JPH0338709Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0338709Y2 JPH0338709Y2 JP11387082U JP11387082U JPH0338709Y2 JP H0338709 Y2 JPH0338709 Y2 JP H0338709Y2 JP 11387082 U JP11387082 U JP 11387082U JP 11387082 U JP11387082 U JP 11387082U JP H0338709 Y2 JPH0338709 Y2 JP H0338709Y2
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- JP
- Japan
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- circuit
- amplifier
- under test
- device under
- gain
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- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 7
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 5
- 230000007423 decrease Effects 0.000 claims description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 13
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 10
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 5
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 3
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案はコンデンサやインダクタ等の供試素子
のキヤパシタンス、インダクタンス、リアクタン
ス等を測定する装置において、該供試素子に流れ
た電流を電圧に変換する回路に係り、特に供試素
子を接続した場合の発振を防止する回路に関する
ものである。
のキヤパシタンス、インダクタンス、リアクタン
ス等を測定する装置において、該供試素子に流れ
た電流を電圧に変換する回路に係り、特に供試素
子を接続した場合の発振を防止する回路に関する
ものである。
まず従来回路を図面を用いて説明し、本考案の
目的を明確にする。
目的を明確にする。
第1図は従来の電流−電圧変換回路の電気的接
続図である。図において、供試素子1(インピー
ダンスZX)の定数は一般に4端子法を用いて測
定される。電流(iとする)は信号源3より入力
抵抗器5を介して供給され、演算増幅器7の帰還
抵抗器9(抵抗値RR)に流れ、電圧に変換され
る(電圧値ERとする)。一方供試素子1の両端子
間電圧E0が導出される。したがつてER=i・RR,
E0=i・ZXとなり、ZX=(E0/ER)・RRとなる。
よつてE0とERのベクトル電圧比を求めればZXが
求まり、またE0を位相弁別整流すればキヤパシ
タンス、インダクタンス等を求めることができ
る。これらの定数は信号源3の周波数を種々変化
させて測定される。なお11は供試素子を接続す
るケーブルの対地容量および供試素子を接続する
治具の対地容量(容量値CL)を示す。
続図である。図において、供試素子1(インピー
ダンスZX)の定数は一般に4端子法を用いて測
定される。電流(iとする)は信号源3より入力
抵抗器5を介して供給され、演算増幅器7の帰還
抵抗器9(抵抗値RR)に流れ、電圧に変換され
る(電圧値ERとする)。一方供試素子1の両端子
間電圧E0が導出される。したがつてER=i・RR,
E0=i・ZXとなり、ZX=(E0/ER)・RRとなる。
よつてE0とERのベクトル電圧比を求めればZXが
求まり、またE0を位相弁別整流すればキヤパシ
タンス、インダクタンス等を求めることができ
る。これらの定数は信号源3の周波数を種々変化
させて測定される。なお11は供試素子を接続す
るケーブルの対地容量および供試素子を接続する
