JPH0347688B2 - - Google Patents

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JPH0347688B2
JPH0347688B2 JP59172143A JP17214384A JPH0347688B2 JP H0347688 B2 JPH0347688 B2 JP H0347688B2 JP 59172143 A JP59172143 A JP 59172143A JP 17214384 A JP17214384 A JP 17214384A JP H0347688 B2 JPH0347688 B2 JP H0347688B2
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slider
stylus
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tracer
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Kenji Abiko
Tetsuo Nakamura
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Mitutoyo Corp
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Mitutoyo Corp
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/28Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring contours or curvatures
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/004Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring coordinates of points
    • G01B7/008Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring coordinates of points using coordinate measuring machines
    • G01B7/012Contact-making feeler heads therefor

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は表面形状測定用トレーサ、特にワーク
表面への追従性に優れた高精度の表面形状測定用
トレーサに関するものである。
[従来の技術] ワークの表面形状を連続的に追従測定する接触
式表面形状測定装置が周知であり、CNC三次元
測定機等に表面形状測定用トレーサを装着し、こ
のトレーサの触針をワークに接触させながら、こ
のときの触針の三次元移動座標を検出することに
よつて、ワーク表面をトレースしながらその形状
を知ることができ、複雑な形状のワーク測定に極
めて有用である。
従来において、この種のトレーサとしては例え
ば米国特許第3869799号が周知であり、三軸方向
に自由に検出ピンが移動可能であり、このピンを
ワークに沿つて追従させることによつて所望の表
面形状トレースを行うことができる。この種の表
面形状測定用トレーサは触針が常時ワークに接触
しており、このときの触針の変位量を測定しトレ
ーサ自体の移動位置と前記測定された各軸方向の
触針移動量とを演算して所望の表面座標が求めら
れ、あるいは触針の変位量を常時一定値に保つよ
うにトレーサ自体の移動を制御し、これによつて
トレーサ自体の移動座標から表面の座標が記録さ
れる。
従つて、いずれの場合においても触針は所定の
押圧力でワークに接触しており、特に触針の押圧
力を全方向にわたつて一定に保つように基台に対
して触針が保持されなければならず、このような
安定した押圧力を得るためには各部における摩擦
抵抗あるいはばね等のヒステリシス特性を著しく
減少させなければならない。
前記従来装置においては、各軸方向に対して平
行ばねを用いて接触時の押圧力を確保し、また原
点基準位置への戻り力を与えているが、このよう
な従来装置では板ばねの固定時の位置精度のばら
つき、非線形特性、変形の程度により発生するZ
軸方向誤差等によつてトレーサの測定値に方向性
が出てしまうという欠点があつた。
また、従来においても、更に他の各種の表面形
状測定用トレーサが提案されていたが、これらは
いずれも摺動部の摩擦損失その他によつて表面の
追従性が悪く、形状測定時にトレーサを移動する
速度に限界が生じてしまい、良好な形状測定を行
うことができないという問題があつた。
[発明が解決しようとする問題点] 本発明は上記従来の課題に鑑み為されたもので
あり、その目的は、触針のあらゆる方向への接触
に対しても一定の安定した測定圧で測定でき、ま
た原点基準位置への戻り特性に優れた追従性の良
い表面形状測定用トレーサを提供することにあ
る。
[問題点を解決するための手段] 上記目的を達成するために、本発明は、基台に
対してそれぞれ直交方向に移動自在なX,Y,Z
スライダを有し、Zスライダは基台に対して吊り
ばねにて上下方向に吊下げ支持されている。
前記基台は実際上基台ブロツクから支持脚によ
つて垂下した軸受を為し、Zスイラダがこの軸受
に上下方向移動自在に支持され、このZスライダ
に順次Yスライダ及びXスライダがそれぞれ直交
方向に移動できるように各スライダ間に設けたス
ライド溝にて係合している。そして、最下位置に
あるXスライダにはワークに接触するための触針
が連結固定されている。
