JPH0347467B2 - - Google Patents
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- JPH0347467B2 JPH0347467B2 JP15734482A JP15734482A JPH0347467B2 JP H0347467 B2 JPH0347467 B2 JP H0347467B2 JP 15734482 A JP15734482 A JP 15734482A JP 15734482 A JP15734482 A JP 15734482A JP H0347467 B2 JPH0347467 B2 JP H0347467B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- insulator
- circuit
- measured
- resistance value
- built
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 239000012212 insulator Substances 0.000 claims description 47
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 19
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 11
- 238000009413 insulation Methods 0.000 claims description 7
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 6
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 2
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/12—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Relating To Insulation (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Insulators (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は直流送電線用碍子装置において、課電
状態で各碍子の絶縁抵抗値を測定し、その絶縁抵
抗値から碍子の良否判定を行うようにした直流送
電線用不良碍子検出器に関するものである。
状態で各碍子の絶縁抵抗値を測定し、その絶縁抵
抗値から碍子の良否判定を行うようにした直流送
電線用不良碍子検出器に関するものである。
長距離送電、海峡横断連系等に有利な直流架空
送電線が建設され実用運転されるようになつて久
しいが、直流架空送電線用碍子の保守点検を行な
うための不良碍子検出器がこれまで実用化されて
おらず、直流送電線用碍子の良否判定を適確容易
に行うことのできる直流送電線用不良碍子検出器
の開発が業界において強く要望されていた。
送電線が建設され実用運転されるようになつて久
しいが、直流架空送電線用碍子の保守点検を行な
うための不良碍子検出器がこれまで実用化されて
おらず、直流送電線用碍子の良否判定を適確容易
に行うことのできる直流送電線用不良碍子検出器
の開発が業界において強く要望されていた。
本発明は前記のような要望に応える目的の下に
完成された直流送電線用不良碍子検出器に関する
もので、以下、本発明を図示の実施例について詳
細に説明する。
完成された直流送電線用不良碍子検出器に関する
もので、以下、本発明を図示の実施例について詳
細に説明する。
１は直流の運転電圧Eoが課電されたｎ個の碍
子個数を有する碍子連で、該碍子連１の個々の碍
子を１つの低抗体とみなし、被測定碍子２の絶縁
抵抗値をRx、被測定碍子２を除く他の碍子３の
絶縁抵抗値をRnとする。４，４′はこの課電され
た碍子連１上を自動走行する図示しない機器本体
の駆動部に取付けられて被測定碍子の金具部に接
触する２本の接触子であつて、該接触子４，４′
のうちいずれか一方には課電された碍子連１の漏
れ電流値を検出する抵抗値をＲとした低抗体５を
接続するとともに該低抗体５に電気的に接続され
るスイツチ等の切替機構６を介して電圧値Ｅの直
流の内蔵電源７を接続する。さらにこの内蔵電源
７は切替機構６を切替操作することにより内蔵電
源電圧Ｅを被測定碍子２に印加したときの電流値
I1と、運転電圧E0による被測定碍子２の漏れ電流
値I2とをそれぞれ検出するための検出抵抗や電流
計等の検出手段８を介して他方の接触子４′に接
続されて検出回路９を構成している。また、この
