JPH0338098A - Resin sealing of electronic component module - Google Patents

Resin sealing of electronic component module

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JPH0338098A
JPH0338098A JP17277789A JP17277789A JPH0338098A JP H0338098 A JPH0338098 A JP H0338098A JP 17277789 A JP17277789 A JP 17277789A JP 17277789 A JP17277789 A JP 17277789A JP H0338098 A JPH0338098 A JP H0338098A
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JP
Japan
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resin
case
hole
electronic component
substrate
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JP17277789A
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Japanese (ja)
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Nariyuki Kawazu
河津 成之
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Toyota Motor Corp
Original Assignee
Toyota Motor Corp
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Publication date
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Publication of JPH0338098A publication Critical patent/JPH0338098A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/0094Filling or covering plated through-holes or blind plated vias, e.g. for masking or for mechanical reinforcement
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/22Secondary treatment of printed circuits
    • H05K3/28Applying non-metallic protective coatings

Landscapes

  • Casings For Electric Apparatus (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

PURPOSE:To prevent the resin filling the through-hole of a substrate from flowing out of the hole and occurrence of bubbles in the hole by filling one side part of the case divided by a substrate with a resin having a low thixotropic property after enclosing the through-hole with another resin having a high thixotropic property. CONSTITUTION:A hybrid IC 11, etc., formed of electronic components 13-15 mounted on both surfaces of a substrate 12 provided with a through hole 12a formed from surface side to the rear side of the substrate is housed in a case 16 so that the inside of the case 16 can be divided into two parts by means of the substrate 12. Then, after the hole 12a of the substrate 12 is filled with 8 resin 18 having a high thixotropic property, one side part of the inside of the case 16 divided by the substrate 12 is filled with another resin 19 having a low thixotropic property so as to enclose the components 13 and 14 which can be resin enclosed with the resin 19. Therefore, flowing out of the resin 19 from the hole 12a and occurrence of bubbles in the hole 12a can be prevented.

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 この発明は、両面実装構造とするためにスルーホールが
形成された基板に電子部品を搭載した、ハイブリッドI
C等の電子部品モジュールを、ケースの内部に収容して
樹脂を充填する、電子部品モジュールの4mW8封正方
法に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of Industrial Application The present invention relates to a hybrid integrated circuit (I) in which electronic components are mounted on a board with through holes formed therein for a double-sided mounting structure.
The present invention relates to a 4mW8 sealing method for an electronic component module, in which the electronic component module such as C is housed inside a case and filled with resin.

従来の技術 複数41類の電子部品が、基板の両面に実装されている
電子部品モジュールは、例えば特開昭6384099@
公報中にも示されているように、金属や硬質合成樹脂製
のケース内に収納さ′れているのが一般的で、表裏両面
に電子部品を搭載した前記基板をケース内に収容した後
、このケース内に樹脂を充填して内部の空間を密閉して
いる。
Conventional technology An electronic component module in which a plurality of 41 types of electronic components are mounted on both sides of a board is disclosed in, for example, Japanese Patent Application Laid-open No. 6384099@
As shown in the publication, it is generally housed in a case made of metal or hard synthetic resin, and after the board with electronic components mounted on both the front and back is housed in the case. This case is filled with resin to seal the internal space.

このように電子部品モジュールを樹脂封止するのは、基
板上に実装されている電子部品に対する、機械的あるい
は熱的な応力の発生を抑えるとともに、水分による回路
のリーク等を防ぐ防水を目的としており、ハイブリッド
IC等の電子部品モジュールの信頼性を確保する効果を
有している。
The purpose of resin-sealing electronic component modules in this way is to suppress the occurrence of mechanical or thermal stress on the electronic components mounted on the board, as well as to prevent leakage of circuits due to moisture. This has the effect of ensuring the reliability of electronic component modules such as hybrid ICs.

また、各種の電子部品モジュールのうちでも、圧力を検
知したり、光を検知することを目的とする電子部品が搭
載されている場合には、電子部品モジュールのケース内
を樹脂で完全に密閉できない場合がある。すなわち、圧
力を検知するための圧力センサの近傍、あるいは光を検
知する例えばフォトダイオードの近傍には樹脂を充填す
ると、樹脂の付着によって可動部が固定されたり、受光
量が減じられてその機能が損なわれる虞れがある。
In addition, among various electronic component modules, if electronic components are installed for the purpose of detecting pressure or light, the inside of the case of the electronic component module cannot be completely sealed with resin. There are cases. In other words, if resin is filled near a pressure sensor that detects pressure, or near a photodiode that detects light, for example, the adhesion of resin may fix the movable parts or reduce the amount of light received, thereby impairing its function. There is a risk of damage.