そして、前記X,Yスライダの原点基準位置を
定めるため、Xスライダにはロツド状の戻しばね
の下端が固定され、この戻しばねの上端は前記基
台に上下方向に摺動自在に支持されている。
従つて、前述した吊りばね及び戻しばねの両者
によつて触針がその原点基準位置が定められるこ
ととなる。
更に、本発明においては、前記各スライダの摺
動面に加圧空気が導入され空気軸受を形成し、各
スライダは浮上状態で軸支されていることを特徴
とし、これによつて、各スライダは摩擦損失のな
い戻り特性の優れた移動作用を行うことができ
る。
[実施例] 以下図面に基づいて本発明の好適な実施例を説
明する。
基台ブロツク10は図示していないが周知の
CNC三次元測定機のプローブホルダにその上面
が固定可能であり、三次元測定機によつて手動あ
るいは自動的にトレーサ自体を任意の座標位置に
移動することができる。
前記基台ブロツク10には固定脚12,14を
介して基台16が固定されており、Zスライダ1
8、Yスライダ20及びXスライダ22を介して
触針24を任意の方向に移動自在に支持すること
ができる。
前記基台16は第3図から明らかなように、角
筒形状からなり、その内周スライド面16aにZ
スライダ18の角柱状のZスライド軸18aが上
下方向(Z軸)に摺動自在に装着されている。
そして、Zスライダ18は、第2図に示される
ように、Yスライダ20のYスライド溝20aと
係合するガイド軸18bを有する。従つて、Yス
ライダ20はZスライダ18に対してY軸方向に
自由に摺動移動することができる。
更に、Yスライダ20は、第1図に示されるよ
うに、スライド溝20bを有し、このスライド溝
20bにはXスライダ20のXスライド軸22a
が摺動自在に係合しており、この結果、Xスライ
ダ22はYスライダ20に対してX軸方向に自由
に摺動することができる。
前述した各スライダ18,20,22は基台側
に対して吊り下げ支持されており、第1図におい
て、Zスライダ18のガイド軸18bの両端に突
出して設けられたばね掛け26,28にはそれぞ
れ吊りばね30,32の下端が係止され、両吊り
ばね30,32の上端は基台ブロツク10に固定
されており、この結果、スライダ組立体は触針2
4を含む全重量が吊りばね30,32の引張り力
と釣合う位置にて吊り下げ支持されることとな
る。
前記吊りばね30,32はその上端が、実施例
においてばね掛け34,36を介してばね位置調
整板38に固定されており、このばね調整板38
を上下方向に移動することによつて、前記吊りば
ね30,32によるスライダ群の保持位置を調整
することができる。すなわち、ばね調整板38は
そのナツト部38aが基台ブロツク10の上下に
軸支されたねじ軸40とねじ結合しており、この
ねじ軸40を回転することによつて、ばね調整板
38の上下位置を任意に選択することができる。
なお、ばね調整板38はストツパピン42によつ
て回り止めされており、ねじ軸40とともに回転
することはない。
実施例において、前記ねじ軸40を回転するた
めに、該ねじ軸40には傘歯車44が固定されて
おり、これと噛み合う傘歯車46の軸48を外部
から回転することによつて前記ばね位置の調整が
行われる。基台ブロツク10の側面には作業孔1
0aが設けられており、外部からドライバ等によ
つて前記軸48を回転することができる。
以上のようにして、本発明によれば、上下方向
すなわちZ軸方向に対してはスライダ群が吊りば
ね30,32によつて吊り下げ支持され、その原
点基準位置が定められるが、X,Y軸平面におけ
る原点基準位置を定めるため、本発明において
は、戻しばね50が設けられている。戻しばね5
0は円形断面の線ばねからなり、その下端はコレ
ツトチヤツク52によつてXスライダ22に固定
され、このコレツトチヤツク52は締めねじ54
を回転することによつて強固に戻しばね50を掴
み固定することができる。
そして、前記戻しばね50の上端は基台16に
対して上下移動自在に支持され、実施例において
は、戻しばね50の上端は基台16に直接支持さ
れることなく、基台16内で上下方向に摺動する
前述したZスライド軸18aに固定された軸受5
6内で摺動自在に支持されている。すなわち、戻
しばね50の上端にはスライド軸58が固定され
ており、このスライド軸58が前記軸受56内で
Z軸方向に摺動自在に支持される。
従つて、戻しばね50の上端はそのXY平面に
おいて基準の位置をとり、一方他端はXスライダ
22に固定されているので、触針24のXY平面
に沿つた移動に対して全方向に戻り付勢力を与
え、これによつて、XY平面の原点基準位置を定
めることができる。
そして、スライド軸58は軸受56内でZ軸方
向に摺動できるため、XY平面に沿つた移動によ
つてその位置が変化しても上下方向の変位が吸収
される。
戻しばね50のばね特性を変えるため、本実施
例によれば、前記コレツトチヤツク52による戻
しばね50の下端掴み位置を変えることによつて
行うことができ、戻しばね50の上端がZ軸方向
に摺動自在に支持されることによつて、前記コレ
ツトチヤツク52による戻しばね50の下端掴み
位置変更を容易に行うことが可能となる。
以上のようにして、XYスライダ群は単一の原
点基準位置が定められ、更に各軸方向に均一の押
圧力で移動できることが理解される。
そして、前記Xスライダ22には触針24が固
定保持され、図示していないワークに触針24を
接触させると、各軸方向に均一な押圧力で触針2
4が移動できることとなる。
実施例において、触針24は触針ホルダ60に
着脱自在に固定されており、この触針ホルダ60
は振動子62を介して前記Xスライダ22に連結
されており、振動子62は触針ホルダ60と振動
子ホルダ64との間に挟持固定されている。そし
