JPH0343742B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0343742B2
JPH0343742B2 JP58021244A JP2124483A JPH0343742B2 JP H0343742 B2 JPH0343742 B2 JP H0343742B2 JP 58021244 A JP58021244 A JP 58021244A JP 2124483 A JP2124483 A JP 2124483A JP H0343742 B2 JPH0343742 B2 JP H0343742B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
mark
magnification
signal
bright spot
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP58021244A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS59148254A (en
Inventor
Kenji Obara
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jeol Ltd
Original Assignee
Nihon Denshi KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nihon Denshi KK filed Critical Nihon Denshi KK
Priority to JP58021244A priority Critical patent/JPS59148254A/en
Publication of JPS59148254A publication Critical patent/JPS59148254A/en
Publication of JPH0343742B2 publication Critical patent/JPH0343742B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/20Means for supporting or positioning the object or the material; Means for adjusting diaphragms or lenses associated with the support

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は視野の移動を試料を移動させて行なう
ようにした走査電子顕微鏡等の試料移動装置に関
する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a sample moving device such as a scanning electron microscope, which moves a field of view by moving a sample.

[従来技術] 近時、走査電子顕微鏡を用いて集積回路素子等
の大型試料を低倍で観察することが行なわれてい
る。このような場合、電磁偏向により視野の移動
を行なうと、電子線はかなり光軸から離れた位置
で走査することになるため、収差が大きくなり良
質の像を得ることができない。そのため、この種
の装置においては、試料を移動させて視野を変化
させるようにしている。この試料の移動は従来、
例えばボタンを押している間は試料が動き続け、
ボタンを離すと試料が停止するようなボタン操作
によつて行なつていたが、熟練した操作者でない
とボタンを離すタイミングが難しく、1回のボタ
ン操作で所望の視野を得ることは困難である。従
つて、何回かのボタン操作のすえに所望とする視
野を得ているわけであるが、試料の機械的な移動
には時間がかかるため、簡単且つ短時間に所望の
視野を得ることはできなかつた。
[Prior Art] Recently, scanning electron microscopes have been used to observe large samples such as integrated circuit elements at low magnification. In such a case, if the field of view is moved by electromagnetic deflection, the electron beam will scan at a position quite far from the optical axis, resulting in large aberrations and making it impossible to obtain a high-quality image. Therefore, in this type of apparatus, the field of view is changed by moving the sample. Conventionally, this sample movement was
For example, as long as the button is pressed, the sample continues to move.
This was done by pressing a button so that the sample stopped when the button was released, but it is difficult for non-skilled operators to know when to release the button, making it difficult to obtain the desired field of view with a single button operation. . Therefore, the desired field of view is obtained after pressing the button several times, but since mechanically moving the sample takes time, it is difficult to obtain the desired field of view easily and in a short time. I couldn't do it.

このような点を考慮して、試料像の表示画面に
マークを表示できるようにし、このマークを画面
上で像中の注目する位置に移動させると、自動的
にマークで指示された像部分が画面の中央に表示
されるように試料を移動させるようにした走査電
子顕微鏡等の試料移動装置が開発された。
Taking these points into consideration, marks can be displayed on the sample image display screen, and when this mark is moved to the desired position in the image on the screen, the image area indicated by the mark will be automatically displayed. A sample moving device, such as a scanning electron microscope, has been developed that moves the sample so that it is displayed in the center of the screen.

しかしながらこのような装置において、画像中
の注目する部分を追つてマークを画面の端部まで
移動させ、更に画面の端部を越えて画面に表示さ
れない部分まで表示させて視野選択をしようとす
ると、その都度倍率を手動で低下させる操作が必
要であつた。その為、円滑に注目する像部分をマ
ークで指示することはできなかつた。又、倍率を
低下させた際に、注目する部分を見失つてしまつ
た。
However, in such a device, if you try to select a field of view by moving the mark to the edge of the screen to follow the part of interest in the image, and then displaying the part that is not displayed on the screen beyond the edge of the screen, It was necessary to manually lower the magnification each time. Therefore, it was not possible to smoothly indicate the part of the image to be focused on using marks. Also, when I lowered the magnification, I lost sight of the part I was looking at.

[発明の目的] 本発明はこのような従来の欠点を解決し、簡単
且つ短時間に所望の視野を得ることのできる走査
電子顕微鏡等の試料移動装置を提供することを目
的とするものである。
[Object of the Invention] An object of the present invention is to solve these conventional drawbacks and provide a sample moving device such as a scanning electron microscope that can easily and quickly obtain a desired field of view. .