そのため、この種のセンサ等を搭載した電子部品モジュ
ールにおいては、前記圧力センサやフォトダイオードの
周囲近傍に樹脂を充填しないようにする必要がある。
Therefore, in an electronic component module equipped with this type of sensor, etc., it is necessary to avoid filling the vicinity of the pressure sensor or photodiode with resin.

したがって、半導体素子等のように樹脂封止が可能な電
子部品と、粕記圧カセンサ等の樹脂封止を避けなければ
ならない電子部品とを同一基板上に搭41!する必要が
ある場合には、両者を基板の表裏両面にそれぞれ分離し
て実装し、この両面実装基板をケースに収容する際に、
この基板によってケース内を2室に分割するように配置
し、ケース内の樹脂封止可能な電子部品が搭載された側
にのみ樹脂を充填する方法を採っている。
Therefore, electronic components that can be sealed with resin, such as semiconductor elements, and electronic components that must be sealed with resin, such as pressure sensors, are mounted on the same substrate! If it is necessary to do so, mount them separately on both the front and back sides of the board, and when this double-sided mounted board is housed in a case,
This substrate divides the inside of the case into two chambers, and a method is adopted in which resin is filled only on the side of the case on which electronic components that can be sealed with resin are mounted.

例えば第2図は従来のこの種の電子部品モジュールの概
略を示す断面図で、基板1の回路パターンが形成されて
いる一方の而(第2図において上の而)には、半導体素
子等のIII脂封止可能な電子部品2が実装され、また
基板1の他方の面には、樹II封止を行わない電子部品
として圧力センサ3が取付けられてその各リードは、反
対側の面に形成されている回路パターンとの間を、基板
1に貫通形成されたスルーホール1aを介して電気的に
接続されている。
For example, FIG. 2 is a cross-sectional view schematically showing a conventional electronic component module of this type. On the one hand (the upper part in FIG. 2) where the circuit pattern of the substrate 1 is formed, there are semiconductor elements, etc. A pressure sensor 3 is mounted on the other side of the substrate 1 as an electronic component that is not sealed with resin II, and each lead of the electronic component 2 is mounted on the other side of the substrate 1. It is electrically connected to the formed circuit pattern via a through hole 1a formed through the substrate 1.

そして、基板1の両面に電子部品2.3を搭載した電子
部品モジュール4はケース5内に収容され、第2図に示
すようにケース5内を上下2室に分割するように水平に
配置されており、この基板1は周縁部をケース5の内周
面に設けられた突条5aに接着剤6で固着されている。
The electronic component module 4, which has electronic components 2 and 3 mounted on both sides of the board 1, is housed in a case 5, and is horizontally arranged so as to divide the interior of the case 5 into two upper and lower chambers, as shown in FIG. The peripheral edge of the substrate 1 is fixed to a protrusion 5a provided on the inner peripheral surface of the case 5 with an adhesive 6.

また基板1の第2図において下面側に取付けられた圧力
センサ3は、その下端をケース5の底に形成された開口
5bからセンシング可能なように外部に臨ませて配設さ
れている。そして、このようにケース5内に収容された
電子部品モジュール4は、第2図において上方より充填
樹脂7をケース5内に充wAすることによって、基板1
の上面側に実装されている半導体素子等の電子部品2を
41fJ脂封止するようになっている。
Moreover, the pressure sensor 3 attached to the lower surface side of the substrate 1 in FIG. Then, the electronic component module 4 housed in the case 5 in this manner is assembled to the substrate 1 by filling the case 5 with filling resin 7 from above as shown in FIG.
Electronic components 2 such as semiconductor elements mounted on the upper surface side of the housing are sealed with 41fJ resin.

発明が解決しようとする課題 しかし、前述した従来の方法の場合には、基板1に両面
実装可能とするためのスルーホール1aが形成されてい
るため、ケース5内に充W4する充填樹脂7の粘度が低
いと、第2図に示すように充j!JR樹脂7が、このス
ルーホール1aから基板1の下面側に流出してケース5
の底部に溜り、この充填樹脂7が圧力センサ3に付着し
て、圧力センサとしての機能を阻害するという問題があ
った。
Problems to be Solved by the Invention However, in the case of the conventional method described above, since the through hole 1a is formed in the board 1 to enable mounting on both sides, the filling resin 7 filled in the case 5 is If the viscosity is low, charging will occur as shown in Figure 2. The JR resin 7 flows out from this through hole 1a to the bottom side of the board 1, and the case 5
There is a problem in that the filling resin 7 accumulates at the bottom of the pressure sensor 3 and adheres to the pressure sensor 3, obstructing its function as a pressure sensor.

そこで、前記基板1のスルーホール1aからの充填Ia
4脂7の流出を防止するために、第3図に示すように粘
度の高い充填樹脂8を用いてI14脂封止する方法が従
来より採られている。
Therefore, filling Ia from the through hole 1a of the substrate 1
In order to prevent the leakage of the I14 fat 7, a method of sealing the I14 fat using a highly viscous filled resin 8 as shown in FIG. 3 has conventionally been adopted.

