JPH0346773B2 - - Google Patents

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JPH0346773B2
JPH0346773B2 JP56166868A JP16686881A JPH0346773B2 JP H0346773 B2 JPH0346773 B2 JP H0346773B2 JP 56166868 A JP56166868 A JP 56166868A JP 16686881 A JP16686881 A JP 16686881A JP H0346773 B2 JPH0346773 B2 JP H0346773B2
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JP
Japan
Prior art keywords
ccd sensor
sample
circuit
signal
sample phase
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP56166868A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5868365A (ja
Inventor
Kyohiko Kobayashi
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Co Ltd
Priority to JP56166868A priority Critical patent/JPS5868365A/ja
Publication of JPS5868365A publication Critical patent/JPS5868365A/ja
Publication of JPH0346773B2 publication Critical patent/JPH0346773B2/ja
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    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N1/00Scanning, transmission or reproduction of documents or the like, e.g. facsimile transmission; Details thereof
    • H04N1/04Scanning arrangements, i.e. arrangements for the displacement of active reading or reproducing elements relative to the original or reproducing medium, or vice versa
    • H04N1/19Scanning arrangements, i.e. arrangements for the displacement of active reading or reproducing elements relative to the original or reproducing medium, or vice versa using multi-element arrays
    • H04N1/195Scanning arrangements, i.e. arrangements for the displacement of active reading or reproducing elements relative to the original or reproducing medium, or vice versa using multi-element arrays the array comprising a two-dimensional array or a combination of two-dimensional arrays
    • H04N1/19505Scanning picture elements spaced apart from one another in at least one direction