[発明の構成] そのため本発明は、電子線を試料上において二
次元的に走査する手段と、該電子線の走査に伴う
検出信号の供給に基づいて試料像を表示する表示
手段と、該電子線の走査幅を切り換えることによ
り倍率を切換えるための倍率切換手段と、試料を
移動させるための試料移動手段と、前記表示手段
に試料の注目部分の目印となるマークを表示する
手段と、該マークの表示位置を任意に移動させる
ための手段と、該マークに対応した試料上の位置
が画面の中央に表示されるように自動的に試料を
移動させるための手段を具備した走査電子顕微鏡
等の試料移動装置において、該マークの位置を画
面の端部に移動させた場合に前記倍率制御手段を
制御することにより自動的に倍率を低下させる手
段と、該マークの試料像に対する相対位置が該倍
率の低下にかかわらず維持されるように制御する
ためのマーク表示位置制御手段を具備することを
特徴としている。
[Structure of the Invention] Therefore, the present invention provides a means for two-dimensionally scanning an electron beam on a sample, a display means for displaying a sample image based on the supply of a detection signal accompanying the scanning of the electron beam, and a means for two-dimensionally scanning an electron beam on a sample. a magnification switching means for switching the magnification by switching the scanning width of a line; a sample moving means for moving the sample; a means for displaying a mark serving as a mark of a portion of interest on the sample on the display means; and the mark. A scanning electron microscope or the like equipped with a means for arbitrarily moving the display position of the mark and a means for automatically moving the sample so that the position on the sample corresponding to the mark is displayed in the center of the screen. In the sample moving device, means for automatically lowering the magnification by controlling the magnification control means when the position of the mark is moved to the edge of the screen, and a means for automatically lowering the magnification by controlling the magnification control means when the position of the mark is moved to the edge of the screen, and The present invention is characterized by comprising a mark display position control means for controlling the mark display position to be maintained regardless of a decrease in the mark display position.

[実施例] 以下図面に基づき本発明の実施例を詳述する。
第1図は本発明の一実施例の概略を示すためのも
ので、図中1は電子銃であり、電子銃1よりの電
子線2は集束レンズ3により集束されて試料4に
照射される。5X,5Yは偏向コイルであり、こ
れら偏向コイル5X,5Yには走査信号発生回路
6より鋸歯状の走査信号が倍率切換回路7を介し
て供給される。8X,8Yは増幅器である。この
走査信号発生回路6よりの走査信号は陰極線管9
の偏向コイルSにも供給されており、陰極線管9
は電子線2と同期走査される。10は試料4より
発生する二次電子を検出するための二次電子検出
器であり、この検出器10の出力信号は増幅器1
1において増幅された後、輝点加算回路12を介
して前記陰極線管9に輝度信号として供給され
る。13は試料4を載置する試料ステージであ
り、この試料ステージはパルスモータ14X,1
4YによつてX(水平)方向及びY(垂直)方向へ
移動できるようになつている。15はパルスモー
タ14X,14Yを回転させるための駆動パルス
を発生する駆動回路である。16は前記輝点の表
示やモータの駆動を制御するための制御装置であ
り、この制御装置16は輝点信号発生回路17、
モータ駆動制御回路18、アツプダウンカウンタ
19、レジスタ20、比較器21、1/C回路2
2より成つている。輝点信号発生回路17には前
記走査信号発生回路6よりの走査信号に同期した
信号が供給されており、同期信号を起点として所
定タイミングの輝点表示パルスを発生し、このパ
ルスを前記輝点加算回路12に供給する。駆動制
御回路18よりの制御信号は駆動回路15に供給
されており、駆動制御回路18は駆動回路15よ
り発生する駆動パルス数を制御することによりモ
ータ14X,14Yの回転量を制御する。制御装
置16により上述した如き制御を行わさせるため
制御装置16には入力装置23が接続されてい
る。この入力装置23には前記輝点を陰極線管9
の画面において上下左右に移動させるための押し
ボタンスイツチ23a,23b,23c,23d
が備えられている。又、この入力装置には観察倍
率を指示するための摘子23eと輝点に対応する
試料上の点を光軸24上に移動させるための指令