検出回路９には検出手段８により得られた各電流
値I1、I2と、低抗体５の抵抗値Ｒと、上記内蔵電
源７の電圧値Ｅとを演算して、被測定碍子２の抵
抗値Rxを演算する演算回路１０が接続されてい
る。
子個数を有する碍子連で、該碍子連１の個々の碍
子を１つの低抗体とみなし、被測定碍子２の絶縁
抵抗値をRx、被測定碍子２を除く他の碍子３の
絶縁抵抗値をRnとする。４，４′はこの課電され
た碍子連１上を自動走行する図示しない機器本体
の駆動部に取付けられて被測定碍子の金具部に接
触する２本の接触子であつて、該接触子４，４′
のうちいずれか一方には課電された碍子連１の漏
れ電流値を検出する抵抗値をＲとした低抗体５を
接続するとともに該低抗体５に電気的に接続され
るスイツチ等の切替機構６を介して電圧値Ｅの直
流の内蔵電源７を接続する。さらにこの内蔵電源
７は切替機構６を切替操作することにより内蔵電
源電圧Ｅを被測定碍子２に印加したときの電流値
I1と、運転電圧E0による被測定碍子２の漏れ電流
値I2とをそれぞれ検出するための検出抵抗や電流
計等の検出手段８を介して他方の接触子４′に接
続されて検出回路９を構成している。また、この
検出回路９には検出手段８により得られた各電流
値I1、I2と、低抗体５の抵抗値Ｒと、上記内蔵電
源７の電圧値Ｅとを演算して、被測定碍子２の抵
抗値Rxを演算する演算回路１０が接続されてい
る。
実施例の演算回路１０は第１図に示すように、
切替機構６の切替操作によつて形成される各電流
値I1、I2をそれぞれ記憶しておくための記憶回路
１１と、これらの電流値I1と電流値I2との間で引
算を行うとともに抵抗値Ｒ及び電圧値Ｅとの間で
演算を行い被測定碍子２の抵抗値Rxを演算する
引算回路１２と、前記内蔵電源７の極性変化によ
り被測定碍子２の抵抗値Rxが負とならないよう
に前記引算回路１２からの出力を常時正に変換す
るための絶対値回路１３と、この絶対値回路１３
から出力を電圧に比例した周波数に変換するため
の電圧−周波数変換回路１４と、これを録音する
ための録音回路１５とから構成される。ここで抵
抗値Rxを演算するための演算式は、 Rx＝Ｅ／｜I1−I2｜−Ｒ … であるが、この式は以下のようにして導かれる。
切替機構６の切替操作によつて形成される各電流
値I1、I2をそれぞれ記憶しておくための記憶回路
１１と、これらの電流値I1と電流値I2との間で引
算を行うとともに抵抗値Ｒ及び電圧値Ｅとの間で
演算を行い被測定碍子２の抵抗値Rxを演算する
引算回路１２と、前記内蔵電源７の極性変化によ
り被測定碍子２の抵抗値Rxが負とならないよう
に前記引算回路１２からの出力を常時正に変換す
るための絶対値回路１３と、この絶対値回路１３
から出力を電圧に比例した周波数に変換するため
の電圧−周波数変換回路１４と、これを録音する
ための録音回路１５とから構成される。ここで抵
抗値Rxを演算するための演算式は、 Rx＝Ｅ／｜I1−I2｜−Ｒ … であるが、この式は以下のようにして導かれる。
まず切替機構６を接点６ｂ側に倒したときの回
路は第２図のようになり、この回路についてキル
ヒホツフの法則を適用してE0とI2との関係を求め
ると、 E0＝Rn｛Ｒ＋Rx＋Rm／Rx＋Ｒ＋Rm／Rn｝I2 … ここでRm≪Ｒ、Rx≪Rn、Ｒ≪Rnであるから、 E0≒Rn｛Ｒ／Rx＋１｝I2 … と近似される。
路は第２図のようになり、この回路についてキル
ヒホツフの法則を適用してE0とI2との関係を求め
ると、 E0＝Rn｛Ｒ＋Rx＋Rm／Rx＋Ｒ＋Rm／Rn｝I2 … ここでRm≪Ｒ、Rx≪Rn、Ｒ≪Rnであるから、 E0≒Rn｛Ｒ／Rx＋１｝I2 … と近似される。
また切替機構６を接点６ａ側に倒したときの回
路は第３図のようになり、この回路についてキル
ヒホツフの法則を適用してE0とI1との関係を求め
ると、 E0＝Rn｛Ｒ＋Rx＋Rm／Rx＋Ｒ＋Rm／Rn｝I1 ＋｛Rn／Rx＋１｝Ｅ これを近似式に置換すると、 E0≒Rn｛Ｒ／Rx＋１｝I1＋Rn／RxＥ… これらの式と式より、 Rn｛Ｒ／Rx＋１｝（I2−I1）＝Rn／RxＥ ∴Rx＝Ｅ／I2−I1−Ｒ … となるが、E0の正負の極性の影響をなくするた
めにI2−I1を絶対値化して一般化すると、式が
得られる。このように、本発明によれば運転電圧
E0の影響を受けることなくI1、I2、Ｅ、Ｒの４つ
の値からRxが算出できることとなる。
路は第３図のようになり、この回路についてキル
ヒホツフの法則を適用してE0とI1との関係を求め
ると、 E0＝Rn｛Ｒ＋Rx＋Rm／Rx＋Ｒ＋Rm／Rn｝I1 ＋｛Rn／Rx＋１｝Ｅ これを近似式に置換すると、 E0≒Rn｛Ｒ／Rx＋１｝I1＋Rn／RxＥ… これらの式と式より、 Rn｛Ｒ／Rx＋１｝（I2−I1）＝Rn／RxＥ ∴Rx＝Ｅ／I2−I1−Ｒ … となるが、E0の正負の極性の影響をなくするた
