JPH0344654U - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0344654U
JPH0344654U JP10454789U JP10454789U JPH0344654U JP H0344654 U JPH0344654 U JP H0344654U JP 10454789 U JP10454789 U JP 10454789U JP 10454789 U JP10454789 U JP 10454789U JP H0344654 U JPH0344654 U JP H0344654U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical path
vacuum
laser interferometer
length
measurement
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP10454789U
Other languages
English (en)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP10454789U priority Critical patent/JPH0344654U/ja
Publication of JPH0344654U publication Critical patent/JPH0344654U/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図から第5図までは本考案を具体化した実
施例を示すもので、第1図は一実施例の構成を説
明する図であり、第2図は実施例の動作を説明す
る図であり、第3図、第4図、第5図は別の実施
例を説明する図であり、第6図は従来の空気屈折
率用干渉計の構成を説明する図である。 46,72……真空窓、48,74,80……
反射鏡、56……ベローズ。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 参照光路と計測光路との間の光路長の差の変化
    を検出するレーザ干渉計であつて、 前記レーザ干渉計の光源であるレーザ光に対し
    て透過率の良い1枚の真空窓と反射器を有する、
    あるいは2枚の真空窓を有する、内部の大気が排
    気された真空セルが、前記参照光路、あるいは前
    記計測光路に配置されており、前記真空セルの長
    さを光軸方向に対して変化させる機構を有するこ
    とを特徴とする空気屈折率測定装置。
JP10454789U 1989-09-06 1989-09-06 Pending JPH0344654U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10454789U JPH0344654U (ja) 1989-09-06 1989-09-06

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10454789U JPH0344654U (ja) 1989-09-06 1989-09-06

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0344654U true JPH0344654U (ja) 1991-04-25

Family

ID=31653340

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10454789U Pending JPH0344654U (ja) 1989-09-06 1989-09-06

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0344654U (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08247939A (ja) * 1995-03-15 1996-09-27 Anritsu Corp ガス濃度測定装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08247939A (ja) * 1995-03-15 1996-09-27 Anritsu Corp ガス濃度測定装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0344654U (ja)
JPS6425265U (ja)
JPS644102Y2 (ja)
JPH02144743U (ja)
JPH0399337U (ja)
JPS6240762U (ja)
JPH03100818U (ja)
JPH03100819U (ja)
JPH01156845U (ja)
JPH0453506U (ja)
JPS63153106U (ja)
JPH02120962U (ja)
JPH0239144U (ja)
JPS6187342U (ja)
JPH0361559U (ja)
JPH02118369U (ja)
JPH0227109U (ja)
JPS62179703U (ja)
JPH0478544U (ja)
JPH0311205U (ja)
JPS61133810A (ja) 厚さ測定方法
JPH05256605A (ja) レーザ干渉計
JPH03116508U (ja)
JPS6321846U (ja)
JPH0451607U (ja)