を与えるセツトスイツチ23fが備えられてい
る。
[Examples] Examples of the present invention will be described in detail below based on the drawings.
FIG. 1 is for showing the outline of one embodiment of the present invention. In the figure, 1 is an electron gun, and an electron beam 2 from the electron gun 1 is focused by a focusing lens 3 and irradiated onto a sample 4. . 5X and 5Y are deflection coils, and a sawtooth scanning signal is supplied from a scanning signal generation circuit 6 to these deflection coils 5X and 5Y via a magnification switching circuit 7. 8X and 8Y are amplifiers. The scanning signal from the scanning signal generation circuit 6 is transmitted to the cathode ray tube 9.
It is also supplied to the deflection coil S of the cathode ray tube 9.
is scanned synchronously with the electron beam 2. 10 is a secondary electron detector for detecting secondary electrons generated from the sample 4, and the output signal of this detector 10 is sent to the amplifier 1.
After being amplified in step 1, the signal is supplied to the cathode ray tube 9 as a brightness signal via a bright spot adding circuit 12. 13 is a sample stage on which the sample 4 is placed, and this sample stage is driven by pulse motors 14X, 1
4Y allows movement in the X (horizontal) direction and the Y (vertical) direction. A drive circuit 15 generates drive pulses for rotating the pulse motors 14X and 14Y. 16 is a control device for controlling the display of the bright spot and the drive of the motor, and this control device 16 includes a bright spot signal generation circuit 17;
Motor drive control circuit 18, up/down counter 19, register 20, comparator 21, 1/C circuit 2
It consists of 2. The bright spot signal generating circuit 17 is supplied with a signal synchronized with the scanning signal from the scanning signal generating circuit 6, generates a bright spot display pulse at a predetermined timing using the synchronization signal as a starting point, and uses this pulse to display the bright spot. It is supplied to the adder circuit 12. A control signal from the drive control circuit 18 is supplied to the drive circuit 15, and the drive control circuit 18 controls the amount of rotation of the motors 14X and 14Y by controlling the number of drive pulses generated by the drive circuit 15. An input device 23 is connected to the control device 16 in order to cause the control device 16 to perform the above-described control. This input device 23 inputs the bright spot to the cathode ray tube 9.
Push button switches 23a, 23b, 23c, 23d for moving up, down, left and right on the screen.
is provided. The input device is also equipped with a knob 23e for instructing the observation magnification and a set switch 23f for instructing to move the point on the sample corresponding to the bright spot onto the optical axis 24.