めにI2−I1を絶対値化して一般化すると、式が
得られる。このように、本発明によれば運転電圧
E0の影響を受けることなくI1、I2、Ｅ、Ｒの４つ
の値からRxが算出できることとなる。
このように構成されたものは、課電された碍子
連１上を走行する機器本体の駆動部に取付けられ
た２本の接触子４，４′を被測定碍子２の金具部
に接触させるとともに切替機構６を接点６ａ側に
倒して低抗体５−内蔵電源７−抵抗値Rmを有す
る検出手段８−被測定碍子２によつて閉回路を構
成すれば、この閉回路には運転電圧Eoと内蔵電
源７による電流I1が流れ、検出手段８の両端には
電流I1に比例した電圧が得られるから、別の切替
機構１６を接点１６ａ側に倒してこの電圧を記憶
回路１１に電流I1の大きさとして記憶させる。そ
して、記憶回路１１からは、I1−I2の引き算回路
１２に電流I1を出力し続ける。次に、切替機構６
を接点６ｂに切替えて内蔵電源７をなくした状態
の閉回路を構成すれば、この時に流れる電流I2に
よつて検出手段８の両端には電流I2に比例した電
圧が得られるから、切替機構１６を接点１６ａ側
に切替えてこの電圧をI1−I2の引き算回路１２に
入れ、前述の操作で記憶した電流I1と上記電流I2
の引き算を行つて絶対値回路１３に出力し、この
絶対値回路１３からの出力をカセツトテープレコ
ーダによる記憶回路１５に録音できるよう電圧−
周波数変換回路１４において電圧を繰返しパルス
として周波数変換し、この繰返しパルスに変換さ
れた出力をカセツトテープレコーダによる録音回
路１５で自動記録されることとなり切替機構６の
切替操作で内蔵電源７の出力と運転電圧による被
測定碍子２の漏れ電流とをそれぞれ検出後その各
検出結果を演算回路１０において所定の演算式に
より演算して碍子連の運転電圧による漏れ電流が
自動的に差し引かれることになるため、被測定碍
子２の抵抗値は碍子連の漏れ電流の極性や変化に
左右されることなく内蔵電源のみで被測定碍子２
の絶縁抵抗値を精度良く測定できる。
連１上を走行する機器本体の駆動部に取付けられ
た２本の接触子４，４′を被測定碍子２の金具部
に接触させるとともに切替機構６を接点６ａ側に
倒して低抗体５−内蔵電源７−抵抗値Rmを有す
る検出手段８−被測定碍子２によつて閉回路を構
成すれば、この閉回路には運転電圧Eoと内蔵電
源７による電流I1が流れ、検出手段８の両端には
電流I1に比例した電圧が得られるから、別の切替
機構１６を接点１６ａ側に倒してこの電圧を記憶
回路１１に電流I1の大きさとして記憶させる。そ
して、記憶回路１１からは、I1−I2の引き算回路
１２に電流I1を出力し続ける。次に、切替機構６
を接点６ｂに切替えて内蔵電源７をなくした状態
の閉回路を構成すれば、この時に流れる電流I2に
よつて検出手段８の両端には電流I2に比例した電
圧が得られるから、切替機構１６を接点１６ａ側
に切替えてこの電圧をI1−I2の引き算回路１２に
入れ、前述の操作で記憶した電流I1と上記電流I2
の引き算を行つて絶対値回路１３に出力し、この
絶対値回路１３からの出力をカセツトテープレコ
ーダによる記憶回路１５に録音できるよう電圧−
周波数変換回路１４において電圧を繰返しパルス
として周波数変換し、この繰返しパルスに変換さ
れた出力をカセツトテープレコーダによる録音回
路１５で自動記録されることとなり切替機構６の
切替操作で内蔵電源７の出力と運転電圧による被
測定碍子２の漏れ電流とをそれぞれ検出後その各
検出結果を演算回路１０において所定の演算式に
より演算して碍子連の運転電圧による漏れ電流が
自動的に差し引かれることになるため、被測定碍
子２の抵抗値は碍子連の漏れ電流の極性や変化に
左右されることなく内蔵電源のみで被測定碍子２
の絶縁抵抗値を精度良く測定できる。
本発明は前記実施例からも明らかなように、碍
子連が課電された状態においても碍子連上を摺動
できる２本の接触子をもつて被測定碍子に接触さ
せつつ切替機構を操作して一方の接触子−低抗体
−内蔵電源−検出抵抗などの検出手段−他方の接
触子−被測定碍子を結ぶ閉回路と、一方の接触子
−低抗体−検出抵抗などの検出手段−他方の接触
子−被測定碍子を結ぶ別の閉回路を構成して、前
者の閉回路をもつて直流送電線の運転電圧と検出
回路の内蔵電圧の両電源による電流を検出する一
方後者の閉回路をもつて直流送電線の運転電圧の
みによる電流を検出し、両電流値の電流差を演算
回路により自動的に演算して被測定碍子の絶縁低
抗値を容易に測定できるもので、従来不可能とさ
れていた課電状態における直流送電線用碍子装置
の不良碍子検出を適確容易に行うことができる直
流送電線用不良碍子検出器として今後の直流送電
