus arbitration function as a shared memory area, one processor accesses the memory of the other processor. A method for testing a dual-port memory, comprising a circuit and means for performing a read/write test on a memory element of the dual-port memory while prohibiting the above-mentioned. 2. In a device with a loosely coupled multiprocessor configuration in which two processors use dual port memory with a bus adjustment function as a shared memory area, one processor starts a program that interrupts the memory access of the other processor. 1. A method for testing a dual-port memory, comprising means for performing a read/write test on a memory element of said dual-port memory by prohibiting said dual-port memory from performing a read/write test.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1187747A JPH0351935A (en) | 1989-07-19 | 1989-07-19 | Test method for dual port memory |
Applications Claiming Priority (1)
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JP1187747A JPH0351935A (en) | 1989-07-19 | 1989-07-19 | Test method for dual port memory |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JPH0351935A true JPH0351935A (en) | 1991-03-06 |
Family
ID=16211495
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP1187747A Pending JPH0351935A (en) | 1989-07-19 | 1989-07-19 | Test method for dual port memory |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0351935A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008138831A (en) * | 2006-12-05 | 2008-06-19 | Union Seimitsu:Kk | Method of fastening structure and screw |
-
1989
- 1989-07-19 JP JP1187747A patent/JPH0351935A/en active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008138831A (en) * | 2006-12-05 | 2008-06-19 | Union Seimitsu:Kk | Method of fastening structure and screw |
JP4678874B2 (en) * | 2006-12-05 | 2011-04-27 | 株式会社ユニオン精密 | Structure fastening method |
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