このような構成において、まず入力装置23の
摘子23eを操作して観察倍率をMに設定する。
その結果、レジスタ20には観察倍率値Mを表わ
すデジタル値が格納される。このレジスタ20よ
りの値Mに対応する信号は倍率切換回路7に供給
されるため、この回路7において走査信号発生回
路6よりの走査信号の波高値は観察倍率Mに対応
した値に切り換えられる。このような波高値の走
査信号が偏向コイルに供給される結果、電子線2
は試料4上を二次元的に走査する。この時、陰極
線管9には走査信号発生回路6よりこの走査に同
期した第2図aに示す如き周期TのX(水平)方
向走査信号と図示してはいないが周期kT(但しk
は1画面を構成する水平走査線の本数である)の
Y(垂直)方向走査信号が供給されるため、二次
電子検出器10よりの信号に基づいて倍率Mの試
料像が表示される。輝点を移動させるための押し
ボタンスイツチ23a,23b等が押されていな
い状態においては、アツプダウンカウンタ19の
カウント値は0であるため、輝点信号発生回路1
7にはアツプダウンカウンタ19より0を表わす
信号が供給され、輝点信号発生回路17は垂直同
期信号が供給されてからk/2番目の水平同期信
号を基準としてT/2だけ遅延したタイミングに
おいて第2図bに示す輝点表示パルスを発生す
る。このパルスは輝点加算回路12にて画像信号
と加算されるため、第3図aに示すように陰極線
管9の画面の中央に輝点P0が表示される。そこ
で操作者が例えば押しボタンスイツチ23dを単
位時間τだけ押したとすると、アツプダウンカウ
ンタ19が10だけカウントアツプし、このカウン
タ19よりの数値信号は輝点信号発生回路17に
供給されるため、輝点信号発生回路17は第2図
cに示すように前記k/2番目の水平同期信号を
基準としてT/2+10T/240(但し画面の水平方
向の長さの半分を120に対応づけているものとす
る)だけ遅延したタイミングの輝点表示パルスを
発生し、輝点は画面の右方向へ1ステツプ(即ち
1/24)だけ移動して第3図aにおけるP1となる。
次に例えば押しボタンスイツチ23cを時間3τだ
け押したとすると、アツプダウンカウンタ19が
30だけダウンカウントするため、カウンタ19よ
り−20に対応する信号が輝点信号発生回路17に
供給される。その結果、輝点信号発生回路17よ
り第2図dに示すような前記k/2番目の水平同
期信号を起点としてT/2−20T/240だけ遅延
したタイミングで輝点表示パルスが発生するた
め、輝点は左方に3ステツプ移動して第3図aに
おけるP2の位置に表示される3。同様に押しボ
タンスイツチ23a又は23bを押すと、図示し
てはいないがもう一方のアツプダウンカウンタの
計数値が変化し、この計数値信号に基づいて輝点
信号発生回路17より発生する輝点表示パルスの
起点となる水平同期信号が変化し、輝点の表示位
置を上下方向に移動させることができる。そこ
で、このように押しボタンスイツチ23a,23
b,23c,23dを操作することにより、輝点
を試料の移動によつて画面中央に視野移動させた
い部分、例えばP3まで移動させる。そこで、セ
ツトスイツチ23fを押すと、このスイツチ23
fから駆動制御回路18に駆動制御信号の供給を
命じる信号が供給される。この時駆動制御回路1
8にはアツプダウンカウンタ19よりの信号Ux
と輝点の上下方向位置を表わすもう一方のアツプ
ダウンカウンタ(図示せず)の信号Uy及びレジ
スタ20よりの観察倍率Mを表わす信号が供給さ
れているため、これら信号に基づいてモータ14
X,14Yを各々角度AUx/M、AUy/M(但し
Aは比例定数である)だけ回転させるための駆動
パルスを発生させるよう駆動回路15に制御信号
を供給する。その結果、試料4は画面中央(P0
の位置)から輝点P3までの実際のX方向距離及
びY方向距離だけ移動して光軸24上に配置さ
れ、輝点P3で示された画像の部分が自動的に画
面中央に表示される。一方、駆動制御回路18よ
りの制御信号の供給が行われると、わずかな遅延
時間をおいてスイツチ23fよりの信号がアツプ
ダウンカウンタ19等に供給され、アツプダウン
カウンタはクリアーされる。そのため、アツプダ
ウンカウンタ19より輝点信号発生回路17に供
給される信号は0となるため、画面上に表示され
る輝点の位置も上述した視野の移動に伴なつて中
央のP0の位置に移動する。
In such a configuration, first, the knob 23e of the input device 23 is operated to set the observation magnification to M.
As a result, a digital value representing the observation magnification value M is stored in the register 20. Since the signal corresponding to the value M from this register 20 is supplied to the magnification switching circuit 7, the peak value of the scanning signal from the scanning signal generating circuit 6 is switched to the value corresponding to the observation magnification M in this circuit 7. As a result of the scanning signal having such a peak value being supplied to the deflection coil, the electron beam 2
scans the sample 4 two-dimensionally. At this time, the cathode ray tube 9 receives an X (horizontal) direction scanning signal synchronized with this scanning from the scanning signal generation circuit 6 with a period T as shown in FIG.
is the number of horizontal scanning lines constituting one screen), a sample image with a magnification of M is displayed based on the signal from the secondary electron detector 10. When the push button switches 23a, 23b, etc. for moving the bright spot are not pressed, the count value of the up-down counter 19 is 0, so the bright spot signal generation circuit 1