治具の対地容量(容量値CL)を示す。
しかしながらこの回路は供試素子のインピーダ
ンスの大きさ、供試素子を接続するケーブルの容
量、供試素子を接続する治具の容量により発振し
たり、測定値がちらつく欠点があつた。この理由
を第2図および第3図を用いて説明する。
ンスの大きさ、供試素子を接続するケーブルの容
量、供試素子を接続する治具の容量により発振し
たり、測定値がちらつく欠点があつた。この理由
を第2図および第3図を用いて説明する。
第2図は演算増幅器7のオーぷンループ利得・
位相特性を示したボード線図、第3図は供試素子
をコンデンサとした場合の演算増幅器7から見た
周辺回路の利得・移送特性を示したボード線図で
ある。第2図より明らかなように、演算増幅器7
の位相遅れは90°に達し、入出力間の位相遅れは
270°に達する。また第3図より明らかなように、
周辺回路の位相遅れも90°に達する(但し|ZX|
≫RS)。したがつて、ある周波数帯においては全
体の位相遅れが360°または極めて360°に近くなる
ところが生じ、発振したり、雑音成分を必要以上
に増幅したり(測定値にちらつきを生ずる)する
欠点を生ずる。
位相特性を示したボード線図、第3図は供試素子
をコンデンサとした場合の演算増幅器7から見た
周辺回路の利得・移送特性を示したボード線図で
ある。第2図より明らかなように、演算増幅器7
の位相遅れは90°に達し、入出力間の位相遅れは
270°に達する。また第3図より明らかなように、
周辺回路の位相遅れも90°に達する(但し|ZX|
≫RS)。したがつて、ある周波数帯においては全
体の位相遅れが360°または極めて360°に近くなる
ところが生じ、発振したり、雑音成分を必要以上
に増幅したり(測定値にちらつきを生ずる)する
欠点を生ずる。
従来かかる欠点を除去するためレンジ抵抗器9
の抵抗値に依存して演算増幅器7の利得を変えた
り、対地容量11を小さくする努力がなされてき
た。しかしながら、演算増幅器7の利得を下げる
と、演算増幅器7の入力端の電位が上昇し(仮
想)接地点とならない)、供試素子1に流れた信
号電流の一部分が対地容量11によつてバイパス
され高域周波数ほど誤差が増大してしまう。また
供試素子に接続するケーブルの長さは測定場所、
状態等により定まり、あまり短かくできるもので
はない。
の抵抗値に依存して演算増幅器7の利得を変えた
り、対地容量11を小さくする努力がなされてき
た。しかしながら、演算増幅器7の利得を下げる
と、演算増幅器7の入力端の電位が上昇し(仮
想)接地点とならない)、供試素子1に流れた信
号電流の一部分が対地容量11によつてバイパス
され高域周波数ほど誤差が増大してしまう。また
供試素子に接続するケーブルの長さは測定場所、
状態等により定まり、あまり短かくできるもので
はない。
本考案は上記欠点を除去するためになされたも
ので、本考案の目的は供試素子のインピーダンス
の大きさ、および測定ケーブルや測定治具の対地
容量が変化しても、広周波数帯域において安定に
測定しうる回路を提供することである。以下図面
を用いて本考案を詳細に説明する。
ので、本考案の目的は供試素子のインピーダンス
の大きさ、および測定ケーブルや測定治具の対地
容量が変化しても、広周波数帯域において安定に
測定しうる回路を提供することである。以下図面
を用いて本考案を詳細に説明する。
第4図は本考案による電流−電圧変換回路の電
気的接続図であり、第1図と同一部分には同一符
号を付してある。第4図の回路が第1図の回路と
異なる点は出力抵抗値R0なる増幅器8の出力側
に利得・位相補償回路13を設け、そして該回路
13の出力側より帰還抵抗器9を介して帰還させ
た点である。即ち本考案を要約すれば周波数増大
に伴なう利得低下の傾きが通常の演算増幅器の場
合よりもより緩かに減衰し、且つその位相遅れが
90°に対して大きな余裕を持つ増幅器をこうせい
したものである。第4図に示した利得・位相補償
回路13は時定数回路により構成され、抵抗器
R1,R2,R3,……RoとコンデンサC1,C2,C3,
……Coの直列回路を複数個並列接続して構成さ
れる。CSは浮遊容量、15は緩衝増幅器である。
そしてこの時定数回路は増幅器8の負荷インピー
ダンスが周波数の増加に伴ない緩やかに減少する
ように働く。第5図は増幅器8と時定数回路とを
含む増幅器の利得特性を示したボード線図、第6
