JPH0332727B2 - - Google Patents
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- JPH0332727B2 JPH0332727B2 JP19343381A JP19343381A JPH0332727B2 JP H0332727 B2 JPH0332727 B2 JP H0332727B2 JP 19343381 A JP19343381 A JP 19343381A JP 19343381 A JP19343381 A JP 19343381A JP H0332727 B2 JPH0332727 B2 JP H0332727B2
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 28
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 12
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 claims description 11
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 11
- 238000010606 normalization Methods 0.000 claims description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000012886 linear function Methods 0.000 description 4
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 3
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 3
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/06—Scanning arrangements arrangements for order-selection
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
＜産業上の利用分野＞
本発明は、分光光度計等において得られる測光
強度の変化を示す吸収スペクトルから大きな吸収
強度を示す吸収ピーク波数位置を精度良く検出す
るためのピーク波数位置検出方法に関する。
強度の変化を示す吸収スペクトルから大きな吸収
強度を示す吸収ピーク波数位置を精度良く検出す
るためのピーク波数位置検出方法に関する。
＜従来の技術＞
赤外分光光度計等においては、透過度の変化を
示す吸収スペクトルの測定データから大きな透過
度を示すピーク波数位置を正確に検出することが
分析精度を高める上で重要である。
示す吸収スペクトルの測定データから大きな透過
度を示すピーク波数位置を正確に検出することが
分析精度を高める上で重要である。
このような吸収スペクトルのピーク波数位置を
自動的に求めるため、検出器で得られる検出信号
を所定周期でサンプリングしてデジタル化し、こ
れをデータ処理することによつてピーク波数位置
を決定することが近年行われている。
自動的に求めるため、検出器で得られる検出信号
を所定周期でサンプリングしてデジタル化し、こ
れをデータ処理することによつてピーク波数位置
を決定することが近年行われている。
ところで、吸収スペクトルのピーク波数位置を
検出するには、純数学的には、第１図に示すよう
に、吸収スペクトルを一つの関数Ｔ（μ）と見な
し（同図ａ参照）、その関数Ｔ（μ）の一次微分値
（＝dT／dμ）の符号が負から正に変化する極値μ0
を見付けだせばよい（同図ｂ参照）。
検出するには、純数学的には、第１図に示すよう
に、吸収スペクトルを一つの関数Ｔ（μ）と見な
し（同図ａ参照）、その関数Ｔ（μ）の一次微分値
（＝dT／dμ）の符号が負から正に変化する極値μ0
を見付けだせばよい（同図ｂ参照）。
しかしながら、吸収スペクトルの測定データは
一定波数の間隔Δμでサンプリングされたもので
あるから、連続的でなく離散的に存在する。よつ
て、微分の定義式、 dT／dμ＝ lim Δμ→０（ΔT／Δμ） (1) において、Δμを０に近付けるにはサンプリング
周波数を極めて高くする必要があるが、現状の機
器では、Ａ／Ｄ変換器の能力やメモリの記憶容量
のために自と限界がある。すなわち、単にサンプ
リングされた測定データに基づいて上記の極値μ0
を精度良く算出することは困難である。
一定波数の間隔Δμでサンプリングされたもので
あるから、連続的でなく離散的に存在する。よつ
て、微分の定義式、 dT／dμ＝ lim Δμ→０（ΔT／Δμ） (1) において、Δμを０に近付けるにはサンプリング
周波数を極めて高くする必要があるが、現状の機
器では、Ａ／Ｄ変換器の能力やメモリの記憶容量
のために自と限界がある。すなわち、単にサンプ
リングされた測定データに基づいて上記の極値μ0
を精度良く算出することは困難である。
このように不具合を解消し、離散的に存在する
測定データに基づいてピーク波数位置を決定する
方法が、SavitzkyとGolayによつて提案されてい
る（Ａ・Savitzky、M.J.E.Golay：Anal.Chem.
Vol36、1627（1964）の文献参照）。この方法は、
次のようにして離散的に存在する吸収スペクトル
の測定データからピーク波数位置を決定する。
測定データに基づいてピーク波数位置を決定する
方法が、SavitzkyとGolayによつて提案されてい
る（Ａ・Savitzky、M.J.E.Golay：Anal.Chem.
