JPS5868365A - Ｍｔｆ測定装置におけるｃｃｄセンサ制御回路 - Google Patents
Ｍｔｆ測定装置におけるｃｃｄセンサ制御回路Info
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- JPS5868365A JPS5868365A JP56166868A JP16686881A JPS5868365A JP S5868365 A JPS5868365 A JP S5868365A JP 56166868 A JP56166868 A JP 56166868A JP 16686881 A JP16686881 A JP 16686881A JP S5868365 A JPS5868365 A JP S5868365A
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- ccd sensor
- ccd
- ram104
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- H04N1/04—Scanning arrangements, i.e. arrangements for the displacement of active reading or reproducing elements relative to the original or reproducing medium, or vice versa
- H04N1/19—Scanning arrangements, i.e. arrangements for the displacement of active reading or reproducing elements relative to the original or reproducing medium, or vice versa using multi-element arrays
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、レンズのＭＴＦ検査に使用するＣＣＤ−次元
センサの制御回路に係り、特に、ＣＣＤセンサを２個以
上連続して配置しく被検レンズの光＠１１１桶心等のば
らつきにより、結像が１個のＣＣＤセンサの長さ以上に
移動するため、ＣＣＤを２個以上連結する必要が生じる
）、その結像の読取り可能範囲を拡大する時のＣＣＤセ
ンサの読取制御回路に関する。
センサの制御回路に係り、特に、ＣＣＤセンサを２個以
上連続して配置しく被検レンズの光＠１１１桶心等のば
らつきにより、結像が１個のＣＣＤセンサの長さ以上に
移動するため、ＣＣＤを２個以上連結する必要が生じる
）、その結像の読取り可能範囲を拡大する時のＣＣＤセ
ンサの読取制御回路に関する。
第１図は、ＭＴＦ検査の概念図で、図中、■は光源、２
はテストチャート、３はスリット、４は被検レンズ、５
は結像、６は結像の移動車０．囲、７は第１のＣＣＤセ
ンサ、８は第２のＣＣＤセンサで、これら第１０ＣＣＤ
センサ７及び第２のＣＣＤセンサ８は、従来、第２図に
示すように配置されていた。すなわル、第２図において
、９は移動可能なステージ、１０は移動距離調歪ねじて
、第１のＣＣＤセンサ７の最終ホトエレメントと第２の
ＣＣＤセンサ８の最初のホトエレメントを、機械的な位
置調整機構９及び１０を用いて、第３図に平面図にて示
すように、ホトエレメントのピッチ（１）分だけずらせ
て配置していた。
はテストチャート、３はスリット、４は被検レンズ、５
は結像、６は結像の移動車０．囲、７は第１のＣＣＤセ
ンサ、８は第２のＣＣＤセンサで、これら第１０ＣＣＤ
センサ７及び第２のＣＣＤセンサ８は、従来、第２図に
示すように配置されていた。すなわル、第２図において
、９は移動可能なステージ、１０は移動距離調歪ねじて
、第１のＣＣＤセンサ７の最終ホトエレメントと第２の
ＣＣＤセンサ８の最初のホトエレメントを、機械的な位
置調整機構９及び１０を用いて、第３図に平面図にて示
すように、ホトエレメントのピッチ（１）分だけずらせ
て配置していた。
しかし、上記従来の位置調整機構（ｄ、（１）、高精度