この方法は、使用する充填樹脂として粘度の高いものを
使用するだけで、従来の工法をそのまま使用できるため
コストの点で有利であり、また−膜内に用いられている
方法であるが、昨今の電子部品の高密度化、高集積化に
より電子部品モジュールに実装される各種電子部品も小
型化されており、そのため充填樹脂として粘度の高い樹
脂を用いた場合、粘度が高いことによりスルーホール1
aからのIIA脂の流出はなくなり、第3図に示すよう
に、圧力センサ3への1)lffiの付着は防止される
が、粘度が高いため充I14樹脂8の流動性が損なわれ
る結果、電子部品2の下面等に気泡9が残り易くなり、
これら電子部品2の周囲を完全に覆うことができないと
いう問題があった。
This method is advantageous in terms of cost, as conventional construction methods can be used as is by simply using a highly viscous filling resin. Due to the high density and high integration of electronic components, the various electronic components mounted in electronic component modules are also becoming smaller.As a result, if a resin with high viscosity is used as the filling resin, the through hole 1 will be damaged due to the high viscosity.
The IIA fat no longer flows out from a, and as shown in FIG. Air bubbles 9 tend to remain on the bottom surface of the electronic component 2, etc.
There was a problem in that the surroundings of these electronic components 2 could not be completely covered.

このように、電子部品の2の周囲に気泡9が形成される
と、電子部品モジュール4の前記気泡9の部分と充W4
樹脂8の部分との熱膨張率の違いによる発生応力が繰返
し加わることとなり、電子部品モジュール4の信頼性を
損ねる原因となっていた。また、湿度の高い条件下で使
用した場合には、気泡9内に水蒸気が浸入して結露して
しまい、この水分によって回路のリーク等の電気的動作
不良を招く虞れもある。このことは、電子部品および回
路の小型化および高密度化によって回路パターン間隔の
狭小化が進むのに伴って、この気泡の発生を防止するこ
とが重要な問題となっている。
In this way, when the bubble 9 is formed around the electronic component 2, the bubble 9 portion of the electronic component module 4 and the filled W4
Stress generated due to the difference in coefficient of thermal expansion with the resin 8 portion is repeatedly applied, causing a loss in the reliability of the electronic component module 4. Furthermore, when used under high humidity conditions, water vapor may enter the bubbles 9 and condense, and this moisture may cause electrical malfunctions such as circuit leakage. Preventing the generation of bubbles has become an important problem as the spacing between circuit patterns becomes narrower due to the miniaturization and higher density of electronic components and circuits.

この発明は上記事情に鑑みなされたもので、基板に形成
されたスルーホールからの充填樹脂の流出を確実に防止
するとともに、基板の一側に搭載された電子部品だけを
確実に封止することのできる電子部品モジュールの樹脂
封止方法を提供することを目的とている。
This invention was made in view of the above circumstances, and it is an object of the present invention to reliably prevent the filling resin from flowing out from through holes formed in the board, and to reliably seal only the electronic components mounted on one side of the board. The purpose of the present invention is to provide a method for resin-sealing electronic component modules that enables the following.

課題を解決するための手段 上記の目的を達成するためにこの発明の電子部品モジュ
ールの樹脂封止方法は、表裏に貫通−4るスルーホール
を備えた基板の表裏両面に電子部品を搭載したハイブリ
ッドIC等の電子部品モジュールをケース内に収容し、
このケース内に樹脂を充填して前記電子部品モジュール
を樹脂封止する電子部品モジュールの樹脂封止方法にお
いて、前記基板によってケース内を2分するように電子
部品モジュールをケース内に収容し、先ず、基板のスル
ーホールをチクソトロピック性の高い樹脂を用いて閉塞
した後、基板により分割されたケース内の一方のみにチ
クソトロピック性の低い樹脂を充填することを特徴とし
ている。
Means for Solving the Problems In order to achieve the above-mentioned objects, the resin sealing method of the electronic component module of the present invention provides a hybrid module in which electronic components are mounted on both the front and back surfaces of a substrate provided with through holes extending through the front and back sides. Electronic component modules such as ICs are housed in the case,
In this resin-sealing method for an electronic component module, in which the case is filled with resin and the electronic component module is resin-sealed, the electronic component module is housed in the case so that the inside of the case is divided into two by the board, and The method is characterized in that after the through-holes in the substrate are closed using a highly thixotropic resin, only one of the cases divided by the substrate is filled with a low thixotropic resin.