Vol36、1627（1964）の文献参照）。この方法は、
次のようにして離散的に存在する吸収スペクトル
の測定データからピーク波数位置を決定する。
ある一つの波数μ0に着目し、この波数μ0を中心
として、その前後にサンプリング端数間隔Δμで
もつて2n＋１個のサンプリング点を定める。し
たがつて、波数範囲はμ-o（＝μ0−ｎ・Δμ）から
μo（＝μ0＋ｎ・Δμ）となる。そして、この波数範
囲μ-o〜μoを一次微分値を決定するための演算区
間とする。
として、その前後にサンプリング端数間隔Δμで
もつて2n＋１個のサンプリング点を定める。し
たがつて、波数範囲はμ-o（＝μ0−ｎ・Δμ）から
μo（＝μ0＋ｎ・Δμ）となる。そして、この波数範
囲μ-o〜μoを一次微分値を決定するための演算区
間とする。
一方、赤外分光光度計など得られる吸収スペク
トルの各ピークは分布曲線で表されるので、元
来、重み関数Ｇ（μ）が存在する。この重み関数
Ｇ（μ）を、たとえば、第２図に示すような一次
関数として定義した場合、サンプリング端数間隔
Δμごとの値はaj（ｊ＝−ｎ〜ｎ）となる。
トルの各ピークは分布曲線で表されるので、元
来、重み関数Ｇ（μ）が存在する。この重み関数
Ｇ（μ）を、たとえば、第２図に示すような一次
関数として定義した場合、サンプリング端数間隔
Δμごとの値はaj（ｊ＝−ｎ〜ｎ）となる。
そして、各サンプリング点に対応する各透過度
Tj（ｊ＝−ｎ〜ｎ）の値に対して、上記の一次関
数の各値ajを係数として畳み込み演算した場合の
値をαとすると、 α＝（１／Ｎ）・o 〓j=-n aj・Tj (2) （但し、Ｎは正規化のための定数） となる。そして、この(2)式で求まるαの値が先の
波数位置μ0における一次微分値（＝dT／dμ）と
見なし得ることが立証されている。
Tj（ｊ＝−ｎ〜ｎ）の値に対して、上記の一次関
数の各値ajを係数として畳み込み演算した場合の
値をαとすると、 α＝（１／Ｎ）・o 〓j=-n aj・Tj (2) （但し、Ｎは正規化のための定数） となる。そして、この(2)式で求まるαの値が先の
波数位置μ0における一次微分値（＝dT／dμ）と
見なし得ることが立証されている。
また、(2)式で定義される一次微分値の算出関数
の波数の分解能Ｒは、 Ｒ＝（１／２）・Ｍ・Δμ (3) として与えられる。ただし、Ｍは畳み込み演算区
間の全サンプリング（＝2n＋１）である。
の波数の分解能Ｒは、 Ｒ＝（１／２）・Ｍ・Δμ (3) として与えられる。ただし、Ｍは畳み込み演算区
間の全サンプリング（＝2n＋１）である。
＜発明が解決しようとする課題＞
従来方法は、離散的に存在する測定データに基
づいてピーク波数位置を決定することができるも
のの、第３図に示すように、上記の分解能Ｒの範
囲内において、複数のピークp1、p2が存在する場
合、すなわち、相互のピークp1、p2の波数間隔が
分解能Ｒよりも小さい場合には、(2)式に基づいて
一次微分値を求めると、破線に示すように、一つ
のピークp3があたかも存在するものとして取り扱
われ、そのため、正確なピーク波数位置を検出す
ることができないという問題点がある。
づいてピーク波数位置を決定することができるも
のの、第３図に示すように、上記の分解能Ｒの範
囲内において、複数のピークp1、p2が存在する場
合、すなわち、相互のピークp1、p2の波数間隔が
分解能Ｒよりも小さい場合には、(2)式に基づいて
一次微分値を求めると、破線に示すように、一つ
のピークp3があたかも存在するものとして取り扱
われ、そのため、正確なピーク波数位置を検出す
ることができないという問題点がある。
＜課題を解決するための手段＞
本発明は、このような事情に鑑みてなされたも
のであつて、吸収スペクトルが示す２つのピーク
の波数間隔が一次微分値の算出関数の分解能Ｒよ
りも小さいものが存在する場合には、従来のよう
に、疑似的なピークが存在するものとして一次微
分値を誤つて求めるといつたことがないようにす
るものであり、これによつて、誤つたピーク波数
位置が決定されるのを排除して分光光度計等にお
けるピーク波数位置の検出精度を高めるものであ
る。
のであつて、吸収スペクトルが示す２つのピーク
の波数間隔が一次微分値の算出関数の分解能Ｒよ
りも小さいものが存在する場合には、従来のよう
に、疑似的なピークが存在するものとして一次微