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Image Input (AREA)
  • Image Processing (AREA)
  • Facsimile Heads (AREA)
  • Facsimile Scanning Arrangements (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、レンズのMTF(Modulatiom
Transfer Function)測定装置に使用するCCD
(Charge Coupled Device:電荷結合素子)一次
元センサの制御回路に係り、特に、CCDセンサ
を2個以上連続して配置し(被検レンズの光軸偏
心等のばらつきにより、結像が1個のCCDセン
サの長さ以上に移動するため、CCDを2個以上
連結する必要が生じる)、その結像の読取り可能
範囲を拡大する時のCCDセンサの読取制御回路
に関する。
第1図は、MTF検査の概念図で、図中、1は
光源、2はテストチヤート、3はスリツト、4は
被検レンズ、5は結像、6は結像の移動範囲、7
は第1のCCDセンサ、8は第2のCCDセンサで、
これら第1のCCDセンサ7及び第2のCCDセン
サ8は、従来、第2図に示すように配置されてい
た。すなわち、第2図において、9は移動可能な
ステージ、10は移動距離調整ねじで、第1の
CCDセンサ7の最終ホトエレメントと第2の
CCDセンサ8の最初のホトエレメントを、機械
的な位置調整機構9及び10を用いて、第3図に
平面図にて示すように、ホトエレメントのピツチ
t分だけずらせて配置していた。
しかし、上記従来の位置調整機構は、 (1) 高精度の位置決め用ステージを使用するため
コストが高い。
(2) 位置決めを行うための調整作業を必要とし、
生産性が低下する。
(3) 高精度の機構を使用するため、信頼性が低下
する。
等の欠点があつた。
また、光学センサの画素のすべての画像データ
を読み出すため、MTF測定装置のCCDセンサと
しては演算処理時間がかかるという欠点があつ
た。
本発明は、上述のごとき従来技術の欠点を解決
するためになされたもので、特に、位置決めのた
めの調整を不要とするCCDセンサの連結回路す
なわちCCDセンサの制御回路を提供しようとす
るものであり、また、演算処理時間の短縮、
CCDセンサの低廉化及びMTF測定の高速化を図
つたCCDセンサの制御回路を提供するものであ
る。
一般に、MTF検査機では、CCDセンサの受光
部は長いものが必要であるが、そのホトエレメン
トのピツチについては、現在市販されている
CCDセンサ(例えば、2048ビツト)のホトエレ
メントのピツチより粗いもので使用可能である。
従つて、今、2048ビツトのCCDラインセンサを
例にとると、第4図に示すように、略8エレメン
ト毎にビデオ信号をサンプリングして(図の斜線
部参照)取り出せば、MTF算出に必要な情報を
得ることができるので、ハードウエアの部品点数
の減少やA/D変換部の動作条件等を考慮して前
述のごとき分周したサンプリング動作を行うよう
にすることができる。すなわち、第4図のホトエ
レメントをサンプリングし(読み取り)、ホトエ
レメント2からホトエレメント8までは間引き
し、ホトエレメント9を再びサンプリングする
(読み取る)。したがつて、8つのホトエレメント
毎にビデオ信号をサンプリングすることになる。
このようにすることによつてMTF測定の演算処
理時間の短縮が図れる。
第5図は、本発明の一実施例を説明するための
電気回路図で、図中、7は前記第1のCCDセン
サ、8は第2のCCDセンサ、100はアナログ
マルチプレクサ、101は増幅器、102はサン
プリングホールド及びA/Dコンバータ、103
はCCDクロツク発生器、104はRAM、105
はアドレスカウンタ、106はワードカウンタ、
107はエンドF/F、108はシーケンスパル
ス発生器、109は一致判定回路、110はサン
プリング位相指示ラツチ回路、111は8進カウ
ンタ、112は発振器、113は検査機コントロ
ーラ、114はフロツピーデイスクで、第1の
CCDセンサ7と第2のCCDセンサ8は連結して
配置されたCCDセンサであり、本発明による制
御回路が採用される時は、これら第1のCCDセ
ンサ7と第2のCCDセンサ8は、第6図に示す
ように、そのホトエレメントが若干オーバラツプ
して配置されているという制約だけで、位置決め
のための特別の調整を不要とした配置、例えば、
プリント基板への直接の取り付け配置となつてい
る。このオーバラツプしたエレメントの数は、各
CCDセンサの基板が完成した時に、ビデオ信号
を観察することにより簡単に計数でき、この計数
されたオーバラツプ数ΔN(第6図の例では9ビ
ツト)は、検査機コントローラ113の不揮性メ
モリ例えばフロツピーデイスク114等に記憶さ
れる。すなわち、第1のCCDセンサ、ホトエレ
メント2040をサンプリングし、その位置に対
応する第2のCCDセンサのホトエレメントをホ
トエレメント1とし、7つのホトエレメントを間
引きしてホトエレメント9を読み出すように順次
サンプリングして、MTF測定のためのビデオ信
号のサンプリングを実現する。
第7図及び第8図は、第5図に示した電気回路
の要部の電気信号波形図で、発振器112から
は、ビデオ信号の転送レートに相当するクロツク
信号aが出力され、8進カウンタ111からは分
周信号b,c,dが出力されている。一方、コン
トローラ113よりサンプル位相(ここでは、0
〜7のどれかとする)をサンプル位相指示ラツチ
回路110にセツトすると(第7図e,f,g参
照)、一致判定回路109は一致判定信号hを出
力する。すなわち、分周信号b,c,dが0,
1,0で、サンプル位相指示信号e,f,gが
0,1,0である位置において一致するため一致
判定信号hが出力する。この一致判定信号hによ
りサンプル位相が決定される。
次に、第1のCCDセンサ7及び第2のCCDセ
ンサ8の読取り動作について説明すると、まず、
アナログマルチプレクサ100をセツトして第1
のCCDセンサ7と増幅器101を接続状態とす
る。次に、任意のサンプル位相例えば7をサンプ
ル位相ラツチ回路110にセツトし、RAM10
4の100(100番地よりセツトするとして)をアド
レスカウンタ105にセツトし、次に、読取り回
数256(=2048/8)をワードカウンタ106にセ
ツトする。次に、コントローラ113より読取り