作   用 この発明の方法によれば、ケース内に、このケース内を
2室に分割するように収容された基板のスルーホールを
、チクソトロビック性の高い樹脂を用いて閉塞した後、
このケース内の基板で分割されたうちの一方に、チクソ
トロピック性の低い樹脂を充填して、111@封止可能
な電子部品のみを樹脂封止する。このように、樹脂封止
にはチクソトロピンク性の高い樹脂と低い[iとの2@
類の充填樹脂が用いられる。
Effect: According to the method of the present invention, after the through-hole of the board housed in the case so as to divide the case into two chambers is closed using a highly thixotropic resin,
One of the divided substrates in this case is filled with a resin having low thixotropic properties, and only the electronic components that can be sealed 111@ are sealed with the resin. In this way, resin sealing requires a resin with high thixotropinicity and a resin with low [i and 2@
Types of filled resins are used.

樹脂のチクソトロビック性とは、樹脂に外部から力が加
わっている状態では粘度が低下して流動性を有するが、
外力が取除かれて静止した状態になると、粘度が増大し
て流動性を失ってしまう現象で、揺変性ともいわれる。
The thixotropic property of a resin is that when an external force is applied to the resin, the viscosity decreases and the resin becomes fluid.
When an external force is removed and the material becomes stationary, its viscosity increases and it loses its fluidity, a phenomenon also known as thixotropy.

したがって、ケース内への#lliの充填は、先ず、シ
リンジによってチクソトロピック性の高い樹脂を、回路
基板のスルーホールおよびその近傍に注入し、スルーホ
ールを閉塞した後、チクソトロビック性の低い樹脂を全
体に充填する。シリンジによって注入される樹脂は、チ
クソトロピック性が高いが、シリンジから注入される際
にはこの樹脂に外力(この場合には吐出圧力)が加わっ
ているため動的粘度が低い状態でシリンジからスムーズ
に吐出される。ところが、−旦シリンジから吐出された
樹脂は、外力から解放されるため静的状態となり、ヂク
ソトロピック性の高い樹脂はど粘度が高くなる結果、ス
ルーホールとその近傍に注入された1i11脂は、注入
後に粘度が高くなり、流動性を失ってスルーホールの部
分で硬化し、回路基板の下面側に流出することなく、こ
のスルーホールを液密に閉塞する。
Therefore, to fill the case with #lli, first, a highly thixotropic resin is injected into the through hole of the circuit board and its vicinity using a syringe, the through hole is closed, and then a resin with low thixotropic property is injected into the through hole and its vicinity. Fill it all over. The resin injected with a syringe has high thixotropic properties, but when it is injected from the syringe, an external force (in this case, discharge pressure) is applied to the resin, so the dynamic viscosity is low and it flows smoothly from the syringe. is discharged. However, once the resin is discharged from the syringe, it becomes static because it is released from the external force, and as a result, the viscosity of resin with high thixotropic properties increases, and the 1i11 resin injected into the through hole and its vicinity becomes After injection, the viscosity increases, loses fluidity, and hardens at the through hole, sealing the through hole liquid-tightly without flowing out to the bottom side of the circuit board.

ここで、もし充填樹脂としてチクソトロピック匪が低い
樹脂を用いる場合には、注入後にスルーホールから垂れ
流れないようにするために、この充*81脂の粘度を大
幅に高くする必Pc/y”あるが、このような樹脂をシ
リンジを使用して、所定位置に所定量注入するためには
著しく高い吐出圧力が必要となるため実用的でなくなる
If a resin with a low thixotropic strength is used as the filling resin, the viscosity of this filling resin must be significantly increased to prevent it from dripping from the through hole after injection. However, injecting a predetermined amount of such resin into a predetermined position using a syringe requires extremely high discharge pressure, making it impractical.

また、J14脂のチクソトロピック性は、具体的には樹
脂の粘度を粘度計で計測する際に、粘度計のローターの
回転数が高くなるほど粘度が低く計測される現象で観察
される。通常、このチクソトロピック性を定量的に示す
ために、粘度計の〇−夕の回転数をA rpmとすると
、その10@の回転数10Aromにおける粘度を測定
し、 チクソトロピック指数= A rpaにおける粘度/10Arplにおける粘度 で示される。
Further, the thixotropic property of J14 resin is specifically observed as a phenomenon in which when measuring the viscosity of the resin with a viscometer, the higher the rotational speed of the rotor of the viscometer, the lower the viscosity is measured. Normally, in order to quantitatively express this thixotropic property, the viscosity at the rotation speed of 10@ is measured, where the rotation speed of the viscometer is A rpm, and the viscosity at the rotation speed of 10 Arom is calculated, and the thixotropic index = viscosity at A rpa /10 Arpl.