の位置決め用ステージＴ使用するためコストが萬い。
の位置決め用ステージＴ使用するためコストが萬い。
１：、！ｌ 、位置決めを行うための調整作業を必要と
し、生産性が低下する。
し、生産性が低下する。
（３）、高精度の機構を使用するため、信頼性が低下す
る。
る。
等の欠点があった。
本発明は、上述のごとき従来技術の欠点を解決するため
になされたもので、特に、位置決めのための調整を小賢
とするＣＣＤセンサの連結回路すなわちＣＣＤセンサの
制御回路を提供しようとするものである。
になされたもので、特に、位置決めのための調整を小賢
とするＣＣＤセンサの連結回路すなわちＣＣＤセンサの
制御回路を提供しようとするものである。
一般に、ＭＴＦ検査・機では、ＣＣＤセンサの受光部は
長いものが必要であるが、そのホトエレメントのピッチ
については、現在市販されているＣＣＤセンサ（例えば
、２０４８ビツト）のホトエレメントのピッチより粗い
もので使用可能である。
長いものが必要であるが、そのホトエレメントのピッチ
については、現在市販されているＣＣＤセンサ（例えば
、２０４８ビツト）のホトエレメントのピッチより粗い
もので使用可能である。
従って、今、２０４８ビツトのＣＣＤラインセンサを例
にとると、第４図に示すように、略８エレメント毎にビ
デオ信号をサンプリングして（図の斜脚部参照）取り出
せば、ＭＴＦ算出に必要な情報を祷ることができるので
、ハードウェアの部品点数の減少やＡ／Ｄ変換部の動作
条件等を考１４ｆ して前述のごとき分周したサンプリ
ング動作を行うようにすることができる。
にとると、第４図に示すように、略８エレメント毎にビ
デオ信号をサンプリングして（図の斜脚部参照）取り出
せば、ＭＴＦ算出に必要な情報を祷ることができるので
、ハードウェアの部品点数の減少やＡ／Ｄ変換部の動作
条件等を考１４ｆ して前述のごとき分周したサンプリ
ング動作を行うようにすることができる。
第５図は、本発明の一実施例を説明するだめの電気回路
図で、図中、７は前記第１のＣＣＤセンサ、８は第２の
ＣＣＤセンサ、１ｏｏはアナログマルチプレクサ、１０
１は増幅器、１ｏ２はサンプリングホールド及びＡ／Ｄ
コンバータ、１０３はＣＣＤクロック発生器、１０４は
ＲＡＭ、１０５はアドレスカウンタ、１０６はワードカ
ウンタ、１ｏ７はエンドＦ／Ｆ、１０Ｂはシーケンスパ
ルス発生器、１０９は一致判定回路、１１０はサンプリ
ング位相指示ラッチ回路、１１１は８進カウンタ、１１
２は発振器、１１３は検査機コントローラ、１１４はフ
ロラピルディスクで、第１のＣＣＤセンサ７と第２のＣ
ＣＤセンサ８は連結して配置されたＣＣＤセンサであり
、本発明による制御回路が採用される時は、これら第１
のＣＣＤセンサ７と第２のＣＣＩ）センサ８は、第６図
に示すように、そのホトエレメントが若干オーバラップ
して配置されているという制約だけで、位置決めのため
の特別の調整を小賢とした配置、例えば、プリント基板
への直接の取り付は配置となっている。このオーバラッ
プしたエレメントの数は、各ＣＣＤセンサの基板が完成
した時に、ビデオ信号を観察することにより簡単にａ１
数でき、この計数されたオーバラップ数ΔＮ（第６図の
例では９ピツト）は、検査機コントローラ１１３の不揮
性メモリ例えばフロッピーディスク１１４等に記憶され
る〇 第７図及び第８図は、第５図に示した電気回路の要部の
電気信号波形図で、発振器１１２からは、ビデオ信号の
転送レートに相当するクロック信号ａが出力され、８進
カウンタ１１１からは分周信号す、ｃ、ｄが出力されて
いる。一方、コントローラ１１３よりサンプル位相（こ
こでは、０〜７のどれかとする）をサンプル位相指示ラ
ッチ回路１１０にセットすると（第７図ｅ％ ｆｓ
ｇ参照）、一致判定回路１０９は一致判定信号りを出力
する。
図で、図中、７は前記第１のＣＣＤセンサ、８は第２の
ＣＣＤセンサ、１ｏｏはアナログマルチプレクサ、１０
１は増幅器、１ｏ２はサンプリングホールド及びＡ／Ｄ
コンバータ、１０３はＣＣＤクロック発生器、１０４は
ＲＡＭ、１０５はアドレスカウンタ、１０６はワードカ
ウンタ、１ｏ７はエンドＦ／Ｆ、１０Ｂはシーケンスパ
