JPH0339644A - 探傷方法および探傷装置 - Google Patents
探傷方法および探傷装置Info
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- JPH0339644A JPH0339644A JP17445489A JP17445489A JPH0339644A JP H0339644 A JPH0339644 A JP H0339644A JP 17445489 A JP17445489 A JP 17445489A JP 17445489 A JP17445489 A JP 17445489A JP H0339644 A JPH0339644 A JP H0339644A
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Links
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Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は 検査対象物の欠陥を非破壊で検出する探傷方
法および探傷装置に関するものであも従来の技術 従来の非破壊による探傷試験には超音波探傷決磁気探傷
汰 浸透探傷肱 放射線透過法などが行われていも こ
の八 検査対象物に溶接欠陥などのような多種多様な欠
陥を含む場合にＣヨ 超音應磁気 浸透試験を補助と
して、放射線透過試験が主に行われていも 放射線透過試験ζ上 −様な強さの放射線を検査対象物
に照射し 対象物の欠陥または構造により６生ずる放射
線吸収の差を利用し 透過線量の変化を対象物後方に置
いたフィルムに記録して、検査対象物の欠陥を調べる試
験方法であも 発明が解決しようとする課題 放射線透過試験は検査の際に放射線を用いるために放射
線障害防止手段を講じる必要があり、またフィルム装着
のために足場が必要なことなどの特殊な事情があり、作
業を容易に効率的に行うことが難しいという問題があっ
１゜ 本発明は上記従来技術にもとづき、簡単な構成℃ 検査
対象物の欠陥を試験する探傷方法および探傷装置を提供
するものであも 課題を解決するための手段 本発明（よ 熱源により検査対象物を加熱し 非定常時
の検査対象物の温度分布の不連続性により、前記検査対
象物の欠陥を検出するものである。
法および探傷装置に関するものであも従来の技術 従来の非破壊による探傷試験には超音波探傷決磁気探傷
汰 浸透探傷肱 放射線透過法などが行われていも こ
の八 検査対象物に溶接欠陥などのような多種多様な欠
陥を含む場合にＣヨ 超音應磁気 浸透試験を補助と
して、放射線透過試験が主に行われていも 放射線透過試験ζ上 −様な強さの放射線を検査対象物
に照射し 対象物の欠陥または構造により６生ずる放射
線吸収の差を利用し 透過線量の変化を対象物後方に置
いたフィルムに記録して、検査対象物の欠陥を調べる試
験方法であも 発明が解決しようとする課題 放射線透過試験は検査の際に放射線を用いるために放射
線障害防止手段を講じる必要があり、またフィルム装着
のために足場が必要なことなどの特殊な事情があり、作
業を容易に効率的に行うことが難しいという問題があっ
１゜ 本発明は上記従来技術にもとづき、簡単な構成℃ 検査
対象物の欠陥を試験する探傷方法および探傷装置を提供
するものであも 課題を解決するための手段 本発明（よ 熱源により検査対象物を加熱し 非定常時
の検査対象物の温度分布の不連続性により、前記検査対
象物の欠陥を検出するものである。
作 用
この技術的手段による作用は次のようになん熱源により
加熱された検査対象物（よ 定常時に一定の安定した温
度になる。しかし 非定常時の昇温過程において（友
検査対象物は−様な連続した温度分布をもつことになる
。ところバ 検査対象物に割れや気泡等が存在すると、
割れや気泡のところで熱伝導が悪くなり、−様な連続し
た温度分布がくずれ 温度分布に不連続な部分を生じる
ようになる。
加熱された検査対象物（よ 定常時に一定の安定した温
度になる。しかし 非定常時の昇温過程において（友
検査対象物は−様な連続した温度分布をもつことになる
。ところバ 検査対象物に割れや気泡等が存在すると、
割れや気泡のところで熱伝導が悪くなり、−様な連続し
た温度分布がくずれ 温度分布に不連続な部分を生じる
ようになる。
したがって、加熱された検査対象物から放射される赤外
線を赤外線検出器で計測し 得られた信号を画像処理装
置に送も 画像処理装置において、送られてきた信号よ
り、検査対象物の温度分布を作成する。この温度分布に
存在する温度の不連続性より、検査対象物の欠陥状態を
判断することができる。
線を赤外線検出器で計測し 得られた信号を画像処理装
置に送も 画像処理装置において、送られてきた信号よ
り、検査対象物の温度分布を作成する。この温度分布に
存在する温度の不連続性より、検査対象物の欠陥状態を
判断することができる。
実施例
以下、本発明の一実施例における探傷方法および探傷装
置を添付図面に基づいて説明すも第２図（ａ）および第
３図（ａ）に２枚の板を溶接した場合の断面図を示も
第２図（ａ）は溶接が正常に行われた場合であり、第３
図（ａ）は溶込み不足が生じ 溶接部に欠陥が発生して
いる場合である。
置を添付図面に基づいて説明すも第２図（ａ）および第
３図（ａ）に２枚の板を溶接した場合の断面図を示も
第２図（ａ）は溶接が正常に行われた場合であり、第３
図（ａ）は溶込み不足が生じ 溶接部に欠陥が発生して
いる場合である。
ここでそれぞれについてＡ端を加熱した場合の温度分布
を第２図（ｂ）および第３図（ｂ）に示も 第２図（ａ
）のように溶接が正常に行われたならば 溶接部の温度
分布は第２図（ｂ）のように連続的で−様なものとなる
。これに対して、第３図（ａ）のように溶接部に欠陥が
生じている場合（よ 欠陥部で熱伝導が悪くなるために
溶接部で急激な温度差を生に 溶接部の温度分布は第
３図（ｂ）のように不連続になる。
を第２図（ｂ）および第３図（ｂ）に示も 第２図（ａ
）のように溶接が正常に行われたならば 溶接部の温度
分布は第２図（ｂ）のように連続的で−様なものとなる