そして、この実施例における充填樹脂に求められるチク
ソトロピック性としては、ハイブリッドICのスルーホ
ールの直径は多くの場合0.3〜0.88程度であるが
、このスルーホールの直径が大きいほど、充J+1te
l脂の流出を防ぐためにチクソトロピック性を高くする
必要がある。一方、同じチクソトロピック性であっても
、粘度が高いはど、スルーホールを充填樹脂が通過して
しまうことが可能である。ただし、粘度のみを高くして
も、流動性が低下してしまうため、著しく作業性が低下
してしまう。
As for the thixotropic property required for the filled resin in this example, the diameter of the through hole of the hybrid IC is approximately 0.3 to 0.88 in most cases, but the larger the diameter of the through hole, the more J+1te
It is necessary to increase the thixotropic property in order to prevent the outflow of fat. On the other hand, even if the resin has the same thixotropic property, if the viscosity is high, it is possible for the filled resin to pass through the through hole. However, even if only the viscosity is increased, the fluidity decreases, resulting in a significant decrease in workability.

また、充填e+脂としては一般的にエポキシ系、ウレタ
ン系、シリコーン系の[fなどの熱硬化性別話が使用さ
れている。したがって、加熱して硬化させるため、常温
における充填樹脂の粘度より高温時に粘度が低下するこ
とから、加熱する硬化温度条件下において軟化してスル
ーホールを通過しないように充ll4ifA脂を選定す
る必要がある。
Further, as the filling e+ fat, thermosetting materials such as epoxy, urethane, and silicone [f] are generally used. Therefore, since it is cured by heating, the viscosity of the filled resin decreases at high temperatures compared to the viscosity of the filled resin at room temperature, so it is necessary to select a filled resin so that it does not soften under the curing temperature conditions of heating and pass through the through holes. be.

実施例 以下、この発明の方法を、両面実装タイプのハイブリッ
トICの樹脂封止方法として実施した一例を第1図に基
づいて説明する。
EXAMPLE Hereinafter, an example in which the method of the present invention is implemented as a resin sealing method for a double-sided mounting type hybrid IC will be described with reference to FIG.

[実施例1] ハイブリッドIC11は、厚さ0.8amのアルよす基
板12の一方の面(第1図において上面)に樹脂封止可
能な半導体素子13やチップ部品14が搭載され、また
他方の面〈第1図において下面)には、樹脂が打者する
と機能が損われる虞れのある圧力センサ15が搭載され
、また、この圧力センサ15は、アルミナ基板12に形
成されI;直径0.5111#Iのスルーホール12a
を介して反対側の面に形成された回路(図示せず)に電
気的に接続されている。そして、これら半導体素子13
やチップ部品14と圧力センサ15とが各面にそれぞれ
搭載されたアルミナ基板12は、重邑比30%のグラス
ファイバーを添加したPAT (ポリブチレンテレフタ
レート)樹脂製のケース16内に収容され、ケース16
の内周に形成された突条。
[Example 1] A hybrid IC 11 has a resin-sealable semiconductor element 13 and a chip component 14 mounted on one surface (the upper surface in FIG. 1) of an aluminum substrate 12 with a thickness of 0.8 am, and the other surface. A pressure sensor 15 is mounted on the surface (lower surface in FIG. 1), whose function may be impaired if the resin is applied.The pressure sensor 15 is formed on the alumina substrate 12 and has a diameter of 0. 5111#I through hole 12a
It is electrically connected to a circuit (not shown) formed on the opposite side via the. And these semiconductor elements 13
The alumina substrate 12, on which a chip component 14 and a pressure sensor 15 are mounted on each side, is housed in a case 16 made of PAT (polybutylene terephthalate) resin containing 30% glass fiber. 16
A ridge formed on the inner periphery of.

16aの上に載置されるとともに、シリコーン系の接着
剤17によって周縁部をI密に後者されて、このケース
16内の空間を上下に二分割するように水平に固定され
、またこのアルミナ基板12の下面側に搭載された圧力
センサ15の下端部が、ケース16の底部16bに形成
された開口16cからケース外に臨むように配置されて
いる。
The alumina substrate 16a is placed on top of the case 16a, and its periphery is tightly sealed with a silicone adhesive 17 to horizontally fix the space inside the case 16 into two vertically. The lower end of the pressure sensor 15 mounted on the lower surface side of the pressure sensor 12 is arranged so as to face the outside of the case 16 through an opening 16c formed in the bottom 16b of the case 16.

次に、上記のようにケース16内に収容されたハイブリ
ッドIC11を樹脂封止する場合について説明する。
Next, a case will be described in which the hybrid IC 11 housed in the case 16 as described above is sealed with resin.

充填樹脂には、粘度が高くチクソトロピック性も高いA
4IA脂18として、粘度が200ボイスで、ヂクソト
ロピック指数が5.0の2F&熱硬化付加反応型シリコ
ーンボッティング樹脂と、粘度の低くチクソトロビック
性も低いB樹脂19として、粘度が5ボイスでチクソト
ロピンク指数が1.0の2液熱硬化付加反応型シリコー
ンボッティング樹脂との2種類を使用する。
The filled resin is A with high viscosity and high thixotropic properties.
4IA resin 18 has a viscosity of 200 voices and a thixotropic index of 5.0. 2F & thermosetting addition reaction type silicone botting resin, and B resin 19 has a low viscosity and low thixotropic property and has a viscosity of 5 voices. and a two-component thermosetting addition reaction type silicone botting resin with a thixotropink index of 1.0.