図は位相特性を示したボード線図である。但し第
5,6図はR1〜R3,C1〜C3までを使用した場合
であり、実線Pは時定数回路を用いない場合、破
線Qは時定数回路を用いた場合である。R0≫R1
≫R2≫R3,C1>C2>C3>CSとすると、周波数の
増加に伴ない、まずR1がR0に並列につながり、
次にR2がさらに並列につながるというように
徐々に緩やかに負荷インピーダンスが低下する。
ここでf0=1/2πR0CS,f1≒1/2πR0C1,2≒1/2
πR1C1,3≒1/2π(R1R0)・C2,4≒1/2πR2
C2,5≒1/2π(R1R0R2)・C3,6≒1/2πR3
C3.7≒1/2π(R1R0R2R2R3)・CSであ
る。第5,6図より明らかなように、増幅器8、
利得・位相補償回路13および帰還抵抗器9を含
むループを一巡して考えた場合、全体の位相遅れ
が360°に達する周波数は極めて高くなり、またこ
のときの利得は周辺回路の減衰量より小さくなる
ので発振しない。そして増幅器の利得の周波数特
性の傾きはゆるやかであるので、測定上限周波数
におけるループ一巡利得はかなり大きく、且つ位
相遅れは360°に対しないので高域周波数での測定
精度はそれほど低下せず、また発振もしない。
気的接続図であり、第1図と同一部分には同一符
号を付してある。第4図の回路が第1図の回路と
異なる点は出力抵抗値R0なる増幅器8の出力側
に利得・位相補償回路13を設け、そして該回路
13の出力側より帰還抵抗器9を介して帰還させ
た点である。即ち本考案を要約すれば周波数増大
に伴なう利得低下の傾きが通常の演算増幅器の場
合よりもより緩かに減衰し、且つその位相遅れが
90°に対して大きな余裕を持つ増幅器をこうせい
したものである。第4図に示した利得・位相補償
回路13は時定数回路により構成され、抵抗器
R1,R2,R3,……RoとコンデンサC1,C2,C3,
……Coの直列回路を複数個並列接続して構成さ
れる。CSは浮遊容量、15は緩衝増幅器である。
そしてこの時定数回路は増幅器8の負荷インピー
ダンスが周波数の増加に伴ない緩やかに減少する
ように働く。第5図は増幅器8と時定数回路とを
含む増幅器の利得特性を示したボード線図、第6
図は位相特性を示したボード線図である。但し第
5,6図はR1〜R3,C1〜C3までを使用した場合
であり、実線Pは時定数回路を用いない場合、破
線Qは時定数回路を用いた場合である。R0≫R1
≫R2≫R3,C1>C2>C3>CSとすると、周波数の
増加に伴ない、まずR1がR0に並列につながり、
次にR2がさらに並列につながるというように
徐々に緩やかに負荷インピーダンスが低下する。
ここでf0=1/2πR0CS,f1≒1/2πR0C1,2≒1/2
πR1C1,3≒1/2π(R1R0)・C2,4≒1/2πR2
C2,5≒1/2π(R1R0R2)・C3,6≒1/2πR3
C3.7≒1/2π(R1R0R2R2R3)・CSであ
る。第5,6図より明らかなように、増幅器8、
利得・位相補償回路13および帰還抵抗器9を含
むループを一巡して考えた場合、全体の位相遅れ
が360°に達する周波数は極めて高くなり、またこ
のときの利得は周辺回路の減衰量より小さくなる
ので発振しない。そして増幅器の利得の周波数特
性の傾きはゆるやかであるので、測定上限周波数
におけるループ一巡利得はかなり大きく、且つ位
相遅れは360°に対しないので高域周波数での測定
精度はそれほど低下せず、また発振もしない。
したがつて、供試素子としてコンデンサやイン
ダクタ等の受動素子を測定する限り、供試素子、
測定ケーブル、測定治具を含めた周辺回路の位相
遅れ(第3図に相当)は±90°以上になることは
ないので、供試素子のインピーダンスの大きさ、
測定ケーブルの長短、測定治具の対地容量の大小
とは無関係に安定な測定を行ないうる。
ダクタ等の受動素子を測定する限り、供試素子、
測定ケーブル、測定治具を含めた周辺回路の位相
遅れ(第3図に相当)は±90°以上になることは
ないので、供試素子のインピーダンスの大きさ、
測定ケーブルの長短、測定治具の対地容量の大小
とは無関係に安定な測定を行ないうる。
第7は本考案の他の実施例による利得・位相補
償回路の電気的接続図であり、電流−電圧変換回
路の一部分を示したものである。この補償回路は
図示したような異なる周波数−利得特性を有する
増幅器21,22,……nを並列接続し、dで示