7 is supplied with a signal representing 0 from the up-down counter 19, and the bright spot signal generating circuit 17 receives the vertical synchronizing signal at a timing delayed by T/2 from the k/2nd horizontal synchronizing signal as a reference. A bright spot display pulse shown in FIG. 2b is generated. Since this pulse is added to the image signal in the bright spot adding circuit 12, a bright spot P0 is displayed at the center of the screen of the cathode ray tube 9, as shown in FIG. 3a. For example, if the operator presses the push button switch 23d for a unit time τ, the up-down counter 19 will count up by 10, and the numerical signal from this counter 19 will be supplied to the bright spot signal generation circuit 17. As shown in FIG. 2c, the point signal generation circuit 17 uses the k/2nd horizontal synchronizing signal as a reference to generate T/2+10T/240 (however, half of the horizontal length of the screen corresponds to 120). A bright spot display pulse is generated with a timing delayed by 1), and the bright spot moves by one step (i.e., 1/24) to the right of the screen, reaching P1 in FIG. 3a.
Next, for example, if the push button switch 23c is pressed for a time of 3τ, the up/down counter 19 will be
In order to count down by 30, a signal corresponding to -20 is supplied from the counter 19 to the bright spot signal generation circuit 17. As a result, the bright spot display pulse is generated from the bright spot signal generation circuit 17 at a timing delayed by T/2-20T/240 from the k/2nd horizontal synchronizing signal as shown in FIG. 2d. , the bright spot is moved three steps to the left and displayed at position P 2 in Figure 3a. Similarly, when the push button switch 23a or 23b is pressed, the count value of the other up-down counter (not shown) changes, and a bright spot display is generated from the bright spot signal generation circuit 17 based on this count value signal. The horizontal synchronization signal that is the starting point of the pulse changes, and the display position of the bright spot can be moved in the vertical direction. Therefore, the push button switches 23a, 23
b, 23c, and 23d, the bright spot is moved to the center of the screen where the bright spot is desired to be moved, for example, P3 , by moving the sample. Then, when the set switch 23f is pressed, this switch 23
A signal instructing the drive control circuit 18 to supply a drive control signal is supplied from f. At this time, drive control circuit 1
8 is the signal Ux from the up-down counter 19
Since the signal Uy from the other up-down counter (not shown) representing the vertical position of the bright spot and the signal representing the observation magnification M from the register 20 are supplied, the motor 14 is activated based on these signals.
A control signal is supplied to the drive circuit 15 to generate drive pulses for rotating X and 14Y by angles AUx/M and AUy/M (where A is a proportionality constant), respectively. As a result, sample 4 is at the center of the screen (P 0
position) to the bright spot P 3 by the actual distance in the X and Y directions and placed on the optical axis 24, and the part of the image indicated by the bright spot P 3 is automatically displayed in the center of the screen. be done. On the other hand, when the control signal is supplied from the drive control circuit 18, the signal from the switch 23f is supplied to the up-down counter 19 etc. after a slight delay time, and the up-down counter is cleared. Therefore, the signal supplied from the up-down counter 19 to the bright spot signal generation circuit 17 becomes 0, and the position of the bright spot displayed on the screen also changes to the central P 0 position as the field of view moves as described above. Move to.