先ず、シリンジによってチクソトロピック性の高いA 
、1i)I脂18を、アルミナ基板12のスルーホール
12aおよびその近傍に注入すると、シリンジから吐出
されたA41)J脂18は、外力から解放されるため静
的状態となって粘度が高まり、流動性を失ってスルーホ
ール12aを液密に閉塞する。
First, a highly thixotropic A
, 1i) When the I fat 18 is injected into the through hole 12a of the alumina substrate 12 and its vicinity, the A41) J fat 18 discharged from the syringe is released from external force and becomes static, increasing its viscosity. It loses fluidity and closes the through hole 12a liquid-tightly.

その後、ケース16内のアルミナ基板12の半導体素子
13やチップ部品14が搭載された側に、粘度が低くチ
クソトロピック性も低いB樹脂19を注入した後、これ
を120°Cで約1時間加熱し、充填したA樹脂18お
よびB樹脂19を完全に硬化させる。
After that, B resin 19 with low viscosity and low thixotropic property is injected into the side of the alumina substrate 12 in the case 16 on which the semiconductor elements 13 and chip components 14 are mounted, and then heated at 120°C for about 1 hour. Then, the filled resin A 18 and resin B 19 are completely cured.

このようにして得られた完成品を、スルーホール12a
の部分で切断して、その断面を観察したところ、チクソ
トロビック性の高いA@脂18は、スルーホール12a
を経由してハイブリッドIC11の反対面側に流出して
おらず、またA樹脂18と8樹脂19とは互いに後者し
合って、両11脂の界面から剥111することもなかっ
た。
The finished product obtained in this way is inserted into the through hole 12a.
When the section was cut and the cross section was observed, it was found that the A@ fat 18 with high thixotropic properties was found in the through hole 12a.
The A resin 18 and the 8 resin 19 did not leak to the opposite side of the hybrid IC 11 through the 111, and the A resin 18 and the 8 resin 19 were not separated from each other from the interface between the resins 11 and 11.

[実施例2] 実施例2は、実施例1と同一の部分には同一の構造を有
するため図面を省略し、また実施例1と同一の符@を付
して説明する。
[Embodiment 2] Embodiment 2 has the same structure as the same parts as Embodiment 1, so drawings are omitted and the same parts as Embodiment 1 are given the same symbol @ for explanation.

ハイブリッドIC11は、厚さ0.635uのアルくす
基板12の一方の而(第1図において上面)に樹Iff
封止可能な半導体素子13やチップ部品14が搭載され
、また他方の面(第1図において下面)には、IfA脂
が付@すると機能が損われる虞れのある圧力センサ15
が搭載され、また、この圧力センサ15は、アルくす基
板12に形成された直径0.45aのスルーホール12
aを介して反対側の面に形成された回路(図示せず)に
電気的に接続されている。そして、これら半導体素子1
3やチップ部品14と圧力センサ15とが各面にそれぞ
れ搭載されたアル4す基板12は、PC(ポリカーボネ
ート)41脂中にPET (ポリエチレンテレフタレー
ト)樹脂を配合した、アロイグレード(合金グレード)
のpcs脂製のケース16内に収容され、ケース16の
内周に形成された突条16aの上に載置されるとともに
、シリコーン系の接着剤17によって周縁部を液密に接
着されて、このケース16内の空間を上下に二分割する
ように水平に固定されている。またこのアルミナ基板1
2の下面側に搭載された圧力センサ15の下端部が、ケ
ース16の底部16bに形成された開口16cからケー
ス外に臨むように配置されている。
The hybrid IC 11 has a tree Iff on one side (top surface in FIG. 1) of an aluminum substrate 12 with a thickness of 0.635u.
A pressure sensor 15 is mounted with a sealable semiconductor element 13 and a chip component 14, and the other surface (lower surface in FIG. 1) has a pressure sensor 15 whose function may be impaired if IfA grease is applied.
is mounted, and this pressure sensor 15 is installed in a through hole 12 with a diameter of 0.45a formed in the aluminum substrate 12.
It is electrically connected to a circuit (not shown) formed on the opposite surface via a. And these semiconductor elements 1
3, chip parts 14, and pressure sensors 15 are mounted on each side of the aluminum substrate 12, which is made of alloy grade (alloy grade), which is a mixture of PET (polyethylene terephthalate) resin in PC (polycarbonate) 41 resin.
It is housed in a case 16 made of PCS resin, placed on a protrusion 16a formed on the inner periphery of the case 16, and its peripheral edge is liquid-tightly bonded with a silicone adhesive 17. It is fixed horizontally so as to divide the space inside the case 16 into two vertically. Also, this alumina substrate 1
The lower end of the pressure sensor 15 mounted on the lower surface side of the case 16 is arranged so as to face the outside of the case 16 through an opening 16c formed in the bottom 16b of the case 16.