分値を誤つて求めるといつたことがないようにす
るものであり、これによつて、誤つたピーク波数
位置が決定されるのを排除して分光光度計等にお
けるピーク波数位置の検出精度を高めるものであ
る。
そのため、本発明は、一定波数の間隔Δμでサ
ンプリングされた吸収スペクトル等の測定データ
Tjについて、(2)式に基づいて一次微分値αを決
定して、その一次微分値αの正負の符号の変化を
順次検出し、 この一次微分値の符号変化が検出された際に
は、引き続いて、前記一次微分値の算出関数の波
数の分解能Ｒの略半分のウインド幅Ｗを設定し、
そのウインド幅Ｗでもつて前記波数μ0を中心とし
た両側のうちの一方側に設定した分解能Ｒの区間
幅をもつ波数範囲に渡つて前記ウインド幅Ｗを走
査しながらウインド幅Ｗの各両端における波数位
置に対応する測定データの大小関係を逐次調べ、
その大小関係が全てTi＜Ti−ｗ（ｉ＝０〜−Ｗ）
あるいはTi＜Ti＋ｗ（ｉ＝０〜Ｗ）の条件を満た
す場合には、その波数μ0の位置における測定デー
タが真のピークであると判定するものである。
ンプリングされた吸収スペクトル等の測定データ
Tjについて、(2)式に基づいて一次微分値αを決
定して、その一次微分値αの正負の符号の変化を
順次検出し、 この一次微分値の符号変化が検出された際に
は、引き続いて、前記一次微分値の算出関数の波
数の分解能Ｒの略半分のウインド幅Ｗを設定し、
そのウインド幅Ｗでもつて前記波数μ0を中心とし
た両側のうちの一方側に設定した分解能Ｒの区間
幅をもつ波数範囲に渡つて前記ウインド幅Ｗを走
査しながらウインド幅Ｗの各両端における波数位
置に対応する測定データの大小関係を逐次調べ、
その大小関係が全てTi＜Ti−ｗ（ｉ＝０〜−Ｗ）
あるいはTi＜Ti＋ｗ（ｉ＝０〜Ｗ）の条件を満た
す場合には、その波数μ0の位置における測定デー
タが真のピークであると判定するものである。
＜作用＞
上記方法を採用すれば、測定データの一次微分
値の正負の符号が変化した際には、従来のよう
に、その波数位置がピークを表すものとして一義
的に決定するのではなくて、さらに、その波数位
置を基準とした分解能Ｒの区間で、測定データの
大小関係が一定条件を満たすか否かを判別して、
その条件を満たす場合に始めて真のピークと判定
する。そのため、分解能Ｒの波数範囲内に複数の
ピークが存在する場合に、これを単一のピークと
して取り扱つて一次微分値を求めるといつた誤り
を起こすのが排除される。
値の正負の符号が変化した際には、従来のよう
に、その波数位置がピークを表すものとして一義
的に決定するのではなくて、さらに、その波数位
置を基準とした分解能Ｒの区間で、測定データの
大小関係が一定条件を満たすか否かを判別して、
その条件を満たす場合に始めて真のピークと判定
する。そのため、分解能Ｒの波数範囲内に複数の
ピークが存在する場合に、これを単一のピークと
して取り扱つて一次微分値を求めるといつた誤り
を起こすのが排除される。
＜実施例＞
本発明では、第４図に示すように、ある一つの
波数μ0を中心として、その前後にサンプリング波
数間隔Δμでもつて2n＋１個のサンプリング点を
定め、その波数範囲μ-o（＝μ0−ｎ・Δμ）〜μo（＝
μ0＋ｎ・Δμ）を一次微分値を決定するための演
算区間とする。そして、重み関数Ｇ（μ）を、た
とえば第２図に示すような一次関数として定義
し、サンプリング端数間隔Δμごとの値aj（ｊ＝−
ｎ〜ｎ）を決定する。そして、上記の各サンプリ
ング点に対応する各測定データTi（ｊ＝−ｎ〜
ｎ）に対して、上記の一次関数の各値ajを係数と
して、(2)式に基づいて一次微分値αを決定する。
これを測定データに関して順次行つて一次微分値
αの正負の符号の変化を検出する。この点につい
ては従来の場合と同様である。
波数μ0を中心として、その前後にサンプリング波
数間隔Δμでもつて2n＋１個のサンプリング点を
定め、その波数範囲μ-o（＝μ0−ｎ・Δμ）〜μo（＝
μ0＋ｎ・Δμ）を一次微分値を決定するための演
算区間とする。そして、重み関数Ｇ（μ）を、た
とえば第２図に示すような一次関数として定義
し、サンプリング端数間隔Δμごとの値aj（ｊ＝−
ｎ〜ｎ）を決定する。そして、上記の各サンプリ
ング点に対応する各測定データTi（ｊ＝−ｎ〜
ｎ）に対して、上記の一次関数の各値ajを係数と
して、(2)式に基づいて一次微分値αを決定する。