て、この電歪型振動子62の機械的な微小振動に
よつて、触針24はワーク表面に振動しながら接
触することとなり、これによつて触針24とワー
クの表面との接触摩擦を低減させ、触針24の追
従性を著しく改善している。
前記各スライド軸18,20,22の原点基準
位置からの移動量を測定するために、各軸毎にス
ケールが配置され、光学センサによつて各スライ
ダの移動量が検出される。
Z軸スケール66はZスライダ18から立上が
り、これに隣接対向して前記基台16にはZセン
サ68が設けられており、両者の相対移動によつ
て触針24のZ軸方向の移動量を知ることができ
る。
Y軸スケール70は、第2図に示されるように
Yスライダ20に設けられており、これと隣接対
向配置されたZスライダ18に設けられたYセン
サ72との協働によつてY軸方向の移動量が測定
される。
同様に、X軸スケール74が第1図に示され、
Xセンサ76と協働してYスライダ24に対する
Xスライダ22の移動が検出される。
本実施例においては、前記各軸方向に対して任
意に移動できるとともに、いずれかに選択された
軸方向移動禁止することも可能であり、ソレノイ
ドによつて係止ピンを相対移動部に押し当てて所
定軸の移動を禁止している。
Z軸の移動禁止は第2,3図に示されるZスラ
イダ18の溝18cと基台16に設けられている
溝16cとの間で行なわれ、これら両溝18c,
16cに対向する位置でストツパピン78がソレ
ノイド80から突出可能に設けられており、ソレ
ノイド80を励磁することによつてストツパピン
78を前記溝18c,16cに向かつて突出さ
せ、この状態でZスライダ18の移動を停止する
ことができる。
同様に、Yスライダ20の停止は溝20dとZ
スライダ18の溝18dとにより行なわれ、前述
したと同様にソレノイド82で駆動されるストツ
パピン84にてYスライダ20の移動が禁止され
る。
そして、Xスライダに対しては溝22eとYス
ライダ20に設けられた溝20eとの間で行なわ
れ、このためにソレノイド86で駆動されるスト
ツパピン88が設けられている。
本発明においては、前記各スライダ18,2
0,22の移動を低摩擦で行うために各スライダ
のスライド面すなわち16a,20a,20bに
は加圧空気が供給されている。
すなわち、第2図において、基台ブロツク10
内に設けられた加圧空気分配器90には図示して
いないが外部からコンプレツサによつて加圧空気
が供給され、ここからダクト92,94を介して
前記各摺動面に加圧空気が供給され空気軸受が形
成されている。
Z軸方向の摺動面16aに加圧空気を供給する
ために、前記ダクト92は導入孔94から基台1
6内に設けられた図示していない空気溝に導か
れ、摺動面16aの所定の複数個所に設けられた
小孔から加圧空気が吹出され、この空気軸受によ
つて、Zスライド軸18aは基台16内において
浮上軸受されることとなる。
一方、前記ダクト94からの加圧空気は導入部
98からYスライダ20に導かれ、このYスライ
ダ20はYスライダ溝20a及びスライド溝20
bを有するので、ここから図示していない空気溝
を通つて各溝20a,20bに前述したと同様の
複数の小孔から加圧空気を送出し、この空気軸受
によつて、Yスライダ20及びXスライダ22も
同様に浮上支持することができる。
従つて、本発明によれば、各スライダ間の摩擦
を著しく小さくすることができ、その原点戻り特
性を改善可能である。
実施例において、前記基台ブロツク10内部に
は前記各センサ68,72,76から得られる電
気的な信号を漸次増幅するプリアンプ98,10
0,102が内蔵されており、これによつて電気
的な特性に優れた信号を取出すことが可能とな
る。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明によれば、XYZ
の三軸方向に安定した接触圧あるいは移動特性を
与えまた原点基準位置への復帰が極めて容易に行
なわれ、ワーク表面への追従性に優れた高精度の
表面形状測定用トレーサを提供することができ、
特にワーク表面の自動測定等に極めて有用なトレ
ーサを提供可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る表面形状測定用トレーサ
の好適な実施例を示す縦断面図、第2図は第1図
の−断面図、第3図は第2図の−断面図
である。 10…基台ブロツク、16…基台、18…Zス
ライダ、20…Yスライダ、22…Xスライダ、
24…触針、30,32…吊りばね、50…戻し
ばね、62…振動子、92,94…加圧空気ダク
ト。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 基台に対してZスライダ、Yスライダ及びX
    スライダが順次互いに直交方向に摺動自在に支持
    され、前記Xスライダにワークと接触する触針が
    連結固定され、触針をワークの表面に沿つて摺動
    させ、表面形状を電気的な信号として検出する表
    面形状測定用トレーサにおいて、前記Zスライダ
    は吊りばねによつて上下方向に基台から吊下げ支
    持され、前記触針を担持するXスライダにはXY
    平面に対して基準位置戻り力を与える戻しばねの
    一端が固定され、前記戻しばねの他端は基台に対
    してZ軸方向に摺動自在に支持され、前記各スラ
    イダのスライド面には加圧空気が供給され空気軸
    受を構成することを特徴とする表面形状測定用ト
    レーサ。
JP59172143A 1984-08-18 1984-08-18 表面形状測定用トレ−サ Granted JPS6150007A (ja)

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