次に、上記のようにケース16内に収容されたハイブリ
ッド1011を樹脂封止する場合について説明する。
Next, a case will be described in which the hybrid 1011 housed in the case 16 as described above is sealed with resin.

充填樹脂には、粘度が高くチクソトロピック性も高いA
樹脂18として、粘度が350ボイスで、ヂクソトロピ
ック指数が3.5の2液熱硬化型エボキシボツブーイン
グ樹脂と、粘度の低くチクソトロビック性も低いB樹脂
19とし、粘度が4.5ボイスでチクソトロピック指数
が1.2の2液熱硬化付加反応型シリコーンボッティン
グ樹脂との2種類を使用する。
The filled resin is A with high viscosity and high thixotropic properties.
Resin 18 is a two-component thermosetting epoxy potting resin with a viscosity of 350 voices and a thixotropic index of 3.5, and B resin 19, which has a low viscosity and low thixotropic property, has a viscosity of 4.5 voices. and a two-component heat-curable addition-reactive silicone botting resin with a thixotropic index of 1.2.

先ず、シリンジによってチクソトロビック性の高いA樹
rH18を、アルミナ基板12のスルーホール12aお
よびその近傍に注入すると、シリンジから吐出されたA
樹脂18は、外力から解h’iされるため静的状態とな
って粘度が高まり、流動性を失ってスルーホール12a
@’a密に閉塞する。
First, when A tree rH18 with high thixotropic properties is injected into the through hole 12a of the alumina substrate 12 and its vicinity using a syringe, the A tree ejected from the syringe
Since the resin 18 is released from the external force, it becomes static, its viscosity increases, and it loses its fluidity to form the through hole 12a.
@'a Tightly occluded.

その後、ケース16内のアルミナ基板12の半導体素子
13やチップ部品14が搭載された面側に、粘度もチク
ソトロビック性も低いB4111Jlif19を注入し
た後、これを120℃で約1w!f間加熱し、充填した
A41脂18およびB464脂19を完全に硬化させる
After that, B4111Jlif19, which has low viscosity and low thixotropic properties, was injected onto the side of the alumina substrate 12 in the case 16 on which the semiconductor elements 13 and chip components 14 were mounted, and then heated at 120°C for about 1W! The A41 fat 18 and the B464 fat 19 filled are heated for a period of f to completely harden.

このようにして得られた完成品を、スルーホール12a
の部分で切断して、その断面を観察したところ、チクソ
トロピック性の高いA樹脂18は、スルーホール12a
を経由してハイブリッドIC11の反対面側に流出して
おらず、またA樹rfi18と8樹脂19とは互いに接
着し合って、両1111i18.19の界面から剥離す
ることもなかった。
The finished product obtained in this way is inserted into the through hole 12a.
When the cross section was observed after cutting at the section , it was found that the A resin 18 with high thixotropic properties was found in the through hole 12a.
The resin did not flow out to the opposite side of the hybrid IC 11 via the 1111i18.19, and the A-tree rfi18 and the 8-resin 19 adhered to each other and did not separate from the interface between the two resins 1111i18.19.

なお、前記両実施例においては、基板12のスルーホー
ル12aの部分に注入する4M脂としてチクソトロビッ
ク性の高い充II4樹脂を用いたが、このようにチクソ
トロビ性を高めるには、通常、樹脂中に無機フィラーを
多量に添加する方法が用いられており、電子工業用途の
IfAffiには、無機フィラーとしてSi 02 (
Alt化ケイ素・シリカ)が用いられている。このよう
に通常の樹脂に比べて5i02が大量に添加されている
と、添加する前のものと比べ、熱膨張率が低く、かつ熱
伝導率が高くなるが、これは、5i02が大量に添加し
た樹脂の特性が、スルーホール12aが形成されたアル
ミナ基板12の熱膨張率や熱伝導率等の特性により近づ
くこととなり、スルーホール12aの部分の耐久信頼性
を向上させることとなり、電子部品モジュールの信頼性
を一層向上することができる。
In both of the above embodiments, the 4M resin injected into the through holes 12a of the substrate 12 was a highly thixotropic resin. IfAffi for electronic industry uses Si 02 (
Alted silicon/silica) is used. In this way, when a large amount of 5i02 is added compared to normal resin, the coefficient of thermal expansion is lower and the thermal conductivity is higher than that before addition, but this is because a large amount of 5i02 is added. The properties of the resin obtained by this process are closer to those of the alumina substrate 12 on which the through holes 12a are formed, such as the coefficient of thermal expansion and thermal conductivity, thereby improving the durability and reliability of the through holes 12a, thereby improving the electronic component module. The reliability of the system can be further improved.