これを測定データに関して順次行つて一次微分値
αの正負の符号の変化を検出する。この点につい
ては従来の場合と同様である。
上記の検出過程で、一次微分値の符号変化が検
出されたならば、続いて、一次微分値αの算出関
数の波数の分解能Ｒの略半分の波数間隔をウイン
ド幅Ｗ＝［ｎ／２］・Δμ（ただし、［ ］は小数点
切り捨てを意味する）として設定する。そして、
このウインド幅Ｗでもつて先の一次微分値の符号
が変化した波数μ0の位置を基準として、その左側
に分解能Ｒの区間幅を設定し、その区間幅Ｒの範
囲に渡つてウインド幅Ｗを走査しながらウインド
幅Ｗの両端における各波数位置に対応する測定デ
ータの大小関係を逐次調べる。そして、その大小
関係が全てTi＜Ti−ｗ（ｉ＝０〜−Ｗ）の条件を
満たす場合には、その波数μ0の位置における測定
データが真のピークであると判定する。
出されたならば、続いて、一次微分値αの算出関
数の波数の分解能Ｒの略半分の波数間隔をウイン
ド幅Ｗ＝［ｎ／２］・Δμ（ただし、［ ］は小数点
切り捨てを意味する）として設定する。そして、
このウインド幅Ｗでもつて先の一次微分値の符号
が変化した波数μ0の位置を基準として、その左側
に分解能Ｒの区間幅を設定し、その区間幅Ｒの範
囲に渡つてウインド幅Ｗを走査しながらウインド
幅Ｗの両端における各波数位置に対応する測定デ
ータの大小関係を逐次調べる。そして、その大小
関係が全てTi＜Ti−ｗ（ｉ＝０〜−Ｗ）の条件を
満たす場合には、その波数μ0の位置における測定
データが真のピークであると判定する。
たとえば、第４図ａについて見ると、最初に大
小関係が比較されるべき２つの測定データは、波
数μ0に対応する測定データT0（図中、ａ点のデー
タ）と、これから左方向にウインド幅Ｗだけ離れ
た波数μ0-w位置に対応する測定データT0-w（ｂ点
のデータ）とであり、これらの測定データT0、
T0-wについての大小関係を比較する。そして、
T0＜T0-wであれば、その両測定データT0、T0-w
は条件が満たされたと判断される。次には、ウイ
ンド幅Ｗをサンプリング波数間隔Δμだけ左側に
シフトして波数μ0-〓〓、μ0-w-〓〓にそれぞれ対応す
る測定データT0-〓〓、T0-w-〓〓について大小関係を
比較し、T0-〓〓＜T0-w-〓〓であれば、その両測定デ
ータT0-〓〓、T0-w-〓〓は条件が満たされたと判断さ
れる。このようにして、順次、ウインド幅Ｗをサ
ンプリング波数間隔Δμずつシフトしながら、そ
の区間幅Ｒの範囲に渡つてウインド幅Ｗの両端に
位置する波数に対応する測定データの大小関係を
比較する。第４図ａに示すように、分解能Ｒの範
囲内に単一のピークp0しか存在しない場合には、
波数μ0よりも左側の測定データについては、全く
Ti＜Ti−ｗ（ｉ＝０〜−Ｗ）の条件が満たされる
ので、このときには、測定データT0に対応する
波数μ0は真のピーク波数位置であると判定され
る。
小関係が比較されるべき２つの測定データは、波
数μ0に対応する測定データT0（図中、ａ点のデー
タ）と、これから左方向にウインド幅Ｗだけ離れ
た波数μ0-w位置に対応する測定データT0-w（ｂ点
のデータ）とであり、これらの測定データT0、
T0-wについての大小関係を比較する。そして、
T0＜T0-wであれば、その両測定データT0、T0-w
は条件が満たされたと判断される。次には、ウイ
ンド幅Ｗをサンプリング波数間隔Δμだけ左側に
シフトして波数μ0-〓〓、μ0-w-〓〓にそれぞれ対応す
る測定データT0-〓〓、T0-w-〓〓について大小関係を
比較し、T0-〓〓＜T0-w-〓〓であれば、その両測定デ
ータT0-〓〓、T0-w-〓〓は条件が満たされたと判断さ
れる。このようにして、順次、ウインド幅Ｗをサ
ンプリング波数間隔Δμずつシフトしながら、そ
の区間幅Ｒの範囲に渡つてウインド幅Ｗの両端に
位置する波数に対応する測定データの大小関係を
比較する。第４図ａに示すように、分解能Ｒの範
囲内に単一のピークp0しか存在しない場合には、
波数μ0よりも左側の測定データについては、全く
Ti＜Ti−ｗ（ｉ＝０〜−Ｗ）の条件が満たされる
ので、このときには、測定データT0に対応する
波数μ0は真のピーク波数位置であると判定され
る。
これに対して、第４図ｂに示すように、分解能
Ｒの範囲よりも短い波数範囲Ｑ内に複数のピーク