更に、この画像を観察していて興味のある画像
の領域Hが画面の端部にあつたとする。このよう
な場合、操作者が押しボタンスイツチ23dを操
作して輝点を画面の右方へ移動させて行くと、ア
ツプダウンカウンタ19の計数値が増大して行く
が、輝点が第3図aにおいて点線Q(画面には表
示されていない)で示された位置P4まで移動し
て計数値が100になつたとすると、アツプダウン
カウンタ19の出力値と点線Qの位置に対応する
基準値100との比較をしている比較器21が応答
信号を1/C回路22に供給して該回路22にお
いて演算を実行させる。1/C回路22にはレジ
スタ20よりの倍率値Mに対応した信号が供給さ
れているため、この演算によつて倍率値Mに1/
C(Cは例えば2)が掛けられた数値M/Cに対
応する信号が発生し、この倍率値信号が新たにレ
ジスタ20に格納される。この信号値の変化によ
つて倍率切換回路7は観察倍率をM/Cにするよ
う走査信号の増幅率を増大させる。その結果、陰
極線管9の画面には第3図bに示すように興味の
ある領域Hが画面のより中央に表示される。一
方、1/C回路22(実際には別個に設けられた
もう一方の1/C回路)には前記アツプダウンカ
ウンタ19の出力信号も供給されているため、
1/C回路22による演算の結果、回路22より
アツプダウンカウンタ19のカウント値100に
1/Cが掛けられた数値100/Cが出力され、こ
の数値が新たにアツプダウンカウンタ19にセツ
トされる。そのため、輝点P4は第3図bの点P5
に移動し、より低倍像の画面において領域Hとの
相対位置は同じ点に表示される。そこで、更にス
イツチ23dを例えば時間2τ押せば、アツプダウ
ンカウンタ19のカウント値は100/C+20とな
り、このとき輝点信号発生回路17よりの出力パ
ルスは第2図eに示すようになるため輝点P5
2ステツプ右方に移動して第3図bにおける輝点
P6になる。この輝点P6の位置が、画面中心に移
動したい像の部分である場合には、ここでセツト
スイツチ23fを押す。その結果、前述した場合
と同様に駆動制御回路18はアツプダウンカウン
タ19よりの100/C+20に対応する信号とレジ
スタ20よりのM/Cに対応する信号に基づい
て、輝点P6と画面中央の点(P0)との実際のX
方向距離だけ試料ステージ13を移動させるよう
駆動回路15に駆動制御信号を送る。その結果、
駆動回路15はモータ14Xに駆動パルスを供給
してモータ14Xを角度A(100/C+20)/
(M/C)だけ回転させ、輝点P6の位置にある試
料上の点が光軸24上に配置される。このような
試料4の移動が行われる一方、セツトスイツチ2
3fよりの信号がレジスタ20に供給され、レジ
スタ20の格納値が摘子23eで与えられた倍率
Mを表わす信号に戻される。そのため、倍率切換
回路7が観察倍率をMにするように切換えられ
る。更に駆動制御回路18が動作した後は、セツ
トスイツチ23fよりの信号がアツプダウンカウ
ンタ19に供給されてカウンタ19をクリアし、
カウンタ19の出力を0とする。そのため、輝点
P6が画面中央に移動すると共に、輝点P6に対応
した部分が画面中央に視野移動し第3図cに示す
如き像が得られる。
Furthermore, suppose that while observing this image, an area H of the image of interest is located at the edge of the screen. In such a case, when the operator moves the bright spot to the right side of the screen by operating the push button switch 23d, the count value of the up-down counter 19 increases, but the bright spot does not change as shown in FIG. If the count value reaches 100 by moving to the position P4 indicated by the dotted line Q (not displayed on the screen) in a, the output value of the up-down counter 19 and the reference value corresponding to the position of the dotted line Q The comparator 21, which is making a comparison with 100, supplies a response signal to the 1/C circuit 22, which causes the circuit 22 to perform an operation. Since the 1/C circuit 22 is supplied with a signal corresponding to the magnification value M from the register 20, this operation changes the magnification value M by 1/
A signal corresponding to the numerical value M/C multiplied by C (C is 2, for example) is generated, and this multiplication value signal is newly stored in the register 20. Due to this change in signal value, the magnification switching circuit 7 increases the amplification factor of the scanning signal so that the observation magnification becomes M/C. As a result, the area H of interest is displayed more centrally on the screen of the cathode ray tube 9, as shown in FIG. 3b. On the other hand, since the output signal of the up-down counter 19 is also supplied to the 1/C circuit 22 (actually, the other 1/C circuit provided separately),
As a result of the calculation by the 1/C circuit 22, the circuit 22 outputs a value 100/C, which is the count value 100 of the up-down counter 19 multiplied by 1/C, and this value is newly set in the up-down counter 19. . Therefore, the bright point P 4 is the point P 5 in Fig. 3b.
, and the relative position with area H is displayed at the same point on the lower magnification screen. Therefore, if the switch 23d is further pressed for a time of 2τ, the count value of the up-down counter 19 becomes 100/C+20, and at this time, the output pulse from the bright spot signal generation circuit 17 becomes as shown in FIG. P5 moves two steps to the right and becomes the bright spot in Figure 3b.
Becomes P6 . If the position of this bright spot P6 is the part of the image that you want to move to the center of the screen, press the set switch 23f here. As a result, as in the case described above, the drive control circuit 18 controls the bright spot P6 and the center of the screen based on the signal corresponding to 100/C+20 from the up-down counter 19 and the signal corresponding to M/C from the register 20. The actual X with the point (P 0 ) of
A drive control signal is sent to the drive circuit 15 to move the sample stage 13 by the directional distance. the result,
The drive circuit 15 supplies drive pulses to the motor 14X to rotate the motor 14X at an angle A(100/C+20)/
By rotating it by (M/C), the point on the sample at the position of the bright spot P 6 is placed on the optical axis 24. While the sample 4 is being moved in this way, the set switch 2
The signal from 3f is supplied to the register 20, and the value stored in the register 20 is returned to a signal representing the magnification M given by the knob 23e. Therefore, the magnification switching circuit 7 is switched to set the observation magnification to M. Furthermore, after the drive control circuit 18 operates, a signal from the set switch 23f is supplied to the up-down counter 19, and the counter 19 is cleared.
The output of the counter 19 is set to 0. Therefore, bright spots
As P 6 moves to the center of the screen, the part corresponding to the bright spot P 6 moves to the center of the screen, and an image as shown in FIG. 3c is obtained.