ルス発生器、１０９は一致判定回路、１１０はサンプリ
ング位相指示ラッチ回路、１１１は８進カウンタ、１１
２は発振器、１１３は検査機コントローラ、１１４はフ
ロラピルディスクで、第１のＣＣＤセンサ７と第２のＣ
ＣＤセンサ８は連結して配置されたＣＣＤセンサであり
、本発明による制御回路が採用される時は、これら第１
のＣＣＤセンサ７と第２のＣＣＩ）センサ８は、第６図
に示すように、そのホトエレメントが若干オーバラップ
して配置されているという制約だけで、位置決めのため
の特別の調整を小賢とした配置、例えば、プリント基板
への直接の取り付は配置となっている。このオーバラッ
プしたエレメントの数は、各ＣＣＤセンサの基板が完成
した時に、ビデオ信号を観察することにより簡単にａ１
数でき、この計数されたオーバラップ数ΔＮ（第６図の
例では９ピツト）は、検査機コントローラ１１３の不揮
性メモリ例えばフロッピーディスク１１４等に記憶され
る〇 第７図及び第８図は、第５図に示した電気回路の要部の
電気信号波形図で、発振器１１２からは、ビデオ信号の
転送レートに相当するクロック信号ａが出力され、８進
カウンタ１１１からは分周信号す、ｃ、ｄが出力されて
いる。一方、コントローラ１１３よりサンプル位相（こ
こでは、０〜７のどれかとする）をサンプル位相指示ラ
ッチ回路１１０にセットすると（第７図ｅ％ ｆｓ
ｇ参照）、一致判定回路１０９は一致判定信号りを出力
する。
次に、第１のＣＣＤセンサ７及び第２のＣＣＤセンサ８
の読取り動作について説明すると、まず、アナログマル
チプレクサ＋００をセットして第１のＣＣＤセンサ７と
増幅器１０１を接続状態とする。
の読取り動作について説明すると、まず、アナログマル
チプレクサ＋００をセットして第１のＣＣＤセンサ７と
増幅器１０１を接続状態とする。
次に、任意のサンプル位相例えば７をサンプル位相ラッ
チ回路１１０にセットし、ＲＡＭ１０４のｌｏ（）（１
００番地よりセットするとして）をアドレスカウンタ１
０５にセットし、次に、読取り回数２５６（＝２０４８
／８）をワードカウンタ１０６にセットする。次に、コ
ントローラ１１３より読取り開始指示信号を発すると、
ＣＣＤクロック発生器１０３よりＣＣＤの動作に同期し
た信号ｉがシーケンスパルス発生器１０８にインプット
され、サンプルホールド及びＡ／Ｄコンバータ回路１０
２とＲＡＭ１０４が第８図に示したタイミングで動作し
、ＲＡＭ１０４には、ワードカウンタ１０６が０となる
まで即ち０より２５５番地にＡ／Ｄ変換された第１のＣ
ＣＤセンサ７０２５６ビツトのビデオ信号が格納される
。
チ回路１１０にセットし、ＲＡＭ１０４のｌｏ（）（１
００番地よりセットするとして）をアドレスカウンタ１
０５にセットし、次に、読取り回数２５６（＝２０４８
／８）をワードカウンタ１０６にセットする。次に、コ
ントローラ１１３より読取り開始指示信号を発すると、
ＣＣＤクロック発生器１０３よりＣＣＤの動作に同期し
た信号ｉがシーケンスパルス発生器１０８にインプット
され、サンプルホールド及びＡ／Ｄコンバータ回路１０
２とＲＡＭ１０４が第８図に示したタイミングで動作し
、ＲＡＭ１０４には、ワードカウンタ１０６が０となる
まで即ち０より２５５番地にＡ／Ｄ変換された第１のＣ
ＣＤセンサ７０２５６ビツトのビデオ信号が格納される
。
次に、第２のＣＣＤセンサ８のビデオ信号を読取るため
に、該第２のＣＣＤセンサ８と増幅器１０１を接続する
ようにアナログマルチプレクサ１００をセットするとと
もに、サンプル位相指示ラッチ回路１１０に、第１のＣ
ＣＤセンサ７と第２のＣＣＤセンサ８でのサンプリング
間隔を一定（ここでは８ビツト）に保つために、サンプ
リング位相０をセットする。そして、ワードカウンタ１
０６には、その先頭アドレス２５５をセットし、前記第
１のＣＣＤセンサ７と同様にして読取りを行い、第９図
に示すようにしてビデオ信号を格納する。この結果、Ｒ
ＡＭ１０４の０より５１０番地には、第１のＣＣＤセン
サ７と第２のＣＣＤセンサ８のサンプリング間隔を一定
の８ビツトに保ってサンプルされたビデオ信号が得られ
る。なお、第９図において、Ａは第１ ＣＣＤセンサ７
