JPS6298243A - 建築物等の外壁状態検査方法 - Google Patents
建築物等の外壁状態検査方法Info
- Publication number
- JPS6298243A JPS6298243A JP23888685A JP23888685A JPS6298243A JP S6298243 A JPS6298243 A JP S6298243A JP 23888685 A JP23888685 A JP 23888685A JP 23888685 A JP23888685 A JP 23888685A JP S6298243 A JPS6298243 A JP S6298243A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measured
- temp
- caused
- laser beam
- external wall
- Prior art date
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明はビル等の建築物の外壁状態を温度分布によって
検査する方法に関する。
検査する方法に関する。
［従来の技術］
例えばビル等の建築物の外壁状態を検査する第１の方法
としては、特殊な技能を有する検査員が目視及びハンマ
ー等で打診して外壁の亀裂、剥離。
としては、特殊な技能を有する検査員が目視及びハンマ
ー等で打診して外壁の亀裂、剥離。
変質等の傷み具合を検査する方法があり、又、第２の方
法としては、日没直後における建築物の外壁面と内部コ
ンクリートとの温度差をサーモグラフィ装置でパターン
計測して検査する方法等が採用されている。
法としては、日没直後における建築物の外壁面と内部コ
ンクリートとの温度差をサーモグラフィ装置でパターン
計測して検査する方法等が採用されている。
［発明が解決しようとする問題点］
ところで上記した第１の方法では、検査口の目視及び勘
にたよっているため内部あるいは外壁面に発生した亀裂
、剥離、変質等が見落しやすく、又高苦ビル等ではゴン
ドラ等の吊り具によって移動しがら検査するために非常
に危険を伴うと共に検査に長時間を要する。
にたよっているため内部あるいは外壁面に発生した亀裂
、剥離、変質等が見落しやすく、又高苦ビル等ではゴン
ドラ等の吊り具によって移動しがら検査するために非常
に危険を伴うと共に検査に長時間を要する。
上記した第２の方法では、建築物の外壁面と内部コンク
リートとの温度差をパターン計１１１１ Ｌで検査する
ため、検査できる時間が日中に限られたり、天候に左右
されやすい等の欠点があった。
リートとの温度差をパターン計１１１１ Ｌで検査する
ため、検査できる時間が日中に限られたり、天候に左右
されやすい等の欠点があった。
本発明は以上の点に鑑みなされたもので、ビル等の建築
物の外壁状態を検査する場合に、安全で信頼性が高く天
候などの外部環境に左右されない検査方法を提供するこ
とを目的としている。
物の外壁状態を検査する場合に、安全で信頼性が高く天
候などの外部環境に左右されない検査方法を提供するこ
とを目的としている。
［問題点を解決するための手段］
本問題点を解決するため本発明は、被測定物にレーｔア
光を照射し、該被測定物から放射された赤外線を検出し
て上記被測定対象物の温度分布を測定するようにしたこ
とを特徴としている。
光を照射し、該被測定物から放射された赤外線を検出し
て上記被測定対象物の温度分布を測定するようにしたこ
とを特徴としている。
［実施例］
以下本発明の実施例を図面に基づき詳述する。
第１図は本発明に基づく方法を実施するための一具体例
の構成を示している。第１図において、１は外壁Ａの特
定点又は−窓領域の経時的温度変化を検出するサーモグ
ラフィ装置で、２はサーモグラフィ装置から得られた情
報を解析し、後述するレーザ発振器よりの照射エネルギ
ーを制御したり、又同一照射エネルギーに対して外壁面
の温度変化等を解析する制御装置、３は温度分布像等を
表示する表示装置である。４は制御装置３によって制御
されるレーザ発振器用電源、５はレーザ発振器用電源に
接続された外壁Ａの特定点又は領域をレーザによって照
射するレーザ発振器である。
の構成を示している。第１図において、１は外壁Ａの特
定点又は−窓領域の経時的温度変化を検出するサーモグ
ラフィ装置で、２はサーモグラフィ装置から得られた情
報を解析し、後述するレーザ発振器よりの照射エネルギ
ーを制御したり、又同一照射エネルギーに対して外壁面
の温度変化等を解析する制御装置、３は温度分布像等を
表示する表示装置である。４は制御装置３によって制御
されるレーザ発振器用電源、５はレーザ発振器用電源に
接続された外壁Ａの特定点又は領域をレーザによって照
射するレーザ発振器である。
このように構成された装置で、ビル等の被測定物Ａの外
壁状態を検査するには、先ず、第２図に示すように例え
ば被α１定物Ａの任意の特定点ａ。
壁状態を検査するには、先ず、第２図に示すように例え
ば被α１定物Ａの任意の特定点ａ。
ｂ、ｃ、・・・・・・ｎの温度の状態をサーモグラフィ
装置で測定する。次に、特定点ａ、ｂ、ｃ、・・・・・
・ｎにレーザ光線を照射して、照射前の温度と比較する
。この場合、照射前後における温度の比較はレーザ光線
照射前の温度と照射直後における温度差でも良いし、レ
ーザ光線照射後における温度の経時変化でも良い。
装置で測定する。次に、特定点ａ、ｂ、ｃ、・・・・・
・ｎにレーザ光線を照射して、照射前の温度と比較する
。この場合、照射前後における温度の比較はレーザ光線
照射前の温度と照射直後における温度差でも良いし、レ
ーザ光線照射後における温度の経時変化でも良い。
ところで、ビル等の外壁である被測定物Ａに、例えば亀
裂が生じていると、その亀裂部分は他の亀裂が生じてい
ない部分との間で温度差が発生づる。又、被測定物Ａの
一部分に剥離が生じている場合にも内部と壁面との間で
湿度差を生じる。更に、被測定物Ａの一部分が変質して
いる場合には、熱吸収率が変化するため温度差を生じる
こととなる。
裂が生じていると、その亀裂部分は他の亀裂が生じてい
ない部分との間で温度差が発生づる。又、被測定物Ａの
一部分に剥離が生じている場合にも内部と壁面との間で
湿度差を生じる。更に、被測定物Ａの一部分が変質して
いる場合には、熱吸収率が変化するため温度差を生じる
こととなる。
従って、例えば第２図の特定点りのレーザ照射前後にお
ける温度を検出してその温度差に特徴がある場合には、
特定点りの周辺を細くレーザ光線で照射して第３図に示
すような詳細な温度差＠ｑを求める。この温度差像ｑよ
り外壁の剥離等を発見することができる。このように、
被測定物Ａの外壁状態をレーザ光線によって人工的に加
熱して、レーザ光線照射前後における温度差を測定する
ことにより外壁状態を地上より検査することができる。
ける温度を検出してその温度差に特徴がある場合には、
特定点りの周辺を細くレーザ光線で照射して第３図に示
すような詳細な温度差＠ｑを求める。この温度差像ｑよ
り外壁の剥離等を発見することができる。このように、
被測定物Ａの外壁状態をレーザ光線によって人工的に加
熱して、レーザ光線照射前後における温度差を測定する
ことにより外壁状態を地上より検査することができる。