。これに対して、第３図（ａ）のように溶接部に欠陥が
生じている場合（よ 欠陥部で熱伝導が悪くなるために
溶接部で急激な温度差を生に 溶接部の温度分布は第
３図（ｂ）のように不連続になる。
すなわ板 検査対象物から放出される赤外線を測定し
測定された赤外線より検査対象物の温度分布を束数 温
度分布の不連続性を解析することにより、検査対象物の
探傷を行うことができる。
測定された赤外線より検査対象物の温度分布を束数 温
度分布の不連続性を解析することにより、検査対象物の
探傷を行うことができる。
次に 第１図により実際の探傷装置について説明すも
光熱源ｌにより検査対象物２を加熱すも検査対象物２の
温度は徐々に上昇し ある温度に達すると、その温度に
対応した中心波長を有する赤外線３を検査対象物２から
放射すも この赤外線３を赤外線検出器４で測定し 測
定した信号を画像処理装置５へ送り、画像処理装置５で
検査対象物２の熱画像を作成する。この熱画像をマイコ
ン６に送り、マイコン６により検査対象物２の熱画像か
ら検査対象物２の温度分布を求めも この時に温度分布
上に存在する温度分布の不連続性より、検査対象物２の
欠陥の種類や程度がマイコン６により解析することがで
きる。この温度分布より解析した結果をデイスプレィ７
に表示することにより、簡単な構成玄 検査対象物２の
欠陥を試験することができる。
光熱源ｌにより検査対象物２を加熱すも検査対象物２の
温度は徐々に上昇し ある温度に達すると、その温度に
対応した中心波長を有する赤外線３を検査対象物２から
放射すも この赤外線３を赤外線検出器４で測定し 測
定した信号を画像処理装置５へ送り、画像処理装置５で
検査対象物２の熱画像を作成する。この熱画像をマイコ
ン６に送り、マイコン６により検査対象物２の熱画像か
ら検査対象物２の温度分布を求めも この時に温度分布
上に存在する温度分布の不連続性より、検査対象物２の
欠陥の種類や程度がマイコン６により解析することがで
きる。この温度分布より解析した結果をデイスプレィ７
に表示することにより、簡単な構成玄 検査対象物２の
欠陥を試験することができる。
発明の効果
以上のように本発明においてε上 熱源により検査対象
物を加熱し 非定常時の検査対象物の温度分布の不連続
性により、前記検査対象物の欠陥を検出するために 簡
単な構成で、検査対象物の欠陥を試験することができる
。
物を加熱し 非定常時の検査対象物の温度分布の不連続
性により、前記検査対象物の欠陥を検出するために 簡
単な構成で、検査対象物の欠陥を試験することができる
。
第１図は本発明の一実施例における探傷装置の構成は
第２図（ａ）（ｂ）は正常な溶接部の断面図および温度
分布は 第３図（ａ）（ｂ）は欠陥のある溶接部の断面
図および温度分布図であも ■・・・光熱温 ２・・・検査対象’＆ ４・・・赤
外線検出器 ５・・・画像処理装置
第２図（ａ）（ｂ）は正常な溶接部の断面図および温度
分布は 第３図（ａ）（ｂ）は欠陥のある溶接部の断面
図および温度分布図であも ■・・・光熱温 ２・・・検査対象’＆ ４・・・赤
外線検出器 ５・・・画像処理装置
Claims (2)
- （１）検査対象物を加熱し、非定常時の検査対象物の温
度分布の不連続性により、前記検査対象物の欠陥を検出
することを特徴とする探傷方法。 - （２）熱源と、赤外線検出器と、前記赤外線検出器から
の信号により熱画像を作成する画像処理装置とを備え
前記熱源により検査対象物を加熱することにより、検査
対象物の温度分布を前記画像処理装置から求め、非定常
時の温度分布の不連続性により、前記検査対象物の欠陥
を検出するように構成したことを特徴とする探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17445489A JPH0339644A (ja) | 1989-07-05 | 1989-07-05 | 探傷方法および探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17445489A JPH0339644A (ja) | 1989-07-05 | 1989-07-05 | 探傷方法および探傷装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0339644A true JPH0339644A (ja) | 1991-02-20 |
Family
ID=15978774
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17445489A Pending JPH0339644A (ja) | 1989-07-05 | 1989-07-05 | 探傷方法および探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0339644A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2012038894A1 (en) * | 2010-09-20 | 2012-03-29 | Ceramex Ltd | Method and apparatus for filter condition inspection |
-
1989
- 1989-07-05 JP JP17445489A patent/JPH0339644A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2012038894A1 (en) * | 2010-09-20 | 2012-03-29 | Ceramex Ltd | Method and apparatus for filter condition inspection |
| US9012850B2 (en) | 2010-09-20 | 2015-04-21 | Ceramex Ltd. | Method and apparatus for filter condition inspection |
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