すような総合周波数−利得特性を有する増幅器を
構成したものである。第7図dと第5図の対比よ
りかかる回路により高周波数域まで系を安定しう
るのは勿論である。
償回路の電気的接続図であり、電流−電圧変換回
路の一部分を示したものである。この補償回路は
図示したような異なる周波数−利得特性を有する
増幅器21,22,……nを並列接続し、dで示
すような総合周波数−利得特性を有する増幅器を
構成したものである。第7図dと第5図の対比よ
りかかる回路により高周波数域まで系を安定しう
るのは勿論である。
第1図は従来の電流−電圧変換回路の電気的接
続図、第2図は第1図で示した演算増幅器のオー
プンループ利得・位相特性を示したボード線図、
第3図は第1図で示した演算増幅器に接続される
周辺回路の利得・位相特性を示したボード線図、
第4図は本考案による電流−電圧変換回路の電気
的接続図、第5図は第4図に示した増幅器の利得
特性を示したボード線図、第6図は第4図に示し
た増幅器の位相特性を示したボード線図、第7図
は本考案の他の実施例による利得・位相補償回路
のブロツク図である。 1:供試素子、3:信号源、7:演算増幅器、
21,22,……n:増幅器。
続図、第2図は第1図で示した演算増幅器のオー
プンループ利得・位相特性を示したボード線図、
第3図は第1図で示した演算増幅器に接続される
周辺回路の利得・位相特性を示したボード線図、
第4図は本考案による電流−電圧変換回路の電気
的接続図、第5図は第4図に示した増幅器の利得
特性を示したボード線図、第6図は第4図に示し
た増幅器の位相特性を示したボード線図、第7図
は本考案の他の実施例による利得・位相補償回路
のブロツク図である。 1:供試素子、3:信号源、7:演算増幅器、
21,22,……n:増幅器。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 信号源と増幅器の入力端との間に供試素子を
接続し、前記供試素子に流れた電流を前記増幅
器の帰還抵抗器により電圧に変換して前記供試
素子の定数を測定する回路定数測定器におい
て、前記増幅器の出力と基準電位間に前記信号
源の周波数増加に伴ないインピーダンスが緩や
かに低下する時定数回路を接続すると共に、前
記増幅器の出力を緩衝増幅器および前記帰還抵
抗器を介して前記増幅器の入力側に帰還するよ
うにした回路定数測定器の電流−電圧変換回
路。 (2) 前記時定数回路は抵抗器とコンデンサとの直
列回路を複数個並列接続して構成される実用新
案登録請求の範囲第1項記載の回路定数測定器
の電流−電圧変換回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11387082U JPS5920166U (ja) | 1982-07-27 | 1982-07-27 | 回路定数測定器の電流−電圧変換回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11387082U JPS5920166U (ja) | 1982-07-27 | 1982-07-27 | 回路定数測定器の電流−電圧変換回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5920166U JPS5920166U (ja) | 1984-02-07 |
JPH0338709Y2 true JPH0338709Y2 (ja) | 1991-08-15 |
Family
ID=30263432
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11387082U Granted JPS5920166U (ja) | 1982-07-27 | 1982-07-27 | 回路定数測定器の電流−電圧変換回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5920166U (ja) |
-
1982
- 1982-07-27 JP JP11387082U patent/JPS5920166U/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5920166U (ja) | 1984-02-07 |
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