開始指示信号を発すると、CCDクロツク発生器
103よりCCDの動作に同期した信号iがシー
ケンスパルス発生器108にインプツトされ、サ
ンプルホールド及びA/Dコンバータ回路102
とRAM104が第8図に示したタイミングで動
作し、RAM104には、ワードカウンタ106
が0となるまで即ち0より255番地にA/D変換
された第1のCCDセンサ7の256ビツトのビデオ
信号が格納される。
次に、第2のCCDセンサ8のビデオ信号を読
取るために、該第2のCCDセンサ8と増幅器1
01を接続するようにアナログマルチプレクサ1
00をセツトするとともに、サンプル位相指示ラ
ツチ回路110に、第1のCCDセンサ7と第2
のCCDセンサ8でのサンプリング間隔を一定
(ここでは8ビツト)に保つために、サンプリン
グ位相0をセツトする。そして、ワードカウンタ
106には、その先頭アドレス255をセツト
し、前記第1のCCDセンサ7と同様にして読取
りを行い、第9図に示すようにしてビデオ信号を
格納する。この結果、RAM104の0より510
番地には、第1のCCDセンサ7と第2のCCDセ
ンサ8のサンプリング間隔を一定の8ビツトに保
つてサンプルされたビデオ信号が得られる。な
お、第9図において、Aは第1CCDセンサ7のデ
ータ格納範囲、Bは第2CCDセンサ8のデータ格
納範囲、Cは第1CCDセンサ7のデータを読取る
時のアドレスカウンタ105の初期値、Dは第
1CCDセンサ7のデータの中で第2CCDセンサ8
の読取りにより消されるデータ及び第2CCDセン
サ8のデータを読取り時のアドレスカウンタ10
5の初期値である。
以上の説明から明らかなように、本発明による
と、2個以上のCCDセンサの、その相対位置関
係を精密に決めなくても、任意のサンプリング間
隔を一定に保つことによつて連続した形でビデオ
信号を読取ることができるので、CCDセンサの
低廉化及及び生産性の向上を図ることができる。
また、ホトエレメントのすべてを読み出すことな
く任意のホトエレメントをサンプリングするの
で、MTF測定における演算処理時間を短縮する
ことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、MTF検査の概念図、第2図は、
CCDセンサの配置例を示す斜視図、第3図は、
CCDセンサの配置例を示す平面図、第4図は、
CCDセンサのサンプリング読取り例を示す図、
第5図は、本発明によるCCDセンサ制御回路の
一例を示す図、第6図は、本発明によるCCDセ
ンサの配置例を示す平面図、第7図及び第8図
は、第5図の回路の要部の信号波形図、第9図
は、第5図に示したRAM104の記憶状態をを
説明するための図である。 7……第1のCCDセンサ、8……第2のCCD
センサ、100……アナログマルチプレクサ、1
01……増幅器、102……サンプルホールド及
びA/Dコンバータ、103……CCDクロツク
発生器、104……RAM、105……アドレス
カウンタ、106……ワードカウンタ、107…
…エンドF/F、108……シーケンスパルス発
生器、109……一致判定回路、110……サン
プル位相指示ラツチ回路、111……8進カウン
タ、112……発振器、113……検査機コント
ローラ、114……フロツピーデイスク。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 複数のCCDセンサの各々の受光部の一部が
    重複して配置され、前記CCDセンサ間の位置調
    整を不要とし、任意のサンプリング間隔でビデオ
    信号を得るようにしたMTF測定装置における
    CCDセンサ制御回路において、前記ビデオ信号
    の転送レートに相当するクロツク信号から分周信
    号を出力するカウンタと、サンプル期間中の任意
    のサンプル位相を指示するサンプル位相指示ラツ
    チ回路と、前記カウンタから出力される分周信号
    と前記サンプル位相指示ラツチ回路からの指示信
    号との一致により任意のサンプル位相を得る一致
    判定回路と、該一致判定回路からのサンプル位相
    に基づき前記CCDセンサからの読出信号を間引
    きして読取るサンプルホールド及びA/D変換回
    路と、該サンプルホールド及びA/D変換回路か
    ら出力されたサンプリング位相パルスに同期して
    アドレス出力を歩進し、かつMTF検査機コント
    ローラからアドレス信号の任意の初期値をセツト
    可能とするアドレスカウンタと、前記サンプリン
    グ位相パルスに同期してサンプリング・データを
    書込み可能とするメモリ回路とから成ることを特
    徴とするMTF測定装置におけるCCDセンサ制御
    回路。
JP56166868A 1981-10-19 1981-10-19 Mtf測定装置におけるccdセンサ制御回路 Granted JPS5868365A (ja)

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JPS5868365A JPS5868365A (ja) 1983-04-23
JPH0346773B2 true JPH0346773B2 (ja) 1991-07-17

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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS53146523A (en) * 1977-05-27 1978-12-20 Nec Corp Multi-lens scanning system
JPS55161461A (en) * 1979-05-29 1980-12-16 Ibm Electronic image junction device
JPS56120261A (en) * 1980-02-28 1981-09-21 Canon Inc Picture read in device
JPS56126373A (en) * 1980-03-10 1981-10-03 Canon Inc Picture reading device

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JPS5868365A (ja) 1983-04-23

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