のデータ格納範囲、Ｂは第２ＣＣＤセンサ８のデータ格
納範囲、Ｃは第１ＣＯＤセンサ７のデータを読取る時の
アドレスカウンタ１０５の初期値、Ｄハ第１ＣＣＤセン
サ７のデータの中で第２ＣＣＤセンサ８の読取りにより
消されるデータ及び第２ＣＣＤセンサ８のデータを読取
る時のアドレスカウンタ１０５の初期値である。
に、該第２のＣＣＤセンサ８と増幅器１０１を接続する
ようにアナログマルチプレクサ１００をセットするとと
もに、サンプル位相指示ラッチ回路１１０に、第１のＣ
ＣＤセンサ７と第２のＣＣＤセンサ８でのサンプリング
間隔を一定（ここでは８ビツト）に保つために、サンプ
リング位相０をセットする。そして、ワードカウンタ１
０６には、その先頭アドレス２５５をセットし、前記第
１のＣＣＤセンサ７と同様にして読取りを行い、第９図
に示すようにしてビデオ信号を格納する。この結果、Ｒ
ＡＭ１０４の０より５１０番地には、第１のＣＣＤセン
サ７と第２のＣＣＤセンサ８のサンプリング間隔を一定
の８ビツトに保ってサンプルされたビデオ信号が得られ
る。なお、第９図において、Ａは第１ ＣＣＤセンサ７
のデータ格納範囲、Ｂは第２ＣＣＤセンサ８のデータ格
納範囲、Ｃは第１ＣＯＤセンサ７のデータを読取る時の
アドレスカウンタ１０５の初期値、Ｄハ第１ＣＣＤセン
サ７のデータの中で第２ＣＣＤセンサ８の読取りにより
消されるデータ及び第２ＣＣＤセンサ８のデータを読取
る時のアドレスカウンタ１０５の初期値である。
以上の説明から明らかなように、本発明によると、２個
以上のＣＣＤセンサの、その相対位置関係を精密に決め
なくても、任意のサンプリング間隔を一定に保つことに
よって連続した形でビデオ信号を読取ることができるの
で、ＣＣＤセンサの低廉化及び生産性の向上を図ること
ができる。
以上のＣＣＤセンサの、その相対位置関係を精密に決め
なくても、任意のサンプリング間隔を一定に保つことに
よって連続した形でビデオ信号を読取ることができるの
で、ＣＣＤセンサの低廉化及び生産性の向上を図ること
ができる。
第１図は、ＭＴＦ検査の一概念図、第２図は、ＣＣＤセ
ンサの配置例を示す斜視図、第３図は、ＣＣＤセンサの
配置例を示す平面図、第４図は、ＣＣＤセンサのサンプ
リング読取り例を示す図、第５図は、本発明によるＣＣ
Ｄセンサ制御回路の一例を示す図、第６図は、本発明に
よるＣＣＤセンサの配置例を示す平面図、第７図及び第
８図は、第５図の回路の要部の信号波形図、第９図は、
第５図に示したＲＡＭ１０４の記憶状態を説明するだめ
の図である。 ７・第１のＣＣＤセンサ、８ 第２のＣＣＤセンサ、１
００・アナログマルチプレクサ、１０１ ・増幅器、１
０２・サンプルホールド及びＡ／Ｄコンバータ、１０３
ＣＣＤクロック発生器、１１０４ＲＡ、１０５
アドレスカウンタ、１０６ ワードカウンタ、１０７・
エンドＦ／Ｆ、１０８ シーケンスパルス発生器、１
０９ ・一致判定回路、１１０ サンプル位相指示ラッ
チ回路、１１．１−８進カウンタ、１１２・・発振器、
１１３・・検査２哉コントローラ、１１４ フロッピー
ディスク。
ンサの配置例を示す斜視図、第３図は、ＣＣＤセンサの
配置例を示す平面図、第４図は、ＣＣＤセンサのサンプ
リング読取り例を示す図、第５図は、本発明によるＣＣ
Ｄセンサ制御回路の一例を示す図、第６図は、本発明に
よるＣＣＤセンサの配置例を示す平面図、第７図及び第
８図は、第５図の回路の要部の信号波形図、第９図は、
第５図に示したＲＡＭ１０４の記憶状態を説明するだめ
の図である。 ７・第１のＣＣＤセンサ、８ 第２のＣＣＤセンサ、１
００・アナログマルチプレクサ、１０１ ・増幅器、１
０２・サンプルホールド及びＡ／Ｄコンバータ、１０３
ＣＣＤクロック発生器、１１０４ＲＡ、１０５
アドレスカウンタ、１０６ ワードカウンタ、１０７・
エンドＦ／Ｆ、１０８ シーケンスパルス発生器、１
０９ ・一致判定回路、１１０ サンプル位相指示ラッ
チ回路、１１．１−８進カウンタ、１１２・・発振器、
１１３・・検査２哉コントローラ、１１４ フロッピー
ディスク。
Claims (1)
- ２個以上のＣＣＤラインセンサをその受光部が配置上の
調整を不要とする範囲で若干オーバラップして平行に配