線用碍子の保守点検に活用でき、電力の安定輸送
の点からも大きな効果が期待できるものである。
子連が課電された状態においても碍子連上を摺動
できる２本の接触子をもつて被測定碍子に接触さ
せつつ切替機構を操作して一方の接触子−低抗体
−内蔵電源−検出抵抗などの検出手段−他方の接
触子−被測定碍子を結ぶ閉回路と、一方の接触子
−低抗体−検出抵抗などの検出手段−他方の接触
子−被測定碍子を結ぶ別の閉回路を構成して、前
者の閉回路をもつて直流送電線の運転電圧と検出
回路の内蔵電圧の両電源による電流を検出する一
方後者の閉回路をもつて直流送電線の運転電圧の
みによる電流を検出し、両電流値の電流差を演算
回路により自動的に演算して被測定碍子の絶縁低
抗値を容易に測定できるもので、従来不可能とさ
れていた課電状態における直流送電線用碍子装置
の不良碍子検出を適確容易に行うことができる直
流送電線用不良碍子検出器として今後の直流送電
線用碍子の保守点検に活用でき、電力の安定輸送
の点からも大きな効果が期待できるものである。
第１図は本発明の実施例を示す回路図、第２図
は切替機構を接点６ｂ側に倒したときの回路図、
第３図は切替機構を接点６ａ側に倒したときの回
路図である。 １：直流送電線用の碍子連、２：被測定碍子、
４，４′：接触子、５：低抗体、６：切替機構、
７：直流の内蔵電源、８：検出手段、９：検出回
路、１０：演算回路。
は切替機構を接点６ｂ側に倒したときの回路図、
第３図は切替機構を接点６ａ側に倒したときの回
路図である。 １：直流送電線用の碍子連、２：被測定碍子、
４，４′：接触子、５：低抗体、６：切替機構、
７：直流の内蔵電源、８：検出手段、９：検出回
路、１０：演算回路。
Claims (1)
- １ 被測定碍子の金具部に接触させて被測定碍子
の絶縁抵抗値を測定する２本の接触子と、この接
触子のいずれか一方の接触子に低抗体および切替
機構を介して直列に接続される直流の内蔵電源
と、前記切替機構を切替操作することにより内蔵
電源を被測定碍子に印加したときの電流値I1およ
び運転電圧による被測定碍子の漏れ電流値I2をそ
れぞれ検出する検出手段を備えた検出回路と、前
記検出手段により得られた各電流値I1、I2、前記
抵抗体の抵抗値Ｒ、内蔵電源の電圧値Ｅから被測
定碍子の抵抗値Rxを演算する演算回路とからな
ることを特徴とする直流送電線用不良碍子検出
器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15734482A JPS5946563A (ja) | 1982-09-09 | 1982-09-09 | 直流送電線用不良碍子検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15734482A JPS5946563A (ja) | 1982-09-09 | 1982-09-09 | 直流送電線用不良碍子検出器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5946563A JPS5946563A (ja) | 1984-03-15 |
| JPH0347467B2 true JPH0347467B2 (ja) | 1991-07-19 |
Family
ID=15647627
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15734482A Granted JPS5946563A (ja) | 1982-09-09 | 1982-09-09 | 直流送電線用不良碍子検出器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5946563A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6297560U (ja) * | 1985-12-11 | 1987-06-22 | ||
| JPS63158471A (ja) * | 1986-12-23 | 1988-07-01 | Ngk Insulators Ltd | 不良碍子検出器 |
| JPS6475977A (en) * | 1987-09-18 | 1989-03-22 | Ngk Insulators Ltd | Faulty insulator detector |
-
1982
- 1982-09-09 JP JP15734482A patent/JPS5946563A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5946563A (ja) | 1984-03-15 |
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