尚、上記実施例は例示であり、幾多の態様で実施するこ
とができる。例えば、第２図のように任琶の特定点を選
択することなく、被測定物Ａの外壁全面をレーザ光線で
走査して検査することも可能であり、又温度差像に変え
て数値表示しても良い。
とができる。例えば、第２図のように任琶の特定点を選
択することなく、被測定物Ａの外壁全面をレーザ光線で
走査して検査することも可能であり、又温度差像に変え
て数値表示しても良い。
［発明の効果］
以上詳述したように本発明によれば、検査員の目視及び
肋にたよらないため検査の結果に信頼性があり、地上よ
り検査ができるため危険を伴うことがなく、レーザ光線
により被測定物を人工的に加熱しているため天候などの
外部環境に左右されないで検査することができる。
肋にたよらないため検査の結果に信頼性があり、地上よ
り検査ができるため危険を伴うことがなく、レーザ光線
により被測定物を人工的に加熱しているため天候などの
外部環境に左右されないで検査することができる。
第１図は本発明に基づく方法を実施する一具体例の構成
を示す図、第２図は被測定物Ａの特定点を説明するため
の図、第３図は特定点の温度分布像の表示の一例である
。 １：サーモグラフィ装置、２：制御装置、３；表示装置
、４：レーザ発振器用電源、５：レーザ発振器。
を示す図、第２図は被測定物Ａの特定点を説明するため
の図、第３図は特定点の温度分布像の表示の一例である
。 １：サーモグラフィ装置、２：制御装置、３；表示装置
、４：レーザ発振器用電源、５：レーザ発振器。
Claims (1)
- 被測定物にレーザ光を照射し、該被測定物から放射され
た赤外線を検出して上記被測定対象物の温度分布を測定
するようにした建築物等の外壁状態検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23888685A JPS6298243A (ja) | 1985-10-25 | 1985-10-25 | 建築物等の外壁状態検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23888685A JPS6298243A (ja) | 1985-10-25 | 1985-10-25 | 建築物等の外壁状態検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6298243A true JPS6298243A (ja) | 1987-05-07 |
Family
ID=17036724
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23888685A Pending JPS6298243A (ja) | 1985-10-25 | 1985-10-25 | 建築物等の外壁状態検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6298243A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6363959A (ja) * | 1986-09-04 | 1988-03-22 | Shimizu Constr Co Ltd | ビル外装壁剥離検知方法と装置 |
| US5131758A (en) * | 1990-05-16 | 1992-07-21 | Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Method of remotely characterizing thermal properties of a sample |
| JPH0545314A (ja) * | 1991-04-09 | 1993-02-23 | Takashi Idemitsu | コンクリート構造物の欠陥部検出方法 |
| WO1993022663A1 (en) * | 1992-05-01 | 1993-11-11 | Exid, Inc. | Contactless testing of electronic materials and devices using microwave radiation |
| US7044634B2 (en) * | 2001-01-26 | 2006-05-16 | Rolf Sandvoss | Thermography method |
| WO2014199869A1 (ja) * | 2013-06-12 | 2014-12-18 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 赤外線検査装置 |
| JP2016217727A (ja) * | 2015-05-14 | 2016-12-22 | 富士電機株式会社 | 検査装置及び検査方法 |
| JP2019105523A (ja) * | 2017-12-12 | 2019-06-27 | 株式会社建設環境研究所 | 遮音板検査方法及び遮音板検査装置 |
-
1985
- 1985-10-25 JP JP23888685A patent/JPS6298243A/ja active Pending
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6363959A (ja) * | 1986-09-04 | 1988-03-22 | Shimizu Constr Co Ltd | ビル外装壁剥離検知方法と装置 |
| US5131758A (en) * | 1990-05-16 | 1992-07-21 | Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Method of remotely characterizing thermal properties of a sample |
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| US5417494A (en) * | 1992-05-01 | 1995-05-23 | Exid, Inc. | Contactless testing of electronic materials and devices using microwaves |
| US7044634B2 (en) * | 2001-01-26 | 2006-05-16 | Rolf Sandvoss | Thermography method |
| WO2014199869A1 (ja) * | 2013-06-12 | 2014-12-18 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 赤外線検査装置 |
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| JP2019105523A (ja) * | 2017-12-12 | 2019-06-27 | 株式会社建設環境研究所 | 遮音板検査方法及び遮音板検査装置 |
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