発明の詳細 な説明したようにこの発明の電子部品モジュールの樹脂
封止方法は、スルーホールを備えた基板の両面に電子部
品を搭載したハイブリッドIC等の電子部品モジュール
を、ケース内を2室に分割するように収容し、このケー
ス内に樹脂を充填する際に、前記基板のスルーホールを
チクソトロビック性の高い樹脂を用いて閉塞した後、基
板により分割されたケース内の一方にチクソトロピック
性の低い樹脂を充填して樹脂封止するので、スルーホー
ルからの充填樹脂の流出が確実に防止でき、センサー等
の電子部品を樹脂打者による故障から守ることができる
As described in detail, the method for resin-sealing an electronic component module of the present invention is to seal an electronic component module such as a hybrid IC, which has electronic components mounted on both sides of a substrate with through holes, into two chambers in a case. When filling the case with resin, the through holes of the board are closed using resin with high thixotropic properties, and then one of the cases divided by the board is filled with thixotropic resin. Since the resin is filled with a resin having low properties and sealed with the resin, leakage of the filled resin from the through hole can be reliably prevented, and electronic components such as sensors can be protected from damage caused by resin batter.

また、スルーホールがチクソトロビック性の高い#4I
ffにより閉塞されることから、樹脂封止用の充填樹脂
として粘度等が最適な樹脂を選択できるようになったた
め、電子部品の陰等に気泡が発生することがなく、信頼
性の高い電子部品モジュールとすることができる。
In addition, the through hole is #4I with high thixotropic properties.
ff, it is now possible to select a resin with optimal viscosity etc. as the filler resin for resin sealing, which eliminates the generation of air bubbles behind electronic components, resulting in highly reliable electronic components. It can be a module.

さらに、この電子部品モジュールのIIAlrf封止方
法は、充填樹脂の充填工程において、従来の製造装置お
よび製造方法をそのまま適用できるので、新たな製造設
備や製造技術の尋人を図る必要がなく、したがって、低
コストで信頼性の高い電子部品モジュールを製造するこ
とができる。
Furthermore, in this IIIAlrf sealing method for electronic component modules, conventional manufacturing equipment and manufacturing methods can be applied as they are in the filling process with filling resin, so there is no need to develop new manufacturing equipment or new manufacturing technology. , it is possible to manufacture highly reliable electronic component modules at low cost.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図はこの発明の方法を行なった電子部品モジュール
の断面図、第2図ないし第3図は、それぞれ従来の樹脂
14止方法が行なわれた電子部品モジュールの断面図で
ある。 11・・・ハイブリッドIC,12・・・アルくす基板
、 12a・・・スルーホール、 13・・・半導体素
子、 14・・・チップ部品、 15・・・圧力センサ
、16・・・ケース、 16b・・・底部、 16c・
・・開口、18・・・チクソトロビック性の高いA樹脂
、19・・・チクソトロビック性の低い841411゜
第1図 第2図
FIG. 1 is a sectional view of an electronic component module using the method of the present invention, and FIGS. 2 and 3 are sectional views of electronic component modules using the conventional resin 14 fixing method. DESCRIPTION OF SYMBOLS 11... Hybrid IC, 12... Aluminum substrate, 12a... Through hole, 13... Semiconductor element, 14... Chip component, 15... Pressure sensor, 16... Case, 16b ...Bottom, 16c・
...Opening, 18... A resin with high thixotropic property, 19... 841411° with low thixotropic property Fig. 1 Fig. 2

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims]  表裏に貫通するスルーホールを備えた基板の表裏両面
に電子部品を搭載したハイブリツドIC等の電子部品モ
ジユールをケース内に収容し、このケース内に樹脂を充
填して前記電子部品モジュールを樹脂封止する電子部品
モジユールの樹脂封止方法において、前記基板によって
ケース内を2分するように電子部品モジユールをケース
内に収容し、先ず基板のスルーホールをチクソトロピッ
ク性の高い樹脂を用いて閉塞した後、基板により分割さ
れたケース内の一方のみにチクソトロピック性の低い樹
脂を充填することを特徴とする電子部品モジュールの樹
脂封止方法。
An electronic component module such as a hybrid IC, which has electronic components mounted on both the front and back sides of a substrate with through holes penetrating the front and back sides, is housed in a case, and the case is filled with resin and the electronic component module is resin-sealed. In a resin sealing method for an electronic component module, the electronic component module is housed in a case so that the inside of the case is divided into two by the board, and the through holes of the board are first closed using a highly thixotropic resin. , a resin sealing method for an electronic component module characterized by filling only one side of a case divided by a substrate with a resin having low thixotropic property.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0582952A1 (en) * 1992-08-13 1994-02-16 Corning Incorporated Perfection of the protection of an optical component for the interconnection of optical fibers
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