尚、上述した説明では簡単のため、輝点がX方
向にのみ移動する場合について説明したが、X方
向に限らず輝点がY方向に点線Qの位置まで移動
した場合でも、同様な一連の制御により所望の画
像が表示される。
In addition, in the above explanation, for the sake of simplicity, we have explained the case where the bright spot moves only in the A desired image is displayed by control.

尚、本発明は上述した実施例に限定されること
なく幾多の変形が可能である。例えば、上述した
実施例においては、目印となるマークとして輝点
を表示するようにしたが、水平方向と垂直方向に
移動可能に輝線を表示し、この2本の輝線の交点
をマークとして使用しても良い。又、マークとし
てある大きさを有する囲み線を表示しても良い
し、一定の大きさの領域だけ他の部分より高輝度
または高コントラストに表示することによつて他
と区別するようにしても良い。
Note that the present invention is not limited to the embodiments described above, and can be modified in many ways. For example, in the above-described embodiment, a bright spot is displayed as a landmark, but it is also possible to display a bright line movable in the horizontal and vertical directions, and use the intersection of these two bright lines as a mark. It's okay. Alternatively, a surrounding line of a certain size may be displayed as a mark, or an area of a certain size may be displayed with higher brightness or contrast than other parts to distinguish it from others. good.

[効果] 上述したように本発明に基づく装置において
は、試料像を観察していて、視野中心に移動させ
て観察したい部分を追つてマークを画面の端部に
移動させると、自動的に倍率が低下して、容易に
観察したい部分を更に追つて行くことが可能にな
る。
[Effects] As described above, in the apparatus based on the present invention, when observing a sample image and moving the mark to the center of the field of view and following the part to be observed and moving the mark to the edge of the screen, the magnification is automatically adjusted. As a result, it becomes easier to track the part you want to observe.

更にこの際、倍率低下後の画面においてもマー
クと試料像との相対位置が維持されるため、コン
トラストが小さい試料でもそれまで注目していた
試料部分を見失うことがなく、視野選択操作を簡
単且つ円滑に行うことができる。
Furthermore, at this time, the relative position of the mark and the sample image is maintained even on the screen after the magnification is lowered, so even if the sample has a low contrast, you will not lose sight of the part of the sample that you were paying attention to, making the field of view selection operation easy and It can be done smoothly.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の一実施例を示すための図、第
2図は第1図に示した各回路よりの出力信号を示
すための図、第3図は陰極線管画面の表示の変化
を説明するための図である。 1:電子銃、2:電子線、3:収束レンズ、
4:試料、5X,5Y:偏向コイル、6:走査信
号発生回路、7:倍率切換回路、8X,8Y,1
1:増幅器、9:陰極線管、10:二次電子検出
器、12:輝点加算回路、13:試料ステージ、
14X,14Y:パルスモータ、15:駆動回
路、16:制御装置、17:輝点信号発生回路、
18:駆動制御回路、19:アツプダウンカウン
タ、20:レジスタ、21:比較器、22:1/
C回路、23:入力装置、23a,23b,23
c,24d:押しボタンスイツチ、23e:指示
摘子、23f:セツトスイツチ、24:光軸。
Fig. 1 is a diagram showing one embodiment of the present invention, Fig. 2 is a diagram showing output signals from each circuit shown in Fig. 1, and Fig. 3 is a diagram showing changes in display on a cathode ray tube screen. It is a figure for explaining. 1: Electron gun, 2: Electron beam, 3: Converging lens,
4: Sample, 5X, 5Y: Deflection coil, 6: Scanning signal generation circuit, 7: Magnification switching circuit, 8X, 8Y, 1
1: amplifier, 9: cathode ray tube, 10: secondary electron detector, 12: bright spot addition circuit, 13: sample stage,
14X, 14Y: pulse motor, 15: drive circuit, 16: control device, 17: bright spot signal generation circuit,
18: Drive control circuit, 19: Up/down counter, 20: Register, 21: Comparator, 22: 1/
C circuit, 23: input device, 23a, 23b, 23
c, 24d: push button switch, 23e: indicator knob, 23f: set switch, 24: optical axis.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 電子線を試料上において二次元的に走査する
手段と、該電子線の走査に伴う検出信号の供給に
基づいて試料像を表示する表示手段と、該電子線
の走査幅を切り換えることにより倍率を切換える
ための倍率切換手段と、試料を移動させるための
試料移動手段と、前記表示手段に試料の注目部分
の目印となるマークを表示する手段と、該マーク
の表示位置を任意に移動させるための手段と、該
マークに対応した試料上の位置が画面の中央に表
示されるように自動的に試料を移動させるための
手段を具備した走査電子顕微鏡等の試料移動装置
において、該マークの位置を画面の端部に移動さ
せた場合に前記倍率制御手段を制御することによ
り自動的に倍率を低下させる手段と、該マークの
試料像に対する相対位置が該倍率の低下にかかわ
らず維持されるように制御するためのマーク表示
位置制御手段を具備することを特徴とする走査電
子顕微鏡等の試料移動装置。
1. A means for two-dimensionally scanning an electron beam on a sample, a display means for displaying a sample image based on the supply of a detection signal accompanying the scanning of the electron beam, and a magnification by switching the scanning width of the electron beam. a magnification switching means for switching, a sample moving means for moving the sample, a means for displaying a mark serving as a mark of a portion of interest on the sample on the display means, and a means for arbitrarily moving the display position of the mark. In a sample moving device such as a scanning electron microscope, which is equipped with a means for automatically moving the sample so that the position on the sample corresponding to the mark is displayed in the center of the screen, the position of the mark is displayed. means for automatically reducing the magnification by controlling the magnification control means when the mark is moved to an edge of the screen, and a position of the mark relative to the sample image is maintained regardless of the decrease in the magnification; A sample moving device such as a scanning electron microscope, characterized in that it is equipped with a mark display position control means for controlling the position of a mark.
JP58021244A 1983-02-10 1983-02-10 Sample shifting device of scanning electron microscope or the like Granted JPS59148254A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58021244A JPS59148254A (en) 1983-02-10 1983-02-10 Sample shifting device of scanning electron microscope or the like