p1、p2が存在する場合には、波数μ0よりも左側の
測定データについては、Ti＜Ti−ｗ（ｉ＝０〜−
Ｗ）の条件が満たされないものが存在する（たと
えば、図中ａ点とｂ点とでは条件を満たしている
が、ｃ点とｄ点との関係では条件から外れる）の
で、このときには、測定データT0に対応する波
数μ0は真のピーク波数位置と判断せずに、これを
排除してピーク波数位置のデータとしては出力し
ないようにする。
Ｒの範囲よりも短い波数範囲Ｑ内に複数のピーク
p1、p2が存在する場合には、波数μ0よりも左側の
測定データについては、Ti＜Ti−ｗ（ｉ＝０〜−
Ｗ）の条件が満たされないものが存在する（たと
えば、図中ａ点とｂ点とでは条件を満たしている
が、ｃ点とｄ点との関係では条件から外れる）の
で、このときには、測定データT0に対応する波
数μ0は真のピーク波数位置と判断せずに、これを
排除してピーク波数位置のデータとしては出力し
ないようにする。
そのため、従来のように、分解能の波数範囲内
に複数のピークが存在する場合に、これを単一の
ピークとして取り扱つて一次微分値を求めるとい
つた誤りを起こすのが回避される。
に複数のピークが存在する場合に、これを単一の
ピークとして取り扱つて一次微分値を求めるとい
つた誤りを起こすのが回避される。
なお、この実施例では、一つの波数μ0位置にお
ける一次微分値が求まると、この波数μ0位置を基
準とした左側の分解能Ｒの波数区間について測定
データの大小関係を逐次調べたが、この波数μ0の
右側に分解能Ｒの波数区間を設定してその区間に
ついて測定データの大小関係を調べてもよい。こ
の場合には、ウインド幅Ｗを走査する際に、その
ウインド幅Ｗの両端の波数位置に対応する測定デ
ータが全てTi＜Ti＋ｗ（ｉ＝０〜Ｗ）の条件を満
たす場合にのみ真のピークとして判定されること
になる。さらに、波数μ0を中心とした左右の各分
解能Ｒの区間について行うことも可能である。
ける一次微分値が求まると、この波数μ0位置を基
準とした左側の分解能Ｒの波数区間について測定
データの大小関係を逐次調べたが、この波数μ0の
右側に分解能Ｒの波数区間を設定してその区間に
ついて測定データの大小関係を調べてもよい。こ
の場合には、ウインド幅Ｗを走査する際に、その
ウインド幅Ｗの両端の波数位置に対応する測定デ
ータが全てTi＜Ti＋ｗ（ｉ＝０〜Ｗ）の条件を満
たす場合にのみ真のピークとして判定されること
になる。さらに、波数μ0を中心とした左右の各分
解能Ｒの区間について行うことも可能である。
また、この実施例ではピークは下向きのものと
したが、上向きのピークのものについても同様に
実施することができる。さらに、測定データは、
分光光度計などの透過度を表すものに限らず、ピ
ークプロフアイルが得られる測定データについ
て、本発明を広く適用することができる。
したが、上向きのピークのものについても同様に
実施することができる。さらに、測定データは、
分光光度計などの透過度を表すものに限らず、ピ
ークプロフアイルが得られる測定データについ
て、本発明を広く適用することができる。
＜発明の効果＞
本発明によれば、測定データの一次微分値の正
負の符号が変化した際には、従来のように、その
波数位置がピークを表すものとして一義的に決定
するのではなくて、さらに、その波数位置を基準
とした分解能の区間で、測定データの大小関係が
一定条件を満たすか否かを判別して、その条件を
満たす場合に始めて真のピークと判定するので、
複数のピークの波数間隔が一次微分値の算出関数
の分解能Ｒよりも小さなものが存在する場合に
は、これを単一のピークとして取り扱つて一次微
分値を求めるといつた誤りを起すのが排除され
る。したがつて、分光光度計等におけるピーク波
数位置の検出誤りが回避されるので、結果的に分
析精度を高めることができる。また、このことか
ら、突発的なノイズの影響も排除することができ
る等の優れた効果が発揮される。
負の符号が変化した際には、従来のように、その
波数位置がピークを表すものとして一義的に決定
するのではなくて、さらに、その波数位置を基準
とした分解能の区間で、測定データの大小関係が
一定条件を満たすか否かを判別して、その条件を
満たす場合に始めて真のピークと判定するので、
複数のピークの波数間隔が一次微分値の算出関数
の分解能Ｒよりも小さなものが存在する場合に