置し、かつ、任意のサンプリング間隔でホトエレメント
のビデオ出力信号を読み出すＣＣＤセンサの制御回路で
あって、サンプル期間中の任意のサンプル位相を指定す
ることのできるサンプル位相指示ラッチ回路と、ＣＣＤ
センサの読み出し信号を任意のアドレスより格納するこ
とのできる初期値セット可能なアドレスカウンタとを有
することを特徴とするＣＣＤセンサの制御回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56166868A JPS5868365A (ja) | 1981-10-19 | 1981-10-19 | Ｍｔｆ測定装置におけるｃｃｄセンサ制御回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56166868A JPS5868365A (ja) | 1981-10-19 | 1981-10-19 | Ｍｔｆ測定装置におけるｃｃｄセンサ制御回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5868365A true JPS5868365A (ja) | 1983-04-23 |
| JPH0346773B2 JPH0346773B2 (ja) | 1991-07-17 |
Family
ID=15839119
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56166868A Granted JPS5868365A (ja) | 1981-10-19 | 1981-10-19 | Ｍｔｆ測定装置におけるｃｃｄセンサ制御回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5868365A (ja) |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53146523A (en) * | 1977-05-27 | 1978-12-20 | Nec Corp | Multi-lens scanning system |
| JPS55161461A (en) * | 1979-05-29 | 1980-12-16 | Ibm | Electronic image junction device |
| JPS56120261A (en) * | 1980-02-28 | 1981-09-21 | Canon Inc | Picture read in device |
| JPS56126373A (en) * | 1980-03-10 | 1981-10-03 | Canon Inc | Picture reading device |
-
1981
- 1981-10-19 JP JP56166868A patent/JPS5868365A/ja active Granted
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53146523A (en) * | 1977-05-27 | 1978-12-20 | Nec Corp | Multi-lens scanning system |
| JPS55161461A (en) * | 1979-05-29 | 1980-12-16 | Ibm | Electronic image junction device |
| JPS56120261A (en) * | 1980-02-28 | 1981-09-21 | Canon Inc | Picture read in device |
| JPS56126373A (en) * | 1980-03-10 | 1981-10-03 | Canon Inc | Picture reading device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0346773B2 (ja) | 1991-07-17 |
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