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58021244A JPS59148254A (en) 1983-02-10 1983-02-10 Sample shifting device of scanning electron microscope or the like

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS59148254A JPS59148254A (en) 1984-08-24
JPH0343742B2 true JPH0343742B2 (en) 1991-07-03

Family

ID=12049638

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58021244A Granted JPS59148254A (en) 1983-02-10 1983-02-10 Sample shifting device of scanning electron microscope or the like

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS59148254A (en)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6151658U (en) * 1984-09-06 1986-04-07
JPS6177334A (en) * 1984-09-21 1986-04-19 Fujitsu Ltd Electron beam device
JPS6258852U (en) * 1985-09-30 1987-04-11
JPS6410559A (en) * 1987-07-02 1989-01-13 Nikon Corp Sample image pattern measuring device

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5243355A (en) * 1975-10-01 1977-04-05 Jeol Ltd Test data transfer device for electric particle line eqipment
JPS5478075A (en) * 1977-12-05 1979-06-21 Hitachi Ltd Sample image display device
JPS54111274A (en) * 1978-02-20 1979-08-31 Jeol Ltd Scanning electron microscope

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5243355A (en) * 1975-10-01 1977-04-05 Jeol Ltd Test data transfer device for electric particle line eqipment
JPS5478075A (en) * 1977-12-05 1979-06-21 Hitachi Ltd Sample image display device
JPS54111274A (en) * 1978-02-20 1979-08-31 Jeol Ltd Scanning electron microscope

Also Published As

Publication number Publication date
JPS59148254A (en) 1984-08-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH103875A (en) Scanning electron microscope
JPH0343742B2 (en)
JPH06295694A (en) Scanning type probe work observing device
JPH09197287A (en) Motor-driven microscope
JPH07262950A (en) Scanning electron microscope
JP2002098897A (en) Microscope
JP2787299B2 (en) Charged particle beam equipment
JPH0343650Y2 (en)
JPS63307652A (en) Focus detection device for electron microscope
JPH0238368Y2 (en)
JP2000100366A (en) Scanning electron microscope
JPH09259807A (en) Scanning electron microscope
JPH0425803Y2 (en)
JPH0460298B2 (en)
JPS5914222B2 (en) Magnification control device for scanning electron microscopes, etc.
JP2838799B2 (en) Charged particle beam equipment
SU920894A1 (en) Scanning device for reproducing specimen image
JPS6237123Y2 (en)
JPH0223972B2 (en)
JPH02220341A (en) Charged particle beam device
JPH0413650Y2 (en)
JPS63285854A (en) Visual field moving apparatus for sample image
JPH0416935Y2 (en)
JPH0234421B2 (en)
JPS62195840A (en) Scanning electron microscope