は、これを単一のピークとして取り扱つて一次微
分値を求めるといつた誤りを起すのが排除され
る。したがつて、分光光度計等におけるピーク波
数位置の検出誤りが回避されるので、結果的に分
析精度を高めることができる。また、このことか
ら、突発的なノイズの影響も排除することができ
る等の優れた効果が発揮される。
第１図は数学的に一次微分値に基づいて極値を
決定する場合の説明図、第２図は重み関数の特性
図、第３図は分解能の区間内に複数のピークが存
在する場合の従来方法によるピーク波数位置の説
明図、第４図は本発明方法によりピーク波数位置
を決定する説明図である。 Ｒ……分解能、Ｗ……ウインド幅。
決定する場合の説明図、第２図は重み関数の特性
図、第３図は分解能の区間内に複数のピークが存
在する場合の従来方法によるピーク波数位置の説
明図、第４図は本発明方法によりピーク波数位置
を決定する説明図である。 Ｒ……分解能、Ｗ……ウインド幅。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 一定波数の間隔Δμでサンプリングされた吸
収スペクトル等の測定データTjについて、ある
波数μ0位置における一次微分値αを、 α＝（１／Ｎ）・o 〓j=-n aj・Tj （ただし、Ｎは正規化のための定数、Tjは各サ
ンプリング波数位置に対応する各測定データ、aj
は畳み込み演算のための重み関数の各係数値、ｎ
はある波数μ0を中心としてその両側に各々設定さ
れる演算区間幅に含まれるサンプリング点数）で
定義される算出関数に基づいて決定し、その一次
微分値αの正負の符号の変化を順次検出し、 この一次微分値の符号変化が検出された際に
は、引き続いて、前記一次微分値の算出関数の波
数の分解能Ｒの略半分のウインド幅Ｗを設定し、
そのウインド幅Ｗでもつて前記波数μ0を中心とし
た両側のうちの一方側に設定した分解能Ｒの区間
幅をもつ波数範囲に渡つて前記ウインド幅Ｗを走
査しながらウインド幅Ｗの各両端における波数位
置に対応する測定データの大小関係を逐次調べ、
その大小関係が全てTi＜Ti−ｗ（ｉ＝０〜−Ｗ）
あるいはTi＜Ti＋ｗ（ｉ＝０〜Ｗ）の条件を満た
す場合には、その波数μ0の位置における測定デー
タが真のピークであると判定することを特徴とす
るピーク波数位置検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19343381A JPS5895222A (ja) | 1981-11-30 | 1981-11-30 | ピーク波数位置検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19343381A JPS5895222A (ja) | 1981-11-30 | 1981-11-30 | ピーク波数位置検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5895222A JPS5895222A (ja) | 1983-06-06 |
| JPH0332727B2 true JPH0332727B2 (ja) | 1991-05-14 |
Family
ID=16307894
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19343381A Granted JPS5895222A (ja) | 1981-11-30 | 1981-11-30 | ピーク波数位置検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5895222A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09184761A (ja) * | 1995-12-29 | 1997-07-15 | Horiba Ltd | ２つのスペクトルの一致度算出方法 |
-
1981
- 1981-11-30 JP JP19343381A patent/JPS5895222A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5895222A (ja) | 1983-06-06 |
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